JPS63316184A - プリント基板パタ−ンの光学的読取方式 - Google Patents
プリント基板パタ−ンの光学的読取方式Info
- Publication number
- JPS63316184A JPS63316184A JP62152069A JP15206987A JPS63316184A JP S63316184 A JPS63316184 A JP S63316184A JP 62152069 A JP62152069 A JP 62152069A JP 15206987 A JP15206987 A JP 15206987A JP S63316184 A JPS63316184 A JP S63316184A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［概要］
本発明はプリン＋−ｇ仮パターンを光学的に正確に読取
る方式に関し、 異なるスライスレベルの印加された第２の比較器を具備
し、迷光があっても導電パターンについて正確な読取り
の出来るプリント基板パターンの読取方式を提供するこ
とを目的とし、 プリント基板上の導電パターンを光検知素子により光学
的に読取った信号と、導電パターン・基板を読取った各
信号の中間振幅を有するスライス電圧源の電圧信号とを
比較器に印加し、二値化信号を得るプリント基板パター
ンの光学的読取方式において、前記比較器の外に第２比
較器と、両比較器の両出力信号を処理する処理回路とを
具備し、且つ第２比較器のスライス電源の電圧はパター
ン読取信号の基材部を読取って得られる信号より高レベ
ルに選定することで構成する。
る方式に関し、 異なるスライスレベルの印加された第２の比較器を具備
し、迷光があっても導電パターンについて正確な読取り
の出来るプリント基板パターンの読取方式を提供するこ
とを目的とし、 プリント基板上の導電パターンを光検知素子により光学
的に読取った信号と、導電パターン・基板を読取った各
信号の中間振幅を有するスライス電圧源の電圧信号とを
比較器に印加し、二値化信号を得るプリント基板パター
ンの光学的読取方式において、前記比較器の外に第２比
較器と、両比較器の両出力信号を処理する処理回路とを
具備し、且つ第２比較器のスライス電源の電圧はパター
ン読取信号の基材部を読取って得られる信号より高レベ
ルに選定することで構成する。
［産業上の利用分野］
本発明はプリント基板パターンを光学的に正確に読取る
方式に関する。
方式に関する。
従来プリント基板パターンについて光学的検査を行うた
め、二値化回路を経た信号によりチェックしていたが、
二値化回路におけるスライス電圧が一定値であるため、
パターンエツジ部分の形状による迷光などによる異常信
号があり、読取誤差となることがあった。そのような誤
差の生じない読取方式を開発することが要望された。
め、二値化回路を経た信号によりチェックしていたが、
二値化回路におけるスライス電圧が一定値であるため、
パターンエツジ部分の形状による迷光などによる異常信
号があり、読取誤差となることがあった。そのような誤
差の生じない読取方式を開発することが要望された。
［従来の技術］
プリント基板パターンを検査するため、センサ部と呼ば
れるカメラ類似の構成を有する部分にといて、特に第５
図に示すブラックライン法で読取り二値化してから、後
段の処理ユニットに送っていた。第５図Ａは全体的な斜
視図で、１は線状光源、２はブラックラインマスク、３
はマスク結像用レンズ、４は被検査パターンの基材部、
５は銅箔などの導体部、６は反射光線結像用レンズ、７
はＣＣＤラインセンサを示す。第５図Ｂは導体部５、基
材部４の一部を示す部分断面図である。線状光源１から
の光はブラックラインマスク２により中央部にブラック
ラインの入った光線束となり、基材部４・導体部５を照
射する。基材部４と示す部分から基材部４の内部に入っ
た光は散乱し、再び基材部４から外方へ放散されるが、
導体部５からは放散されない。そのためＣＣＤラインセ
ンサ７で放散光を捕らえ、順次信号を取り出すと、導体
部５の在る部分は放散光が無く、基材部４からの放散光
だけが検出される。そのため放散光をＣＣＤラインセン
サ７によりブラックラインに沿って検査すると、放散光
の無い検出範囲が導体部であり、その長さが導体部の幅
と比例関係になる。
れるカメラ類似の構成を有する部分にといて、特に第５
図に示すブラックライン法で読取り二値化してから、後
段の処理ユニットに送っていた。第５図Ａは全体的な斜
視図で、１は線状光源、２はブラックラインマスク、３
はマスク結像用レンズ、４は被検査パターンの基材部、
５は銅箔などの導体部、６は反射光線結像用レンズ、７
はＣＣＤラインセンサを示す。第５図Ｂは導体部５、基
材部４の一部を示す部分断面図である。線状光源１から
の光はブラックラインマスク２により中央部にブラック
ラインの入った光線束となり、基材部４・導体部５を照
射する。基材部４と示す部分から基材部４の内部に入っ
た光は散乱し、再び基材部４から外方へ放散されるが、
導体部５からは放散されない。そのためＣＣＤラインセ
ンサ７で放散光を捕らえ、順次信号を取り出すと、導体
部５の在る部分は放散光が無く、基材部４からの放散光
だけが検出される。そのため放散光をＣＣＤラインセン
サ７によりブラックラインに沿って検査すると、放散光
の無い検出範囲が導体部であり、その長さが導体部の幅
と比例関係になる。
第６図ＡはそのときのＣＣＤセンサ出力信号を示す図面
で、横軸の１目盛りが５０μ秒、縦軸の１目盛りが２０
０ｍＶを示す。なお図では縦軸の負方向に振幅が増大す
るように記載している。第６図Ｂは第６図Ａの左方信号
の一部を拡大している。
で、横軸の１目盛りが５０μ秒、縦軸の１目盛りが２０
０ｍＶを示す。なお図では縦軸の負方向に振幅が増大す
るように記載している。第６図Ｂは第６図Ａの左方信号
の一部を拡大している。
各図の上方に導体部の信号、下方に基材部の信号が記載
されている。この信号を第７図に示す比較器８の一方の
信号入力とし、比較器８の他方にはスライス電圧源９か
らの電圧を印加して、第６図Ｂに示すような二値化信号
を得ることが出来る。
されている。この信号を第７図に示す比較器８の一方の
信号入力とし、比較器８の他方にはスライス電圧源９か
らの電圧を印加して、第６図Ｂに示すような二値化信号
を得ることが出来る。
第６図Ｂに示す直線状スライス電圧の上側と下側とで二
値化信号の“１”Ｏ”を対応させている。
値化信号の“１”Ｏ”を対応させている。
比較器８の出力信号として二値化された信号で例えば“
０”の比較的長い範囲が導体部５の幅と対応している。
０”の比較的長い範囲が導体部５の幅と対応している。
［発明が解決しようとする問題点］
第８図は第６図Ｂの二値化信号を別に取り出して示す図
である。第８図Ａは正常に読取った場合を示すが、実際
は第８図Ｂに示すように読取った信号に異常信号１１を
含み二値化された信号に不良信号Ｅを生じることがあっ
た。これは、結像用レンズ３．７がそれぞれ１枚構成で
はなく多数枚構成であるため、基材部のブラックライン
以外の所から反射した光についてもそれを集光してしま
うこと、またプリント基板上の導電パターンはその形状
が完全に垂直に立上り・立下りとはならないため、基材
部内部からの光のうちパターンから離れた所からの光が
パターンエツジで反射した光を生じ、それがレンズ７で
集光されることなどのためである。このときは導電パタ
ーンは正常な形状であっても、欠陥有りと判断されるこ
ととなった。そのため反射の多い基板について段査する
ときは、熟練した作業者が行うか、反射防止膜を塗布す
る必要があった。
である。第８図Ａは正常に読取った場合を示すが、実際
は第８図Ｂに示すように読取った信号に異常信号１１を
含み二値化された信号に不良信号Ｅを生じることがあっ
た。これは、結像用レンズ３．７がそれぞれ１枚構成で
はなく多数枚構成であるため、基材部のブラックライン
以外の所から反射した光についてもそれを集光してしま
うこと、またプリント基板上の導電パターンはその形状
が完全に垂直に立上り・立下りとはならないため、基材
部内部からの光のうちパターンから離れた所からの光が
パターンエツジで反射した光を生じ、それがレンズ７で
集光されることなどのためである。このときは導電パタ
ーンは正常な形状であっても、欠陥有りと判断されるこ
ととなった。そのため反射の多い基板について段査する
ときは、熟練した作業者が行うか、反射防止膜を塗布す
る必要があった。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、異なるスライスレ
ベルの印加された第２の比較器を具備し、迷光があって
も導電パターンについて正確な読取りのできるプリント
基板の読取方式を提供することにある。
ベルの印加された第２の比較器を具備し、迷光があって
も導電パターンについて正確な読取りのできるプリント
基板の読取方式を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］
第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１は線状光線の光源、４はプリント基板、５は導
電パターン、６は光検知素子例えばＣＣＤラインセンサ
、８は第１の比較器、９はスライス電圧源、１０は光検
知素子で読取った信号、１２は第２の比較器、１３は第
２の比較器に対するスライス電圧源、１４は信号処理回
路を示す。
いて、１は線状光線の光源、４はプリント基板、５は導
電パターン、６は光検知素子例えばＣＣＤラインセンサ
、８は第１の比較器、９はスライス電圧源、１０は光検
知素子で読取った信号、１２は第２の比較器、１３は第
２の比較器に対するスライス電圧源、１４は信号処理回
路を示す。
プリント基板４上の導電パターン５を光検知素子７によ
り光学的に読取った信号１０と、導電パターン５・基板
４を読取った各信号の中間振幅を有するスライス電圧源
の電圧信号とを比較器８に印加し、二値化信号を得るプ
リント基板パターンの光学的読取方式において、本発明
は下記の構成としている。即ち、 前記比較器８の外に第２比較器１２と、両比較器８．１
２の岡山力信号を処理する処理回路１４とを具備し、且
つ第２比較器１２のスライス電源１３の電圧はパターン
読取信号１０の基材部を読取って得られる信号より高レ
ベルに選定することである。
り光学的に読取った信号１０と、導電パターン５・基板
４を読取った各信号の中間振幅を有するスライス電圧源
の電圧信号とを比較器８に印加し、二値化信号を得るプ
リント基板パターンの光学的読取方式において、本発明
は下記の構成としている。即ち、 前記比較器８の外に第２比較器１２と、両比較器８．１
２の岡山力信号を処理する処理回路１４とを具備し、且
つ第２比較器１２のスライス電源１３の電圧はパターン
読取信号１０の基材部を読取って得られる信号より高レ
ベルに選定することである。
し作用］
第２図は第１図の動作説明用波形図を示す。第２図Ａは
パターン読取信号とスライス電圧源９の電圧レベル（１
点鎖線）と、スライス電圧源１３の電圧レベル（２点鎖
線）とを示す。今、第２図Ａに示すようにパターン読取
信号１０が入力端子に印加され、パターンエツジ部分か
ら異常信号１１を発したとき、第１比較器８の出力信号
は第２図Ｂに示す波形とする。また第２比較器１２の出
力信号は第２図Ｃに示す波形きなる。処理回路１４にお
いては、第２図Ｂ、Ｃに示す波形について、第２図Ｃに
示す波形を第２図Ｂに示す波形から取り除くように処理
し、第２図りを得る。第２図りは異常信号１１の影響を
受けず、導電パターン幅と正確に対応した信号となって
いる。
パターン読取信号とスライス電圧源９の電圧レベル（１
点鎖線）と、スライス電圧源１３の電圧レベル（２点鎖
線）とを示す。今、第２図Ａに示すようにパターン読取
信号１０が入力端子に印加され、パターンエツジ部分か
ら異常信号１１を発したとき、第１比較器８の出力信号
は第２図Ｂに示す波形とする。また第２比較器１２の出
力信号は第２図Ｃに示す波形きなる。処理回路１４にお
いては、第２図Ｂ、Ｃに示す波形について、第２図Ｃに
示す波形を第２図Ｂに示す波形から取り除くように処理
し、第２図りを得る。第２図りは異常信号１１の影響を
受けず、導電パターン幅と正確に対応した信号となって
いる。
実施例］
第３図は本発明の実施例として第１図中の処理回路１４
の具体的構成を示す図である。第３図において、１５は
遅延回路で第１比較器８の出力回路に挿入さもたちの、
１６は消去パルス発生回路で例えば単安定マルチパイプ
レークを使用し、第２比較器１２の出力回路に挿入され
るもの、１７はアンド回路で、回路１５．１６の両信号
についてアンド演算を行う。また第１図と同一符号は同
様のものを示す。第４図は第３図の動作波形図で第３図
中に対応する個所を○付き数字で示しである。第３図に
おいて、第２比較器１２のスライス電圧は第４図■に示
すようにパターン読取信号１０における基材部信号より
更に高いレベルに設定して置くから、第４図■に示すよ
うな出力が得られる。次にこの出力を消去パルス発生回
路１６に印加してエラーパルス消去用パルスを得る。具
体的には単安定マルチバイブレータを使用し、その出力
パルス幅は、スライス電圧源９の電圧によりパターン読
取信号１０をスライスしたときのパルス幅（■における
パルス幅）より更に若干長い目のパルスを得るように、
単安定マルチバイブレークのＣＲ素子を調整する。また
遅延回路１５は第１比較器８の出力信号について、パタ
ーン読取信号１０がスライス電圧源９と１３のレベル差
を通過できる時間程度の値を選定する。
の具体的構成を示す図である。第３図において、１５は
遅延回路で第１比較器８の出力回路に挿入さもたちの、
１６は消去パルス発生回路で例えば単安定マルチパイプ
レークを使用し、第２比較器１２の出力回路に挿入され
るもの、１７はアンド回路で、回路１５．１６の両信号
についてアンド演算を行う。また第１図と同一符号は同
様のものを示す。第４図は第３図の動作波形図で第３図
中に対応する個所を○付き数字で示しである。第３図に
おいて、第２比較器１２のスライス電圧は第４図■に示
すようにパターン読取信号１０における基材部信号より
更に高いレベルに設定して置くから、第４図■に示すよ
うな出力が得られる。次にこの出力を消去パルス発生回
路１６に印加してエラーパルス消去用パルスを得る。具
体的には単安定マルチバイブレータを使用し、その出力
パルス幅は、スライス電圧源９の電圧によりパターン読
取信号１０をスライスしたときのパルス幅（■における
パルス幅）より更に若干長い目のパルスを得るように、
単安定マルチバイブレークのＣＲ素子を調整する。また
遅延回路１５は第１比較器８の出力信号について、パタ
ーン読取信号１０がスライス電圧源９と１３のレベル差
を通過できる時間程度の値を選定する。
アンド回路１７において回路１５．１６の出力について
演算すれば、第４図■における誤差信号について消去で
きるので、アンド回路１７の出力■は導電パターンの幅
と対応した値となる。
演算すれば、第４図■における誤差信号について消去で
きるので、アンド回路１７の出力■は導電パターンの幅
と対応した値となる。
［発明の効果］
このようにして本発明によると、第２比較器を具備しそ
のスライス電圧を異常信号を取り出すことができる程度
に、第１比較器のスライス電圧と異ならせたため、簡単
な処理回路により処理して正確な導電パターンの幅を読
取ること島（可能となった。特殊な作業を加えたり、熟
練した作業者を必要とせずに検査ができる効果を有する
。
のスライス電圧を異常信号を取り出すことができる程度
に、第１比較器のスライス電圧と異ならせたため、簡単
な処理回路により処理して正確な導電パターンの幅を読
取ること島（可能となった。特殊な作業を加えたり、熟
練した作業者を必要とせずに検査ができる効果を有する
。
第１図は本発明の原理構成を示す図、
第２図は第１図の動作説明用波形図、
第３図は本発明の実施例の構成を示す図、第４図は第３
図の動作説明用波形図、 第５図は従来のブランクライン法によるパターン読取信
号を得る構成を示す図、 第６図は第５図の動作波形図、 第７図・第８図は比較器によるスライス動作の説明図で
ある。 １・・−線状光線の光源 ４・・−プリント基板 ５・−導電パターン ７−・・光検知素子 ８・・−第１比較器 ９−・スライス電圧源 １０−パターン読取信号 １２−第２比較器 １３−・スライス電圧源 １４−処理回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 オ（δド日月の原理損賎図 第１図 ！５１図の動作液形７ 第２図 実ズツ士巨でｔクリ 第３図 “動作液創口 第４図 第６図 ス 電 王 は」吹牙釈０よるスライス重引ト 第７図 ？ｌ乍憤形図 第８図
図の動作説明用波形図、 第５図は従来のブランクライン法によるパターン読取信
号を得る構成を示す図、 第６図は第５図の動作波形図、 第７図・第８図は比較器によるスライス動作の説明図で
ある。 １・・−線状光線の光源 ４・・−プリント基板 ５・−導電パターン ７−・・光検知素子 ８・・−第１比較器 ９−・スライス電圧源 １０−パターン読取信号 １２−第２比較器 １３−・スライス電圧源 １４−処理回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 オ（δド日月の原理損賎図 第１図 ！５１図の動作液形７ 第２図 実ズツ士巨でｔクリ 第３図 “動作液創口 第４図 第６図 ス 電 王 は」吹牙釈０よるスライス重引ト 第７図 ？ｌ乍憤形図 第８図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 プリント基板（４）上の導電パターン（５）を光検知素
子（７）により光学的に読取った信号（１０）と、導電
パターン（５）・基板（４）を読取った各信号の中間振
幅を有するスライス電圧源の電圧信号とを比較器（８）
に印加し、二値化信号を得るプリント基板パターンの光
学的読取方式において、 前記比較器（８）の外に、第２比較器（１２）と、両比
較器（８）（１２）の両出力信号を処理する処理回路（
１４）とを具備し、 且つ第２比較器（１２）のスライス電源（１３）の電圧
はパターン読取信号（１０）の基材部を読取って得られ
る信号より高レベルに選定すること を特徴とするプリント基板パターンの光学的読取方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62152069A JPS63316184A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | プリント基板パタ−ンの光学的読取方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62152069A JPS63316184A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | プリント基板パタ−ンの光学的読取方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63316184A true JPS63316184A (ja) | 1988-12-23 |
Family
ID=15532375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62152069A Pending JPS63316184A (ja) | 1987-06-18 | 1987-06-18 | プリント基板パタ−ンの光学的読取方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63316184A (ja) |
-
1987
- 1987-06-18 JP JP62152069A patent/JPS63316184A/ja active Pending
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