JP2000294604A - テープキャリアパッケージ - Google Patents
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- JP2000294604A JP2000294604A JP11099527A JP9952799A JP2000294604A JP 2000294604 A JP2000294604 A JP 2000294604A JP 11099527 A JP11099527 A JP 11099527A JP 9952799 A JP9952799 A JP 9952799A JP 2000294604 A JP2000294604 A JP 2000294604A
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- G11B15/00—Driving, starting or stopping record carriers of filamentary or web form; Driving both such record carriers and heads; Guiding such record carriers or containers therefor; Control thereof; Control of operating function
- G11B15/60—Guiding record carrier
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/453—Leadframes comprising flexible metallic tapes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 インナーリードが外力によって曲がるのを防
止し、歩留まりを向上させ、かつボンディング時の熱の
影響によりベースフィルム上の配線と半導体装置との意
図しない箇所がショートするのを防止する。 【解決手段】 その一端が開口2に突出しないようにベ
ースフィルム52上に導電体配線3を設け、かつベース
フィルム52上の開口2の四方の角に開口4を設けるこ
とにより、インナーリード3aが外力によって曲がるの
を防止しかつインナーリード3aを含むベースフィルム
52を所望のフォーミング形状に形成することを容易に
する。
止し、歩留まりを向上させ、かつボンディング時の熱の
影響によりベースフィルム上の配線と半導体装置との意
図しない箇所がショートするのを防止する。 【解決手段】 その一端が開口2に突出しないようにベ
ースフィルム52上に導電体配線3を設け、かつベース
フィルム52上の開口2の四方の角に開口4を設けるこ
とにより、インナーリード3aが外力によって曲がるの
を防止しかつインナーリード3aを含むベースフィルム
52を所望のフォーミング形状に形成することを容易に
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はテープキャリアパッ
ケージに関し、特にTAB(tape automat
ed bonding)方式のテープキャリアパッケー
ジに関する。
ケージに関し、特にTAB(tape automat
ed bonding)方式のテープキャリアパッケー
ジに関する。
【0002】
【従来の技術】まず、従来のテープキャリアパッケージ
の第1例について説明する。図6は従来のテープキャリ
アパッケージの第1例の平面図、図7は同テープキャリ
アパッケージのC−C´断面図である。図6及び図7を
参照して、従来のテープキャリアパッケージ50は矩形
状の開口(アライメントホール又はデバイスホール)5
1を有するベースフィルム52上に導電体配線53が複
数本設けられている。又、その導電体配線53のインナ
ーリード53aは開口51に突出するよう形成されてい
る。さらに、ベースフィルム52の両端部には等間隔に
スプロケットホール54が設けられている。
の第1例について説明する。図6は従来のテープキャリ
アパッケージの第1例の平面図、図7は同テープキャリ
アパッケージのC−C´断面図である。図6及び図7を
参照して、従来のテープキャリアパッケージ50は矩形
状の開口(アライメントホール又はデバイスホール)5
1を有するベースフィルム52上に導電体配線53が複
数本設けられている。又、その導電体配線53のインナ
ーリード53aは開口51に突出するよう形成されてい
る。さらに、ベースフィルム52の両端部には等間隔に
スプロケットホール54が設けられている。
【0003】一方、半導体装置55には複数の金属突起
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線53のインナーリード53
aとが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接
続されている。
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線53のインナーリード53
aとが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接
続されている。
【0004】次に、従来のテープキャリアパッケージの
第2例について説明する。図8は従来のテープキャリア
パッケージの第2例の断面図である。なお、図6及び図
7と同様の構成部分については同一番号を付しその説明
を省略する。図8を参照して、従来のテープキャリアパ
ッケージ60は開口を有しないベースフィルム61と、
このベースフィルム61上に設けられた複数本の導電体
配線62とからなる。一方、半導体装置55には複数の
金属突起56が設けられており、各々の金属突起56と
これと対応する導電体配線62のインナーリード62a
とが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接続
されている。
第2例について説明する。図8は従来のテープキャリア
パッケージの第2例の断面図である。なお、図6及び図
7と同様の構成部分については同一番号を付しその説明
を省略する。図8を参照して、従来のテープキャリアパ
ッケージ60は開口を有しないベースフィルム61と、
このベースフィルム61上に設けられた複数本の導電体
配線62とからなる。一方、半導体装置55には複数の
金属突起56が設けられており、各々の金属突起56と
これと対応する導電体配線62のインナーリード62a
とが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接続
されている。
【0005】これは、いわゆるフェースダウンボンディ
ング方式のテープキャリアパッケージである。このテー
プキャリアパッケージはインナーリード62aがベース
フィルム61に固定されているため、外力により曲がり
にくくなっている。この第2例の一例が特開平5−25
1510号公報に開示されている。
ング方式のテープキャリアパッケージである。このテー
プキャリアパッケージはインナーリード62aがベース
フィルム61に固定されているため、外力により曲がり
にくくなっている。この第2例の一例が特開平5−25
1510号公報に開示されている。
【0006】次に、従来のテープキャリアパッケージの
第3例について説明する。この第3例は特開平3−85
740号公報及び特開平3−101140号公報に開示
されている。図9は従来のテープキャリアパッケージの
第3例の平面図、図10は同テープキャリアパッケージ
のD−D´断面図である。なお、図6及び図7と同様の
構成部分については同一番号を付しその説明を省略す
る。図9及び図10を参照して、従来のテープキャリア
パッケージ70は矩形状の開口(アライメントホール又
はデバイスホール)71を有するベースフィルム52上
に導電体配線72が複数本設けられている。又、その導
電体配線72のインナーリード72aは開口51に突出
しないように形成されている。さらに、ベースフィルム
52の両端部には等間隔にスプロケットホール54が設
けられている。
第3例について説明する。この第3例は特開平3−85
740号公報及び特開平3−101140号公報に開示
されている。図9は従来のテープキャリアパッケージの
第3例の平面図、図10は同テープキャリアパッケージ
のD−D´断面図である。なお、図6及び図7と同様の
構成部分については同一番号を付しその説明を省略す
る。図9及び図10を参照して、従来のテープキャリア
パッケージ70は矩形状の開口(アライメントホール又
はデバイスホール)71を有するベースフィルム52上
に導電体配線72が複数本設けられている。又、その導
電体配線72のインナーリード72aは開口51に突出
しないように形成されている。さらに、ベースフィルム
52の両端部には等間隔にスプロケットホール54が設
けられている。
【0007】一方、半導体装置55には複数の金属突起
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線72のインナーリード72
aとが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接
続されている。
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線72のインナーリード72
aとが図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接
続されている。
【0008】又、導電体配線72のインナーリード72
a先端付近で隣接するリード間のベースフィルム52の
少なくとも1箇所以上にスリット73が設けられてい
る。このようにスリット73を設けることにより、ボン
ディング時に図示しない封止樹脂、導電体配線72、ベ
ースフィルム52、半導体装置55の線膨脹係数及び湿
度膨脹係数の違いによって生じる応力を吸収することが
でき、樹脂のクラック、リードの断線等の不良の発生を
防ぐことができる。
a先端付近で隣接するリード間のベースフィルム52の
少なくとも1箇所以上にスリット73が設けられてい
る。このようにスリット73を設けることにより、ボン
ディング時に図示しない封止樹脂、導電体配線72、ベ
ースフィルム52、半導体装置55の線膨脹係数及び湿
度膨脹係数の違いによって生じる応力を吸収することが
でき、樹脂のクラック、リードの断線等の不良の発生を
防ぐことができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、第1例のテー
プキャリアパッケージ50はインナーリード53aが中
空に浮いた状態であったため外力によって簡単に曲がっ
てしまうという欠点があった。そこで、この欠点を改善
する対策を施したのが第2例のテープキャリアパッケー
ジ60である。しかし、このテープキャリアパッケージ
60は半導体装置55とインナーリード62aとのアラ
イメントが技術的に難しいため歩留まりが低下するとい
う欠点があった。同様に、第1例の欠点を改善する他の
対策を施したのが第3例のテープキャリアパッケージ7
0である。しかし、このテープキャリアパッケージ70
はボンディング時の熱の影響によりベースフィルム52
が変形し、ベースフィルム52上の配線と半導体装置5
5との意図していない箇所がショート(短絡)しててし
まうおそれがあった。
プキャリアパッケージ50はインナーリード53aが中
空に浮いた状態であったため外力によって簡単に曲がっ
てしまうという欠点があった。そこで、この欠点を改善
する対策を施したのが第2例のテープキャリアパッケー
ジ60である。しかし、このテープキャリアパッケージ
60は半導体装置55とインナーリード62aとのアラ
イメントが技術的に難しいため歩留まりが低下するとい
う欠点があった。同様に、第1例の欠点を改善する他の
対策を施したのが第3例のテープキャリアパッケージ7
0である。しかし、このテープキャリアパッケージ70
はボンディング時の熱の影響によりベースフィルム52
が変形し、ベースフィルム52上の配線と半導体装置5
5との意図していない箇所がショート(短絡)しててし
まうおそれがあった。
【0010】そこで本発明の目的は、インナーリードが
外力によって曲がるのを防止し、歩留まりを向上させ、
かつボンディング時の熱の影響によりベースフィルム上
の配線と半導体装置との意図しない箇所がショートする
のを防止することができるテープキャリアパッケージを
提供することにある。
外力によって曲がるのを防止し、歩留まりを向上させ、
かつボンディング時の熱の影響によりベースフィルム上
の配線と半導体装置との意図しない箇所がショートする
のを防止することができるテープキャリアパッケージを
提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、矩形状の第1開口が設けられるベースフィ
ルムと、このベースフィルム上に設けられその一端が前
記第1開口縁部に近接する部位に設けられる複数の導電
体配線と、前記ベースフィルム上の前記第1開口の角の
部位に設けられる第2開口と、複数の金属突起が設けら
れその金属突起とこれと対応する前記導電体配線の一端
とが接続される半導体装置とを含むことを特徴とする。
に本発明は、矩形状の第1開口が設けられるベースフィ
ルムと、このベースフィルム上に設けられその一端が前
記第1開口縁部に近接する部位に設けられる複数の導電
体配線と、前記ベースフィルム上の前記第1開口の角の
部位に設けられる第2開口と、複数の金属突起が設けら
れその金属突起とこれと対応する前記導電体配線の一端
とが接続される半導体装置とを含むことを特徴とする。
【0012】本発明によれば、その一端が第1開口に突
出しないように導電体配線をベースフィルム上に設ける
とともに、ベースフィルム上の第1開口の角の部位に第
2開口を設けたため、インナーリードが外力によって曲
がるのを防止し、歩留まりを向上させ、かつボンディン
グ時の熱の影響によりベースフィルム上の配線と半導体
装置との意図しない箇所がショートするのを防止するこ
とができる。
出しないように導電体配線をベースフィルム上に設ける
とともに、ベースフィルム上の第1開口の角の部位に第
2開口を設けたため、インナーリードが外力によって曲
がるのを防止し、歩留まりを向上させ、かつボンディン
グ時の熱の影響によりベースフィルム上の配線と半導体
装置との意図しない箇所がショートするのを防止するこ
とができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面を参照しながら説明する。本発明はポリイミ
ド等のベースフィルム上に配線パターンが形成された構
造を有するTABテープを用いたテープキャリアパッケ
ージに関するものである。まず、第1の実施の形態から
説明する。図1は本発明に係るテープキャリアパッケー
ジの第1の実施の形態の平面図、図2は同テープキャリ
アパッケージのA−A´断面図である。なお、従来例
(図5から図9まで)と同様の構成部分については同一
番号を付しその説明を省略する。図1及び図2を参照し
て、テープキャリアパッケージ1は矩形状の開口(アラ
イメントホール又はデバイスホール)2を有するベース
フィルム52上に導電体配線3が複数本設けられてい
る。又、その導電体配線3のインナーリード3aは開口
2に突出することなくベースフィルム52上に全てが納
まるよう形成されている。さらに、ベースフィルム52
の両端部には等間隔にスプロケットホール54が設けら
れている。
て添付図面を参照しながら説明する。本発明はポリイミ
ド等のベースフィルム上に配線パターンが形成された構
造を有するTABテープを用いたテープキャリアパッケ
ージに関するものである。まず、第1の実施の形態から
説明する。図1は本発明に係るテープキャリアパッケー
ジの第1の実施の形態の平面図、図2は同テープキャリ
アパッケージのA−A´断面図である。なお、従来例
(図5から図9まで)と同様の構成部分については同一
番号を付しその説明を省略する。図1及び図2を参照し
て、テープキャリアパッケージ1は矩形状の開口(アラ
イメントホール又はデバイスホール)2を有するベース
フィルム52上に導電体配線3が複数本設けられてい
る。又、その導電体配線3のインナーリード3aは開口
2に突出することなくベースフィルム52上に全てが納
まるよう形成されている。さらに、ベースフィルム52
の両端部には等間隔にスプロケットホール54が設けら
れている。
【0014】一方、半導体装置55には複数の金属突起
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線3のインナーリード3aと
が図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接続さ
れている。なお、矩形状の開口2は半導体装置55より
小さい認識用の開口である。
(バンプ)56が設けられており、各々の金属突起56
とこれと対応する導電体配線3のインナーリード3aと
が図示しない圧し当て治工具により押圧加熱され接続さ
れている。なお、矩形状の開口2は半導体装置55より
小さい認識用の開口である。
【0015】又、ベースフィルム52上の開口2の四方
の角の部位には開口4が設けられている。この開口4は
開口2と繋がるよう形成されている。この位置に開口4
を設けることにより、インナーリード3aを含むベース
フィルム52を所望のフォーミング形状に形成すること
が容易になる。即ち、インナーリード(内部配線)3a
部に適度の傾斜(所望のフォーミング形状)をつけるこ
とにより、エッジタッチ等の不具合の発生を防止するこ
とができる。換言すれば、開口2の四方の角に位置する
部分に開口4を設けることにより、ベースフィルム52
を2次元的に無理なくフォーミングできるようになる。
そのため、インナーリード3a部をフォーミングできる
のでエッジタッチ等も防ぐことができる。又、隣接する
インナーリード3a間に従来例(図8参照)のようにス
リット73が設けられていないため、隣接するインナー
リード3a同士が接触するおそれもない。
の角の部位には開口4が設けられている。この開口4は
開口2と繋がるよう形成されている。この位置に開口4
を設けることにより、インナーリード3aを含むベース
フィルム52を所望のフォーミング形状に形成すること
が容易になる。即ち、インナーリード(内部配線)3a
部に適度の傾斜(所望のフォーミング形状)をつけるこ
とにより、エッジタッチ等の不具合の発生を防止するこ
とができる。換言すれば、開口2の四方の角に位置する
部分に開口4を設けることにより、ベースフィルム52
を2次元的に無理なくフォーミングできるようになる。
そのため、インナーリード3a部をフォーミングできる
のでエッジタッチ等も防ぐことができる。又、隣接する
インナーリード3a間に従来例(図8参照)のようにス
リット73が設けられていないため、隣接するインナー
リード3a同士が接触するおそれもない。
【0016】次に、第2の実施の形態について説明す
る。図3は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
2の実施の形態の平面図である。なお、図1と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第2の実施の形態のテープキャリアパッケージ6が
第1の実施の形態のテープキャリアパッケージ1と異な
る点は第1の実施の形態の開口4をスリット(sli
t;細長い穴)5で置換えた点である。即ち、ベースフ
ィルム52上の開口2の四方の角の部位にはスリット5
が設けられている。このスリット5は開口2と繋がるよ
う形成されている。この位置にスリット5を設けること
により、第1の実施の形態とほぼ同様の効果が得られ
る。
る。図3は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
2の実施の形態の平面図である。なお、図1と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第2の実施の形態のテープキャリアパッケージ6が
第1の実施の形態のテープキャリアパッケージ1と異な
る点は第1の実施の形態の開口4をスリット(sli
t;細長い穴)5で置換えた点である。即ち、ベースフ
ィルム52上の開口2の四方の角の部位にはスリット5
が設けられている。このスリット5は開口2と繋がるよ
う形成されている。この位置にスリット5を設けること
により、第1の実施の形態とほぼ同様の効果が得られ
る。
【0017】次に、第3の実施の形態について説明す
る。図4は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
3の実施の形態の平面図である。なお、図1と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第3の実施の形態のテープキャリアパッケージ7が
第1の実施のテープキャリアパッケージ1と異なる点は
第1の実施の形態の開口4を開口2と分離して設けた点
である。即ち、ベースフィルム52上の開口2の四方の
角の部位には開口8が設けられている。この開口8は開
口2と分離して形成されている。この位置に開口8を設
けることにより、開口8と開口2で挟まれる部分にベー
スフィルム52によるブリッジ(橋)8aが形成され
る。インナーリード3a部をフォーミングする際このブ
リッジ(橋)8aが伸びるためフォーミングが容易にな
る。従って、第1の実施の形態とほぼ同様の効果が得ら
れる。
る。図4は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
3の実施の形態の平面図である。なお、図1と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第3の実施の形態のテープキャリアパッケージ7が
第1の実施のテープキャリアパッケージ1と異なる点は
第1の実施の形態の開口4を開口2と分離して設けた点
である。即ち、ベースフィルム52上の開口2の四方の
角の部位には開口8が設けられている。この開口8は開
口2と分離して形成されている。この位置に開口8を設
けることにより、開口8と開口2で挟まれる部分にベー
スフィルム52によるブリッジ(橋)8aが形成され
る。インナーリード3a部をフォーミングする際このブ
リッジ(橋)8aが伸びるためフォーミングが容易にな
る。従って、第1の実施の形態とほぼ同様の効果が得ら
れる。
【0018】次に、第4の実施の形態について説明す
る。図5は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
4の実施の形態の平面図である。なお、図3と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第4の実施の形態のテープキャリアパッケージ9が
第2の実施のテープキャリアパッケージ6と異なる点は
第2の実施の形態のスリット5を開口2と分離して設け
た点である。即ち、ベースフィルム52上の開口2の四
方の角の部位にはスリット10が設けられている。この
スリット10は開口2と分離して形成されている。この
位置にスリット10を設けることにより、スリット10
と開口2で挟まれる部分にベースフィルム52によるブ
リッジ(橋)10aが形成される。インナーリード3a
部をフォーミングする際このブリッジ(橋)10aが伸
びるためフォーミングが容易になる。従って、第1の実
施の形態とほぼ同様の効果が得られる。
る。図5は本発明に係るテープキャリアパッケージの第
4の実施の形態の平面図である。なお、図3と同様の構
成部分については同一番号を付し、その説明を省略す
る。第4の実施の形態のテープキャリアパッケージ9が
第2の実施のテープキャリアパッケージ6と異なる点は
第2の実施の形態のスリット5を開口2と分離して設け
た点である。即ち、ベースフィルム52上の開口2の四
方の角の部位にはスリット10が設けられている。この
スリット10は開口2と分離して形成されている。この
位置にスリット10を設けることにより、スリット10
と開口2で挟まれる部分にベースフィルム52によるブ
リッジ(橋)10aが形成される。インナーリード3a
部をフォーミングする際このブリッジ(橋)10aが伸
びるためフォーミングが容易になる。従って、第1の実
施の形態とほぼ同様の効果が得られる。
【0019】
【発明の効果】本発明によれば、矩形状の第1開口が設
けられるベースフィルムと、このベースフィルム上に設
けられその一端が前記第1開口縁部に近接する部位に設
けられる複数の導電体配線と、前記ベースフィルム上の
前記第1開口の角の部位に設けられる第2開口と、複数
の金属突起が設けられその金属突起とこれと対応する前
記導電体配線の一端とが接続される半導体装置とを含ん
でテープキャリアパッケージを構成したため、インナー
リードが外力によって曲がるのを防止し、歩留まりを向
上させ、かつボンディング時の熱の影響によりベースフ
ィルム上の配線と半導体装置との意図しない箇所がショ
ートするのを防止することができる。
けられるベースフィルムと、このベースフィルム上に設
けられその一端が前記第1開口縁部に近接する部位に設
けられる複数の導電体配線と、前記ベースフィルム上の
前記第1開口の角の部位に設けられる第2開口と、複数
の金属突起が設けられその金属突起とこれと対応する前
記導電体配線の一端とが接続される半導体装置とを含ん
でテープキャリアパッケージを構成したため、インナー
リードが外力によって曲がるのを防止し、歩留まりを向
上させ、かつボンディング時の熱の影響によりベースフ
ィルム上の配線と半導体装置との意図しない箇所がショ
ートするのを防止することができる。
【図1】本発明に係るテープキャリアパッケージの第1
の実施の形態の平面図である。
の実施の形態の平面図である。
【図2】同テープキャリアパッケージのA−A´断面図
である。
である。
【図3】本発明に係るテープキャリアパッケージの第2
の実施の形態の平面図である。
の実施の形態の平面図である。
【図4】本発明に係るテープキャリアパッケージの第3
の実施の形態の平面図である。
の実施の形態の平面図である。
【図5】本発明に係るテープキャリアパッケージの第4
の実施の形態の平面図である。
の実施の形態の平面図である。
【図6】従来のテープキャリアパッケージの第1例の平
面図である。
面図である。
【図7】同テープキャリアパッケージのC−C´断面図
である。
である。
【図8】従来のテープキャリアパッケージの第2例の断
面図である。
面図である。
【図9】従来のテープキャリアパッケージの第3例の平
面図である。
面図である。
【図10】同テープキャリアパッケージのD−D´断面
図である。
図である。
1,6 テープキャリアパッケージ 2,4,8 開口 3 導電体配線 5,10 スリット 7,9 テープキャリアパッケージ 52 ベースフィルム 55 半導体装置
Claims (7)
- 【請求項1】 矩形状の第1開口が設けられるベースフ
ィルムと、このベースフィルム上に設けられその一端が
前記第1開口縁部に近接する部位に設けられる複数の導
電体配線と、前記ベースフィルム上の前記第1開口の角
の部位に設けられる第2開口と、複数の金属突起が設け
られその金属突起とこれと対応する前記導電体配線の一
端とが接続される半導体装置とを含むことを特徴とする
テープキャリアパッケージ。 - 【請求項2】 前記第2開口に代えてスリットが設けら
れることを特徴とする請求項1記載のテープキャリアパ
ッケージ。 - 【請求項3】 前記第1及び第2開口は繋がっているこ
とを特徴とする請求項1記載のテープキャリアパッケー
ジ。 - 【請求項4】 前記第1及び第2開口は分離しているこ
とを特徴とする請求項1記載のテープキャリアパッケー
ジ。 - 【請求項5】 前記第1開口及び前記スリットは繋がっ
ていることを特徴とする請求項2記載のテープキャリア
パッケージ。 - 【請求項6】 前記第1開口及び前記スリットは分離し
ていることを特徴とする請求項2記載のテープキャリア
パッケージ。 - 【請求項7】 前記第2開口及びスリットは前記第1開
口の四方の角の部位に設けられることを特徴とする請求
項1から6いずれかに記載のテープキャリアパッケー
ジ。
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