JPS6338916B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6338916B2 JPS6338916B2 JP57036367A JP3636782A JPS6338916B2 JP S6338916 B2 JPS6338916 B2 JP S6338916B2 JP 57036367 A JP57036367 A JP 57036367A JP 3636782 A JP3636782 A JP 3636782A JP S6338916 B2 JPS6338916 B2 JP S6338916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aperture
- aperture value
- video camera
- pulse voltage
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/75—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing optical camera components
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Diaphragms For Cameras (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Focusing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動絞り機構を有するビデオカメラの
レンズ絞り値検出装置に関するものである。
レンズ絞り値検出装置に関するものである。
最近、ビデオカメラの撮影中のレンズの絞り値
を検出する要求が生じている。たとえば、ピント
合わせ操作を自動で行なういわゆるオートフオー
カス機能を有するビデオカメラが知られている。
このオートフオーカス機能は、被写体までの距離
を測定してその距離にピントが合う様に、あるい
は撮影された像のボケが最小となる位置へと試行
錯誤的にレンズの距離環を移動するものであり、
誤動作を防止したり、消費電力を節約したりする
目的で、距離環の移動可能範囲を必要最少限に制
限する方法が知られている。
を検出する要求が生じている。たとえば、ピント
合わせ操作を自動で行なういわゆるオートフオー
カス機能を有するビデオカメラが知られている。
このオートフオーカス機能は、被写体までの距離
を測定してその距離にピントが合う様に、あるい
は撮影された像のボケが最小となる位置へと試行
錯誤的にレンズの距離環を移動するものであり、
誤動作を防止したり、消費電力を節約したりする
目的で、距離環の移動可能範囲を必要最少限に制
限する方法が知られている。
例えば特開昭56−51164号に詳細に説明されて
いるようにレンズの絞り値を検出してその時点に
応じたレンズの被写界深度を計算し、所定の至近
距離〜∞のピントを確保しうる範囲内に環離環の
移動範囲を制限してオートフオーカス動作をさせ
ることにより距離環移動用モータの消費電力を節
約している。絞り値を検出する手段として絞り羽
根の軸、あるいは絞り羽根を駆動する絞り駆動メ
ータの軸に連動して回転するポテンシヨメータを
配設し、ポテンシヨメータの両端に所定の直流電
圧を印加し、その中点電位が絞り羽根の角度に対
応して変化することを利用する方法が考えられ
る。
いるようにレンズの絞り値を検出してその時点に
応じたレンズの被写界深度を計算し、所定の至近
距離〜∞のピントを確保しうる範囲内に環離環の
移動範囲を制限してオートフオーカス動作をさせ
ることにより距離環移動用モータの消費電力を節
約している。絞り値を検出する手段として絞り羽
根の軸、あるいは絞り羽根を駆動する絞り駆動メ
ータの軸に連動して回転するポテンシヨメータを
配設し、ポテンシヨメータの両端に所定の直流電
圧を印加し、その中点電位が絞り羽根の角度に対
応して変化することを利用する方法が考えられ
る。
しかしながらこの方法は以下に述べる欠点を有
する。第１の欠点は、絞り羽根にポテンシヨメー
タが連結されるため、その摺動子の摩擦抵抗が絞
り羽根を駆動する絞り駆動メータの負荷として加
わり、その結果、絞り駆動メータの消費電流を増
大させることである。この消費電流の増大は電池
を電源として使用するビデオカメラの場合には撮
影可能時間の短縮を招くため良くない。
する。第１の欠点は、絞り羽根にポテンシヨメー
タが連結されるため、その摺動子の摩擦抵抗が絞
り羽根を駆動する絞り駆動メータの負荷として加
わり、その結果、絞り駆動メータの消費電流を増
大させることである。この消費電流の増大は電池
を電源として使用するビデオカメラの場合には撮
影可能時間の短縮を招くため良くない。
第２の欠点はポテンシヨメータが接触式検出で
あること自体に由来する欠点で、絞りがビデオカ
メラの撮影中はほぼ常に駆動され回転しているの
に連動してポテンシヨメータも回転駆動されるた
め、摺動子の信頼性が低下し、長期間の使用に耐
えないかあるいは長寿命とするために著るしく高
価なものとなつてしまう。
あること自体に由来する欠点で、絞りがビデオカ
メラの撮影中はほぼ常に駆動され回転しているの
に連動してポテンシヨメータも回転駆動されるた
め、摺動子の信頼性が低下し、長期間の使用に耐
えないかあるいは長寿命とするために著るしく高
価なものとなつてしまう。
本発明の目的は上記した従来技術に見られた如
き欠点のない絞り検出装置を提供することにあ
る。
き欠点のない絞り検出装置を提供することにあ
る。
上記したポテンシヨメータを用いる絞り値検出
装置の欠点はポテンシヨメータが摺動子を持つい
わゆる接触式検出方法であつたことに由来する。
そこで本発明ではこのポテンシヨメータのかわり
にたとえば磁気抵抗素子と磁石を組み合わせた非
接触式の検出方法とする。更に非接触式の検出方
法ではその出力電圧範囲が小さいため、増幅器を
併用するが、直流電圧を温度変化などに対して安
定に増幅することは困難なので、垂直同期信号に
同期したパルスを磁気抵抗素子に供給し、この出
力電圧を交流的に増幅した後にクランプしてゼロ
レベルを直流的に再生してからサンプルホールド
することにより安定な絞り値検出を行なう。
装置の欠点はポテンシヨメータが摺動子を持つい
わゆる接触式検出方法であつたことに由来する。
そこで本発明ではこのポテンシヨメータのかわり
にたとえば磁気抵抗素子と磁石を組み合わせた非
接触式の検出方法とする。更に非接触式の検出方
法ではその出力電圧範囲が小さいため、増幅器を
併用するが、直流電圧を温度変化などに対して安
定に増幅することは困難なので、垂直同期信号に
同期したパルスを磁気抵抗素子に供給し、この出
力電圧を交流的に増幅した後にクランプしてゼロ
レベルを直流的に再生してからサンプルホールド
することにより安定な絞り値検出を行なう。
以下本発明の実施例を詳細に説明する。第１図
は本発明の絞り値検出装置の一実施例を示す構成
ブロツク図、第２図はその構成の動作を説明する
ための波形概念図である。
は本発明の絞り値検出装置の一実施例を示す構成
ブロツク図、第２図はその構成の動作を説明する
ための波形概念図である。
第１図で１はレンズ、２はビデオカメラ回路、
３は同期信号発生回路、４は自動絞り回路、５は
絞り羽根駆動用メータ、６はレンズ１に内蔵され
る絞り羽根、７は磁気抵抗素子とマグネツトの組
み合わせなどにより構成される非接触形ポテンシ
ヨメータ、８は非接触形ポテンシヨメータ７の中
点端子、９は増幅器、１０は電圧クランプ回路、
１１はサンプルホールド回路、１２は出力端子、
１３はパルス発生回路、７０は端子である。
３は同期信号発生回路、４は自動絞り回路、５は
絞り羽根駆動用メータ、６はレンズ１に内蔵され
る絞り羽根、７は磁気抵抗素子とマグネツトの組
み合わせなどにより構成される非接触形ポテンシ
ヨメータ、８は非接触形ポテンシヨメータ７の中
点端子、９は増幅器、１０は電圧クランプ回路、
１１はサンプルホールド回路、１２は出力端子、
１３はパルス発生回路、７０は端子である。
同図でレンズ１〜絞り羽根駆動メータ５により
構成される閉回路系は従来良く知られたビデオカ
メラの自動絞り制御系と同じものであるからその
動作の説明は省略する。この系の作用により絞り
羽根６は撮影被写体が暗い場合は開放値に、被写
体が明るくなるに従つて除々に絞られた値に自動
的に制御、停止する。
構成される閉回路系は従来良く知られたビデオカ
メラの自動絞り制御系と同じものであるからその
動作の説明は省略する。この系の作用により絞り
羽根６は撮影被写体が暗い場合は開放値に、被写
体が明るくなるに従つて除々に絞られた値に自動
的に制御、停止する。
従つてこの絞り羽根６に連動する非接触式ポテ
ンシヨメータ７は絞り羽根６の絞り値に対応した
動作をすることになるわけである。
ンシヨメータ７は絞り羽根６の絞り値に対応した
動作をすることになるわけである。
同図に示す構成の場合、非接触式ポテンシヨメ
ータ７の入力端子７０には第２図ｂに示す如き、
同期信号発生回路３の出力である垂直同期信号
（第２図ａに示されており、時刻ｔ＝Ｏ，Ｃ，2C
に立ち上る）と同期した時刻ｔ＝Ａ，Ｃ＋Ａ，…
に立ち上るパルス波形状の信号が印加されている
ので、中点８にはレンズ１の絞り値に対応する分
圧電圧が発生する。すなわち、この中点８に現わ
れる分圧電圧を計測することによりレンズ１の絞
り値を知ることができるわけである。
ータ７の入力端子７０には第２図ｂに示す如き、
同期信号発生回路３の出力である垂直同期信号
（第２図ａに示されており、時刻ｔ＝Ｏ，Ｃ，2C
に立ち上る）と同期した時刻ｔ＝Ａ，Ｃ＋Ａ，…
に立ち上るパルス波形状の信号が印加されている
ので、中点８にはレンズ１の絞り値に対応する分
圧電圧が発生する。すなわち、この中点８に現わ
れる分圧電圧を計測することによりレンズ１の絞
り値を知ることができるわけである。
ここで留意すべきは、絞り値の検出素子として
非接触形ポテンシヨメータを用いた場合、絞り値
が開放〜閉じ切りの全域変化に対する中点８の出
力電圧の変化幅が小さいため、増幅をした後に端
子１２に出力するのが好ましいことであり、これ
が、非接触式ポテンシヨメータに印加する電圧と
して直流電圧ではなく第２図ｂの如き波形を選定
する由来である。すなわち、直流電圧を安価かつ
安定に増幅するのは困難であるから第２図ｂに示
すパルス波形の波高値として供給電圧を非接触式
ポテンシヨメータに印加し、中点８にこの分圧電
圧を得た後に安価な交流増幅器９で取扱い易いレ
ベルにまで増幅した後に、無信号電圧である時刻
ｔ＝Ｏ，Ｃ，…すなわち、第２図ａの垂直同期信
号の発生時刻に電圧クランプ回路１０で所定電圧
にクランプすれば、電圧クランプ１０の出力電圧
であるクランプ後の波形の波高電圧は絞り値に対
応した電圧となつている。従つて、電圧クランプ
回路１０の出力電圧をサンプルホールド回路１１
で第２図ｂの波形の波高部分に含まれるタイミン
グ、時刻ｔ＝Ｂ，Ｃ＋Ｂ，…でサンプルホールド
することにより端子１２にレンズ１の絞り値に対
応する直流電圧を得る。第２図ｃにサンプルホー
ルド回路１１のサンプルパルス波形概念図を示
す。
非接触形ポテンシヨメータを用いた場合、絞り値
が開放〜閉じ切りの全域変化に対する中点８の出
力電圧の変化幅が小さいため、増幅をした後に端
子１２に出力するのが好ましいことであり、これ
が、非接触式ポテンシヨメータに印加する電圧と
して直流電圧ではなく第２図ｂの如き波形を選定
する由来である。すなわち、直流電圧を安価かつ
安定に増幅するのは困難であるから第２図ｂに示
すパルス波形の波高値として供給電圧を非接触式
ポテンシヨメータに印加し、中点８にこの分圧電
圧を得た後に安価な交流増幅器９で取扱い易いレ
ベルにまで増幅した後に、無信号電圧である時刻
ｔ＝Ｏ，Ｃ，…すなわち、第２図ａの垂直同期信
号の発生時刻に電圧クランプ回路１０で所定電圧
にクランプすれば、電圧クランプ１０の出力電圧
であるクランプ後の波形の波高電圧は絞り値に対
応した電圧となつている。従つて、電圧クランプ
回路１０の出力電圧をサンプルホールド回路１１
で第２図ｂの波形の波高部分に含まれるタイミン
グ、時刻ｔ＝Ｂ，Ｃ＋Ｂ，…でサンプルホールド
することにより端子１２にレンズ１の絞り値に対
応する直流電圧を得る。第２図ｃにサンプルホー
ルド回路１１のサンプルパルス波形概念図を示
す。
以上が非接触式ポテンシヨメータ７を用いた絞
り値検出装置である。
り値検出装置である。
次に第３図に上記絞り検出装置に用いる非接触
式ポテンシヨメータ７の具体例を示す。同図ａは
非接触ポテンシヨメータ７を絞り駆動メータ５の
軸方向から見た外観概念図、ｂは横方向から見た
外観概念図、ｃは等価回路図である。５１は絞り
駆動メータ５の軸、５２は軸５１に固定された
棒、５３は棒５２に固定されたしや光片、７１は
赤外発光ダイオードなどの発光素子、７２は赤外
受光ダイオードなどの受光素子である。
式ポテンシヨメータ７の具体例を示す。同図ａは
非接触ポテンシヨメータ７を絞り駆動メータ５の
軸方向から見た外観概念図、ｂは横方向から見た
外観概念図、ｃは等価回路図である。５１は絞り
駆動メータ５の軸、５２は軸５１に固定された
棒、５３は棒５２に固定されたしや光片、７１は
赤外発光ダイオードなどの発光素子、７２は赤外
受光ダイオードなどの受光素子である。
同図で発光素子７１と受光素子７２はほぼ同軸
上に配置されており、同図ａに示すごとくしや光
片５３が発光素子７１から発射される光が受光素
子７２に到達する光路をさえぎらない限り、入力
端子７０印加される信号に対応した信号電圧が端
子８にあらわれる。しかるに、前述の説明の如
く、ビデオカメラの自動絞り制御により、絞り駆
動メータの軸が回転するとしや光片５３がこの光
路を除々にさえぎるので、受光素子７２に受光さ
れる光量が減少する。すなわち、レンズの絞り値
と絞り駆動メータの軸５１の回転角度と、しや光
片５３の形状と発光素子７１の位置、受光素子７
２の位置を予じめ絞りが開放の時に端子８に最大
値あるいは最小値が、絞り閉じ切りの時に端子８
に最小値あるいは最大値が生ずる様に設計するこ
とにより非接触ポテンシヨメータを形成し得る。
上に配置されており、同図ａに示すごとくしや光
片５３が発光素子７１から発射される光が受光素
子７２に到達する光路をさえぎらない限り、入力
端子７０印加される信号に対応した信号電圧が端
子８にあらわれる。しかるに、前述の説明の如
く、ビデオカメラの自動絞り制御により、絞り駆
動メータの軸が回転するとしや光片５３がこの光
路を除々にさえぎるので、受光素子７２に受光さ
れる光量が減少する。すなわち、レンズの絞り値
と絞り駆動メータの軸５１の回転角度と、しや光
片５３の形状と発光素子７１の位置、受光素子７
２の位置を予じめ絞りが開放の時に端子８に最大
値あるいは最小値が、絞り閉じ切りの時に端子８
に最小値あるいは最大値が生ずる様に設計するこ
とにより非接触ポテンシヨメータを形成し得る。
第４図に非接触式ポテンシヨメータのもう１つ
の具体例を示す。同図でａは非接触ポテンシヨメ
ータを絞り駆動メータ５の軸方向より見た構造概
念図、ｂは横から見た構造概念図、ｃはその等価
回路である。５４はマグネツト、７３，７４は磁
束がこの素子を通過するとその強度に対応して抵
抗値が増加する磁気抵抗素子、７５は磁気抵抗素
子７３，７４の形成される基板である。
の具体例を示す。同図でａは非接触ポテンシヨメ
ータを絞り駆動メータ５の軸方向より見た構造概
念図、ｂは横から見た構造概念図、ｃはその等価
回路である。５４はマグネツト、７３，７４は磁
束がこの素子を通過するとその強度に対応して抵
抗値が増加する磁気抵抗素子、７５は磁気抵抗素
子７３，７４の形成される基板である。
同図の構成において、絞り駆動メータ５の軸５
１に棒５２を介してマグネツト５４が固定されて
いるので、マグネツト５４と磁気抵抗素子７３，
７４の位置関係は絞りの値に対応したものとな
る。すなわち、端子８には入力端子７０に印加さ
れる電圧を抵抗７３，７４により分圧された電圧
が出力されるが、前記した如く抵抗７３，７４の
抵抗値は、マグネツト５４の位置によりそれぞれ
の抵抗７３，７４を通過する磁束が変化するのに
対して変化するため、例えば絞りが開放の場合に
端子８に最大電圧が現われ（この場合ほぼ磁気抵
抗素子７４にだけマグネツト５４の磁束が印加さ
れるように設計する）、絞りが閉じるにつれて、
磁気抵抗素子７４，７３の両方にマグネツト５４
の磁束が印加されてゆくに従つて端子８の出力電
圧は低下してゆき、絞りが閉じ切つた状態で最小
電圧が現われ（この場合はほぼ磁気抵抗素子７３
にだけマグネツト５４の磁束が印加されるように
設計する）るようにできる。以上が非接触ポテン
シヨメータの構成例である。
１に棒５２を介してマグネツト５４が固定されて
いるので、マグネツト５４と磁気抵抗素子７３，
７４の位置関係は絞りの値に対応したものとな
る。すなわち、端子８には入力端子７０に印加さ
れる電圧を抵抗７３，７４により分圧された電圧
が出力されるが、前記した如く抵抗７３，７４の
抵抗値は、マグネツト５４の位置によりそれぞれ
の抵抗７３，７４を通過する磁束が変化するのに
対して変化するため、例えば絞りが開放の場合に
端子８に最大電圧が現われ（この場合ほぼ磁気抵
抗素子７４にだけマグネツト５４の磁束が印加さ
れるように設計する）、絞りが閉じるにつれて、
磁気抵抗素子７４，７３の両方にマグネツト５４
の磁束が印加されてゆくに従つて端子８の出力電
圧は低下してゆき、絞りが閉じ切つた状態で最小
電圧が現われ（この場合はほぼ磁気抵抗素子７３
にだけマグネツト５４の磁束が印加されるように
設計する）るようにできる。以上が非接触ポテン
シヨメータの構成例である。
なお、第１図におけるパルス発生回路１３とし
ては、例えばワンシヨツトマルチの如き周知のパ
ルス発生回路を用いることができる。
ては、例えばワンシヨツトマルチの如き周知のパ
ルス発生回路を用いることができる。
以上詳細に説明したように、本発明によれば、
安価かつ安定な絞り値の検出が可能であり、かつ
従来の接触式ポテンシヨメータによる絞り値検出
装置の如き絞り駆動電流の増大、信頼性の低下な
どの欠点を有しない。なお、第１図ではサンプル
ホールド回路９の回路例を示さなかつたが、この
回路のデータ保持時間が垂直同期信号周期すなわ
ち、約1/60秒という短かい時間なので例えばトラ
ンジスタ、FETなどの電子スイツチで当業者に
とつて容易に構成しうる。またサンプルホールド
回路９のかわりに変換に要する時間が第２図ｂに
示した非接触ポテンシヨメータ７に印加するパル
ス幅よりも短かい変換時間を有するＡ／Ｄ変換器
とデイジタルメモリを用いてその変換時刻を第２
図ｂのパルス波形の波高部分に含まれるようにす
ることによりデイジタル的に絞り値を検出しても
良い。
安価かつ安定な絞り値の検出が可能であり、かつ
従来の接触式ポテンシヨメータによる絞り値検出
装置の如き絞り駆動電流の増大、信頼性の低下な
どの欠点を有しない。なお、第１図ではサンプル
ホールド回路９の回路例を示さなかつたが、この
回路のデータ保持時間が垂直同期信号周期すなわ
ち、約1/60秒という短かい時間なので例えばトラ
ンジスタ、FETなどの電子スイツチで当業者に
とつて容易に構成しうる。またサンプルホールド
回路９のかわりに変換に要する時間が第２図ｂに
示した非接触ポテンシヨメータ７に印加するパル
ス幅よりも短かい変換時間を有するＡ／Ｄ変換器
とデイジタルメモリを用いてその変換時刻を第２
図ｂのパルス波形の波高部分に含まれるようにす
ることによりデイジタル的に絞り値を検出しても
良い。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の回路における各部の信号波形
図、第３図は本発明において用いる非接触式ポテ
ンシヨメータの具体例を示す図で、ａは外観正面
図、ｂは同側面図、ｃは等価回路図、第４図は同
じく非接触式ポテンシヨメータの他の具体例を示
す図で、ａは外観正面図、ｂは同側面図、ｃは等
価回路図、である。 符号説明、１：レンズ、２：カメラ回路、３：
同期信号発生回路、４：自動絞り回路、５：絞り
羽根駆動メータ、６：絞り羽根、７：非接触ポテ
ンシヨメータ、９：増幅器、１０：電圧クランプ
回路、１１：サンプルホールド回路、１３：パル
ス発生回路、５３：しや光片、５４：マグネツ
ト、７１：発光素子、７２：受光素子、７３およ
び７４：磁気抵抗素子。
第２図は第１図の回路における各部の信号波形
図、第３図は本発明において用いる非接触式ポテ
ンシヨメータの具体例を示す図で、ａは外観正面
図、ｂは同側面図、ｃは等価回路図、第４図は同
じく非接触式ポテンシヨメータの他の具体例を示
す図で、ａは外観正面図、ｂは同側面図、ｃは等
価回路図、である。 符号説明、１：レンズ、２：カメラ回路、３：
同期信号発生回路、４：自動絞り回路、５：絞り
羽根駆動メータ、６：絞り羽根、７：非接触ポテ
ンシヨメータ、９：増幅器、１０：電圧クランプ
回路、１１：サンプルホールド回路、１３：パル
ス発生回路、５３：しや光片、５４：マグネツ
ト、７１：発光素子、７２：受光素子、７３およ
び７４：磁気抵抗素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レンズの絞り機構を有するビデオカメラに使
用されるビデオカメラの絞り値検出装置であつ
て、上記レンズの絞り値を非接触で検知する非接
触式絞り値検出手段と、上記ビデオカメラの垂直
同期信号に同期したパルス電圧を発生するをパル
ス電圧発生手段と、上記非接触式絞り値検出手段
の出力信号を、パルス電圧発生手段が発生するパ
ルス電圧によりサンプリングして保持するサンプ
ルホールド手段を有することを特徴とするビデオ
カメラの絞り値検出装置。 ２ サンプルホールド手段は、パルス電圧発生手
段が発生するパルス電圧に同期して上記非接触式
絞り値検出手段の出力信号をサンプリングするア
ナログデイジタル変換器と、サンプリングにより
得られたデイジタル信号値を記憶するデイジタル
メモリとからなることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のビデオカメラの絞り値検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57036367A JPS58154972A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ビデオカメラの絞り値検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57036367A JPS58154972A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ビデオカメラの絞り値検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58154972A JPS58154972A (ja) | 1983-09-14 |
| JPS6338916B2 true JPS6338916B2 (ja) | 1988-08-02 |
Family
ID=12467859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57036367A Granted JPS58154972A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ビデオカメラの絞り値検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58154972A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113358329B (zh) * | 2021-04-20 | 2022-08-23 | 浙江大华技术股份有限公司 | 光圈检测设备 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS577195Y2 (ja) * | 1976-09-29 | 1982-02-10 | ||
| JPS5623076A (en) * | 1979-07-31 | 1981-03-04 | Tamuron:Kk | Manual stop-down remote control device for television camera |
| JPS5651729A (en) * | 1979-10-04 | 1981-05-09 | Nippon Seimitsu Kogyo Kk | Diaphragm device of servo system |
| JPS5670535A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-12 | Nippon Seimitsu Kogyo Kk | Electronic/manual aperture control servo circuit using a moving magnet type servometer as driving source |
| JPS57200017A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Sony Corp | Aperture locking device |
-
1982
- 1982-03-10 JP JP57036367A patent/JPS58154972A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58154972A (ja) | 1983-09-14 |
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