JP2000311037A - ホットソケット状態における回路保護方法およびその装置 - Google Patents
ホットソケット状態における回路保護方法およびその装置Info
- Publication number
- JP2000311037A JP2000311037A JP11376113A JP37611399A JP2000311037A JP 2000311037 A JP2000311037 A JP 2000311037A JP 11376113 A JP11376113 A JP 11376113A JP 37611399 A JP37611399 A JP 37611399A JP 2000311037 A JP2000311037 A JP 2000311037A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hot socket
- output
- circuit
- voltage supply
- condition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
Abstract
作し、これによりシステム内が混乱してシステム停止に
まで至ることがある。従ってホットソケット状態を識別
し、その状態が完了するまで、影響を受ける回路の出力
ピンを隔離することが必要となる。 【解決手段】回路が出力ノードと、出力ノードの信号レ
ベル制御する一組の出力トランジスタと、第1電圧供給
および第2電圧供給を有する。ホットソケット検出回路
が、第1電圧供給または第2電圧供給がホットソケット
状態を示す所定の値よりも下にある時を識別する。ホッ
トソケット状態に応答して、ホットソケット検出回路が
出力トランジスタの一組を高インピーダンス状態に置く
制御信号を発生する。
Description
特許出願されたシリアル番号60/110,260の発
明の名称「ホットソケット保護回路」の優先権を主張す
る。
関する。詳細には、本発明は混合電圧システムに使用さ
れる動的ホットソケット保護回路に関する。
上にはめ込まれている。一つの印刷回路基板に置かれた
異なる集積回路は異なる電圧で動作するであろう。例え
ば、プロセス技術の改良により、集積回路は、3.3ボ
ルトまたは2.5ボルトのようなまたはさらに低い、電
源電圧を使用する。これらプロセスにより製造された集
積回路は、前の世代の集積回路と互換性を維持しなけれ
ばならない。例えば、新しい世代の3.3ボルト集積回
路は、印刷回路基板上で古い世代の5ボルト集積回路と
共に使用される必要性があるだろう。このタイプのシス
テムは、一般に混合電圧システムと呼ばれる。
な電源と入力電圧を有することが必要とされる。これに
加えて、3.3ボルト集積回路は他の集積回路と接続す
るための適当な出力電圧を発生または供給しなければな
らない。集積回路の正しい接続は、正しい動作機能のた
めに必須である。さらに、正しい接続は、素子への過度
なストレスなどの好ましくない状態を防止し、大電流の
可能性またはラッチアップまたはその他の懸念を防ぎ、
よって素子の寿命を改良する。
キテクチャアは、雑音の多いおよび静かな別個の電圧供
給配置に依存している。例えば、I/Oドライバは雑音
の多い供給に結合されていて、一方、オン・チップ変換
回路は静かな供給に結合されている。このように電力供
給を分離することにより、静かな電力供給に結合されて
いる回路が、雑音の多い電力源に存在するスイッチング
および他のタイプの雑音からある程度隔離される。
テムから、システム内の電力を遮断することなく取り外
す必要が時々ある。この状態を「ホットソケット」と呼
ぶ。この状態は、1日24時間、1週間7日の間、運転
しなければならないシステムにおいてしばしば生ずる。
チップが挿入される時に、電源ピンおよび入力/出力ピ
ンの間で競争状態が存在するので問題が発生する。も
し、システム電源がチップの電源ピンに到達する前に、
システム信号がチップ入力/出力に到達すると、入力/
出力は誤って動作するおそれがあり、これによりシステ
ム内に混乱を発生する。この混乱は、取るに足ら無いグ
リッチからシステムを停止するものまでの範囲にわた
る。
そしてホットソケット状態が完了するまで、影響を受け
る回路の出力ピンを隔離する機構を提供することが、大
変に所望されている。
出力ノードの信号レベル制御する一組の出力トランジス
タと、第1電圧供給および第2電圧供給を有する。ホッ
トソケット検出回路が、第1電圧供給または第2電圧供
給がホットソケット状態を示す所定の値よりも下にある
時を識別する。ホットソケット状態に応答して、ホット
ソケット検出回路が出力トランジスタの一組を高インピ
ーダンス状態に置く制御信号を発生する。
状態を識別し、その後、ホットソケット状態が完了する
まで出力ピンを隔離する。
体のホットソケット取り替えを支援するための便利な機
構を提供する。好都合なことには、本発明の回路は相対
的に少ない数の標準の電子部品を用いて容易に実現でき
る。
詳細な説明を添付図面を参照しながら説明する。図中、
同様の参照番号は対応する部品を示す。
んだプログラマブル・ロジック素子(PLD)20を示
す。PLD(時々、PAL、PLA、FPLA、PL
D、EPLD、EEPLD、LCAまたはFPGAと呼
ばれる)は、カスタム集積回路の柔軟性と固定の集積回
路の利点を備える周知の集積回路である。このような素
子は、標準のオフザシエルフのロジック・エレメントを
ユーザの特別な目的に合うように、ユーザが電気的にプ
ログラムすることができる。
9を参照する。このような素子としては、例えば、アル
テラのMAX(登録商標)シリーズのPLDおよびFL
EX(登録商標)シリーズのPLDが現在代表的であ
る。前者は、例えば米国特許番号5,241,224お
よび4,871,930およびアルテラ・データ・ブッ
ク、1996年6月、に記載されている。後者は、例え
ば米国特許番号5,258,668および5,260,
610および5,260,611および5,436,5
75およびアルテラ・データ・ブック、1996年6
月、に記載されている。
一部を形成する。データ処理システム22は以下の部
品、プロセッサ24、メモリ26、入力/出力回路28
および周辺装置30、の一つまたは複数を含むことがで
きる。これらの部品はシステム・バス32により一緒に
結合され、そして回路基板34の上に置かれる。基板は
エンド・ユーザ・システム36の中に含まれる。
ーキング、データ・ネットワーキング、計装機器、ビデ
オ処理、デジタル信号処理、および再プログラミング・
ロジックを使用する利点が好ましいその他の応用など
の、広い範囲のさまざまの応用に使用できる。PLD2
0はさまざまなロジック機能を実行するために使用でき
る。例えば、PLD20は、プロセッサ24と共同して
働くコトローラまたはプロセッサとして構成することが
できる。PLD20はまた、システム22内の共有資源
へのアクセスを調停するアービターとしても使用するこ
とができる。また別の例としては、PLD20はプロセ
ッサ24とシステム22内の他の部品の一つとの間のイ
ンターフエイスとしても構成できる。
ある時に、PLD20を置き換えなければならない場合
が発生する。本発明はこのような場合に生ずる問題を解
決するものである。新しいPLD20のホットソケット
挿入の際に、PLD20の入力/出力ピンと電源ピンの
間で競争状態が発生する。もし、システム電源がチップ
の電力ピンに到達する前にシステム信号がPLD入力/
出力に到達すると、入力/出力はシステム22の残部に
混乱を生ずるであろう。本発明は、静かな電圧供給と雑
音の多い電圧供給のような、混合された電圧と一緒に動
作するPLDのこの問題を解決する。
ジック素子20を示す。プログラマブル・ロジック素子
20は一組のロジック配列ブロック40を含む。周知の
様に、ロジック配列ブロック40はプログラムされたロ
ジック操作を実行する。行相互接続回路42および列相
互接続回路44はさまざまなロジック配列ブロック40
を結び付ける。行相互接続回路42および列相互接続回
路44は既知の技術である。本発明は、アルテラ社、カ
リフォルニア、サンノゼ、から販売されているMAX
(登録商標)およびFLEX(登録商標)シリーズのP
LDに使用されているタイプのロジック配列ブロック4
0、行相互接続回路42および列相互接続回路44を用
いて構成される。
回路42および列相互接続回路44の終わりに位置して
いる。入力/出力エレメント50は標準の入力/出力機
能のために用いられる。入力/出力エレメント50は入
力バッフアおよび出力バッフアを含む。入力バッフアは
従来技術のアーキテクチャアを用いて構成できる。一
方、出力エレメントまたは出力バッフアは本発明により
構成される。以下に説明するように、出力バッフアはホ
ットソケット状態の時に遮断されるように構成される。
従って、出力バッフアはシステムの性能に影響する誤っ
た信号を発生しない。
で使用される半導体(チップ)内に設けられる。すなわ
ち、本発明の出力バッフアは、静かなまたは内部電圧供
給(Vccint)および雑音の多いまたは入力/出力
電圧供給(Vccio)に依存している。本発明の回路
はまた、PADVと呼ばれる第3の電圧に依存する。P
ADVは、出力バッフアが接続されるパッド上の電圧で
ある。ホットソケット状態では、パッドはシステム22
内の他のコンピュータからのデジタル高電圧信号にさら
されるであろう。
出力バッフアの拡散に到達している。従って、出力バッ
フア・トランジスタのためのウエル・バイアス電圧はV
ccintおよびPADVよりも高くすることが必要で
ある。このウエル・バイアス回路の出力は、VCPAD
と呼ばれる。VCPADは常時、VccintおよびP
ADVより高い。
た出力バッフア52を示す。出力バッフア52はウエル
・バイアス回路53を含む。ウエル・バイアス回路53
は出力ノードまたはPADに接続されている。上述した
ように、PADは電圧PADVを運搬する。出力ノード
またはPADはシステム22内の他の要素からの信号を
受けるので、PADV信号はホットソケット状態中、デ
ジタル高信号であろう。ウエル・バイアス回路53はま
た静かな電圧供給Vccio信号と雑音の多い電圧供給
信号Vccintを受け取る。ウエル・バイアス回路5
3はVccintおよびVPADよりも常時高いVCP
AD出力信号を発生するように構成されている。当業者
には理解されるように、この機能は複数の方法で実施で
きる。
から駆動信号PGATEおよびNGATEを受け取る。
コア・ロジック54は、例えば、図2のロジック配列ブ
ロック40から発生された信号である。PGATE信号
は、プルアップ・トランジスタOUTPUT PMOS
を制御する。一方、NGATE信号は、プルダウン・ト
ランジスタOUTPUT NMOSを制御する。プルア
ップ・トランジスタおよびプルダウン・トランジスタ
は、出力バッフア52の出力バッド(PAD)上のデジ
タル信号を制御する。
ップ・トランジスタOUTPUT PMOSおよびプル
ダウン・トランジスタOUTPUT NMOSのゲート
信号を制御する。これにより、コア・ロジック54から
の信号をくつがえす。図3に示すように、ホット・ソケ
ット回路60は3入力信号、Vcpad、Vccioお
よびVccintを受け取る。
ケット状態が存在するかどうかを決定する。もしこのよ
うな状態が存在すると、回路60はデジタル低NHOT
SCKT信号を発生して、トランジスタSHUTOFF
PMOSをオンに切り換えて、これによりプルアップ
・トランジスタOUTPUT PMOSをオフに切り換
える。回路60はまた、トランジスタSHUTOFF
NMOSをオンに切り換えるデジタル高信号HOTSC
KTを発生することにより、ホットソケット状態に応答
する。
オンになる時、プルダウン・トランジスタOUTPUT
NMOSのゲートを引き下げて、プルダウン・トラン
ジスタを遮断する。従って、ホットソケット検出回路6
0は、出力バッフア52の出力ピン(PAD)に関連す
るプルアップおよびプルダウン・トランジスタの両方を
遮断するように動作する。従って、ホットソケット検出
回路は、ホットソケット状態中に損傷から出力バッフア
を隔離する三状態または高インピーダンス状態を作り出
す。
たホットソケット検出回路60を示す。回路60はホッ
トソケット状態を検出する。特に、回路は、システムの
残りが動作可能な際に、PLD20がシステム22中に
挿入されるときに生ずる状態を識別する。このような状
態では、VCPADが電源オンとなるが、Vccint
またはVccioのいずれかはまだ低にあるだろう。換
言すれば、出力パッド(PAD)に電圧信号が存在する
かもしれないが、静かな電圧供給Vccintおよび/
または雑音の多い電圧供給Vccioはまだ電力供給さ
れていない。このような状態においては、前述した図3
の出力トランジスタは遮断されているか、高インピーダ
ンスの三状態に置かれている。
イアス回路53により生成された電圧であり、PADV
およびVccintの高いほうに常時等しい。ステップ
ダウン回路はVCPADからの電圧をステップダウンす
るのに用いられる。図4の実施例において、トランジス
タT2およびT3はステップダウン回路として用いら
れ、定常状態の動作におけるVccintまたはVcc
ioよりも決して高くない電圧をノードVCVT2に発
生する。従って、ノードVCVT2の電圧は定常状態の
動作中にトランジスタT5およびT6をオンに切り換え
ない。もし必要ならば、追加のトランジスタが所望のV
CVT2値に到達するために使用できる。
ntまたはVccioがVCVT2よりも一つのVtだ
け低いとオンである。VccintおよびVccioが
存在せず、VccintおよびVccioがそれらの完
全な値に上昇するような電力上昇状態の時のホットソケ
ット状態中に、これは発生する。この状態は、ノードH
OTSをデジタル高にする。インバータX2はそしてN
HOTSCKTノードをデジタル低値に駆動する。一
方、インバータX1はHOTSCKTノード上をデジタ
ル高信号に駆動する。
半ラッチを形成し、HOTSノードをVCPADにレベ
ル回復する。換言すれば、インバータX1からのデジタ
ル低信号がPMOSトランジスタT7のゲートに加えら
れる時、トランジスタT7はオンに切り換わり、これに
より電圧VCPADをHOTSノードに接続する。
状態中に低い。インバータX1は、ノードHOTSCK
T上にホットソケット状態の活性高指示子を提供する。
HOTSCKTおよびNHOTSCKTは、図3に関連
して前述したように、出力バッドに到達する全てのトラ
ンジスタを遮断するトランジスタを駆動するのに用いら
れる。
よりも一つのVt高い時、トランジスタT4およびT8
がオンとなる。両トランジスタが一旦、オンになると、
ノードHOTSが接地電位に放電されて、ホットソケッ
ト状態が終了したことを知らせる。
態を識別して、そしてその後にホットソケット状態が完
了するまで出力パッドを隔離する。この結果、印刷回路
基板上の半導体のホットソケット取替えを支援する便利
な機構を提供する。有利なことに、本発明の回路は相対
的により少ない数の標準の電子部品を用いて容易に実現
できる。
明の目的のために特別な命名方法を用いた。しかし、当
業者に明らかなように本発明を実施するために特別な詳
細を必要としない。他の例においては、周知の回路や素
子がブロック図で示されて発明の説明を不必要な煩雑さ
から防いでいる。従って、前述の本発明の特別な実施例
の説明は、説明の目的のために提供され、網羅的な意図
は無く、また本発明を開示された正確な形式に限定する
意図も無い。前記に開示したものから、多くの変形変容
が可能であることは明らかである。実施例は、本発明の
原理およびその応用を説明するのに最適であるから選ば
れて記述された。従って、実施例の説明により当業者が
本発明を最適に実施でき、そして意図する特別な用途に
ふさわしいように様様な修正を実施例に施すことが可能
である。
アを有するプログラマブル・ロジック素子を用いたデー
タ処理システムを示す図。
ブル・ロジック素子を示す図。
路を有する出力バッフアを示す図。
路を示す図。
0)
Claims (2)
- 【請求項1】出力ノードと、前記出力ノード上の信号レ
ベルを制御する一組のトランジスタと、第1電力供給
と、第2電力供給と、前記第1電力供給または前記第2
電力供給がホットソケット状態を示す所定の値より低く
い時を識別し、そしてそれに応答して、前記一組のトラ
ンジスタを高インピーダンス状態に置く制御信号を発生
するホットソケット検出回路と、を有することを特徴と
する回路。 - 【請求項2】ホットソケット状態中の集積回路出力信号
を制御する方法において、ホットソケット状態を示す第
1電圧供給または第2電圧供給が所定の値よりも低い時
を識別し、前記識別ステップに応答して、集積回路の出
力ノードを高インピーダンス状態に置く、各ステップを
有することを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US11026098P | 1998-11-30 | 1998-11-30 | |
| US60/110260 | 1999-05-24 | ||
| US09/317,710 US6040712A (en) | 1998-11-30 | 1999-05-24 | Apparatus and method for protecting a circuit during a hot socket condition |
| US09/317710 | 1999-05-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000311037A true JP2000311037A (ja) | 2000-11-07 |
| JP4551517B2 JP4551517B2 (ja) | 2010-09-29 |
Family
ID=26807854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP37611399A Expired - Fee Related JP4551517B2 (ja) | 1998-11-30 | 1999-11-30 | ホットソケット状態における回路保護方法およびその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6040712A (ja) |
| EP (1) | EP1026827B1 (ja) |
| JP (1) | JP4551517B2 (ja) |
| AT (1) | ATE298948T1 (ja) |
| DE (1) | DE69925982T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160122113A (ko) | 2014-02-14 | 2016-10-21 | 세이부덴키 가부시키가이샤 | 밸브 액츄에이터 통신 시스템, 통신 장치 접속 상태 평가 방법 및 프로그램 |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW511335B (en) * | 1998-06-09 | 2002-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Integrated circuit |
| US6271679B1 (en) * | 1999-03-24 | 2001-08-07 | Altera Corporation | I/O cell configuration for multiple I/O standards |
| US6836151B1 (en) * | 1999-03-24 | 2004-12-28 | Altera Corporation | I/O cell configuration for multiple I/O standards |
| US6388467B1 (en) * | 1999-09-30 | 2002-05-14 | Conexant Systems, Inc. | High voltage tolerant output driver for sustained tri-state signal lines |
| US6718416B1 (en) * | 2000-08-21 | 2004-04-06 | Intel Corporation | Method and apparatus for removing and installing a computer system bus agent without powering down the computer system |
| US6630844B1 (en) | 2000-08-22 | 2003-10-07 | Altera Corporation | Supply voltage detection circuit |
| US6972593B1 (en) * | 2003-08-05 | 2005-12-06 | Altera Corp. | Method and apparatus for protecting a circuit during a hot socket condition |
| US7085870B2 (en) * | 2004-09-07 | 2006-08-01 | Altera Corporation | Integrated circuit with shared hotsocket architecture |
| US7236018B1 (en) | 2004-09-08 | 2007-06-26 | Altera Corporation | Programmable low-voltage differential signaling output driver |
| US7598779B1 (en) | 2004-10-08 | 2009-10-06 | Altera Corporation | Dual-mode LVDS/CML transmitter methods and apparatus |
| US7365570B2 (en) * | 2005-05-25 | 2008-04-29 | Micron Technology, Inc. | Pseudo-differential output driver with high immunity to noise and jitter |
| US7265587B1 (en) | 2005-07-26 | 2007-09-04 | Altera Corporation | LVDS output buffer pre-emphasis methods and apparatus |
| US7893716B1 (en) | 2007-05-11 | 2011-02-22 | Altera Corporation | Hotsocket detection circuitry |
| US7733118B2 (en) * | 2008-03-06 | 2010-06-08 | Micron Technology, Inc. | Devices and methods for driving a signal off an integrated circuit |
| US8013632B1 (en) | 2009-12-15 | 2011-09-06 | Altera Corporation | Integrated circuit with global hotsocket architecture |
| US8675420B2 (en) | 2011-05-26 | 2014-03-18 | Micron Technology, Inc. | Devices and systems including enabling circuits |
| US9515643B2 (en) | 2014-01-06 | 2016-12-06 | Lattice Semiconductor Corporation | Hot-socket circuitry |
| JP6461842B2 (ja) | 2016-03-14 | 2019-01-30 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61502091A (ja) * | 1984-05-03 | 1986-09-18 | アルテラ・コ−ポレ−シヨン | プログラマブル論理アレイ装置 |
| JPH0227414A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-30 | Mitsubishi Electric Corp | Icメモリカード |
| JPH02151914A (ja) * | 1988-12-05 | 1990-06-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | メモリカード監視装置 |
| JPH03202784A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nippon Seiko Kk | ポテンシヨメータ式センサの短絡検出装置 |
| JPH0490619A (ja) * | 1990-08-03 | 1992-03-24 | Toyota Motor Corp | トライステート出力回路 |
| JPH04294477A (ja) * | 1991-03-22 | 1992-10-19 | Shimadzu Corp | メモリカードシステムの状態確認装置 |
| JPH0521190A (ja) * | 1991-07-10 | 1993-01-29 | Toshiba Electric Appliance Co Ltd | 放電灯点灯制御装置 |
| JPH06119797A (ja) * | 1990-08-17 | 1994-04-28 | Sgs Thomson Microelectron Inc | テストモードエントリ用のマルチクロック動作を有する半導体メモリ |
| JPH07249973A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-09-26 | Toshiba Corp | 電子機器 |
| JPH0884057A (ja) * | 1994-09-13 | 1996-03-26 | Toshiba Corp | 出力回路装置およびその設計方法 |
| JPH09214324A (ja) * | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Sharp Corp | Cmos論理回路 |
| JPH10285013A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | 出力バッファ回路 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5338978A (en) * | 1993-02-10 | 1994-08-16 | National Semiconductor Corporation | Full swing power down buffer circuit with multiple power supply isolation |
| US5485107A (en) * | 1995-01-09 | 1996-01-16 | Unisys Corporation | Backplane driver circuit |
| US5684410A (en) * | 1995-07-03 | 1997-11-04 | Guo; Frank Tzen-Wen | Preconditioning of output buffers |
| US5534789A (en) * | 1995-08-07 | 1996-07-09 | Etron Technology, Inc. | Mixed mode output buffer circuit for CMOSIC |
| US5862390A (en) * | 1996-03-15 | 1999-01-19 | S3 Incorporated | Mixed voltage, multi-rail, high drive, low noise, adjustable slew rate input/output buffer |
| US5825206A (en) * | 1996-08-14 | 1998-10-20 | Intel Corporation | Five volt safe output buffer circuit that controls the substrate and gates of the pull-up devices |
-
1999
- 1999-05-24 US US09/317,710 patent/US6040712A/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-26 DE DE69925982T patent/DE69925982T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-26 EP EP99309462A patent/EP1026827B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-26 AT AT99309462T patent/ATE298948T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-11-30 JP JP37611399A patent/JP4551517B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61502091A (ja) * | 1984-05-03 | 1986-09-18 | アルテラ・コ−ポレ−シヨン | プログラマブル論理アレイ装置 |
| JPH0227414A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-30 | Mitsubishi Electric Corp | Icメモリカード |
| JPH02151914A (ja) * | 1988-12-05 | 1990-06-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | メモリカード監視装置 |
| JPH03202784A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nippon Seiko Kk | ポテンシヨメータ式センサの短絡検出装置 |
| JPH0490619A (ja) * | 1990-08-03 | 1992-03-24 | Toyota Motor Corp | トライステート出力回路 |
| JPH06119797A (ja) * | 1990-08-17 | 1994-04-28 | Sgs Thomson Microelectron Inc | テストモードエントリ用のマルチクロック動作を有する半導体メモリ |
| JPH04294477A (ja) * | 1991-03-22 | 1992-10-19 | Shimadzu Corp | メモリカードシステムの状態確認装置 |
| JPH0521190A (ja) * | 1991-07-10 | 1993-01-29 | Toshiba Electric Appliance Co Ltd | 放電灯点灯制御装置 |
| JPH07249973A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-09-26 | Toshiba Corp | 電子機器 |
| JPH0884057A (ja) * | 1994-09-13 | 1996-03-26 | Toshiba Corp | 出力回路装置およびその設計方法 |
| JPH09214324A (ja) * | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Sharp Corp | Cmos論理回路 |
| JPH10285013A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | 出力バッファ回路 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160122113A (ko) | 2014-02-14 | 2016-10-21 | 세이부덴키 가부시키가이샤 | 밸브 액츄에이터 통신 시스템, 통신 장치 접속 상태 평가 방법 및 프로그램 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69925982T2 (de) | 2006-05-04 |
| JP4551517B2 (ja) | 2010-09-29 |
| EP1026827A1 (en) | 2000-08-09 |
| DE69925982D1 (de) | 2005-08-04 |
| US6040712A (en) | 2000-03-21 |
| EP1026827B1 (en) | 2005-06-29 |
| ATE298948T1 (de) | 2005-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2000311037A (ja) | ホットソケット状態における回路保護方法およびその装置 | |
| US6614283B1 (en) | Voltage level shifter | |
| JP4502190B2 (ja) | レベルシフタ、レベル変換回路及び半導体集積回路 | |
| US6911860B1 (en) | On/off reference voltage switch for multiple I/O standards | |
| US6040729A (en) | Digital output buffer for multiple voltage system | |
| JPH08237102A (ja) | 入出力バッファ回路装置 | |
| JP3587299B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| US6369613B1 (en) | Input/output drivers | |
| US6630844B1 (en) | Supply voltage detection circuit | |
| CN102290098A (zh) | 电源电平升高的可编程逻辑器件存储器单元 | |
| US6972593B1 (en) | Method and apparatus for protecting a circuit during a hot socket condition | |
| US6442009B1 (en) | Semiconductor device having protective and test circuits | |
| JP3590535B2 (ja) | 多数の供給電圧に対処するプログラマブル・バイアスを有する出力バッファおよびその方法 | |
| CN101207277A (zh) | 电子保险丝电路 | |
| US6580311B2 (en) | Circuit configuration for supplying voltage to an integrated circuit via a pad | |
| WO1998028848A1 (en) | Output driver for sub-micron cmos | |
| JP2002533971A (ja) | 過電圧保護i/oバッファ | |
| US6138195A (en) | Method and apparatus for hot-plugging circuit boards having low voltage logic parts into a higher voltage backplane | |
| JP3262070B2 (ja) | 出力バッファ | |
| US6154059A (en) | High performance output buffer | |
| US20070008004A1 (en) | Apparatus and methods for low-power routing circuitry in programmable logic devices | |
| JP3361873B2 (ja) | 半導体集積回路における入出力バッファ回路 | |
| JP2001228220A (ja) | 半導体装置のテスト回路 | |
| JP3796193B2 (ja) | テスト信号生成回路 | |
| JPH0653810A (ja) | 半導体集積回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061130 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091022 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100122 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100127 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100421 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100610 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100712 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |