JPS63285968A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS63285968A
JPS63285968A JP62120527A JP12052787A JPS63285968A JP S63285968 A JPS63285968 A JP S63285968A JP 62120527 A JP62120527 A JP 62120527A JP 12052787 A JP12052787 A JP 12052787A JP S63285968 A JPS63285968 A JP S63285968A
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electrode
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Tetsuo Kumesawa
粂沢 哲郎
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/15Charge-coupled device [CCD] image sensors
    • H10F39/153Two-dimensional or three-dimensional array CCD image sensors

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は固体撮像装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明は一方の電圧レベルを所定電圧V (V) 。
例えば5〔V〕とし、他方の電圧レベルをO(V)とす
る2相駆動パルスによって駆動される電荷結合素子から
なる水平レジスタ部を有し、この水平レジスタ部を転送
されてくる信号電荷を出力ゲート部を介して電荷検出部
に転送する様になされた固体撮像装置において、水平レ
ジスタ部の出力端のストレージ領域の不純物濃度を他の
ストレージ領域の不純物濃度よりも薄くすると共に出力
ゲ−ト部の出力ゲート領域の不純物濃度を出力端のスト
レージ領域以外のストレージ領域の不純物濃度と同一に
し、出力ゲート部の出力ゲート電極を接地することによ
り、出力ゲート電極に供給する所定電圧を形成する分圧
回路を不要にすると共に出力ゲート領域のポテンシャル
レベルの製品毎のバラツキを大幅に低減し、また電荷検
出部から水平レジスタ部への信号電荷の逆流マージンを
大きくすると共に電荷検出部のダイナミックレンジを大
きくできる様にしたものである。
〔従来の技術〕
従来、ハイレベル電圧を5 〔■〕とし、ローレベル電
圧を0 〔v〕とする2相駆動パルスによって駆動され
る電荷結合素子(以下、CCDという)からなる水平レ
ジスタ部を有し、この水平レジスタ部を転送されてくる
信号電荷を出力ゲート部を介して電荷検出部に転送する
様になされた固体撮像装置として、第7図にその平面構
成を概略的に示す様なものが提案されている。
この第7図において、(1)はP型シリコン基板を示し
、この固体撮像装置においては、このP型シリコン基板
(1)の表面側にホトダイオードからなる受光素子(2
)がマトリクス状に設けられ、入射光に応じた信号電荷
をこの受光素子(2)において発生させ、蓄積できる様
になされている。
また、これらマトリクス状に設けられた受光素子(2)
の各列毎に4相駆動刃式によって駆動されるCCDから
なる垂直レジスタ部(3)が設けられ1、各受光素子(
2)において蓄積された信号電荷を垂直方向、即ち紙面
上方に向かって転送できる様になされている。
また、これら垂直レジスタ部(3)の出力側に同じ(C
CDからなる水平レジスタ部(4)が設けられ、これら
垂直レジスタ部(3)を転送されてくる信号電荷を1ラ
イン毎に水平方向、即ち紙面右側に向かって転送できる
様になされている。
そして、この水平レジスタ部(4)の出力側には出力ゲ
ート部(5)を介して電荷検出部(6)が設けられ、水
平レジスタ部(4)を転送されてくる信号電荷冬山カゲ
ート部(5)を介して電荷検出部(6)に転送し、この
電荷検出部(6)から導出された出力端子(7)にこの
電荷検出部(6)に転送されてきた信号電荷に基づ(画
像信号を得ることができる様になされている。
ここに水平レジスタ部(4)は第8図にその一部を示す
様に2相駆動刃式を採用する埋め込みチャンネル型のc
cn (BCCD)によって構成されている。
即ち、この固体撮像装置においては、P型シリコン基板
(1)の表面側にN型不純物濃度を比較的薄くしてなる
N−型領域とN型不純物濃度を比較的濃くしてなるN型
領域とが交互に配され、N−型領域からなるトランスフ
ァ領域(8’h)、 N型領域からなるストレージ領域
(8S1)、N−型領域からなるトランスファ領域(8
T2)及びN型領域からなるストレージ領域(8S2)
が連なってなる電荷転送路(8)が設けられると共にこ
れらトランスファ領域(8’h) 、ストレージ領域(
8S1)、  )ランスファ領域(8T2 )及びスト
レージ領域(BS2)上に5iOzからなる絶縁層(9
)を介して転送電極をなすトランスファ電極(10T1
)、ストレージ電極(Lost) 、  )ランスフア
ミ極(10T2)及びストレージ電極(10S2)が設
けられ、更にトランスファ電極(IOTl)とストレー
ジ電極(10Sりとが共通接続されて、これらトランス
ファ電極(10T1)とストレージ電極(Lost)と
に第2図A及び第2図Bに示すハイレベル電圧を5 〔
V〕とし、ローレベル電圧を0 〔■〕とする2相駆動
パルスφH1及びφH2のうち一方の駆動パルスφH1
が供給されると共にトランスファ電極(10T2)とス
トレージ電極(IOS2)とが共通接続されて、これら
トランスファ電極(10T2)とストレージ電極(10
52)とに2相駆動パルスφH1及びφH2のうち他方
の駆動パルスφH2が供給される様になされている。こ
の様に構成されたこの水平レジスタ部(4)においては
、電荷転送路(8)のポテンシャルレベルは2相駆動パ
ルスφH1−及びφH2の変化に応じて第9図に一点鎖
線(11)及び破線(12)で示す様に変化する。この
第9図において一点鎖線(11)はトランスファ電極(
10T1)及びストレージ電極(1051)にハイレベ
ル電圧5〔■〕が供給され、トランスファ電極(10T
2)及びストレージ電極(10S2)にローレベル電圧
0 (V)が供給された時点での電荷転送路(8)のポ
テンシャルレベルを示し、また破線(12)はトランス
ファ電極(10’h)及びストレージ電極(Lost)
にローレベル電圧0 〔■〕が供給され、トランスファ
電極(10T2)及びストレージ電極(10S2)にハ
イレベル電圧5〔■〕が供給された時点での電荷転送路
(8)のポテンシャルレベルを示している。
また出力ゲート部(5)は第8図に示す様に水平レジス
タ部(4)の最終ビットのストレージ領域(8S1)に
連続してN型領域からなる出力ゲート領域(13)を設
けると共にこの出力ゲート領域(13)上に絶縁層(9
)を介して出力ゲート電極(14)を設け、この出力ゲ
ート電極(14)にこの固体撮像装置に供給される15
(V)の直流電圧Voを分圧回路(15)で分圧した2
〔■〕の直流電圧を供給する様にして構成されている。
尚、分圧回路(15)は抵抗器(16)と、抵抗器(1
7)及びコンデンサ(18)の並列回路とからなる直列
回路によって構成されている。この様に構成された出力
ゲート部(5)においては、出力ゲート領域(13)の
ポテンシャルレベルは第9図に実線(19)で示す様に
隣接する水平レジスタ部(4)のストレージ領域(8S
1)の最大ポテンシャルレベルと最小ポテンシャルレベ
ルとの中間の位置、具体的にはストレージ領域(8Sり
の最小ポテンシャルレベルよりも2〔■〕深(なる位置
に設定されるところとなる。従って、この固体撮像装置
においては、第9図に示す様にトランスファ電極(IO
TL)及びストレージ電極(10St)にハイレベル電
圧5 (V)が供給され、トランスファ電極(10T2
)及びストレージ電極(10S2)にローレベル電圧0
〔■〕が供給された時点で、最終ビットのストレージ領
域(8S1)に信号電荷Qが転送されて蓄積され、その
後、トランスファ電極(10’h)及びストレージ電極
(10St)にローレベル電圧0 (V)が供給され、
トランスファ電極(10T2)及びストレージ電極(1
0S2)にハイレベル電圧5〔■〕が供給された時点で
、最終ビットのストレージ領域(8SL)に蓄積されて
いた信号電荷Qはこのストレージ領域(8S1)から出
力ゲート領域(13)を介して後述する電荷検出部(6
)のフローティング・ディフュージョン領域(20)に
転送される。
電荷検出部(6)は第8図に示す様にいわゆるフローテ
ィング・ディフュージョン・アンブリファイヤによって
構成されている。即ち出力ゲート部(5)の出力ゲート
領域(13)に連続してN型不純物濃度をかなり濃くす
るN+型領領域らなるフローティング・ディフュージョ
ン領域(20)を設け、水平レジスタ部(4)の電荷転
送路(8)を転送されてくる信号電荷をこのフローティ
ング・ディフュージョン領域(20)に蓄積できる様に
なされると共にこのフローティング・ディフュージョン
領域(20)をMOS FETからなる増幅器(21)
の入力側に電気的に接続し、フローティング・ディフュ
ージョン領域(20)に信号電荷が流入されることによ
って生ずるこのフローティング・ディフュージョン領域
(20)の電位変化を増幅器(21)によって増幅する
ことができる様になされている。またフローティング・
ディフュージョン領域(20)に連続してN型領域から
なるプリチャージ・ゲート領域(22)とN+型領領域
らなるプリチャージ・ドレイン領域(23)とが順次に
設けられ、このプリチャージ・ドレイン領域(23)に
所定電圧の直流電圧、例えば15(V)の直流電圧Vp
oが供給されると共にプリチャージ・ゲート領域(22
)上に絶縁層(9)を介してプリチャージ・ゲート電極
(24)が設けられ、このプリチャージ・ゲート電極(
24)に2相駆動パルスφH1及びφH2に同期された
所定周期のクロックパルス、いわゆるプリチャージ・ゲ
ートパルスφpGが供給され、フローティング・ディフ
ュージョン領域(20)に流入、蓄積された信号電荷を
所定周期でプリチャージ・ドレイン領域(23)に掃き
出し、フローティング・ディフュージョン領域(21)
を所定電圧、例えば15(V)にプリチャージすること
ができる様になされている。
しかして、この様に構成されたこの第7図例の固体撮像
装置においては、受光素子(2)に蓄積される信号電荷
は垂直レジスタ部(3)、水平レジスタ部(4)及び出
力ゲート部(5)を介して電荷検出部(6)に転送され
、斯る信号電荷に基づく画像信号が出力端子(7)に得
られるところとなる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、斯る従来の固体撮像装置においては、出
力ゲート電極(14)に2〔■〕の直流電圧を供給する
様にしているので、フローティング・ディフュージョン
領域(20)と出力ゲート領域(13)とのポテンシャ
ルレベル差が小さくなり、フローティング・ディフュー
ジョン領域(20)から水平レジスタ部(4)の電荷転
送路(8)への逆流マージンが小さくなってしまうと共
に電荷検出部(6)のダイナミック・レンジも小さくな
ってしまうという不都合があった。
また斯る従来の固体撮像装置においては、この固体撮像
装置に供給される15(V)の直流電圧を分圧して2〔
v〕の直流電圧を得、この2〔v〕の直流電圧を出力ゲ
ート電極(14)に供給する様にしているため、分圧回
路(15)を設けなければならないという不都合がある
と共に、分圧回路(15)の形成工程において分圧回路
(15)を構成する抵抗器(16) 、 (17)及び
コンデンサ(18)にバラツキが生じ易く、このため、
出力ゲート電極(14)に供給すべき2〔V〕の直流電
圧にバラツキが生ずるという不都合があった。この場合
、外部から2〔v〕の直流電圧をこの出力ゲート電極(
14)に直接供給する様にすることが考えられるが、こ
の様にするときは、接続箇所が増加するという不都合が
あると共に半田付けによる接続箇所が増加し、信頼性が
低下するという不都合があった。
本発明は、上述した不都合を解消する様にした固体撮像
装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による固体撮像装置は、例えば第1図〜第3図に
示す様に、トランスファ領域とストレージ領域とを交互
に配してなる電荷転送路(25)を有し、一方の電圧レ
ベルを所定電圧V 〔V〕とし、他方の電圧レベルを0
〔v〕とする2相駆動パルスφH1及びφH2によって
駆動される電荷結合素子からなる水平レジスタ部(26
)と、この水平レジスタ部(26)の出力側に配され、
この水平レジスタ部(26)の出力端のストレージ領域
(8S1’)に連続して設けられた出力ゲート領域(1
3)とこの出力ゲート領域(13)上に設けられた出力
ゲート電極(14)とからなる出力ゲート部(27)と
、この出力ゲート部(27)に連続して設けられ、この
出力ゲート部(27)を介して水平レジスタ部(26)
から転送されてくる信号電荷を検出し、この信号電荷に
基づく画像信号を得る様になされた電荷検出部(6)と
を有して成る固体撮像装置において、水平レジスタ部(
26)の出力端のストレージ領域(831’ )の不純
物濃度を他のストレージ領域(8St)(8S2 )の
不純物濃度よりも薄くすると共に出力ゲート部(27)
の出力ゲート領域(13)の不純物濃度を水平レジスタ
部(26)の他のストレージ領域(8S1) (8S2
)の不純物濃度と同一にし、出力ゲート部(27)の出
力ゲート電極(14)を接地する様にしたものである。
〔作用〕
斯る本発明においては、水平レジスタ部(26)の出力
端のストレージ領域(8S1’)の不純物濃度を他のス
トレージ領域(8S1) (BS2)の不純物濃度より
も薄くすると共に出力ゲート部(27)の出力ゲート領
域(13)の不純物濃度を水平レジスタ部(26)の他
のストレージ領域(8S1) (8S2)の不純物濃度
と同一にする様になされていることより、出力ゲート部
(27)の出力ゲート電極(14)を接地した場合の出
力ゲート領域(13)のポテンシャルレベルは水平レジ
スタ部(26)の出力端のストレージ領域(881′)
の最大ポテンシャルレベルと最小ポテンシャルレベルと
の中間に設定されるところとなるので、水平レジスタ部
(26)の電荷転送路(25)を転送されてきた信号電
荷は出力ゲート領域(13)を介して電荷検出部(6)
にスムースに転送される。
〔実施例〕
以下、第1図〜第6図を参照して本発明による固体撮像
装置の一実施例につき説明しよう。この第1図〜第6図
において、第7図〜第9図に対応する部分には同一符号
を付し、その詳細説明は省略する。
本例においても、第7図従来例と同様にP型シリコン基
板(1)を用意し、このP型シリコン基板(1)の表面
側に受光素子、垂直レジスタ部、水平レジスタ部(26
) 、出力ゲート部(27)及び電荷検出部(6)を設
け、第7図従来例と同様にインターライン転送方式の固
体撮像装置となす様にする。
この場合、受光素子及び垂直レジスタ部は、図示せずも
、第7図従来例と同様に構成する。即ち受光素子はホト
ダイオードにより構成し、垂直レジスタ部は4相駆動力
式によるCCDによって構成する。
また水平レジスタ部(26)は第1図にその一部を示す
様に2相駆動力式を採用する埋め込みチャンネル型のC
CD (BCCD)によって構成する。ここにこの固体
撮像装置においては、P型シリコン基板(1)の表面側
にN型不純物濃度を比較的薄くしてなるN−型領域とN
型不純物濃度を比較的濃くしてなるN型領域とを交互に
設け、N−型領域からなるトランスファ領域(8’h)
、 N型領域からなるストレージ領域(8S1)、 N
−型領域からなるトランスファ領域(8T2 )及びN
型領域からなるストレージ領域(8S2 )を連ならせ
ると共に出力端に、トランスファ領域(8T1)に連続
して、そのN型不純物濃度をトランスファ領域(8’h
) (8T2)よりも濃くするが、他のストレージ領域
(8S1) (BS2)よりも薄くするストレージ領域
(8S1’)を設けてなる電荷転送路(25)を構成す
る。
またトランスファ領域(8h)、ストレージ領域(8S
1)、  トランスファ領域(8T2)及びストレージ
領域(8S2)上にSiO2からなる絶縁層(9)を介
して転送電極をなすトランスファ電極(10T1) 、
ストレージ電極(10S1) 、  トランスファ電極
(10T2)及びストレージ電極(10S2)を設ける
と共にトランスファ電極(10Tx)とストレージ電極
(10Sx)とを共通接続し、これらトランスファ電極
(10T1)とストレージ電極(10S1)とに第2図
A及び第2図Bに示すハイレベル電圧を5〔V〕とし、
ローレベル電圧をO(V)とする2相駆動パルスφH1
及びφH2のうち一方の駆動パルスφH1を供給すると
共にトランスファ電極(IOT2)とストレージ電極(
10S2)とを共通接続し、これらトランスファ電極(
10T2)とストレージ電極(10S2)とに2相駆動
パルスφH1及びφH2のうち他方の駆動パルスφH2
を供給するようになす。
ここに出力端のストレージ領域(8S1’)上には別個
にストレージ電極を設けず、このストレージ領域(8S
z’)に隣接するトランスファ領域(8T1)上に設け
るトランスファ電極(10T1’ )をストレージ領域
(8S1’)上にまで延在させる様にし、このトランス
ファ電極(8’h’)に2相駆動パルスφH1及びφH
2のうち一方の駆動パルスφH1を供給する様にする。
この様に構成されたこの水平レジスタ部(26)におい
ては、電荷転送路(25)のポテンシャルレベルは2相
駆動パルスφH1及びφH2の変化に応じて第3図に一
点鎖線(28)及び破線(29)で示す様に変化する。
ここに、この第3図において一点鎖線(28)はトラン
スファ電極(10T1) (IOTI’ )及びストレ
ージ電極(IOSl)にハイレベル電圧5 〔■〕が供
給され、トランスファ電極(10T2)及びストレージ
電極(10S2)にローレベル電圧0 〔■〕が供給さ
れた時点での電荷転送路(25)のポテンシャルレベル
を示し、また破線(29)はトランスファ電極(10T
り (10Tx’ )及びストレージ電極(10S1)
にローレベル電圧0 (V)が供給され、トランスファ
電極(10T2)及びストレージ電極(10S2 )に
ハイレベル電圧5 〔■〕が供給された時点での電荷転
送路(25)のポテンシャルレベルを示している。
尚、この水平レジスタ部(26)は、次の様にして形成
することができる。先ず第4図に示す様にP型シリコン
基板(1)の表面側にN型不純物、例えばリンPをイオ
ン注入してN型領域(30)を形成した後、ストレージ
領域(8S1) (8S2)及び出力ゲート領域(13
)となす部分のN型領域(30)上に絶縁N (9’)
を介してストレージ電極(10St) (10S2)及
び出力ゲート電極(14)を形成する。次に第5図に示
す様にストレージ電極(10S1) (10S2)及び
出力ゲート電極(14)をマスクとしてN型領域(30
)にP型不純物、例えばホウ素Bをイオン注入してN−
型領域からなるトランスファ領域(8T1)(Br3)
を形成する。この場合、出力ゲート領域(13)とこの
出力ゲート領域(13)に間近のストレージ領域(8S
2)との間にもN−型領域(31)が形成される。そこ
で次に第6図に示す様にストレージ領域(8S1’)を
形成すべきN−型領域(31)上の部分を露出する様に
全面にレジスト(33)を被着形成し、このレジスト(
33)をマスクとしてN型不純物、例えばリンPをイオ
ン注入してトランスファ領域(8TL) (8T2)よ
りもN型不純物濃度を濃くするが、ストレージ領域(8
S1) (8S2)よりもN型不純物濃度を薄くしてな
るストレージ領域(8S1’)を形成すると共に残りの
N−型領域部分をトランスファ領域 (8T1)となす
様にする。次にレジスト(33)を除去し、絶縁層(9
)を介してトランスファ電極(10T1) (10T2
) (]O’h’ )を形成する。
この様にして水平レジスタ部(26)を形成することが
できる。
また出力ゲート部(27)は水平レジスタ部(26)の
出力端のストレージ領域(8S1’)に連続してN型領
域からなる出力ゲート領域(13)を設けると共にこの
出力ゲート領域(13)上に絶縁層(9)を介して出力
ゲート電極(14)を設け、この出力ゲート電極(14
) 、を接地することによって構成する。
この場合、出力ゲート領域(13)は、第4図〜第6図
に示した様に水平レジスタ部(26)のストレージ領域
(8S1) (8S2)の形成と同一工程で形成するこ
とにより、出力ゲート領域(13)のN型不純物濃度を
水平レジスタ部(26)の出力端のストレージ領域(8
S1’)以外のストレージ領域(8S1) (8S2)
のN型不純物濃度と同一になす様にする。この様に出力
ゲート部(27)を構成した場合、水平レジスタ部(2
6)の出力端のストレージ領域(8S1’)のN型不純
物濃度は他のストレージ領域(8S1) (8S2)の
N型不純物濃度よりも薄くされているので、この出力ゲ
ート部(27)の出力ゲート領域(13)のポテンシャ
ルレベルは、第3図に実線(34)で示す様に、水平レ
ジスタ部(26)の出力端のストレージ領域(8h’)
の最大ポテンシャルレベル(一点鎖線)と最小ポテンシ
ャルレベル(破線)との間に設定されるところとなる。
尚、電荷検出部(6)は、第7図従来例と同様に構成す
る。
この様に構成された本例の固体撮像装置においては、第
3図に示す様に、トランスファ電極(10’h)(10
T1’)及びストレージ電極(10S1)にハイレベル
電圧5〔V〕が供給され、トランスファ電極(10T2
)及びストレージ電極(1052)にローレベル電圧0
 〔v〕が供給された時点で、ストレージ領域(8S1
’)に信号電荷Qが転送されて蓄積され、その後、トラ
ンスファ電極(10T1) (IOT1’)及びストレ
ージ電極(10Sz)にローレベル電圧0〔v〕が供給
され、トランスファ電極(10T2)及びストレージ電
極(10S2)にハイレベル電圧5(V)が供給された
時点で、ストレージ領域(8S1’)に蓄積されていた
信号電荷Qは電荷検出部(6)のフローティング・ディ
フュージョン領域(20)に転送される。従って、本例
の固体撮像装置においては、受光素子に蓄積される信号
電荷は垂直レジスタ部。
水平レジスタ部(26)及び出力ゲート部(27)を介
して電荷検出部(6)に転送され、斯る信号電荷に基づ
く画像信号を出力端子(7)に得ることができる。
ここに本例の固体撮像装置によれば、出力ゲート部(2
7)の出力ゲート電極(14)を接地し得る様になされ
ているので、第7図(第8図)従来例の場合と異なり分
圧回路(15)を設ける必要がないという利益があると
共に出力ゲート領域(13)のポテンシャルレベルの製
品毎のバラツキを大幅に低減できるという利益がある。
また出力ゲート電極(14)を接地し得ることより、第
7図(第8図)従来例に比し、出力ゲート領域(13)
とフローティング・ディフュージョン領域(20)との
ポテンシャルレベル差を大きくすることができるので、
フローティング・ディフュージョン領域(20)から水
平レジスタ部(26)への逆流マージンを大きくするこ
とができるという利益があると共に電荷検出部(6)の
ダイナミックレンジも増大させることができるという利
益がある。
尚、上述実施例においては、本発明をインターライン転
送方式の固体撮像装置に適用した場合につき述べたが、
この代わりに、フレーム転送方式の固体撮像装置にも適
用でき、この場合にも、上述同様の作用効果を得ること
ができる。
また本発明は、上述実施例に限らず、本発明の要旨を逸
脱することなく、その他、種々の構成が取り得ることは
勿論である。
〔発明の効果〕
本発明に依れば、出力ゲート部(27)の出力ゲート電
極(14)を接地し得る様になされているので、第7図
(第8図)従来例の場合と異なり分圧回路(15)を設
ける必要がないという利益があると共に出力ゲート領域
(13)のポテンシャルレベルの製品毎のバラツキを大
幅に低減することができるという利益がある。
また出力ゲート電極(14)を接地し得ることより、出
力ゲート領域(13)と電荷検出部(6)の信号電荷流
入領域とのポテンシャルレベルを大きくすることができ
るので、電荷検出部(6)から水平レジスタ部(26)
への信号電荷の逆流マージンを太き(することができる
という利益があると共に電荷検出部(6)のダイナミッ
クレンジも太き(することができるという利益がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による固体撮像装置の一実施例の要部を
示す断面図、第2図は第1図例の固体撮像装置の水平レ
ジスタ部に供給する2相駆動パルスを示す線図、第3図
は第1図のm−m’線に沿った領域のポテンシャルレベ
ルを模式的に示す線図、第4図、第5図及び第6図は第
1図例の水平レジスタ部の形成工程例を示す線図、第7
図は従来の固体撮像装置の一例を概略的に示す平面図、
第8図は第7図例の固体撮像装置の要部を示す断面図、
第9図は第8図のIX−IX’線に沿った領域のポテン
シャルレベルを模式的に示す線図である。 (6)は電荷検出部、(8S1) 、 (8S2)及び
(8S1’)は夫々ストレージ領域、(8Tx)及び(
8T2)は夫々トランスファ領域、(10S1)及び(
10S2)は夫々ストレージ電極、(10T1) 、 
(10T2)及び(10T1’)は夫々トランスファ電
極、(13)は出力ゲート領域、(14)は出力ゲート
電極、(20)はフローティング・ディフュージョン領
域、(22)はプリチャージ・ゲート領域、(23)は
プリチャージ・ドレイン領域、(24)はプリチャージ
・ゲート電極、(25)は電荷転送路、(26)は水平
レジスタ部、 (27)は出力ゲート部である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 トランスファ領域とストレージ領域とを交互に配してな
    る電荷転送路を有し、一方の電圧レベルを所定電圧V〔
    V〕とし、他方の電圧レベルをO〔V〕とする2相駆動
    パルスによって駆動される電荷結合素子からなる水平レ
    ジスタ部と、該水平レジスタ部の出力側に配され、該水
    平レジスタ部の出力端のストレージ領域に連続して設け
    られた出力ゲート領域と該出力ゲート領域上に設けられ
    た出力ゲート電極とからなる出力ゲート部と、 該出力ゲート部に連続して設けられ、該出力ゲート部を
    介して上記水平レジスタ部から転送されてくる信号電荷
    を検出し、該信号電荷に基づく画像信号を得る様になさ
    れた電荷検出部とを有して成る固体撮像装置において、 上記水平レジスタ部の上記出力端のストレージ領域の不
    純物濃度を他のストレージ領域の不純物濃度よりも薄く
    すると共に上記出力ゲート部の上記出力ゲート領域の不
    純物濃度を上記水平レジスタ部の上記他のストレージ領
    域の不純物濃度と同一にし、上記出力ゲート部の上記出
    力ゲート電極を接地する様にしたことを特徴とする固体
    撮像装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03123037A (ja) * 1989-07-07 1991-05-24 Toshiba Corp 電荷転送装置
US5233430A (en) * 1991-01-18 1993-08-03 Sony Corporation Solid state imager wherein the horizontal transfer is accomplished with first and second clock voltages and the cross-over point between the voltages is above the medium level between the peak values of the voltages
KR100367901B1 (ko) * 1996-11-28 2003-02-19 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 전하결합장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61187368A (ja) * 1985-02-15 1986-08-21 Toshiba Corp 電荷転送装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61187368A (ja) * 1985-02-15 1986-08-21 Toshiba Corp 電荷転送装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03123037A (ja) * 1989-07-07 1991-05-24 Toshiba Corp 電荷転送装置
US5233430A (en) * 1991-01-18 1993-08-03 Sony Corporation Solid state imager wherein the horizontal transfer is accomplished with first and second clock voltages and the cross-over point between the voltages is above the medium level between the peak values of the voltages
KR100367901B1 (ko) * 1996-11-28 2003-02-19 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 전하결합장치

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