JPS6326741A - デ−タ処理装置の試験装置 - Google Patents
デ−タ処理装置の試験装置Info
- Publication number
- JPS6326741A JPS6326741A JP61170390A JP17039086A JPS6326741A JP S6326741 A JPS6326741 A JP S6326741A JP 61170390 A JP61170390 A JP 61170390A JP 17039086 A JP17039086 A JP 17039086A JP S6326741 A JPS6326741 A JP S6326741A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- register
- program
- contents
- external circuit
- internal bus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明はデータ処理装置の試験装置において、プログラ
ムのデバッグを行なうに際してデバッグ専用のソフトプ
ログラムや大形のエミコレータ等を必要とする従来の問
題点を解決するtこめ、プログラムのデバッグ時、レジ
スタの内容を内部バスを介さずに外部回路に供給してチ
ェックすることにより、 デバッグ専用のソフトプログラムや人形の丁ミュレータ
等を必要とじず、 高速度動作時のプログラムチェックを可能とし、又、実
動作チェック時にプログラムバッグを発見を容易に行な
い(りるようにしたものである。
ムのデバッグを行なうに際してデバッグ専用のソフトプ
ログラムや大形のエミコレータ等を必要とする従来の問
題点を解決するtこめ、プログラムのデバッグ時、レジ
スタの内容を内部バスを介さずに外部回路に供給してチ
ェックすることにより、 デバッグ専用のソフトプログラムや人形の丁ミュレータ
等を必要とじず、 高速度動作時のプログラムチェックを可能とし、又、実
動作チェック時にプログラムバッグを発見を容易に行な
い(りるようにしたものである。
本発明はマイクロブロゼツリ等のデータ処理装置の試験
装置に関する。マイクロブロゼツリ等のデータ処理装置
におけるプログラムのデバッグを行なうに際し、高3i
度動作時のチェックを容易に行ない得、又、実動作チェ
ック時にプログラムバッグを容易に発見し臂るようにす
ることが必要である。
装置に関する。マイクロブロゼツリ等のデータ処理装置
におけるプログラムのデバッグを行なうに際し、高3i
度動作時のチェックを容易に行ない得、又、実動作チェ
ック時にプログラムバッグを容易に発見し臂るようにす
ることが必要である。
第2図は従来のデータ処理P装置の試験装置の一例の要
部のブロック図を示す。同図中、11゜12、・・・、
11はレジスタ、2は内部バス、3は計口処理部、4は
外部01伯用レジスタ、5は外部バス、6は外部回路で
あり、プログラムに従ってレジスタ11.12.・・・
、1η、計篇処理部3、レジスタ4、外部回路61@互
間でデータを授受してデータ処理を行なっている。
部のブロック図を示す。同図中、11゜12、・・・、
11はレジスタ、2は内部バス、3は計口処理部、4は
外部01伯用レジスタ、5は外部バス、6は外部回路で
あり、プログラムに従ってレジスタ11.12.・・・
、1η、計篇処理部3、レジスタ4、外部回路61@互
間でデータを授受してデータ処理を行なっている。
ここで、プログラムのデパックを行なうに際し、外部回
路6内のRO〜1におけるデバッグ専用のソフトプログ
ラムに従ってレジスタ1+、12.・・・。
路6内のRO〜1におけるデバッグ専用のソフトプログ
ラムに従ってレジスタ1+、12.・・・。
1Tlの内容を内部バス2、外部動作用レジスタ4、外
部バス5を介して外部回路6に供給してここでチェック
している。
部バス5を介して外部回路6に供給してここでチェック
している。
一方、外部に例えばエミュレータを接続していわゆるイ
ンサーキットエミュレーションによるプログラムデバッ
グを行なう場合も、レジスタ11゜12、・・・、1η
の内容を内部バス2Sを介して外部回路6に供給してチ
ェックする。
ンサーキットエミュレーションによるプログラムデバッ
グを行なう場合も、レジスタ11゜12、・・・、1η
の内容を内部バス2Sを介して外部回路6に供給してチ
ェックする。
上記従来の装置は、レジスタ11.12.・・・。
11の内容を必ず内部バス2を介して外部回路6に供給
する構成であるので、これを実行するためのデバッグ専
用のソフトプログラムを必要とし、又、エミュレータの
プログラムを大規模なものを必要とする問題点があった
。又、必ず内部バスを介してからチェックを行なう構成
であるので、高速度動作時のプログラムチェックを行な
うのが困ガであり、実動作チェック時にプログラムバッ
グを発見しにくい問題点があった。
する構成であるので、これを実行するためのデバッグ専
用のソフトプログラムを必要とし、又、エミュレータの
プログラムを大規模なものを必要とする問題点があった
。又、必ず内部バスを介してからチェックを行なう構成
であるので、高速度動作時のプログラムチェックを行な
うのが困ガであり、実動作チェック時にプログラムバッ
グを発見しにくい問題点があった。
本発明によるデータ処叩装置の試験装Yは、第1図に示
す如く、内部バスに接続されたレジスタの出力側にスイ
ッチ手段を接続し、試験を心霊とするレジスタに接続さ
れたスイッチ手段をオンにし、試験を必要とするレジス
タの内容を上記内部バスを介さずにこのオンとされたス
イッチ手段を介して外部回路に供給してデバッグを行な
うように構成してなる。
す如く、内部バスに接続されたレジスタの出力側にスイ
ッチ手段を接続し、試験を心霊とするレジスタに接続さ
れたスイッチ手段をオンにし、試験を必要とするレジス
タの内容を上記内部バスを介さずにこのオンとされたス
イッチ手段を介して外部回路に供給してデバッグを行な
うように構成してなる。
本発明装置は、試験を必要とするレジスタに対応したス
イッチ手段をオンにし、そのレジスタの内容を内部バス
2を介さずにこのスイッチ1段を介して外部回路11に
供給するようにしているので、デバッグ専用のソフトプ
ログラムを必要としない。
イッチ手段をオンにし、そのレジスタの内容を内部バス
2を介さずにこのスイッチ1段を介して外部回路11に
供給するようにしているので、デバッグ専用のソフトプ
ログラムを必要としない。
第1図は本発明装置の一実施例の要部のブロック図を示
し、同図中、第2図と同一構成部分には同一′fi号を
付してその説明を省略する。同図中、7+ 、72 、
・・・、71はトライステートバッファ(スイッチ手段
)で、レジスタ1+、12.・・・。
し、同図中、第2図と同一構成部分には同一′fi号を
付してその説明を省略する。同図中、7+ 、72 、
・・・、71はトライステートバッファ(スイッチ手段
)で、レジスタ1+、12.・・・。
1Tlの出力に接続さ机ている。8はデコーダ(切換f
l、11 御回路〉で、端子9に入来する切換データ(
ピッl”vlDBDφ〜DBDn)に応じて切換制御信
号を出力し、トライステートバッフ?71゜72、・・
・、7Tlのうち試験を必要とするレジスタに対応した
いずれか一個のトライステートバッファをオンにする。
l、11 御回路〉で、端子9に入来する切換データ(
ピッl”vlDBDφ〜DBDn)に応じて切換制御信
号を出力し、トライステートバッフ?71゜72、・・
・、7Tlのうち試験を必要とするレジスタに対応した
いずれか一個のトライステートバッファをオンにする。
10はデバッグバスで、トライステートバッファ7+
、72 、・・・17TIの出力に共通に接続され。
、72 、・・・17TIの出力に共通に接続され。
最長ビット数をもつレジスタと同じビット数のデータ(
DBφ〜DBn>を取出し得る構成とされている。11
は外部回路で、カウンタ、メモリ等にて構成されており
、レジスタ11.12.・・・1Tlの内容をチェック
する機能を有する。
DBφ〜DBn>を取出し得る構成とされている。11
は外部回路で、カウンタ、メモリ等にて構成されており
、レジスタ11.12.・・・1Tlの内容をチェック
する機能を有する。
ここで、例えばレジスタ12の内容をチェックするに際
し、端子9にレジスタ12に対応した切換データを供給
する。これにより、デコーダ8より切換制御信号が取出
され、トライステートバッファ72はオン状態とされる
。トライステートバッフ772のオンによりレジスタ1
2の内U +a +−ライステートバッファ72、デバ
ッグバス10を介して外部回路11に供給され、ここに
1l15いてその内容がチェックされる。
し、端子9にレジスタ12に対応した切換データを供給
する。これにより、デコーダ8より切換制御信号が取出
され、トライステートバッファ72はオン状態とされる
。トライステートバッフ772のオンによりレジスタ1
2の内U +a +−ライステートバッファ72、デバ
ッグバス10を介して外部回路11に供給され、ここに
1l15いてその内容がチェックされる。
この頃合、本発明装置は、第2図に示す従来装置のよう
にデバッグ専用のソフトプロゲラ11を実行させること
によりレジスタの内容を内部バス2を介して外部回路6
に供給するのではなく、ハード回路によりトライステー
トバッフ772をオンにして内部バス2を介することな
く外部回路11に供給するようにしているので、デバッ
グ専用のソフトプログラムを必要としない。従って、従
来装置のものに比して高速度動作時のプログラムチェッ
クが容易であり、又、レジスタの内容を逐次確認できる
ので実動作チェック「、¥プログラムバッグを発見し易
い。
にデバッグ専用のソフトプロゲラ11を実行させること
によりレジスタの内容を内部バス2を介して外部回路6
に供給するのではなく、ハード回路によりトライステー
トバッフ772をオンにして内部バス2を介することな
く外部回路11に供給するようにしているので、デバッ
グ専用のソフトプログラムを必要としない。従って、従
来装置のものに比して高速度動作時のプログラムチェッ
クが容易であり、又、レジスタの内容を逐次確認できる
ので実動作チェック「、¥プログラムバッグを発見し易
い。
一方、外部にエミュレータを接続していわゆるインサー
キットエミュレーションによるプログラムデバッグを行
なう場合、従来装置のようなデバッグ専用のソフトプロ
グラムを必要としない分だけエミュレータのプログラム
を簡略化できる。
キットエミュレーションによるプログラムデバッグを行
なう場合、従来装置のようなデバッグ専用のソフトプロ
グラムを必要としない分だけエミュレータのプログラム
を簡略化できる。
本発明によれば、レジスタの内容を内部バスを介するこ
となく外部バスに供給するようにしているので、デバッ
グ専用のソフトプ〔1グラムを必要とせず、従って、高
速度動作時のプログラムチェックが容易であり、又、実
動作チェック時にブ[1グラムバツグを発見し易く、更
に、エミュレータを用いた場合にはこのエミュレータの
プログラムを簡略化できる等の特長を右する。
となく外部バスに供給するようにしているので、デバッ
グ専用のソフトプ〔1グラムを必要とせず、従って、高
速度動作時のプログラムチェックが容易であり、又、実
動作チェック時にブ[1グラムバツグを発見し易く、更
に、エミュレータを用いた場合にはこのエミュレータの
プログラムを簡略化できる等の特長を右する。
第1図は本発明装置の一実施例の要部のブロック図、
第2図は従来装置の一例の要部のブロック図である。
第1図において、
11.12.・・・1Tlはレジスタ、2は内部バス、
3は計算処理部、
7+ 、72 、・・−、7t+は1〜ライステートバ
ツフ?(スイッチ手段)、 8はデコーダ(切換制御回路)、 9は切換データ入力端子、 10はデバッグバス、 11は外部回路である。
ツフ?(スイッチ手段)、 8はデコーダ(切換制御回路)、 9は切換データ入力端子、 10はデバッグバス、 11は外部回路である。
Claims (1)
- 内部バスに接続されたレジスタの出力側にスイッチ手段
を接続し、試験を必要とするレジスタに接続されたスイ
ッチ手段をオンにし、該試験を必要とするレジスタの内
容を上記内部バスを介さずに該オンとされたスイッチ手
段を介して外部回路に供給してデバッグを行なうように
構成してなることを特徴とするデータ処理装置の試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61170390A JPS6326741A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | デ−タ処理装置の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61170390A JPS6326741A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | デ−タ処理装置の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6326741A true JPS6326741A (ja) | 1988-02-04 |
Family
ID=15904040
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61170390A Pending JPS6326741A (ja) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | デ−タ処理装置の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6326741A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04111145A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
| JPH05257760A (ja) * | 1992-02-19 | 1993-10-08 | Nec Corp | マイクロプロセッサ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5916057A (ja) * | 1982-07-16 | 1984-01-27 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
-
1986
- 1986-07-18 JP JP61170390A patent/JPS6326741A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5916057A (ja) * | 1982-07-16 | 1984-01-27 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04111145A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
| JPH05257760A (ja) * | 1992-02-19 | 1993-10-08 | Nec Corp | マイクロプロセッサ |
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