JPS6361967A - 部品のハンドラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業、１−の利用分！Ｌ’Ｆコ この発明は、部品の自動検査装置に組込まれて順次検査
対象の部品を測定部に供給し、検査終了後の部品を検査
結果に応じて排出する部品のハンドラに関し、特にジャ
ムとか、ピンの曲がりの発生が少ないＩＣハンドラに関
する。

［従来の技術］ 第７図は、従来のＩＣハンドラの基本的な構成を示すＷ
要因である。

図中、Ａは、未検査のＩＣを収納して順次送り出すロー
ダ部であり、一般に、ＩＣマガジン１が積層されている
。このＩＣマガジンの１の内部には、連続的に、個々の
ＩＣが配列されている。

ＩＣマガジン１の中のＩＣは、予熱処理部Ｂに順次自重
にてガイドレールにより案内されて滑降しつつ所定の検
査条件に適合する塩度に予備処理される。この場合のｒ
・備処理としては、−ｒ・熱と予冷等がある。

予熱処理部Ｂを通過したＩＣは、同様にガイドレールに
より案内されて測定部Ｃを順次１ＴＥ１１′〔Ｆ方に自
重降ドしつつ、自動測定器（検査ヘッド、図示せず）に
よって＠杏される。

そして、検りを終えたＩＣは、アンローダ部■）に自重
滑降することになるが、その途中で、検査結果に応じて
分類部Ｅによって分類されて振分られ、平行に設けられ
た複数のレーンを自重滑降して、アンローダ部りにセッ
トされている複数列のマガジンｆａｔ　　ｌｂ＋　　１
ｃ＋　　ｌｅｔ　　１ｆｔ　　Ｉｇ。

１ｈのいずれか１つに収納される。

［解決しようとする問題点］ このようにガイドレール１ユを自重により滑降し、降下
して行く自然落下方式のものにあっては、加熱処理及び
測定処理等のためにＩＣ自体を押さえてその流れを止め
たり、落下方向に合わせてＩＣ自体の方向を転換するこ
とが必要となるため、ＩＣピンの曲がりとかジャムが発
生し易いという欠点がある。また、ガイドレールによる
ために複数のＩＣを並列に検査する場合には、その数に
対応するガイドレールを１１ｒ設しけなければならず１
．１重列に流れるＩＣ相シＴの制御タイミングが難しく
なるとともに、装置が大型化する欠点がある。

このような欠点を解消する方式として、強制搬送する方
式が考えられるが、この場合、ローダ部から強制搬送機
構に部品を載置するためにローダ部側にビックアップア
ーム専の部品取出し機構を設けることが必要となる。そ
して、ローダ部に多数の部品を収納する部品収納容器を
１役けて、部品を連続的に測定部に供給することが必要
となり、しかも、空になった部品収納容器を取り外して
部品を漬載した部品収納容器を新しく装着するようにし
て、多くの部品を連続的に測定して行くことが自動検査
には必要となる。

ところで、ピックアップアーム等の部品取出し機構によ
り部品収納容器から部品を連続的に支障なく取出すため
には、部品収納容器がローダ部に正確に位置決めされて
装着され、かつ部品収納容器が装着されているか否かを
監視することが必要となる。しかしこのような監視機構
と位置決め機構とを個別に設けると装置が大型化する欠
点がある。

〔発明のＩＪ的］ この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、部品収納容器の装？を状態の監視機構と位
置決め機構とを兼用し、小型で部品収納容器のローダ部
への装着がし易い装着検出機構をイー「する部品のノー
ンドラを提供することを目的とする。

［問題点を解決するためのｆ段コ このような目的を達成するためのこの発明のｍ＜品のハ
ンドラは、対称的に傾斜面を持つ谷溝を底面に有し個々
の部品を連続的に収納する部品収納容器と、この部品収
納容器が装着され、谷溝に嵌合する対称的な傾斜面を持
つ山形のローラをＴｆするローダ部と、部品の測定部と
、ローダ部から供給された部品を載置して測定部まで搬
送する搬送機構部とを備えていて、ローラはローダ部に
１−上移動可能に支承され、谷溝に嵌合したときに部品
容器の「１重により押Ｆげられ、この押ドげ状態を検出
して部品収納容器がローダ部に装着されてい　゛ること
を検出するというものである。

［作用コ このように谷１１■に嵌合する対称的な傾斜面を持つ山
形のローラを谷溝に嵌合させることにより、ローラをガ
イドとして部品収納容器をローダ部に位置決めさせるこ
とができる。しかもローラにより位置決めするので、装
着が容易なものとなり、かつこのローラの押下げ状態で
同時に部品収納容器の装着状態の検出ができる。

したがって、特別に、位置決め機構の他に検出機構を設
ける必跨がない。

特に、上部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの部品
収納容器を使用した場合には、多くの部品を連続的に溝
に収納するとともに、溝の一方の開口側から押出機構に
より溝の他方の開口側へ部品を押出して、溝の他方の部
品排出口側に隣接して設けたリニアフィーダにより排出
された部品を受けるようにすれば、１個だけ簡単に分離
して取り出すことができる。このような場合にあっては
、前記のような構成とすることにより、リニアフィーダ
との直線的な位置決めが面？１１で正確に行うことがで
きる。

［実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第１図（ａ）及び（ｂ）は、この発明を適用した一実施
例のＩＣハンドラのローダ部の説明図、第２図は、この
発明を適用した一実施例のＩＣノＡンドラの上部取外し
・）シ面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ）及
び（ｂ）はそのＩＣ収納ラックの説明図、第５図は、ロ
ーダ部からバケット搬送部へＩＣを供給する／％ンドリ
ング操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）は、バケッ
ト搬送機構の側面断面図及び正面断面図である。

なお、これら各図において同一のものは同一の符号で示
す。

第２図〜第３図において、１０は、■Ｃノ１７ドラであ
り、２はそのＩＣローダ部、３はＩＣローダ部からＩＣ
の供給を受け、ＩＣを収納して搬送するバケット搬送機
構部、４はバケット搬送機構部３の搬送路を包み込む恒
温槽、５は、バケ、ソト搬送機構部３から部品の供給を
受けて、その部品を検査する測定部、６は、検査後のＩ
Ｃをバケット搬送機横部３から受けてほぼ水平搬送し、
検査結果に対応して収納部７のラックに収納する分類部
、８はローダ部２及び収納部７に装着され、検査部品（
ここではＩＣ）を収納するう・ンク、そして５ａは、測
定部５に設けられ、ＩＣの電気的特性等を測定するテス
トヘッドである。

ここで、ローダ部２は、第２図及び第１図（ａ）に見る
ようにラック載置テーブル２１と、リニアフィーダ２２
、ピックアップアーム２３（第５図参照）、ラック載置
テーブル２１の下に設けられ、ラック載置テーブル２１
を上下移動させるエレベータ機構２４、そしてラック装
着状態検出／位置決めガイド機構２６とを備えたＩＣロ
ード機横２０が複数並設（図では３個）されていて、各
ＩＣロード機構２０のそれぞれのラック載置テーブル２
１にはラック８がそれぞれ装着されている。

ラック８は、第４図（ａ）、（ｂ）に見るように、１−
″Ｆ力方向複数段積み！−げられた複数のＩＣ収納溝ｓ
ｔ、ｇｔ、　　・φ−が連続的に形成されていて、谷溝
８１に個々のＩＣ（ここではその例としてＰＧＡタイプ
（７）ＩＣ，ノ１イブリ、ソトＩＣ）９をそのピンか上
側となるようにして溝方向及び上下方向に連続的に配列
した形態で収納している。

しかも、谷溝８１の天井面は、各ＩＣが飛び出したり、
前側に配列されたＩＣと競合しないような高さ位置にあ
る。すなわち、その高さは、収納されるＩＣの高さの２
倍より小さいものとなっている。

そして、第１図（ｂ）の断面図に見る押出し爪８２が爪
送り機構８３により溝８１に挿入され、この溝８１に沿
って部品−個の福相当分だけのピッチで水平方向に移動
して、最後部に配列されるＩＣ９を押して、ＩＣ９を１
個分だけ図面左側へと送り移動させる。ここで押出し爪
８２と爪送り機構８３とは、溝８１からＩＣ９を押出す
押出機構を構成していて、溝８１に沿って溝の一方の側
（図面左側）からＩＣ９を押してＩＣ９を溝の他方の側
（図面右側）から外へと押出すものである。

この爪８２が移動する溝８１は、リニアフィーダ２２の
レール２２ａの送り而に一致する位置に位置付けられた
溝である。

なお、押出し爪８２の１ピッチ分の移動制御は、制御部
（図示せず）からの制御信号によりその送出の都度行わ
れる。また、爪送り機構８３は、第１図（ｂ）に見るよ
うに、クランク状の押出し爪８２を挟持していて、第１
図（ａ）に見るよに、ベルト８５を介してプーリ８６に
より駆動され、水平軸８４上をスライドして水平移動す
る。

ここで、リニアフィーダ２２のレール２２ａは、ラック
８の押出し爪８２が挿入される溝８１の部品送出口に隣
接して設けられている。そしてラック８の溝８１から押
出されたＩＣ９をレール２２ａで受けて、これをレール
２２ａの他端のピックアップアーム位置Ｐまで移送する
。このリニアフィーダ２２は、菱形をしていて、その柱
が板ばねにより形成され、所定の周波数、例えば数ｔ−
Ｈｚ〜数百Ｈｚで斜め方向に振動する。

そこで、バケット搬送部３側に供給されるＩＣ９は、押
出し爪８２の１ピッチ分の移動に従って先端側の１つが
、リニアフィーダ２２のレール２２ａ上に押出され゛、
このリニアフィーダ２２により、その先端のピックアッ
プ位置Ｐまで移送される。このことにより送出されたＩ
Ｃ９が先端の部品ピックアップ待機位置にセットされる
。

ここで、ラック８は、ラック載置テーブル２１に着脱可
能に装着され、ラック載置テーブル２１がエレベータ機
構２４により一ヒ下移動されることによりラック８が上
下移動して、溝８１のＩＣ９がすべて排出されるとその
１−の溝８１へと順次下側の溝８１からその底面がリニ
アフィーダ２２のレール２２ａの送り而に一致する位置
に次々に位置決めされる。なお、２５．２５は、ラック
８の両端を縦に貫通している部品抜は落ち防止ピンであ
って、吊り下げ保持されていて、その先端側がリニアフ
ィーダ２２のレール２２ａの面に一致する位置に位ｉξ
付けられた溝８１を塞がない状態（部品抜は落ち防１Ｌ
ピン２５の長さがそれに対応している）となっている。

−・方、ラック装着状態検出／位置決めガイド機構２６
は、所定間隔離れて配置された２つの位置決めガイドロ
ーラ２Ｂ１，２８２とを有していて、これら位置決めガ
イドローラ２Ｂ１．２８２は、それぞれＬ字形フレーム
２８３．２６４の脚部２８３　ａ９２８４　ａの先端に
ピンを介して回転可能に軸着されている。そしてＬ字フ
レーｌ、２６３゜２６４の柱部分２８３ｂ、２６４ｂは
、その中央部分でラック載置テーブル２１の裏面側に固
定されたブラケット２１１．２１１に回動できるように
それぞれピンを介して回転可能に軸着されていて、その
ローラ軸着側に対して反対側にあたる柱部分２８３ｂ、
２８４ｂの先端側にはラック装置テーブル２１に而して
穴が設けられていて、この穴とラック載置テーブル２１
の穴との間に圧縮状態のばね２１２，２１３が装着され
ている。

ばね２１２により位置決めガイドローラ２６１は、図面
において反時計方向に回転するように付勢される。また
、ばね２１３により位置決めガイドローラ２６２は、図
面において時計方向に回転するように付勢される。その
結果、位置決めガイドローラ２６１，２Ｂ２は、−トド
移動可能にとなる。

ところで、位置決めガイドローラ２６１は、ラック載置
テーブル２１の部分断面から理解できるように、ラック
載置テーブル２１に設けられた開口ｍ＜２１４より突出
している。したがって、位置決めガイドローラ２８１は
、ラック載置テーブル２１に対して前記開口部２１３を
貫通して上下移動し、進退する。このことは、部分断面
図として図示していない位置決めガイドローラ２６２に
ついても同様である。

位置決めガイドローラ２６１が位置決めガイドローラ２
６２と相違する点としては、５字フレーム２６３の柱部
分２６３ｂに押下げ検出用のレノく−２６４が柱部分２
６３ｂと垂直になるように固定されていることである。

このレバー２６４は、位置決めガイドローラ２６１がう
・ツク８により押下げられたときに発生する５字フレー
ム２６３の回動を拡大するものであって、その下側先端
側の曲折室１・、げ部２６４ａに孔を有していて、この
孔に発光素ｒからの光を通過させることにより、その光
をホトセンサで検出することで、う・ツク８が装着され
ていない状態を検出し、ラック８が装着されたときには
曲折立上げ部２６４ａの孔がずれて、発光素子からの光
を遮ることにより受光素子側が非受光状態となって、こ
のことでラック装着状態を検出するものである。

ところで、位置決めガイドローラ２Ｅ！１，２６２は、
それぞれ第１図（ｂ）に見るように、その周面が対称的
な傾斜面を有する山形となっていて、ラック８の裏面底
面に設けられた谷溝８４に嵌合する。この谷溝８４は、
対称的な傾斜面８４ａ。

８４ｂを持っていて、この傾斜面８４　ａ、　　８４　
ｂが位置決めガイドローラ２Ｂ１．２８２の山形の傾斜
面に嵌合することにより、ローラ２６１によりずれなく
、正確に位置決めされる。また、第１図（ａ）に見るよ
うに、ラック８の後端部に接するように、ローラ２６５
がラック載置テーブル２１に回転可能に軸着されていて
、ラック８の先端部は、爪２６６が咬み込みこれにより
押さえられる。したがって、ラック８が図面右側から装
着され、左側へと押込まれたときに、位置決めガイドロ
ーラ２８１，２６２により案内されて位置付けられ、爪
２６６によりその移動が停＋ｆ−され、ローラ２６５に
沿ってラック８の後部が落とし込まれてリニアフィーダ
２２のレール２２　ａに対して前後、左右に対し移動し
ないように固定され、位置決めされる。

ＩＣロード機構２０は、このようなラック８及びそのエ
レベータ機構２４、爪送り機構８３、そしてラック装着
状態検出／位置決めガイド機構２６等からなり、ここで
はローダ部２に３個並設されている。初期状態では、Ｉ
Ｃロード機構２０のラック８は、−層下の溝８１の底面
がレール２２ａの上面に一致していて、この溝８１々）
らＩＣが送出されて、その溝８１が空になると、溝８１
の積み」−げピッチ（１ピツチ）分だけドげられる。

すなわち、あるラック８の溝８１のＩＣが空になった時
点で、ラック８は、エレベータ機構２４によりドへと移
動してその−１−にある溝８１の底面がレール２２ａの
上面の位置に位置付けられる。

さて、ラック８から送出されてリニアフィーダ２２のレ
ール２２ａの先端で待機しているＩＣ９は、第５図及び
第６図（ａ）に見るようにピックアップアーム２３の爪
２３１が開かれた状態で降ドし、閉じられることにより
把持され、バケット搬送機構部３のバケット３１の各収
納位置までレール２２ａ−ヒを移動して順次運ばれる。

そして爪２３１が開かれてＩＣ９がそれぞれの収納量１
」部３２にセットされる。ここで収納開口部３２は、１
つのバケット３１に４つ設けられていて、第６図（ａ）
に示すようにバケット３１の端から順次４個のＩＣ９が
収納開口部３２に収納されて行く。

したがって、ピックアップアーム２３のハンドリング時
間に合わせたタイミングでラック８から４個のＩＣ９が
一個一・個間欠的に送出され、リニアフィーダ２２の先
端の待機位置Ｐに搬送されて、ピックアップアーム２３
により順次リニアフィーダ２２から４個のＩＣ９が−・
個−・個取りＩ；げられてバケット３１に個々に搬送さ
れる。

なお、２３２は、ピックアップアーム２３の爪２３１を
閉じる方向に付勢するばねであり、２３３．２３３及び
２３４．２３４は、爪２３１を開く方向に回動させるカ
ム而及びローラ、そして２３５．２３５は、爪２３１の
２つの各爪片の回動支点である。

このようして１つのバケット３１にＩＣ４個がセットさ
れると、バケット３１が１つ前へと進み、次の空のバケ
ット３１がリニアフィーダ２２に対応するＩＣ供給位置
に位置付けられる。ここで、あるＩＣロード機構２０の
ラック８のＩＣがすべて空になると、詞御部からの制御
信号に応じてエレベータ機構２４が上昇制御されてラッ
ク８が上へと移動して元の初期状態に戻り、ピックアッ
プアーム２３が次のＩＣロード機構２０の位置へと移動
してそのＩＣロード機構２０のラック８からＩＣが供給
され、空になったラック８は、取り外される。そしてＩ
Ｃが一杯詰まった新しいラック８が、取り外されたＩＣ
ロード機構２０に新たに装着される。

ところで、このバケット３１は、第６図（ａ）。

（ｂ）に見るように、複数個が所定間隔をおいて両端で
無端のチェーン３２ａ、３２ｂにより連結されている。

そして第３図に見るように、このチェーン３２ａ、３２
ｂがバケット搬送機構部３の両端に設けられたスプロケ
ット３３ａ、３３ｂに咬み合って送られることで順次搬
送される。すなわち、これらはチェーン伝動機構を構成
している。

したがって、バケット３１は、チェーン３２ａ。

３２ｂに架は渡されて支持され、前側のスプロケット３
３ａが間欠的にモータ３４によりタイミングベルト３５
を介して駆動され、各バケット３１が所定のピッチで間
欠送りされる。ここでバケット３１は、熱伝導性のよい
金属等の部材、例えばアルミニウム等で構成されている
。

さて、第２図、第３図に見るようにバケット搬送機構部
３は、チェーン３２ａ、３２ｂも含めてバケットが恒温
槽４の中に収納され、恒温槽４の底部に設けられがヒー
タ４１により加熱される。

したがって、バケット３１に収納されたＩＣ９は、この
送り過程で所定の温度まで加熱される。

そして、第６図（ｂ）に見るように、測定部５の下まで
送られ、測定部５にバケット３１が位置したときに、間
欠送りの停止した状態に一致したスプロケット３３ａの
駆動の停止状態において、この停止期間中の初期に測定
部５に対応するバケット３１の下側に配置された直動カ
ム３８ａによるピン押り機構３６によりチャック付き押
さえピン３７が上へ駆動されて、各収納開口部３２を貫
通して測定部５側へとＩＣ９を把持して押上げ押付ける
。なお、このビン押上機構３６及び押さえピン３７はそ
れぞれ各収納開口部３２の下側に位置して４つ並設され
ていて、押さえピン３７の先端のチャック部分はピック
アップアームの爪２３と同様な形状をしている。

ここで、測定部５には、その天井側から下側に向けて固
定されたコンタクトユニット５１（又はソケット５１）
が各収納開口部３２の位置に対応するように設けられて
いて、第２図（ｂ）の点線で示すように前記押さえピン
３７により押にられたＩＣ９がこのコンタクトユニット
のコンタクトに接触して電気的に接続される。そしてコ
ンタクトユニット５１に結合されたテストヘッド５ａに
より押上られ接触したＩＣ９の測定処理がなされる。

このようにして、測定部５にＩＣ９が供給され、測定部
５により各ＩＣ９の測定が行われ、測定が終了した時点
でピン押上機構３６が直動カム３６ａの戻り移動により
下降作動して押さえピン３７が降下して、コンタクトユ
ニット５１との接続が解かれる。そして各ＩＣ９がバケ
ット３１の元の収納開口部３２に戻される。なお、この
時点では、押さえピン３７の先端部のチャックは、バケ
ット３１の底面より下側に位置している。

その後、間欠送りの停止期間が終了して、次の送り状態
に入り、バケツ）３１がチェーン３２ａ。

３２ｂを介して次に送られる。そして次のバケット３１
が測定部５の下に位置してコンタクトユニット５１のコ
ンタクトに次のＩＣ９の端ｒを接触させて、同様な測定
する。このようにしてＩＣの／！Ｉ１１定部５に封部５
供給処理がなされる。

次に、測定の終了したＩＣ９はＮ　ｉｒｒびバケット３
１に収納されて４つのＩＣがともに搬送され、前側のス
プロケット３３ａの近傍にある部品ピックアップ位置に
来たときに、第３図及び第６図（ｂ）に見るように、分
類部６のピックアップアーム６１によりそれぞれの４個
のＩＣ９がバケット３１から取出されて、ベル）６２ａ
上に搬送される。なお、ピックアップアーム６１は、ピ
ックアップアーム２３と同様な構成をしていて、６１１
は、その爪である。

ここで、前記分類部のピックアップ６１がバケット３１
の各収納開口部３２に４つの各ＩＣをセットする作業時
間及びここでのバケット３１の各収納開口部３２から４
つの各ＩＣ９を取り出す作業時間は、前記測定部５のＩ
Ｃ７１１１１定時間より短い時間であり、ＩＣ９の湧１
定中であってバケット３１の送りが停止している間に行
われる。

分類部６は、ピックアップアーム６１と、ベルト搬送機
構６２、分類数に対応する複数のＩＣ押出機構６３とか
らなり、第２図に見るように、ベルト搬送機構６２は、
搬送方向に対して直角となる横方向に横断する溝８２ｂ
の付いた溝付きのベル）８２ａを有している。そしてこ
のベルト６２ａの溝６２ｂにＩＣ９を収納し、ＩＣ９を
対応するラック８の位置において、分類に対応するＩＣ
押出機構６３を作動してその押込みピン６３ａを伸張さ
せることでベルトの溝８２ｂを案内としてラック８の溝
８１にＩＣ９を押込む。このことによりＩＣ９が検査結
果に応じて分類される。この場合、この溝付きのベルト
６２ａに代えて、バケット３１の収納開口部３２の溝に
対応するような横断溝を持ったバケットを用いて搬送し
てもよい。

この場合のバケットは、バケット３１と同様にチェーン
により連結しても、また、ベルト上に直接固定してもよ
い。

なお、先のエレベータ機構２４のエレベータ機構のヒト
動の作動制御及びそのタイミング、ピックアップアーム
２３の爪２３１及びビ、ンクア、ンプアームの爪の開閉
作動の制御及びそのタイミング、そして分類部のＩＣ押
込み機構の押込みピンの進退作動制御及びそ・のタイミ
ング、そしてピン押上機構３６の直動カム３６ａの往復
作動制御及びそのタイミングとは、それぞれマイクロプ
ロセ、ンサを内蔵した制御部からの電気信号により決定
され、制御されるものである。

以上説明してきたが、バケット搬送機構部の搬送機構は
、チェーンに限定されるものではなく、ベルト等による
、いわゆる無端巻掛は伝動機構を使用することができる
。また、このような巻掛は伝動機構の他、平行四辺形の
リンクを使用して水〜１１のレール上に載置してバケッ
トを爪送りする間欠送り機構でもよい。また、ベルトに
爪を設けてバケット又は部品を直接間欠送りするもので
あってもよい。

実施例では、ＩＣ搬送機構部全体が恒温槽の中に配置さ
れているが、これは、全体を恒温槽の中に配置する必要
はない。なお、好ましくは、その搬送路の−・部が恒温
槽の中にあるとよい。また、熱処理としてヒータによる
加熱を−１−げているが冷却であってもよいことはもち
ろんである。

また、実施例では、ラックをガイドする位置決めガイド
ローラを２つ設けていてるが、これは１個でも、また、
３個以上であってもよいことはもちろんである。

さらに、実施例では、爪送り機構によりラックから部品
を外へと送り出しているが、これは、ピンを出口の反対
側から溝に沿って挿入し、反対の出口側から押出すよう
にしてもよく、爪による送り機構に限定されるものでは
ない。いわゆる溝から部品を押出す押出機構ならばよい
。

また、実施例では、多段に溝を有するラックを使用して
いるが、段は１段のものであってもよく、いわゆる上部
が塞さがれているような溝を持ち、容器から部品がこぼ
れ落ちたり、不整列きなったりし難いもので、部品が容
器から直接ピックアップすることが難しいような部品容
器であればどのようなものでも適用できる。

さらに、この発明では、取り扱う部品がＩＣに限定され
るものではないことはもちろんである。

［発明の効果コ 以上の説明から・理解できるように、この発明にあって
は、谷溝に嵌合する対称的な傾斜面を持つ山形のローラ
を谷溝に嵌合させることにより、ローラをガイドとして
部品収納容器をローダ部に位置決めさせることができる
。しかもローラにより位置決めするので、装着が容易な
ものとなり、かつこのローラの押下げ状態で同時に部品
収納容器の装着状態の検出ができる。

したがって、特別に、位置決め機構の他に検出機構を設
ける必要がない。

特に、上部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの部品
収納容器を使用した場合には、多くの部品を連続的に溝
に収納するとともに、溝の一方の開口側から押出機構に
より溝の他方の開口側へ部品を押出して、溝の他方の部
品υ口Ｆ１０側に隣接して設けたリニアフィーダにより
排出された部品を受けるようにすれば、１個だけ而り１
に分離して取り出すことができる。このような場合にあ
っては、前記のような構成とすることにより、リニアフ
ィーダとの直線的な位置決めが簡単で正確に行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）及び（ｂ）は、この発明を適用した一実施
例のＩＣハンドラのローダ部の説明図、第２図は、この
発明を適用した一実施例のＩＣハンドラの上部取外しｊ
１面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ）及び（
ｂ）はそのＩＣ収納ランクの説明図、第５図は、ローダ
部からバケット搬送部へＩＣを供給するハンドリング操
作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）はバケット搬送機
構の側面断面図及び正面断面図、第７図は、従来のＩＣ
ハンドラの外観図である。 １・・・ＩＣハンドラ、２・・・ＩＣロータ部、３・・
・バケット搬送機構部、４・・・恒温槽、５・・・測定
部、６・・・分類部、 ７・・・収納部、８・・・７１ｔｌＩ定部、８・・・ラ
ック、９・・・ＩＣ１１０・・・ＩＣハンドラ、２０・
・・ＩＣロード機構、 ２１・・・ラック載置テーブル、 ２２・・・リニアフィーダ、２３・・・ピックアップア
ーム、２４・・・エレベータ４ｍ＋Ｌ３１・・・バケッ
ト、３２・・・収納開口部、８１・・・溝。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）対称的に傾斜面を持つ谷溝を底面に有し個々の部
   品を連続的に収納する部品収納容器と、この部品収納容
   器が装着され、前記谷溝に嵌合する対称的な傾斜面を持
   つ山形のローラを有するローダ部と、前記部品の測定部
   と、前記ローダ部から供給された部品を載置して前記測
   定部まで搬送する搬送機構部とを備え、前記ローラは前
   記ローダ部に上下移動可能に支承され、前記谷溝に嵌合
   したときに前記部品容器の自重により押下げられ、この
   押下げ状態を検出して前記部品収納容器が前記ローダ部
   に装着されていることを検出することを特徴とする部品
   のハンドラ。
2. （２）収納容器は個々の部品を連続的に収納する、上部
   が塞がれた溝を有し、ローダ部はテーブルと複数のロー
   ラとを有していて、これら複数のローラは上下移動可能
   にテーブルに支承されていることを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載の部品のハンドラ。
3. （３）収納容器は溝を多段に有するラックであり、ロー
   ダ部は、前記溝に沿って溝の一方の側から部品を押して
   溝の他方の側から部品を外へと押出す部品押出機構と、
   前記溝の部品排出口に隣接しそのレールが設けられたリ
   ニアフィーダと、このリニアフィーダの前記レール上か
   ら前記部品をピックアップして搬送機構に供給するピッ
   クアップアームとを有し、ローラの押下げられた状態は
   光学センサにより検出することを特徴とする特許請求の
   範囲第２項記載の部品のハンドラ。
4. （４）搬送機構部は無端巻掛け伝動機構を備えていて、
   バケットはこの無端巻掛け伝動機構の無端巻掛け部材に
   固定されかつ複数の部品が収納されることを特徴とする
   特許請求の範囲第３記載の部品のハンドラ。