JPS6362247A - 部品のハンドラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分寿］ この発明は、部品の自動検査装置に組込まれて順次検査
対象の部品を測定部に供給し、検査終了後の部品を検査
結果に応じて排出する部品のハンドラに関し、特に、ジ
ャムとか、ビンの曲がりの発生が少ないＩＣハンドラに
関する。

［従来の技術］ 第７図は、従来のＩＣハンドラの基本的な構成を示すＷ
１１部である。

図中、Ａは、未検査のＩＣを収納して順次送り出すロー
ダ部であり、一般に、ＩＣマガジン１が積層されている
。このＩＣマガジンの１の内部には、連続的に、個々の
ＩＣが配列されている。

ＩＣマガジン１の中のＩＣは、ｒ・熱処理部Ｂに順次自
重にてガイドレールにより案内されて滑降しつつ所定の
検査条件に適合する温度に予備処理される。この場合の
予備処理としては、ｒ熱とｒ冷等がある。

ｐ熱処理部Ｂを通過したＩＣは、同様にガイドレールに
より案内されて測定ｄ＜Ｃを順次重直下方に自重時ドし
つつ、自動測定器（検査ヘッド、図示せず）によって検
りされる。

そして、検査を終えたＩＣは、アンローダ部１）に自重
滑降することになるが、その途中で、検査結果に応じて
分類部Ｅによって分類されて振分られ、平行に設けられ
た複数のレーンを自重滑降して、アンローダ部りにセ・
ノドされている複数列のマガジンｌａ＋　　１ｂ＋　　
ｌｔ、ｌｅｔ　　１ｆ＋　　ｔｇ。

１ｈのいずれか１つに収納される。

［解決しようとする問題点コ このようにガイドレール！−を自重によりぺ１降し、降
ドして行く自然落ド方式のものにあっては、加熱処理及
び測定処理等のためにＩＣ自体を押さえてその流れを止
めたり、落下方向に合わせてＩＣ自体の方向を転換する
ことが必要となるため、ＩＣピンの曲がりとかジャムが
発生し易いという欠点がある。また、ガイドレールによ
るために複数のＩＣを並列に検査する場合には、その数
に対応するガイドレールを並設しけなければならず、並
列に流れるＩＣ相互の制御タイミングが難しくなるとと
もに、装置が大型化する欠点がある。

このような欠点を解消する方式として、強制搬送する方
式が考えられるが、この場合、ローダ部から強制搬送機
構に部品を載置するためにローダ部側にピックアップア
ーム等の部品取出し機構を設けることが必要となる。

ピックアップアームは、−・般に、部品収納容器の１−
側から部品を把持するものであるので、容器の１−側が
開放状態にあることが必要となる。しかし、多くの部品
を連続的に収納する容器の１・６部が開放状態になって
いると、部品がきっちり配列されて収納されなかったり
、収納容器の内部でジャムが発生したりし、さらには収
納容器からこぼれ落ちる危険性がある。

しかし、このようなことを回避するために容器の上部を
塞ぐと部品のピックアップができなくなるという問題点
を生じる。

［発明のｌ二１的］ この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、上部が塞がれた容器であっても、そこから
容易に部品を取出すことができるような部品のハンドラ
を提供することを目的とする。

［問題点を解決するための手段コ このような目的を達成するためのこの発明の部品のハン
ドラは、個々の部品を連続的に収納する、上部が塞がれ
た溝を有する部品収納容器と、この部品収納容器が装着
されるローダ部と、部品の４部１定部と、ローダ部から
供給された部品を載置して測定部まで搬送する搬送機構
部とを備えていて、ローダ部は、１１′／ｌに沿って溝
の＝−・方の側から部品を押して溝の他方の側から部品
を外へと押出す部品押ＩＮ機構と、溝の部品排出し１に
隣接しそのレールが設けられたリニアフィーダと、この
リニアフィーダのレール」−から部品をピ・ソクア、ツ
ブして搬送機構に供給するピックア・ンプアームとを有
しているというものである。

［作用コ このように１−１部が塞がれた状態にある部品収納溝付
きの部品収納容器を設けて、多くの部品を連続的に溝に
収納するとともに、溝の一方の開口側から押出機構によ
り溝の他方の開口側へ部品を押出して、溝の他方の部品
排出口側に隣接して設けたリニアフィーダにより排出さ
れた部品を受けることにより部品を簡単に１個だけ分離
して取り出すことができ、リニアフィーダにより取出さ
れた；１−品をピックアップし易い位置まで移送できる
。

しかも、リニアフィーダを用いることにより搬送機構に
部品を供給する部品供給機構全体を小型なものとするこ
とができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ランク＋リニアフィーダにより大量の部品を
順次比較的短時間の内に供給でき、部品自体を強制的に
押さえてその流れを止めたりする必要がなくなる。

その結果、ガイドレール専による落Ｆ搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。しかも、前記ラック＋リニアフィーダに加え
て、搬送機構側にバケットを用いてほぼ水平に搬送する
ようにしてかつ部品を複数個並列にバケットに収納すれ
ば、筒中に、複数個の部品を同時に検査処理でき、装置
自体の大きさもあまり大きくせずに済む。

［実施例］ 以下、この発明の−・実施例について図面を用いて詳細
に説明する。

第１図（ａ）及び（ｂ）は、この発明を適用した一実施
例のＩＣハンドラのローダ部の説明図、第２図は、この
発明を適用した・実施例のＩＣ／ＸＣ／ラン１一部数外
しり１１．面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ
）及び（ｂ）はそのＩＣ収納ラックの説明図、第５図は
、ローダ部からバケ、−Ｊト搬送部へＩＣを供給するハ
ンドリング操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）は、
バケット搬送機構の側面断面図及び正面断面図である。

なお、これら各図において同一のものは同一の符吋で示
す。

第２図〜第３図において、１０は、ＩＣハンドラであり
、２はそのＩＣローダ部、３はＩＣローダ部からＩＣの
供給を受け、ＩＣを収納して搬送するバケット搬送機構
部、４はバケット搬送機構部３の搬送路を包み込む恒温
槽、５は、バケット搬送機構部３から部品の供給を受け
て、その部品を検査する測定部、６は、検査後のＩＣを
バケット搬送機構部３から受けてほぼ水・１４搬送し、
検査結果に対応して収納部７のラックに収納する分類部
、８はローダ部２及び収納部７に装着され、検査部品（
ここではＩＣ）を収納するラック、そして５ａは、測定
部５に設けられ、ＩＣの電気的特性等を測定するテスト
ヘッドである。

ここで、ローダ部２は、第２図及び第１図（ａ）に見る
ようにラック載置テーブル２１と、リニアフィーダ２２
、ピックアップアーム２３（第５図参照）、ラック載置
テーブル２１の下に設けられ、ラック載置テーブル２１
を−Ｌ゛ド移動させるエレベータ機構２４とを備えたＩ
Ｃロード機構２０が複数並設（図では３個）されていて
、各ＩＣロード機構２０のそれぞれのラック載置テーブ
ル２１にはラック８がそれぞれ装着されている。

ラック８は、第４図（ａ）、（ｂ）に見るように、上下
方向に複数段積み上げられた複数のＩＣ収納溝８１．８
Ｌ　　・・・が連続的に形成されていて、谷溝８１に個
々のＩＣ（ここではその例としてＰＧＡタイプのＩＣ，
ハイブリットＩＣ）９をそのピンがＬ側となるようにし
て溝方向及び−１−ド方向に連続的に配列した形複で収
納している。

しかも、谷溝８１の天井面は、各ＩＣが飛び出したり、
前側に配列されたＩＣと競合しないような高さ位置にあ
る。すなわち、その高さは、収納されるＩＣの高さの２
倍より小さいものとなっている。

そして、第１図（１））の断面図に見る押出し爪８２が
爪送り機構８３により溝８１に挿入され、この溝８１に
沿って部品−個の幅用当分だけのピッチで水平方向に移
動して、最後部に配列されるＩＣ９を押して、ＩＣ９を
１個分だけ図面左側へと送り移動させる。ここで押出し
爪８２と爪送り機構８３とは、溝８１からＩＣ９を押出
す押出機構を構成していて、溝８１に沿って溝の一方の
側（図面左側）からＩＣ９を押してＩＣ９を溝の他方の
側（図面右側）から外へと押出すものである。

この爪８２が移動する溝８１は、リニアフィーダ２２の
レール２２ａの送り而に一致する位置に位置付けられた
溝である。

なお、押出し爪８２のｌピッチ分の移動制御は、制御部
（図示せず）からの制御信号によりその送出の都度行わ
れる。また、爪送り機構８３は、第１図（ｂ）に見るよ
うに、クランク状の押出し爪８２を挟持していて、第１
図（ａ）に見るよに、ベルト８５を介してプーリ８６に
より駆動され、水・ＩＩ、軸８４」―をスライドして水
（１シ移動する。

ここで、リニアフィーダ２２のレール２２　ａ　ハ、ラ
ック８の押出し爪８２が挿入される溝８１の部品送出口
に隣接して設けられている。そしてラック８の１−■８
１から押出されたＩＣ９をレール２２ａで受けて、これ
をレール２２ａの他端のピックアップアーム位置Ｐまで
移送する。このリニアフィーダ２２は、菱形をしていて
、その柱が板ばねにより形成され、所定の周波数、例え
ば数十Ｈｚ〜数百Ｈｚで斜め方向に振動する。

そこで、バケット搬送部３側に供給されるＩＣ９は、押
出し爪８２のｌピッチ分の移動に従って先端側の１つが
、リニアフィーダ２２のレール２２ａ上に押出され、こ
のリニアフィーダ２２により、その先端のピックアップ
位置Ｐまで移送される。このことにより送出されたＩＣ
９が先端の部品ピックアップ待機位置にセットされる。

ここで、ラック８は、ラック載置テーブル２１に着脱可
能に装着され、ラック載置テーブル２１がエレベータ機
構２４により（−上移動されることによりラック８が上
上移動して、溝８１のＩＣ９がすべてｔ〕＋出されると
その−Ｉ−の溝８１へと順次ド側の溝８１からその底面
がリニアフィーダ２２のレール２２ａの送り而に一致す
る位置に次々に位置決めされる。なお、２５．２５は、
ラック８の両端を縦にｌ！ｊ通している；１−都政は落
ち防止ピンであって、吊りドげ保持されていて、その先
端側がリニアフィーダ２２のレール２２ａの面に一致す
る位置に位置付けられた溝８１を塞がない状態（部都政
は落ち防１ト、ピン２５の長さがそれに対応している）
となっている。

ＩＣロード機構２０は、このようなラック８及びそのエ
レベータ機構２４、爪送り機構８３、そしてラック装着
状態検出／位置決めガイド機横２６等からなり、ここで
はローダ部２に３個並設されている。初期状態では、Ｉ
Ｃロード機構２０のラック８は、一番ドの溝８１の底面
がレール２２ａの１−而に−・致していて、この溝８１
がらＩＣが送出されて、その溝８１が空になると、溝８
１の積み１−げピッチ（ｌピッチ）分だけドげられる。

すなわち、あるラック８の溝８１のＩＣが空になった時
点で、ラック８は、エレベータ機構２４により下へと移
動してその上にある溝８１の底面がレール２２ａの上面
の位置に位置付けられる。

さて、ラック８から送出されてリニアフィーダ２２のレ
ール２２ａの先端で待機しているＩＣ９は、第５図及び
第６図（ａ）に見るようにピンクアップアーム２３の爪
２３１が開かれた状咀で降ドし、閉じられることにより
把持され、バケット搬送機構部３のバケット３１の各収
納位置までレール２２ａ上を移動して順次運ばれる。そ
して爪２３１が開かれてＩＣ９がそれぞれの収納開口部
３２にセットされる。ここで収納量［１部３２は、１つ
のバケット３１に４つ設けられていて、第６図（ａ）に
示すようにバケット３１の端から順次４個のＩＣ９が収
納量Ｌ１部３２に収納されて行く。

したがって、ピックアップアーム２３のハンドリング時
間に合わせたタイミングでラック８から４個のＩＣ９が
一個−・個間欠的に送出され、リニアフィーダ２２の先
端の待機位置Ｐに搬送されて、ピックアップアーム２３
により順次リニアフィーダ２２から４個のＩＣ９が一個
一個取りにげられてバケット３１に個々に搬送される。

なお、２３２は、ピックアップアーム２３の爪２３１を
閉じる方向に付勢するばねであり、２３３．２３３及び
２３４．２３４は、爪２３１を開く方向に回動させるカ
ム而及びローラ、そして２３５．２３５は、爪２３１の
２つの各爪片の回動支点である。

このようして１つのバケッ１３１にＩＣ４個がセットさ
れると、バケット３１が１つ前へと進み、次の空のバケ
ツ）３１がリニアフィーダ２２に対応するＩＣ供給位置
に位置付けられる。ここで、あるＩＣロード機構２０の
ラック８のＩＣがすべて空になると、制御部からの制御
信号に応じてエレベータ機構２４が一上昇制御されてラ
ンク８が−ｔｚへと移動して元の初期状態に戻り、ピッ
クアップアーム２３が次のＩＣロード機構２０の位置へ
と移動してそのＩＣロード機構２０のラック８からＩＣ
が供給され、空になったラック８は、取り外される。そ
してＩＣが一杯詰まった新しいう、り８が、取り外され
たＩＣロード機構２０に新たに装着される。

ところで、このバケット３１は、第６図（ａ）。

（ｂ）に見るように、複数個が所定間隔をおいて両端で
ｊ！１（端のチェーン３２　ａ、　３２　ｂにより連結
されている。そして第３図に見るように、このチェーン
３２ａ、３２ｂがバケット搬送機構部３の両端に設けら
れたスプロケッｌ−３３ａ、３３ｂに咬み合って送られ
ることで順次搬送される。すなわち、これらはチェーン
伝動機構を構成している。

したがって、バケット３１は、チェーン３２ａ。

３２ｂに架は渡されて支持され、前側のスプロケット３
３ａが間欠的にモータ３４によりタイミングベルト３５
を介して駆動され、各バケット３１が所定のピッチで間
欠送りされる。ここで、バケット３１は、熱伝導性のよ
い金属等の部材、例えばアルミニウム等で構成されてい
る。

さて、第２図、第３図に見るようにバケット搬送機構部
３は、チェーン３２ａ、３２ｂも含めてバケットが恒温
槽４の中に収納され、恒温槽４の底部に設けられたヒー
９４１により加熱される。

したがって、バケット３１に収納されたＩＣ９は、この
送り過程で所定の温度まで加熱される。

そして、第６図（ｂ）に見るように、測定部Ｓの下まで
送られ、測定部５にバケット３１が位置したときに、間
欠送りの停止上した状態に一致したスプロケッ）３３ａ
の駆動の停止吠態において、この停止１・期間中の初期
に測定部５に対応するバケット３１のド側に配置された
直動カム３Ｅｆａによるピン押上機構３６によりチャッ
ク付き押さえピン３７がｔへ駆動されて、各収納開口部
３２を貫通して測定部５側へとＩＣ９を把持して押上げ
押付ける。なお、このピン押上機構３６及び押さえピン
３７はそれぞれ各収納開「１部３２の下側に位置して４
つ並設されていて、押さえピン３７の先端のチャック部
分はビックア、・、プアームの爪２３と同様な形状をし
ている。

ここで、測定部５には、その大片側からド側に向けて固
定されたコンタクトユニット５１（又はソケット５１）
が各収納開「１部３２の位置に対応するように設けられ
ていて、第２図（ｂ）の点線で示すように前記押さえピ
ン３７により押上られたＩＣ９がこのコンタクトユニッ
トのフンタクトに接触して電気的に接続される。そして
コンタクトユニット５１に結合されたテストへラド５ａ
により押上られ接触したＩＣ９の測定処理がなされる。

このようにして、測定部５にＩＣ９が供給され、測定部
５により各ＩＣ９の測定が行われ、測定が終ｒした時点
でピン押り機構３６が直動カム３６ａの戻り移動により
下降作動して押さえピン３７が降下して、コンタクトユ
ニット５１．！：の接続が解かれる。そして各ＩＣ９が
バケット３１の元の収納開口部３２に戻される。なお、
この時点では、押さえピン３７の先端部のチャックは、
バケット３１の底面より下側に位置している。

その後、間欠送りの停止１−期間が終了して、次の送り
状態に入り、バケット３１がチェーン３２ａ。

３２ｂを介して次に送られる。そして次のバケ。

ト３１が測定部５のドに位置してコンタクトユニット５
１のコンタクトに次のＩＣ９の端ｒを接触させて、同様
な測定する。このようにしてＩＣの測定部５に対する供
給処理がなされる。

次に、測定の終了したＩＣ９は、再びバケット３１に収
納されて４つのＩＣがともに搬送され、前側のスプロケ
ット３３ａの近傍にある部品ピックアップ位置に来たと
きに、第３図及び第６図（ｂ）に見るように、分類部６
のピックアップアーム６１によりそれぞれの４個のＩＣ
９がバケット３１から取出されて、ベルト８２ａ上に搬
送される。なお、ピックアップアーム６１は、ピックア
ップアーム２３と同様な構成をしていて、６１１は、そ
の爪である。

ここで、前記分類部のピックアップ６１がバケット３１
の各収納量［１部３２に４つの各ＩＣをセットする作業
時間及びここでのバケット３１の各収納開口部３２から
４つの各ＩＣ９を取り出す作業１１，５間は、前記測定
部５のＩＣ測定時間より短い時間であり、ＩＣ９の測定
中であってバケット３１の送りが停止している間に１１
゛われる。

分類部６は、ピックアップアーム６１と、ベルト搬送機
構６２、分類数に対応する複数のＩ　Ｃ１１１１出機構
６３とからなり、第２図に見るように、ベルト搬送機構
６２は、搬送方向に対して直角となる横方向に横断する
溝６２ｂの付いた溝付きのベルト６２ａをイ「している
。そしてこのベルト６２２Ｉの溝８２ｂにＩＣ９を収納
し、ＩＣ９を対応するラック８の位置において、分類に
対応するＩＣ押出機横Ｇ３を作動してその押込みピン８
３ａを伸張させることでベルトのｉＲ８２ｂを案内とし
てラック８の溝８１にＩＣ９を押込む。このことにより
ＩＣ９が検査結果に応じて分類される。この場合、この
溝付きのベルト６２ａに代えて、バケット３１の収納開
口部３２の溝に対応するような横断溝を持ったバケット
を用いて搬送してもよい。

この場合のバケットは、バケット３１と同様にチェーン
により連結しても、また、ベルト１−に直接固定しても
よい。

なお、先のエレベータ機構２４のエレベータ機構の」ニ
ド動の作動制御及びそのタイミング、ビックアンプアー
ム２３の爪２３１及びピンクアップアームの爪の開閉作
動の制御及びそのタイミング、そして分類部のＩＣ押込
み機構の押込みピンの進退作動制御及びそのタイミング
、そしてピン押−１−機構３６の直動カム３６ａの往復
作動制御及びそのタイミングとは、それぞれマイクロプ
ロセッサを内蔵した制御部からの電気信号により決定さ
れ、制御されるもの′である。

ところで、リニアフィーダ２２のレール２２ａの溝は、
バケット３１の縦断面を示す第７図（Ｃ）と同様な段付
きの溝形状をしていて、その上段の溝がハイブリッ）Ｉ
Ｃ等の部品に対応した開口幅となっており、下段の溝が
ＳＧＯ形ＩＣ等の部品に対応した開［１幅となっている
。したがって、ラック８をＩＣロード機構２０に差し換
えるだけで、バケット３１に異なる部品を供給すること
ができ、異なる部品を検査することがｒｉＪ能である。

なお、この場合、測定部のコンタクトユニット５１は、
これら異なる部品が接続できるようなものとなっている
か、コンタクトユニット５１をその都度測定部品に合わ
せて差し換える。

以」二説明してきたが、バケット搬送機構部の搬送機構
は、チェーンに限定されるものではなく、ベルト等によ
る、いわゆる無端巻掛は伝動機構を使用することができ
る。また、このような巻掛は伝動機構の他、平行四辺形
のリンクを使用して水・１ｔのレールにに載置してバケ
ットを爪送りする間欠送り機構でもよい。また、ベルト
に爪を設けてバケット又は部品を直接間欠送りするもの
であってもよい。

さらに、実施例では、爪送り機構によりランクから部品
を外へと送り出しているが、これは、ピンを出口の反対
側から溝に沿って挿入し、反対の出［１側から押出すよ
うにしてもよく、爪による送り機構に限定されるもので
はない。いわゆる溝から部品を押出す押出機構ならばよ
い。

また、実施例では、多段に溝を有するラックを使用して
いるが、段は１段のものであってもよく、いわゆる１一
部が塞さがれているような溝を持ち、容器から部品がこ
ぼれ落ちたり、不整列となったりし難いもので、部品が
容器から直接ビックアップすることが難しいような部品
容詣であればどのようなものでも適用できる。

さらに、この発明では、取り扱う部品がＩＣに限定され
るものではないことはもちろんである。

［発明の効果］ 以ヒの説明から理解できるように、この発明にあっては
、」二部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの部品収
納容器を設けて、多くの部品を連続的に溝に収納すると
ともに、溝の一方の開口側から押出機構により溝の他方
の開口側へ部品を押出して、溝の他方の部品排出口側に
隣接して設けたリニアフィーダにより排出された部品を
受けることにより部品を簡単に１個だけ分離して取り出
すことができ、リニアフィーダにより取出された部品を
ピックアップし褐い位置まで移送できる。しかも、リニ
アフィーダを用いることにより搬送機構に部品を供給す
る部品供給機構全体を小型なものとすることができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ラック＋リニアフィーダにより大＋−，（の
部品を順次比較的短時間の内に供給でき、あ品目体を強
制的に押さえてその流れを止めたりする必要がなくなる
。

その結果、ガイドレール等による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。しかも、前記ラック＋リニアフィーダに加え
て、搬送機構側にバケットを用いてほぼ水平に搬送する
ようにしてかつ部品を複数個並列にバケットに収納すれ
ば、面！１１に、複数個の部品を同時に検査処理でき、
装置自体の大きさもあまり人き（せずに済む。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）及び（ｂ）は、この発明を適用した一実施
例のＩＣハンドラのローダ部の説明図、第２図は、この
発明を適用した一実施例のＩＣハンドラの１一部数外し
甲面図、第３図はその側面断面図、第４図（ａ）及び（
ｂ）はそのＩＣ収納ラックの説明図、第５図は、ローダ
ぷくからバケット搬送部へＩＣを供給するハンドリング
操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）はバケット搬送
機構の側面断面図及び正面断面図、第７図は、従来のＩ
Ｃハンドラの外観図である。 １・・・ＩＣハンドラ、２・・・ＩＣロータ凍、３・・
・バケット搬送機構部、４・・・恒温槽、５・・・測定
部、６・・・分類部、 ７・・・収納部、８・・・測定部、８・・・ラック、９
・・・ＩＣ，１０・・・ＩＣハンドラ、２０・・・ＩＣ
ロード機構、 ２１・・・ラック載置テーブル、 ２２・・・リニアフィーダ、２３・・・ピックアップア
ーム、２４・・・エレベータ機構、３１・・・バケット
、３２・・・収納間１］部、８１・・・溝。 特３′ｌ出順人 「ｈ”ｌ　２ｉ　ｒエンジニアリング株式会社代理人　
弁理に　梶　山　拮　是 弁理１　山　木　富七男 第２図 第６図（（１） 第　　７　　図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）個々の部品を連続的に収納する、上部が塞がれた
   溝を有する部品収納容器と、この部品収納容器が装着さ
   れるローダ部と、前記部品の測定部と、前記ローダ部か
   ら供給された部品を載置して前記測定部まで搬送する搬
   送機構部とを備え、前記ローダ部は、前記溝に沿って溝
   の一方の側から部品を押して溝の他方の側から部品を外
   へと押出す部品押出機構と、前記溝の部品排出口に隣接
   しそのレールが設けられたリニアフィーダと、このリニ
   アフィーダの前記レール上から前記部品をピックアップ
   して前記搬送機構に供給するピックアップアームとを有
   することを特徴とする部品のハンドラ。
2. （２）部品収納容器は、個々の部品を連続的に収納する
   溝を多段に有するラックであり、押出機構は、前記ラッ
   クの少なくとも１つの溝の中に挿入してこの溝から前記
   部品を外へと押出す押出部材を有することを特徴とする
   特許請求の範囲第１項記載の部品のハンドラ。
3. （３）押出部材は、多段の溝の１つに対応して配置され
   かつ対応する１つの溝に挿入されて溝に沿って移動する
   爪であり、搬送機構部は、前記ローダ部から供給された
   部品を収納するバケットを有しほぼ水平にこのバケット
   を移動して測定部まで前記部品を搬送するものであり、
   ピックアップアームは、リニアフィーダのレール上から
   前記部品をピックアップして前記バケットに収納するこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の部品のハン
   ドラ。 （３）ローダ部は、多段の溝の段のピッチに対応してラ
   ックを上下移動させる上下移動機構と前記多段の溝の１
   つに対応して配置されかつ対応する１つの溝に挿入され
   て溝に沿って移動する爪を有する押出機構とを備えてい
   て、前記上下移動機構により前記爪に対応する位置に多
   段の溝の１が位置付けられることを特徴とする特許請求
   の範囲第２項記載の部品のハンドラ。
4. （４）搬送機構部は無端巻掛け伝動機構を備えていて、
   バケットはこの無端巻掛け伝動機構の無端巻掛け部材に
   固定されかつ複数の部品が収納されることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項乃至第３項のうちから選択された
   １項記載の部品のハンドラ。