JPS645686B2 - - Google Patents
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- JPS645686B2 JPS645686B2 JP55062057A JP6205780A JPS645686B2 JP S645686 B2 JPS645686 B2 JP S645686B2 JP 55062057 A JP55062057 A JP 55062057A JP 6205780 A JP6205780 A JP 6205780A JP S645686 B2 JPS645686 B2 JP S645686B2
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- signal corresponding
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- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 20
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 7
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/28—Circuitry to measure or to take account of the object contrast
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/16—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly in accordance with both the intensity of the flash source and the distance of the flash source from the object, e.g. in accordance with the "guide number" of the flash bulb and the focusing of the camera
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Stroboscope Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は閃光撮影用測光装置特に定常光と閃光
のライテイング・コントラストを考慮に入れた測
光装置に関する。
のライテイング・コントラストを考慮に入れた測
光装置に関する。
従来技術
先に、本願出願人は特開昭55−10569号公報で
定常光も考慮に入れた閃光撮影用測光装置を提案
して、この装置で測光した定常光と閃光のライテ
イング・コントラストを算出することを可能にし
た。
定常光も考慮に入れた閃光撮影用測光装置を提案
して、この装置で測光した定常光と閃光のライテ
イング・コントラストを算出することを可能にし
た。
発明の目的
これに加えて本発明はライテイング・コントラ
ストが設定可能であり、このライテイング・コン
トラストに基づいて得られる閃光発光量(以下、
測光によりあるいは演算に得られた閃光のみの受
光量を閃光発光量と記載する場合もあるが、実質
的には閃光発光装置の発光による撮影に対する寄
与量を表すものである。)と、測光で得られた閃
光の光量との差を算出するものである。すなわ
ち、撮影者の望むライテイング・コントラストの
撮影を行なうには使用する閃光装置の発光量をど
れだけ変更する必要があるかを知ることができ
る。従つて、例えば、発光量可変の閃光装置を用
いるとき、測光時点では最小の発光量で発光させ
ることで余分のエネルギーのロスが防止できるも
のである。
ストが設定可能であり、このライテイング・コン
トラストに基づいて得られる閃光発光量(以下、
測光によりあるいは演算に得られた閃光のみの受
光量を閃光発光量と記載する場合もあるが、実質
的には閃光発光装置の発光による撮影に対する寄
与量を表すものである。)と、測光で得られた閃
光の光量との差を算出するものである。すなわ
ち、撮影者の望むライテイング・コントラストの
撮影を行なうには使用する閃光装置の発光量をど
れだけ変更する必要があるかを知ることができ
る。従つて、例えば、発光量可変の閃光装置を用
いるとき、測光時点では最小の発光量で発光させ
ることで余分のエネルギーのロスが防止できるも
のである。
なお、ライテイング・コントラストは定常光の
光量と閃光の光量との比あるいはアペツクス値の
差である。
光量と閃光の光量との比あるいはアペツクス値の
差である。
発明の構成
このため、本発明は予め発光される閃光装置の
発光を測光し閃光の撮影に対する寄与量に対応し
た電気信号を出力する発光量測光手段と、閃光装
置が非発光状態での受光素子の受光量に対応した
電気信号を出力する定常光測光手段と、露出時間
に対応した信号を出力する露出値出力手段と、定
常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に対する
寄与量との比として定義される設定されたライテ
イング・コントラストに対応した信号を出力する
ライテイング・コントラスト出力手段と、上記ラ
イテイング・コントラストに対応した信号と定常
光測光手段の出力信号と露出時間に対応した信号
に基づいて上記ライテイング・コントラストを得
るために必要な閃光の撮影に対する寄与量に対応
した信号を算出する第1の演算手段と、発光量測
光手段の出力信号と第1の演算手段で得られた信
号とのアペツクス系での差を算出する第2の演算
手段とを備えたことを特徴とする閃光撮影用測光
装置を新規に提案するものである。
発光を測光し閃光の撮影に対する寄与量に対応し
た電気信号を出力する発光量測光手段と、閃光装
置が非発光状態での受光素子の受光量に対応した
電気信号を出力する定常光測光手段と、露出時間
に対応した信号を出力する露出値出力手段と、定
常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に対する
寄与量との比として定義される設定されたライテ
イング・コントラストに対応した信号を出力する
ライテイング・コントラスト出力手段と、上記ラ
イテイング・コントラストに対応した信号と定常
光測光手段の出力信号と露出時間に対応した信号
に基づいて上記ライテイング・コントラストを得
るために必要な閃光の撮影に対する寄与量に対応
した信号を算出する第1の演算手段と、発光量測
光手段の出力信号と第1の演算手段で得られた信
号とのアペツクス系での差を算出する第2の演算
手段とを備えたことを特徴とする閃光撮影用測光
装置を新規に提案するものである。
また、本発明は、今一つの態様として、予め発
光される閃光装置の発光を測光し閃光の撮影に対
する寄与量に対応した電気信号を出力する発光量
測光手段と、絞り値に対応した信号及びフイルム
感度に対応した信号を出力する露出値出力手段
と、定常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に
対する寄与量との比として定義される設定された
ライテイング・コントラストに対応した信号を出
力するライテイング・コントラスト出力手段と、
上記ライテイング・コントラストに対応した信
号、露出値出力手段から出力される絞り値に対応
した信号及びフイルム感度に対応した信号に基づ
いて適正露光となるように上記ライテイング・コ
ントラストを得るために必要な閃光の撮影に対す
る寄与量に対応した信号を算出する第1の演算手
段と、発光量測光手段の出力信号と第1の演算手
段で得られた信号とのアペツクス系での差を算出
する第2の演算手段とを備えたことを特徴とする
閃光撮影用測光装置を新規に提案するものであ
る。
光される閃光装置の発光を測光し閃光の撮影に対
する寄与量に対応した電気信号を出力する発光量
測光手段と、絞り値に対応した信号及びフイルム
感度に対応した信号を出力する露出値出力手段
と、定常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に
対する寄与量との比として定義される設定された
ライテイング・コントラストに対応した信号を出
力するライテイング・コントラスト出力手段と、
上記ライテイング・コントラストに対応した信
号、露出値出力手段から出力される絞り値に対応
した信号及びフイルム感度に対応した信号に基づ
いて適正露光となるように上記ライテイング・コ
ントラストを得るために必要な閃光の撮影に対す
る寄与量に対応した信号を算出する第1の演算手
段と、発光量測光手段の出力信号と第1の演算手
段で得られた信号とのアペツクス系での差を算出
する第2の演算手段とを備えたことを特徴とする
閃光撮影用測光装置を新規に提案するものであ
る。
実施例
以下、本発明を図面に示す実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は本発明に係る測光装置の一実施例を示
す回路図にして、図中電気信号線に斜線をつけた
ものは複数ビツトのデイジタル信号であることを
示す。第1図で測光回路は受光素子PD、対数圧
縮用ダイオードD1、及び演算増幅器OA1よりな
り、受光素子PDへの入射光強度を対数圧縮した
電位が出力される。抵抗R1とコンデンサC1は測
光回路の出力を平滑するローパスフイルターであ
る。トランジスタBT1は対数伸張用トランジス
タ、トランジスタBT2はカレントミラー用のトラ
ンジスタ、またはダイオードD2,D3、コンデン
サC2で構成された回路は、この回路への流入電
流の積分値を対数圧縮した電圧がコンデンサC2
の両端に出力される、対数圧縮積分回路である。
FT1,FT2,FT3,FT4はスイツチ用のFET,1
はA−D変換器、S1は測光開始用スイツチで、こ
れに連動したスイツチS2は、閃光装置(不図示)
の発光を開始させるスイツチである。
す回路図にして、図中電気信号線に斜線をつけた
ものは複数ビツトのデイジタル信号であることを
示す。第1図で測光回路は受光素子PD、対数圧
縮用ダイオードD1、及び演算増幅器OA1よりな
り、受光素子PDへの入射光強度を対数圧縮した
電位が出力される。抵抗R1とコンデンサC1は測
光回路の出力を平滑するローパスフイルターであ
る。トランジスタBT1は対数伸張用トランジス
タ、トランジスタBT2はカレントミラー用のトラ
ンジスタ、またはダイオードD2,D3、コンデン
サC2で構成された回路は、この回路への流入電
流の積分値を対数圧縮した電圧がコンデンサC2
の両端に出力される、対数圧縮積分回路である。
FT1,FT2,FT3,FT4はスイツチ用のFET,1
はA−D変換器、S1は測光開始用スイツチで、こ
れに連動したスイツチS2は、閃光装置(不図示)
の発光を開始させるスイツチである。
2はタイミング・コントロール回路で、その具
体的な回路は第2図に示してあり、第3図にはそ
のタイム・チヤートが示してある。L1,L2はラ
ツチ回路、4は露出時間設定装置、5はライテイ
ング・コントラスト設定装置、6はフイルム感度
設定装置、3は演算回路である。7は演算回路3
からの絞り値を表示する表示装置、8は閃光装置
の発光量と演算回路3で算出された発光量との差
を表示する表示装置、9は閃光装置の発光によつ
て照射される部分とされない部分のアペツクス値
の差(以下段数差とよぶ)を表示する表示装置で
ある。
体的な回路は第2図に示してあり、第3図にはそ
のタイム・チヤートが示してある。L1,L2はラ
ツチ回路、4は露出時間設定装置、5はライテイ
ング・コントラスト設定装置、6はフイルム感度
設定装置、3は演算回路である。7は演算回路3
からの絞り値を表示する表示装置、8は閃光装置
の発光量と演算回路3で算出された発光量との差
を表示する表示装置、9は閃光装置の発光によつ
て照射される部分とされない部分のアペツクス値
の差(以下段数差とよぶ)を表示する表示装置で
ある。
次に、第2図のタイミング・コントロール回路
2の説明と共に、第1図、第2図、第3図に基づ
いて本発明の測光装置の動作を説明する。測光開
始用スイツチS1が閉成されると第3図で時刻t0の
時端子iがHighとなり、第2図のワンシヨツト
回路OS1からは第3図のi′に示すパルスが出力さ
れてフリツプ・フロツプF1,F2,F3がセツト、
F4がリセツト、カウンタCO1,CO2,CO3がリセ
ツトされる。フリツプ・フロツプF1のセツトで
端子CがHigh、端子bがLowになり(第3図)、
FETFT2,FT3がOFF、FT4がONとなる。ま
た、フリツプ・フロツプF2,F3がセツトされて
アンド回路AN1,AN2のゲートが開かれ、クロ
ツク入力端子CLからのクロツクパルスがカウン
タCO1,CO2に入力されカウントが行なわれる。
なお、カウンタCO1,CO2の出力はリセツトされ
た時点でHighとなり、端子a,fはHighとな
り、従つて、FET(FT1)がONとなる。また、
スイツチS1の閉成と同時にスイツチS2も閉成され
て閃光発光装置(不図示)も発光を開始する。
2の説明と共に、第1図、第2図、第3図に基づ
いて本発明の測光装置の動作を説明する。測光開
始用スイツチS1が閉成されると第3図で時刻t0の
時端子iがHighとなり、第2図のワンシヨツト
回路OS1からは第3図のi′に示すパルスが出力さ
れてフリツプ・フロツプF1,F2,F3がセツト、
F4がリセツト、カウンタCO1,CO2,CO3がリセ
ツトされる。フリツプ・フロツプF1のセツトで
端子CがHigh、端子bがLowになり(第3図)、
FETFT2,FT3がOFF、FT4がONとなる。ま
た、フリツプ・フロツプF2,F3がセツトされて
アンド回路AN1,AN2のゲートが開かれ、クロ
ツク入力端子CLからのクロツクパルスがカウン
タCO1,CO2に入力されカウントが行なわれる。
なお、カウンタCO1,CO2の出力はリセツトされ
た時点でHighとなり、端子a,fはHighとな
り、従つて、FET(FT1)がONとなる。また、
スイツチS1の閉成と同時にスイツチS2も閉成され
て閃光発光装置(不図示)も発光を開始する。
FET(FT1)がON、FT3がOFFとなることで、
演算増幅器OA1の出力はトランジスタBT1のベー
スに与えられて、トランジスタBT1のコレクタ電
流は受光素子PDの出力電流に対応した値となり、
この電流がトランジスタBT2を介して、ダイオー
ドD2,D3、コンデンサC2で構成された対数圧縮
積分回路へ入力する。第3図で時刻t1になるとカ
ウンタCO1の出力は、Lowに立ち下がりワンシヨ
ツト回路OS2からのパルスがオア回路OR2、端子
dを介してA−D変換器1に送られ、A−D変換
が開始される。端子aがLowになることでFT1は
OFFになり、トランジスタBT1,BT2には電流
が流れなくなる。従つて、コンデンサC2の充電
電圧は閃光発光中の受光素子PDの受光量の対数
圧縮値に対応していて、この信号がFET(FT4)
を介してA−D変換器1に入力されている。ま
た、第2図でカウンタCO1の出力が立ち下がるこ
とでインバータIN1の出力は立ち上がり、フリツ
プ・フロツプF2はリセツトされてアンド回路
AN1のゲートが閉じられるために、カウンタCO1
のカウントが停止され、以後端子aは再びスイツ
チS1が閉成されるまでLowのままとなつている。
演算増幅器OA1の出力はトランジスタBT1のベー
スに与えられて、トランジスタBT1のコレクタ電
流は受光素子PDの出力電流に対応した値となり、
この電流がトランジスタBT2を介して、ダイオー
ドD2,D3、コンデンサC2で構成された対数圧縮
積分回路へ入力する。第3図で時刻t1になるとカ
ウンタCO1の出力は、Lowに立ち下がりワンシヨ
ツト回路OS2からのパルスがオア回路OR2、端子
dを介してA−D変換器1に送られ、A−D変換
が開始される。端子aがLowになることでFT1は
OFFになり、トランジスタBT1,BT2には電流
が流れなくなる。従つて、コンデンサC2の充電
電圧は閃光発光中の受光素子PDの受光量の対数
圧縮値に対応していて、この信号がFET(FT4)
を介してA−D変換器1に入力されている。ま
た、第2図でカウンタCO1の出力が立ち下がるこ
とでインバータIN1の出力は立ち上がり、フリツ
プ・フロツプF2はリセツトされてアンド回路
AN1のゲートが閉じられるために、カウンタCO1
のカウントが停止され、以後端子aは再びスイツ
チS1が閉成されるまでLowのままとなつている。
A−D変換が終了すると(第3図で時刻t2の
時)、終了信号がA−D変換器1の端子eから出
力される。この信号によつて、第2図のフリツ
プ・フロツプF1がリセツトされて端子CはLow、
端子bがHighとなる。これによつて、FET
(FT2),(FT3)がON、FT4がOFFとなり、A−
D変換器1には演算増幅器OA1の出力がそのまま
入力されるとともに、コンデンサC2の充電電荷
が放電される。
時)、終了信号がA−D変換器1の端子eから出
力される。この信号によつて、第2図のフリツ
プ・フロツプF1がリセツトされて端子CはLow、
端子bがHighとなる。これによつて、FET
(FT2),(FT3)がON、FT4がOFFとなり、A−
D変換器1には演算増幅器OA1の出力がそのまま
入力されるとともに、コンデンサC2の充電電荷
が放電される。
端子eからのA−D変換終了信号が入力された
時点(第3図t2)ではカウンタCO2の出力fは
Highなので(第3図f)、この信号はアンド回路
AN5を介して端子gに送出され、これがラツチ
回路L2に入力されてA−D変換器1の出力デー
タがラツチ回路L2にラツチされる。従つて、ラ
ツチ回路L2に閃光発光中の測光データがラツチ
されることになる。
時点(第3図t2)ではカウンタCO2の出力fは
Highなので(第3図f)、この信号はアンド回路
AN5を介して端子gに送出され、これがラツチ
回路L2に入力されてA−D変換器1の出力デー
タがラツチ回路L2にラツチされる。従つて、ラ
ツチ回路L2に閃光発光中の測光データがラツチ
されることになる。
次の時刻t3ではカウンタCO2の出力fはLowに
立ち下がり(第3図f)、この立ち上がりでワ
ン・シヨツト回路OS3からパルスが出力され、こ
れがオア回路OR2を介して端子dに送られ(第3
図d)A−D変換が開始される。このときは、前
述のようにFET(FT2)がON、FT4がOFFなの
でA−D変換器1には抵抗R1、コンデンサC1で
構成されたローパスフイルターからの定常光のみ
の強度に対応した信号が入力されている。また、
カウンタCO2の出力が立ち下がることでインバー
タIN2の出力が立ち上がりフリツプ・フロツプF3
がリセツトされてアンド回路AN2のゲートが閉
じられ、カウンタCO2のカウントが停止して出力
端子fはLowのままとなつている。
立ち下がり(第3図f)、この立ち上がりでワ
ン・シヨツト回路OS3からパルスが出力され、こ
れがオア回路OR2を介して端子dに送られ(第3
図d)A−D変換が開始される。このときは、前
述のようにFET(FT2)がON、FT4がOFFなの
でA−D変換器1には抵抗R1、コンデンサC1で
構成されたローパスフイルターからの定常光のみ
の強度に対応した信号が入力されている。また、
カウンタCO2の出力が立ち下がることでインバー
タIN2の出力が立ち上がりフリツプ・フロツプF3
がリセツトされてアンド回路AN2のゲートが閉
じられ、カウンタCO2のカウントが停止して出力
端子fはLowのままとなつている。
定常光のA−D変換が第3図の時刻t4で終了す
るとA−D変換終了信号が端子eから出力される
(第3図e)。このときは、端子fの出力がLow
なのでインバータIN3の出力はHighであり、A−
D変換終了信号はアンド回路AN4を介して端子
hから出力され、この信号によつてA−D変換器
1からの定常光のみの強度に対応データがラツチ
回路L1にラツチされる。従つて、この時点では
ラツチ回路L1には定常光のみの強度Bvaに対応し
たデータがラツチされ、ラツチ回路L2には閃光
発光時の光量Qvfaに対応したデータがラツチさ
れていることになる。
るとA−D変換終了信号が端子eから出力される
(第3図e)。このときは、端子fの出力がLow
なのでインバータIN3の出力はHighであり、A−
D変換終了信号はアンド回路AN4を介して端子
hから出力され、この信号によつてA−D変換器
1からの定常光のみの強度に対応データがラツチ
回路L1にラツチされる。従つて、この時点では
ラツチ回路L1には定常光のみの強度Bvaに対応し
たデータがラツチされ、ラツチ回路L2には閃光
発光時の光量Qvfaに対応したデータがラツチさ
れていることになる。
アンド回路AN4からのパルスは遅延回路DL1に
よつて一定時間遅延された後、(第3図で時刻t5
の時)端子jに出力される(第3図j)。この信
号によつて、演算回路3(第1図)が動作を開始
する。また、遅延回路DL1の出力によつて、フリ
ツプ・フロツプF4がセツトされてアンド回路
AN3のゲートが開かれてカウンタCO3がカウント
を開始する。このカウンタCO3のカウント時間は
演算回路3の演算が終了し、表示がちらつかない
程度の時間となつている。なお、演算回路3の詳
細については第4図及び第5図で後述する。
よつて一定時間遅延された後、(第3図で時刻t5
の時)端子jに出力される(第3図j)。この信
号によつて、演算回路3(第1図)が動作を開始
する。また、遅延回路DL1の出力によつて、フリ
ツプ・フロツプF4がセツトされてアンド回路
AN3のゲートが開かれてカウンタCO3がカウント
を開始する。このカウンタCO3のカウント時間は
演算回路3の演算が終了し、表示がちらつかない
程度の時間となつている。なお、演算回路3の詳
細については第4図及び第5図で後述する。
遅延回路DL1の出力パルスは遅延回路DL2によ
つてさらに一定時間遅延される。ところで、フリ
ツプ・フロツプF5はワンシヨツト回路OS1の出力
i′でリセツトされているので出力はHighとなつ
て、アンド回路AN6のゲートが開かれ遅延回路
DL2の出力パルスは端子kを介して演算回路3に
送られる。これは後述するように、演算回路3内
のラツチ回路L3のラツチ信号として利用される。
つてさらに一定時間遅延される。ところで、フリ
ツプ・フロツプF5はワンシヨツト回路OS1の出力
i′でリセツトされているので出力はHighとなつ
て、アンド回路AN6のゲートが開かれ遅延回路
DL2の出力パルスは端子kを介して演算回路3に
送られる。これは後述するように、演算回路3内
のラツチ回路L3のラツチ信号として利用される。
カウンタCO3の出力端lはカウントの開始から
終了までの間Highになつていて、時刻t6でカウ
ンタCO3の出力がLowに立ち下がるとワンシヨツ
ト回路OS4からのパルスがオア回路OR2、端子d
を介してA−D変換器1に送られA−D変換が行
なわれる。また、ワンシヨツト回路OS4からのパ
ルスはオア回路OR1に入力されてオア回路OR1の
出力によつてフリツプ・フロツプF4及びカウン
タCO3がリセツトされ以後(第3図でt7のとき)
カウントは行なわれない。そして、A−D変換終
了信号が端子eから入力され遅延回路DL1からの
パルスが端子jから演算回路3に送られるととも
に、(第3図で時刻t8の時)、フリツプ・フロツプ
F4がセツトされて再度カウンタCO3のカウントが
開始する。また、フリツプ・フロツプF5は時刻t6
の時点でワンシヨツト回路OS4の出力でセツトさ
れているので出力はLowになつていて、アン
ド回路AN6のゲートは閉じられ、遅延回路DL2の
出力パルスは端子kからは出力されない。以後
は、前述と同様に、定常光の強度のA−D変換ラ
ツチ、演算、表示がくり返し行なわれて、定常光
の変化に応じて表示値が変化していく。
終了までの間Highになつていて、時刻t6でカウ
ンタCO3の出力がLowに立ち下がるとワンシヨツ
ト回路OS4からのパルスがオア回路OR2、端子d
を介してA−D変換器1に送られA−D変換が行
なわれる。また、ワンシヨツト回路OS4からのパ
ルスはオア回路OR1に入力されてオア回路OR1の
出力によつてフリツプ・フロツプF4及びカウン
タCO3がリセツトされ以後(第3図でt7のとき)
カウントは行なわれない。そして、A−D変換終
了信号が端子eから入力され遅延回路DL1からの
パルスが端子jから演算回路3に送られるととも
に、(第3図で時刻t8の時)、フリツプ・フロツプ
F4がセツトされて再度カウンタCO3のカウントが
開始する。また、フリツプ・フロツプF5は時刻t6
の時点でワンシヨツト回路OS4の出力でセツトさ
れているので出力はLowになつていて、アン
ド回路AN6のゲートは閉じられ、遅延回路DL2の
出力パルスは端子kからは出力されない。以後
は、前述と同様に、定常光の強度のA−D変換ラ
ツチ、演算、表示がくり返し行なわれて、定常光
の変化に応じて表示値が変化していく。
第4図は上記演算回路3として先にシヤツター
速度が設定されている時のシヤツター速度優先方
式の具体例を示すブロツク図である。ラツチ回路
L2からのデータQvfaは、閃光のみによる受光量
をQvf、定常光の強度をBva、ダイオードD2,
D3、コンデンサC2で構成された積分時間(第3
図でのt0からt1の間)を2-Tvcとすると、 2Qvf+2Bva-Tvc=2Qvfa ……(1) の関係がある。また、第1図の設定器4からは設
定された露出時間Tvs、ライテイング・コントラ
スト設定装置5からは設定されたライテイング・
コントラストΔs、フイルム感度設定装置6から
は設定されたフイルム感度Svが夫々演算回路3
に入力される。
速度が設定されている時のシヤツター速度優先方
式の具体例を示すブロツク図である。ラツチ回路
L2からのデータQvfaは、閃光のみによる受光量
をQvf、定常光の強度をBva、ダイオードD2,
D3、コンデンサC2で構成された積分時間(第3
図でのt0からt1の間)を2-Tvcとすると、 2Qvf+2Bva-Tvc=2Qvfa ……(1) の関係がある。また、第1図の設定器4からは設
定された露出時間Tvs、ライテイング・コントラ
スト設定装置5からは設定されたライテイング・
コントラストΔs、フイルム感度設定装置6から
は設定されたフイルム感度Svが夫々演算回路3
に入力される。
第4図において、積分・時間2-Tvcのアペツク
ス値に対応したデータTvcと、ラツチ回路L1から
のデータが減算回路16に入力されて、Bva−
Tvcのデータが算出され、このデータとラツチ回
路L2からのデータQvfaに基づいて、減算回路1
7では Qvfa−(Bva−Tvc)=α ……(2) の演算が行なわれ、このデータαはデータ変換用
ROM18によつてlog2(2〓−1)に対応したデー
タに変換される。そして、減算回路16からのデ
ータ(Bva−TVc)とROM18からのデータ
log2(2〓−1)が加算回路19で加算されて Bva−Tvc+log2(2〓−1)=Qvf ……(3) が算出される。
ス値に対応したデータTvcと、ラツチ回路L1から
のデータが減算回路16に入力されて、Bva−
Tvcのデータが算出され、このデータとラツチ回
路L2からのデータQvfaに基づいて、減算回路1
7では Qvfa−(Bva−Tvc)=α ……(2) の演算が行なわれ、このデータαはデータ変換用
ROM18によつてlog2(2〓−1)に対応したデー
タに変換される。そして、減算回路16からのデ
ータ(Bva−TVc)とROM18からのデータ
log2(2〓−1)が加算回路19で加算されて Bva−Tvc+log2(2〓−1)=Qvf ……(3) が算出される。
(3)式で閃光のみによる受光量が算出される理由
は、(1)式と(2)式からQvfaを消去すると 2Qvf=2Bva-Tvc(2〓−1) となり、両辺のlog2をとると(3)式が得られる。
は、(1)式と(2)式からQvfaを消去すると 2Qvf=2Bva-Tvc(2〓−1) となり、両辺のlog2をとると(3)式が得られる。
加算回路19からのデータは端子kからのパル
スでラツチ回路L3にラツチされ、以後は再び測
光開始スイツチS1が閉成されて、閃光発光時の測
光が行なわれるまでデータは変更されない。これ
は、閃光発光時の定常光の強度と定常光のみの強
度のA−D変換を行なつた時点では定常光の強度
が変化し、前述の(3)式での算出結果がまちがえた
値になつてしまうからである。
スでラツチ回路L3にラツチされ、以後は再び測
光開始スイツチS1が閉成されて、閃光発光時の測
光が行なわれるまでデータは変更されない。これ
は、閃光発光時の定常光の強度と定常光のみの強
度のA−D変換を行なつた時点では定常光の強度
が変化し、前述の(3)式での算出結果がまちがえた
値になつてしまうからである。
ラツチ回路L1からのデータBvaと設定器4から
の露出時間Tvsが減算回路20に入力され、Bva
−Tvsのデータが算出され、このデータと設定器
5からのライテイング・コントラストΔsのデー
タが加算回路21に入力されて Δs+(Bva−Tvs)=Qvfx ……(4) の演算が行なわれ、設定されたライテイング・コ
ントラストΔsを得るために必要な閃光のみの発
光量のデータQvfxが算出される。このデータと
ラツチ回路L3からの測定された閃光のみの発光
量のデータQvfは減算回路22に入力されて、 Qvfx−Qvf=Δf ……(5) が算出されこれが表示器(8)によつて表示される。
この値は、測光時の閃光の発光量をいくら変える
かを示すものである。
の露出時間Tvsが減算回路20に入力され、Bva
−Tvsのデータが算出され、このデータと設定器
5からのライテイング・コントラストΔsのデー
タが加算回路21に入力されて Δs+(Bva−Tvs)=Qvfx ……(4) の演算が行なわれ、設定されたライテイング・コ
ントラストΔsを得るために必要な閃光のみの発
光量のデータQvfxが算出される。このデータと
ラツチ回路L3からの測定された閃光のみの発光
量のデータQvfは減算回路22に入力されて、 Qvfx−Qvf=Δf ……(5) が算出されこれが表示器(8)によつて表示される。
この値は、測光時の閃光の発光量をいくら変える
かを示すものである。
設定器5からのライテイング・コントラストの
データΔsはデータ変換用ROM23に入力されて log2(2〓s+1)=Δ ……(6) のデータが出力される。このデータは表示器9に
よつて表示される。このデータの意味は後述す
る。減算回路20からのデータBva−Tvsと
ROM23からのデータΔは加算回路24に入力
され、この加算回路24からのデータと設定器6
からのフイルム感度Svのデータが加算回路25
に入力される。従つて加算回路25の出力は (BVa−Tvs)+log2(1+2〓s)+Sv=Avx
……(7) となり、絞り値Avxが算出され、表示器7によつ
て表示される。
データΔsはデータ変換用ROM23に入力されて log2(2〓s+1)=Δ ……(6) のデータが出力される。このデータは表示器9に
よつて表示される。このデータの意味は後述す
る。減算回路20からのデータBva−Tvsと
ROM23からのデータΔは加算回路24に入力
され、この加算回路24からのデータと設定器6
からのフイルム感度Svのデータが加算回路25
に入力される。従つて加算回路25の出力は (BVa−Tvs)+log2(1+2〓s)+Sv=Avx
……(7) となり、絞り値Avxが算出され、表示器7によつ
て表示される。
次に(6)式のデータの意味及び(7)式から絞り値
Avxが算出される理由を述べる。閃光撮影時の全
体の光量のアペツクス値をQvtとすると、 2Qvfx+2Bva-Tvs=2Qvt ……(8) が成立する。ところでライテイング・コントラス
トΔsは、 Δs=Qvfx−(Bva−Tvs) ……(4) であり、(8)式と(4)式からQvfxを消去して両辺の
log2をとると Qvt=(Bva−Tvs)+log2(1+2〓s)……(9) が成立する。従つて、 Δ=log2(1+2〓s)=Qvt−(Bva−Tvs) となつて、閃光撮影時の全体の光量とのアペツク
ス値と定常光のみの光量のアペツクス値との差に
相当する。又、(7)式が成立するのは、 Qvt+Sv=Avx ……(10) が成立するからである。
Avxが算出される理由を述べる。閃光撮影時の全
体の光量のアペツクス値をQvtとすると、 2Qvfx+2Bva-Tvs=2Qvt ……(8) が成立する。ところでライテイング・コントラス
トΔsは、 Δs=Qvfx−(Bva−Tvs) ……(4) であり、(8)式と(4)式からQvfxを消去して両辺の
log2をとると Qvt=(Bva−Tvs)+log2(1+2〓s)……(9) が成立する。従つて、 Δ=log2(1+2〓s)=Qvt−(Bva−Tvs) となつて、閃光撮影時の全体の光量とのアペツク
ス値と定常光のみの光量のアペツクス値との差に
相当する。又、(7)式が成立するのは、 Qvt+Sv=Avx ……(10) が成立するからである。
第5図は、絞り値Avsが設定されているときの
演算回路の実施例を示すもので、第4図とは異な
る部分だけを示してある。設定器26からのデー
タAvsと設定器6からのデータSvは減算回路28
に入力されて(Avs−Sv)が算出される。一方、
設定器5からのデータΔsはデータ変換用ROM2
7に入力されて、log2(1−2-〓s)のデータが出
力され、このデータと減算回路28からのデータ
が減算回路29に入力されて、 Qvfx=(Avs−Sv)−log2(1−2-〓s) ……(11) が算出される。(11)式の成立する理由は、(8)式及び
(10)式から 2Qvfx+2Bva-Tv=2Avs-Sv ……(12) となり、(12)式と(4)式からBva−Tvを消去すると、 2Qvfx(1−2-〓s)=2Avs-Sv となり、両辺のlog2をとると(11)式が成立する。ま
た、設定器5からのデータΔsとラツチ回路L1か
らのデータBvaは加算回路30に入力されてBva
+Δsが算出され、このデータと減算回路29か
らのデータQvfxは減算回路に入力され、 Tvx=Bva+Δs−Qvfx ……(4) が得られ、表示器32によつて表示される。ま
た、データΔf及びΔは第4図と同様に算出表示
される。
演算回路の実施例を示すもので、第4図とは異な
る部分だけを示してある。設定器26からのデー
タAvsと設定器6からのデータSvは減算回路28
に入力されて(Avs−Sv)が算出される。一方、
設定器5からのデータΔsはデータ変換用ROM2
7に入力されて、log2(1−2-〓s)のデータが出
力され、このデータと減算回路28からのデータ
が減算回路29に入力されて、 Qvfx=(Avs−Sv)−log2(1−2-〓s) ……(11) が算出される。(11)式の成立する理由は、(8)式及び
(10)式から 2Qvfx+2Bva-Tv=2Avs-Sv ……(12) となり、(12)式と(4)式からBva−Tvを消去すると、 2Qvfx(1−2-〓s)=2Avs-Sv となり、両辺のlog2をとると(11)式が成立する。ま
た、設定器5からのデータΔsとラツチ回路L1か
らのデータBvaは加算回路30に入力されてBva
+Δsが算出され、このデータと減算回路29か
らのデータQvfxは減算回路に入力され、 Tvx=Bva+Δs−Qvfx ……(4) が得られ、表示器32によつて表示される。ま
た、データΔf及びΔは第4図と同様に算出表示
される。
この実施例は主にブロツク図でのみ示したが、
例えば市販のマイクロコンピュータを用いて実施
すれば容易に実現できるものである。
例えば市販のマイクロコンピュータを用いて実施
すれば容易に実現できるものである。
効 果
上記実施例に詳述した通り、本発明にかかる閃
光撮影用測光装置では、定常光の撮影に対する寄
与量と閃光の撮影に対する寄与量との比として定
義されるライテイング・コントラストを設定する
ことが可能であり、このライテイング・コントラ
ストを得るために必要な閃光の撮影に対する寄与
量と、発光量測光手段で得られた予め発光される
閃光の撮影に対する寄与量との差が算出される。
光撮影用測光装置では、定常光の撮影に対する寄
与量と閃光の撮影に対する寄与量との比として定
義されるライテイング・コントラストを設定する
ことが可能であり、このライテイング・コントラ
ストを得るために必要な閃光の撮影に対する寄与
量と、発光量測光手段で得られた予め発光される
閃光の撮影に対する寄与量との差が算出される。
従つて、例えば撮影者の望むライテイング・コ
ントラストの撮影を行うには、使用する閃光装置
の発光量をどれだけ変更する必要があるかを知る
ことができる。
ントラストの撮影を行うには、使用する閃光装置
の発光量をどれだけ変更する必要があるかを知る
ことができる。
つまり、例えば、発光量が可変である閃光装置
を用いるとき、撮影前の測光時点では最小の発光
量で発光させることが可能となるので余分のエネ
ルギーのロスが防止でき、かつ、任意のライテイ
ング・コントラストでの撮影も容易に行えるよう
になる。
を用いるとき、撮影前の測光時点では最小の発光
量で発光させることが可能となるので余分のエネ
ルギーのロスが防止でき、かつ、任意のライテイ
ング・コントラストでの撮影も容易に行えるよう
になる。
第1図はこの発明の実施例を示す全体の回路
図、第2図はタイミングコントロールの回路例、
第3図はこの実施例のタイムチヤート、第4図は
演算回路の実施例、第5図は絞りを設定したとき
の演算回路の実施例である。 PD,D1,OA1…測光回路、D2,D3,C2…対数
圧縮積分回路、1…A−D変換器、2…タイミン
グ・コントローラ、5…ライテイング・コントラ
スト設定器。
図、第2図はタイミングコントロールの回路例、
第3図はこの実施例のタイムチヤート、第4図は
演算回路の実施例、第5図は絞りを設定したとき
の演算回路の実施例である。 PD,D1,OA1…測光回路、D2,D3,C2…対数
圧縮積分回路、1…A−D変換器、2…タイミン
グ・コントローラ、5…ライテイング・コントラ
スト設定器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 予め発光される閃光装置の発光を測光し閃光
の撮影に対する寄与量に対応した電気信号を出力
する発光量測光手段と、 閃光装置が非発光状態での受光素子の受光量に
対応した電気信号を出力する定常光測光手段と、 露出時間に対応した信号を出力する露出値出力
手段と、 定常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に対
する寄与量との比として定義される設定されたラ
イテイング・コントラストに対応した信号を出力
するライテイング・コントラスト出力手段と、 上記ライテイング・コントラストに対応した信
号と定常光測光手段の出力信号と露出時間に対応
した信号に基づいて上記ライテイング・コントラ
ストを得るために必要な閃光の撮影に対する寄与
量に対応した信号を算出する第1の演算手段と、 発光量測光手段の出力信号と第1の演算手段で
得られた信号とのアペツクス系での差を算出する
第2の演算手段と を備えたことを特徴とする閃光撮影用測光装置。 2 上記発光量測光手段は、閃光装置の発光動作
中の受光素子の受光量に対応した電気信号を得る
積分手段と、 該積分手段からの信号と上記測光手段からの信
号とに基づいて、閃光装置の発光動作中に受光素
子が閃光装置のみから受光する受光量を算出する
第3の演算手段とからなり、上記第2の演算手段
は上記第1及び第3の演算手段からの信号の差を
算出するようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の閃光撮影用測光装置。 3 予め発光される閃光装置の発光を測光し閃光
の撮影に対する寄与量に対応した電気信号を出力
する発光量測光手段と、 絞り値に対応した信号及びフイルム感度に対応
した信号を出力する露出値出力手段と、 定常光の撮影に対する寄与量と閃光の撮影に対
する寄与量との比として定義される設定されたラ
イテイング・コントラストに対応した信号を出力
するライテイング・コントラスト出力手段と、 上記ライテイング・コントラストに対応した信
号、露出値出力手段から出力される絞り値に対応
した信号及びフイルム感度に対応した信号に基づ
いて適正露光となるように上記ライテイング・コ
ントラストを得るために必要な閃光の撮影に対す
る寄与量に対応した信号を算出する第1の演算手
段と、 発光量測光手段の出力信号と第1の演算手段で
得られた信号とのアペツクス系での差を算出する
第2の演算手段と を備えたことを特徴とする閃光撮影用測光装置。 4 上記発光量測光手段は、閃光装置の発光動作
中の受光素子の受光量に対応した電気信号を得る
積分手段と、 該積分手段からの信号と上記測光手段からの信
号とに基づいて、閃光装置の発光動作中に受光素
子が閃光装置のみから受光する受光量を算出する
第3の演算手段とからなり、上記第2の演算手段
は上記第1及び第3の演算手段からの信号の差を
算出するようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第3項記載の閃光撮影用測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6205780A JPS56158326A (en) | 1980-05-10 | 1980-05-10 | Photometer for flash photographing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6205780A JPS56158326A (en) | 1980-05-10 | 1980-05-10 | Photometer for flash photographing |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56158326A JPS56158326A (en) | 1981-12-07 |
| JPS645686B2 true JPS645686B2 (ja) | 1989-01-31 |
Family
ID=13189124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6205780A Granted JPS56158326A (en) | 1980-05-10 | 1980-05-10 | Photometer for flash photographing |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56158326A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6133123A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-17 | Shiba Trading Kk | 育毛養毛等美髪食品 |
-
1980
- 1980-05-10 JP JP6205780A patent/JPS56158326A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56158326A (en) | 1981-12-07 |
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