JPS6367279A

JPS6367279A - 部品収納容器

Info

Publication number: JPS6367279A
Application number: JP61206141A
Authority: JP
Inventors: 広川　英夫; 一郎桑原
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1986-09-02
Filing date: 1986-09-02
Publication date: 1988-03-26

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】「産業上の利用分野コ本発明は部品の自動検査装置に組込まれて順次検査対象
の部品を検査部に供給し、検査終了後の部品を検査結果
に応じて排出する部品のハンドラにおいて使用される部
品収納容器に関する。史に詳細には、本発明はジャムと
か、ピンの曲がりの発生が少ない、部品を水＼１シ方向
に移動させる方式の自動検査装置で使用される部品収納
容器に関する。

［従来の技術］第８図は、従来のＩＣハンドラの基本的な構成を示す概
要図である。

図中、Ａは、未検査のＩＣを収納して順次送り出すロー
タ部であり、−・般に、ＩＣマガジン１が積層されてい
る。このＩＣマガジンの１の内部には、連続的に、個々
のＩＣが配列されている。

ＩＣマガジン１の中のＩＣは、予熱処理部Ｂに順次白子
にてガイドレールにより案内されて滑降しつつ所定の検
査条件に適合する温度にｒ備処理される。この場合のｒ
・備処ｐｌとしては、予熱とｆ・冷等がある。

予熱処理部Ｂを通過したＩＣは、同様にガイドレールに
より案内されて測定部Ｃを順次取直下方に自重降下しつ
つ、自動測定器（検査ヘッド、図２Ｉ（せず）によって
検査される。

そして、検査を終えたＩＣは、アンロータ部１〕に自重
滑降することになるが、その途中で、検査結果に応じて
分類部Ｅによって分類されて振分られ、平行に設けられ
た複数のレーンを自重滑降して、アンロータ部りにセッ
トされている複数列のマガジ７１ａ＋　　１ｂ＋　　１
ｃｔ　　ｌｅ、ＩＬ　　Ｉｇｔｌｈのいずれか１つに収
納される。

［解決しようとする問題点コこのようにガイドレール上を自重により滑降し、降下し
て行く自然落下方式のものにあっては、加熱処理及び測
定処理等のためにＩＣ自体を押さえてその流れを止めた
り、落下方向に合わせてＩＣ自体の方向を転換すること
が必要となるため、ＩＣビンの曲がりとかジャムが発生
し易いという欠点がある。

また、ガイドレールによるために複数のＩＣを並列に検
査する場合には、その数に対応するガイドレールを並設
しけなければならず、並列に流れるＩＣＣｕＯ制御タイ
ミングが難しくなるとともに、装置が大型化する欠点が
ある。

しかも、ガイドレールのレール幅が固定式なので、サイ
ズの汎なるＩＣを同時に検査することは不可能である。

ＩＣのサイズが変化する場合には、ガイドレールをＩＣ
のサイズに合ったものに交換しなければならなかった。

このような欠点を解消する方式として、強制搬送する方
式が考えられるが、この場合、ロータ部から強制搬送機
構に部品を載置するためにロータ部側にピックアップア
ーム等の部品取出し機構を設けることが必要となる。

ピックアップアームは、一般に、部品収納容器のに側か
ら部品を把持するものであるので、容器の１−側が開放
状態にあることが必要となる。しかし、多くの部品を連
続的に収納する容器の１〕部が開放状態になっていると
、部品がきっちり配列されて収納されなかったり、収納
容器の内部でジャムが発生したりし、さらには収納容器
からこぼれ落ちる危険性がある。

しかし、このようなことを回避するために容器の上部を
塞ぐと部品のピックアップができなくなるという問題点
を生じる。

［発明の目的コ従って、本発明の［１的は、このような従来技術の問題
点を解決するものであって、４一部が塞がれた容器であ
っても、そこから容易に部品を取出すことができる、部
品取扱装置用の部品収納容器を提供することである。

［問題点を解決するための手段］前記の問題点を解決し、あわせて本発明の目的を達成す
るための手段として、この発明は、部品収納容器が装着
されるロータ部と、前記部品の処理部と、前記ロータ部
から供給された部品を載置して前記処理部まで搬送する
搬送機構部とを備えた部品取扱装置において、ｉＦＩ記
部品収納容器は、個々の部品を連続的に水平状態で収納
する、」一部が塞がれた溝を複数段有し、この溝は少な
くとも両側端側が開放されており、前記溝に沿って溝の
一方の側から部品を押して溝の他方の側からｍＳ品を溝
外へ押し出すことのできる部品収納容器を提供する。

［作用］前記のように、本発明の部品収納容器は−ｈ部は塞がれ
ているが、溝の少なくとも両側端側か開放されている。

このように上部が塞がれた状態にある部品収納溝付きの
部品収納容器を設けて、多くの部品を連続的に水平状態
で溝に収納するとともに、溝の一方の開口側から押出機
構により溝の他方の開口側へ部品を押出ことができる。

そして、この押出側開口部に隣接して、例えば、リニア
フィーダを設けることにより、υＦ出された部品を受け
ることができる。

かくして、部品収納容器から部品を簡り１に１個だけ分
離して取り出すことができ、リニアフィーダにより取出
された部品をピックアップし易い位置まで移送できる。

しかも、リニアフィーダを用いることにより搬送機構に
部品を供給する部品供給機構全体を小型なものとするこ
とができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ラック＋リニアフィーダにより大量の部品を
順次比較的短時間の内に供給でき、部品自体を強制的に
押さえてその流れを１１．めたりする必要がなくなる。

その結果、ガイドレール等による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

しかも、前記ラック＋リニアフィーダに加えて、搬送機
構側にパケットを用いてほぼ水平に搬送するようにして
かつ部品を複数個並列にパケットに収納すれば、簡単に
、複数個の部品を同時に検査処理でき、装置自体の大き
さもあまり大きくせずに済む。

またパケットをサイズの異なる部品も同時に載置できる
ように工夫すれば、装置自体は全（変更することなくサ
イズの異なる部品がランダムに混合されたロフトについ
て迅速に検査することができる。

［実施例コ以下、この発明の一実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第１図（ａ）および（ｂ）は本発明の部品収納容器の一
実施例の説明図であり、第２図は本発明の部品収納容器
が使用される部品取扱装置の一例であるＩＣハンドラの
上部取外し平面図、第３図はその側面断面図、第４図（
ａ）及び（ｂ）はそのロータ部の説明図、第５図は、ロ
ータ部からパケット搬送部へＩＣを供給するハンドリン
グ操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）は、パケット
搬送機構の側面断面図及び正面断面図、第７図（ａ）、
（ｂ）および（Ｃ）はパケットの説明図である。

なお、これら各図において同一のものは同一の符号で示
す。

本発明の部品収納容器８は、第１図（ａ）および（ｂ）
に示されるように、−１−、下方向に複数段積み上げら
れた複数の部品（例えば、ＩＣ）収納溝８１．８１．　
　・舎・が連続的に形成されていて、谷溝８１に個々の
ＩＣ（ここではその例としてＰＧＡタイプのＩＣ，ハイ
ブリットＩＣ）９をそのピンが−Ｌ側となるようにして
上下方向に連続的に水平状態で配列した形態で収納して
いる。

図示のように、本発明の部品収納容Ａ８は、いわゆるラ
ックと呼ばれる形状の構造体である。このラックは脚部
８１２．背面壁８１３．複数の棚板８１４および天板８
１５から構成されている。

棚板８１４は部品が前方に落下することを防止するため
の側壁８１６を打する。この側壁の高さは溝内に収納さ
れる電子部品の高さよりも低い。

しかも、谷溝８１の天井面は、各ＩＣが飛び出したり、
前側に配列されたＩＣと競合しないような高さ位置にあ
る。すなわち、その高さは、収納されるＩＣの高さの２
倍より小さいものとなっている。

次に、本発明の部品収納容器の使用される部品取扱装置
の一例としてＩＣハンドラを挙げて、部品収納容器の具
体的な使用方法または使用態様について詳細に説明する
。

第２図〜第３図において、１０は、ＩＣハンドラであり
、２ハ（−（７）　Ｉ　Ｃｏ−”ｍＳ１：Ｈｔ　Ｉ　Ｃ
ｔｆｆ　−構部からＩＣの供給を受け、ＩＣを収納して
搬送するパケット搬送機構部、４はパケット搬送機構部
３の搬送路を包み込む恒温槽、５は、パケット搬送機構
部３から部品の供給を受けて、その部品を検査する測定
部、６は、検査後のＩＣをパケット搬送機構部３から受
けてほぼ水平搬送し、検査結果に対応して収納部７のラ
ックに収納する分類部、８はロータ部２及び収納部７に
装着され、検査部品（ここではＩＣ）を収納するラック
、そして５ａは、測定部５に設けられ、ＩＣの電気的特
性等を測定するテストヘッドである。

ここで、ロータ部２は、第２図及び第４図（ａ）に見る
ようにラック載置テーブル２１と、リニアフィーダ２２
、ピックアップアーム２３（第５図参照）、ラック載置
テーブル２１のドに設けられ、ラック載置テーブル２１
を−１−ド移動させるエレベ−夕機構２４とを備えたロ
ード機構２０が複数並設（図では３個）されていて、各
ロード機構２０のそれぞれラック載置テーブル２１には
ラック８がそれぞれ装着されている。

そして、第４図（ｂ）の断面図に見る押出し爪８２が爪
送り機構８３により溝８１に挿入され、この溝８１に沿
って部品−個の福相当分だけのピッチで水平方向に移動
して、最後部に配列されるＩＣ９を押して、ＩＣ９を１
個分だけ図面左側へと送り移動させる。ここで押出し爪
８２と爪送り機構８３とは、溝８１からＩＣ９を押出す
押出機構を構成していて、溝８１に沿って溝の一方の側
（図面左側）からＩＣ９を押してＩＣ９を溝の他方の側
（図面右側）から外へと押出すものである。

この爪８２が移動する溝８１は、リニアフィーダ２２の
レール２２ａの送り面に一致する位置に位置付けられた
溝である。

なお、押出し爪８２のｌピッチ分の移動制御は制御部（
図示せず）からの制御（３号によりその送出の都度行わ
れる。また、爪送り機構８３は、第４図（ｂ）に見るよ
うに、クランク状の押出し爪８２を挟持していて、第４
図（ａ）に見るように、ベルト８５を介してブーＩＪ８
６により駆動され、水τ１／軸８４上をスライドして水
平移動する。

ここで、リニアフィーダ２２のレール２２ａは、ラック
８の押出し爪８２が挿入される溝８１の部品送出Ｌ］に
隣接して設けられている。そしてラック８の溝８１から
押出されたＩＣ９をレール２２ａで受けて、これをレー
ル２２ａの他端のピックアップアーム位置Ｐまで移送す
る。このリニアフィーダ２２は、菱形をしていて、その
柱が板ばねにより形成され、所定の周波数、例えば数十
Ｈｚ〜数百Ｈｚで斜め方向に振動する。

そこで、パケット搬送部３側に供給されるＩＣ９は、押
出し爪８２のｌピッチ分の移動に従って先端側の１つが
、リニアフィーダ２２のレール２２ａｉに押出され、こ
のリニアフィーダ２２により、その先端のピックアップ
位置Ｐまで移送される。このことにより送出されたＩＣ
９が先端の部品ピックアップ待機位置にセットされる。

ここで、ラック８は、ラック載置テーブル２１に着脱可
能に装着され、ラックＩｌ！装置テーブル２１がエレベ
ータ機構２４により上下移動されることによりラック８
が−１−上移動して、順次下側の溝８１からその底面が
リニアフィーダ２２のレール２２ａの送り而に一致する
位置に次々に位置決めされる。なお、２５．２５は、ラ
ック８の両端を縦に貫通している部品数は落ち防止のピ
ンであって、吊り下げ固定（固定手段は図示せず）され
ていて、その先端側がリニアフィーダ２２のレール２２
ａの面に一致する位置に位置付けられた溝８１を塞がな
い長さとなっている。

ＩＣロード機構２０は、このようなラック８及びそのエ
レベータ機構２４、爪送り機構８３、そしてラック装着
状態検出／位置決めガイド機構２６等からなり、ここで
はロータ部２に３個並設されている。初期状態では、Ｉ
Ｃロード機構２０のラック８は、一番Ｆの溝８１の底面
がレール２２ａの十６曲に一致していて、この溝８１か
らＩＣが送出されて、その溝８１が空になると、溝８１
の積み一ヒげピッチ（ｌピッチ）分だけ下げられる。

すなわち、あるラック８の溝８１のＩＣが空になった時
点で、ラック８は、エレベータ機＋１２４により下へと
移動してその上にある溝８１の底面がレール２２ａの上
面の位置に位置付けられる。

さて、ラック８から送出されてリニアフィーダ２２のレ
ール２２ａの先端で待機しているＩＣ９は、第５図及び
第６図（ａ）に見るようにピックアップアーム２３の爪
２３１が開かれた状態で降下し、閉じられることにより
把持され、パケット搬送機構部３のパケット３１の各収
納位置までレール２２ａ上を移動して順次運ばれる。そ
して爪２３１が開かれてＩＣ９がそれぞれの収納開口部
３２にセットされる。ここで収納開口部３２は、１つの
パケット３１に４つ設けられていて、第６図（ａ）に示
すようにパケット３１の端から順次４個のＩＣ９が収納
量［１部３２に収納されて行く。

したがって、ピックアップアーム２３のハンドリング時
間に合わせたタイミングでラック８から４個のＩＣ９が
一個一個間欠的に送出され、す二アフィーダ２２の先端
の待機位置Ｐに搬送されて、ピックアップアーム２３に
より順次リニアフィーダ２２から４個のＩＣ９が一個一
個取り上げられてバケ−／　ト３１に個々に搬送される
。

なお、２３２は、ピックアップアーム２３の爪２３１を
閉じる方向に付勢するばねであり、２３３．２３３及び
２３４，２３４は、爪２３１を開く方向に回動させるカ
ム而及びローラ、そして２３５．２３５は、爪２３１の
２つの各爪片の回動支点である。

このようして１つのパケット３１にＩＣ４個がセットさ
れると、パケット３１が１つ前へと進み、次の空のパケ
ット３１がリニアフィーダ２２に対応するＩＣ供給位置
に位置付けられる。ここで、あるＩＣロード機構２０の
ラック８のＩＣがすべて空になると、制御部からの制御
信号に応じてエレベータ機構２４が」１界制御されてラ
ック８が１−へと移動して元の初期状態に戻り、ピック
アップアーム２３が次のＩＣロード機構２０の位置へと
移動してそのＩＣロード機構２０のラック８からＩＣが
供給され、空になったラック８は、取り外される。そし
てＩＣが一杯詰まった新しいラック８が、取り外された
ＩＣロード機構２０に新たに装着される。

ところで、このパケット３１は、第６図（ａ）。

（ｂ）に見るように、複数個が所定間隔をおいて両端で
無端のチェーン３２ａ、３２ｂにより連結されている。

そして第２図に見るように、このチェーン３３．３２が
パケット搬送機構部３の両端に設けられたスプロケット
３３ａ、３３ｂに咬み合って送られることで順次搬送さ
れる。すなわち、これらはチェーン伝動機構を構成して
いる。したがって、パケット３１は、チェーン３２ａ、
３２ｂに架は渡されて支持され、ｔＴｉｌ（１１のスプ
ロケット３３ａが間欠的にモータ３４によりベルト３５
を介して駆動され、各パケット３１が所定のピッチで間
欠送りされる。ここで、パケット３１は、熱伝導性のよ
い金属等の部材、例えばアルミニウム等で構成されてい
る。

さて、第２図、第３図に見るようにパケット搬送機構部
３は、チェーン３２ａ、３２ｂも含めてパケットが恒温
槽４の中に収納され、恒温槽４の底部に設けられたヒー
タ４１により加熱される。

したがって、パケット３１に収納されたＩＣ９は、この
送り過程で所定の温度まで加熱される。

そして、第６図（ｂ）に見るように、測定部５の下まで
送られ、測定部５にパケット３１が位置したときに、間
欠送りの停＋ｈした状態に一致してスプロケッ！−３３
ａの駆動が停＋［、たＩＪ　態において、この停市期間
中の初期に測定部５のパケット３１の下側に配置された
直動カム３６ａによる押上ピン機構３６によりチャック
付き押さえピン３７が上へ駆動されて、各収納開口部３
２を貫通して測定部５側へとＩＣ９を把持して押りげ押
付ける。なお、この押上ピン機構３６及び押さえピン３
７はそれぞれ各収納量［１部３２の下側に位置して４つ
並設されていて、押さえピン３７の先端のチャック部分
はピックアップアームの爪２３と同様な形状となってい
る。

ここで、各ＩＣ９が測定部５には、その天井側から下側
に向けて固定されたコンタクトユニット５１（又はソケ
ット５１）が各収納開口部３２の位置に対応するように
設けられていて、第６図（ｂ）の点線で示すように前記
押さえピン３７により押Ｊ−られたＩＣ９がこのコンタ
クトユニットのコンタクトに接触して電気的に接続され
る。そしてコンタクトユニット５１に結合されたテスト
ヘッド５ａにより押−ヒられ接触したＩＣ９の測定処理
がなされる。

このようにして、測定部５にＩＣ９が供給され、測定部
５により各Ｉ　、Ｃ９の測定が行われ、測定が終了した
時点で押上ピン機構３６が直動カム３６ａの戻り移動に
より下降作動して押さえピン３７が降下して、コンタク
トユニット５１との接続が解かれる。そして各ＩＣ９が
パケット３１の元の収納量［１部３２に戻される。なお
、この時点では、押さえピン３７の先端部のチャックは
、パケット３１の底面よりド側に位置している。

その後、間欠送りの停止Ｉ・２期間が終Ｙして、次の送
り状態に入り、パケット３１がチェーン３２ａ。

３２ｂを介して次に送られる。そして次のパケット３１
が測定部５の下に位置してコンタクトユニット５１のコ
ンタクトに次のＩＣ９の端子を接触させて、同様な測定
する。このようにしてＩＣの測定部５に対する供給処理
がなされる。

次に、測定の終了したＩＣ９は、再びパケット３１に収
納されて４つのＩＣがともに搬送され、前側のスプロケ
ット３３ａの近傍にある部品ピックアップ位置に来たと
きに、第３図及び第６図（ｂ）に見るように、分類部６
のピックアップアーム６１によりそれぞれの４個のＩＣ
９がパケット３１から取出されて、ベル）６２ａ上に搬
送される。なお、ピックアップアーム６１は、ピックア
ップアーム２３と同様な構成をしていて、６１１は、そ
の爪である。

ここで、＋Ｙｉｉ記分類部のピックアップがパケット３
１の各収納量［１部３２に４つの各ＩＣをセットする作
業時間及びここでのパケット３１の各収納量［−１部３
２から４つの各ＩＣ９を取り出す作業時間は、前記測定
部５のＩＣ測定時間より短い時間であり、ＩＣ９の測定
中であってパケット３１の送りが停止している間に行わ
れる。

分類部６は、ピックアップアーム６１と、ベルト搬送機
構６２、分類数に対応する複数のＩＣ押出機構とからな
り、ベル）　８２　ａ　、ｔ−のＩＣ９を対応するラッ
ク８の位置で分類に対応するＩＣ押出機構を作動してそ
の押込みピンを伸張させることでラック８の溝８１にＩ
Ｃ９を押込むことで分類する。

なお、先のエレベータ機構２４のエレベータ機構の上下
動の作動制御及びそのタイミング、ピックアップアーム
２３の爪２３１及びピックアップアームの爪の開閉作動
の制御及びそのタイミング、そして分類部のＩＣ押込み
機構の押込みピンの進退作動制御及びそのタイミング、
そして押上ビン機構３６の直動カム３８ａの往復作動制
御及びそのタイミングとは、それぞれマイクロプロセッ
サを内蔵した制御部からの電気信号により決定され、制
御されるものである。

ところで、リニアフィーダ２２のレール２２ａの溝は、
パケット３１の縦断面を示す第７図（Ｃ）と同様な段付
きの溝形状をしていて、その上段の溝がバイブ’Ｊ　−
ｔ　）　Ｉ　Ｃ等の部品に対応した開口幅となっており
、下段の溝がＳＧＯ形ＩＣ’Ｓの部品に対応した開口幅
となっている。したがって、ラック８をロード機構部に
差し換えるだけで、パケット３１に異なる部品を供給す
ることができ、異なる部品を検査することが可能である
。なお、この場合、測定部のコンタクトユニット５１は
、これら異なる部品が接続できるようなものとなってい
るか、コンタクトユニット５１をその都度測定部品に合
わせて差し換える。

以上説明してきたが、パケット搬送機構部の搬送機構は
、チェーンに限定されるものではなく、ベルト等による
、いわゆる無端巻掛は伝動機構を使用することができる
。また、このような巻掛は伝動機構の他、平行四辺形の
リンクを使用して水・１／のレール１−に載置してパケ
ットを爪送りする間欠送り機構でもよい。また、ベルト
に爪を設けてパケット又は部品を直接間欠送りするもの
であってもよい。

さらに、実施例では、爪送り機構によりラックから部品
を外へと送り出しているが、これは、ピンを出口の反対
側から溝に沿って挿入し、反対の出口側から押出すよう
にしてもよく、爪による送り機構に限定されるものでは
ない。いわゆる溝から部品を押出す押出機構ならばよい
。

また、実施例では、多段に溝を有するラックを使用して
いるが、段は１段のものであってもよく、いわゆる上部
が塞さがれているような溝を持ち、容器から部品がこぼ
れ落ちたり、不整列となったりし難いもので、部品が容
器から直接ピックア・ンプすることが難しいような部品
容器であればどのようなものでも適用できる。

さらに、この発明では、取り扱う部品がＩＣに限定され
るものではないことはもちろんである。

［発明の効果］以１−の説明から理解できるように、本発明の部品収納
容器は−に部は塞がれているが、溝の少なくとも両側端
側か開放されている。

このように１一部が塞がれた状態にある部品収納溝付き
の部品収納容器を設けて、多（の部品を連続的に水平状
態で溝に収納するとともに、溝の−・方の開［−１側か
ら押出機構により溝の他方の開口側へ部品を押出ことが
できる。そして、この押出側開口部に隣接して、例えば
、リニアフィーダを設けることにより、υＦ出された部
品を受けることができる。

かくして、部品収納容器から部品を簡単に１個だけ分離
して取り出すことができ、リニアフィーダにより取出さ
れた部品をピックアップし易い位置まで移送できる。し
かも、リニアフィーダを用いることにより搬送機構に部
品を供給する部品供給機構全体を小型なものとすること
ができる。

また、部品収納容器として多段に溝を積み重ねたラック
を用いて、ラック＋リニアフィーダにより大量の部品を
順次比較的短時間の内に供給でき、部品自体を強制的に
押さえてその流れを市めたりする７四がなくなる。

その結果、ガイドレール専による落下搬送をせずに済み
、部品自体の方向転換もする必要がなく、ジャムとか、
部品のピンの曲がりがほとんど発生しないハンドラを実
現できる。

またパケットをサイズの異なる部品も同時に載置できる
ように二［失すれば、装置自体は全く変更することなく
サイズの異なる部品がランダムに混合されたロフトにつ
いて迅速に検査することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は本発明の部品収納容器の一
実施例の説明図であり、第２図は本発明の部品収納容器
が使用される部品取扱装置の一例であるＩＣハンドラの
上部取外し平面図、第３図はその側面断面図、第４図（
ａ）及び（ｂ）はそのロータ部の説明図、第５図は、ロ
ータ部からパケット搬送部へＩＣを供給するハンドリン
グ操作の説明図、第６図（ａ）及び（ｂ）は、パケット
搬送機構の側面断面図及び正面断面図、第７図（ａ）、
（ｂ）および（Ｃ）はパケットの説明図。第８図は従来の装置の概茨図である。 ■・・・ＩＣハンドラ、２・・・ＩＣロータ部、３・・
・ＩＣロータ部、４・・・パケット搬送機構部、５・・
・パケット搬送機構部、６・・・測定部、７・・・収納
部、８・・・ラック、９・・・ＩＣ１１０・・・ＩＣハ
ンドラ、２０・・・ロード機構、２１・・・ラック載置
テーブル、２２・・・リニアフィーダ、２３・・・ピッ
クアップアーム、２４・・・エレベータ機構、３１・・
・パケット、３２・・・収納開口部、８１・・・溝。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）部品収納容器が装着されるロータ部と、前記部品
の処理部と、前記ロータ部から供給された部品を載置し
て前記処理部まで搬送する搬送機構部とを備えた部品取
扱装置において、前記部品収納容器は、個々の部品を連
続的に水平状態で収納する、上部が塞がれた溝を複数段
有し、この溝は少なくとも両側端側が開放されており、
前記溝に沿って溝の一方の側から部品を押して溝の他方
の側から部品を溝外へ押し出すことのできる部品収納容
器。
（２）溝は前側および両側端側が開放されている特許請
求の範囲第１項に記載の部品収納容器。
（３）溝の前側端部には、部品の落下を防止するための
側壁が、溝の底面から、立設されている特許請求の範囲
第１項に記載の部品収納容器。