JPH01133414A - カスコードBiMOS駆動回路 - Google Patents
カスコードBiMOS駆動回路Info
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- JPH01133414A JPH01133414A JP62292708A JP29270887A JPH01133414A JP H01133414 A JPH01133414 A JP H01133414A JP 62292708 A JP62292708 A JP 62292708A JP 29270887 A JP29270887 A JP 29270887A JP H01133414 A JPH01133414 A JP H01133414A
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- JP
- Japan
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- bipolar transistor
- cascode
- bimos
- mosfet
- turned
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- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/40—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of at least one component covered by groups H10D12/00 or H10D30/00 with at least one component covered by groups H10D10/00 or H10D18/00, e.g. integration of IGFETs with BJTs
- H10D84/401—Combinations of FETs or IGBTs with BJTs
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0814—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit
- H03K17/08142—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit in field-effect transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/16—Modifications for eliminating interference voltages or currents
- H03K17/161—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
- H03K17/162—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/163—Soft switching
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/16—Modifications for eliminating interference voltages or currents
- H03K17/168—Modifications for eliminating interference voltages or currents in composite switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/567—Circuits characterised by the use of more than one type of semiconductor device, e.g. BIMOS, composite devices such as IGBT
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置に関し、特にスイッチング手段であ
るカスコードB1MOSを駆動する回路に関するもので
ある。
るカスコードB1MOSを駆動する回路に関するもので
ある。
第4図は従来のカスコードBiMOS駆動回路を示す回
路図であり、第4図において、1はバイポーラトランジ
スタ、2はMOS F ET、3は第1の出力端子、4
は第2の出力端子、5はバイポーラトランジスタのベー
スと接続された第1の制御端子、6はMOSFET2と
接続された第2の制御端子、7はバイポーラトランジス
タlとMOSFET2とから成るカスコードBiMOS
,8は過電圧吸収手段又はスイッチング手段、9はMO
SFET、10は第3の制御端子である。
路図であり、第4図において、1はバイポーラトランジ
スタ、2はMOS F ET、3は第1の出力端子、4
は第2の出力端子、5はバイポーラトランジスタのベー
スと接続された第1の制御端子、6はMOSFET2と
接続された第2の制御端子、7はバイポーラトランジス
タlとMOSFET2とから成るカスコードBiMOS
,8は過電圧吸収手段又はスイッチング手段、9はMO
SFET、10は第3の制御端子である。
上記カスコードBiMOSにおいては、パイボ−ラトラ
ンジスタ1のエミッタとMOS F ET 2のドレイ
ンとが接続され、バイポーラトランジスタ1のコレクタ
は第1の出力端子3に接続され、MOS F ET 2
のソースは第2の出力端子4に接続され、バイポーラト
ランジスタ1のベースは第1の制御端子5に接続され、
MOSFET2のソースは第2の制御端子6に接続され
ている。また、バイポーラトランジスタ1のベースとM
OSFET2のソースとが過電圧吸収手段又はスイッチ
ング手段8を通して接続され、バイポーラトランジスタ
1のコレクタとMOS F ET 9のドレインとが接
続され、バイポーラトランジスタ1のベースとMOS
F ET 9のソースとが接続されている。
ンジスタ1のエミッタとMOS F ET 2のドレイ
ンとが接続され、バイポーラトランジスタ1のコレクタ
は第1の出力端子3に接続され、MOS F ET 2
のソースは第2の出力端子4に接続され、バイポーラト
ランジスタ1のベースは第1の制御端子5に接続され、
MOSFET2のソースは第2の制御端子6に接続され
ている。また、バイポーラトランジスタ1のベースとM
OSFET2のソースとが過電圧吸収手段又はスイッチ
ング手段8を通して接続され、バイポーラトランジスタ
1のコレクタとMOS F ET 9のドレインとが接
続され、バイポーラトランジスタ1のベースとMOS
F ET 9のソースとが接続されている。
次に動作について、まず、8として過電圧吸収手段を使
った場合について説明する。MOSFET2をターンオ
ンし、MO3FE丁9をターンオンすると、出力端子3
からMOS F ET 9、バイポーラトランジスタ1
のベースを抜け、MOSFET2を通って出力端子4へ
抜ける電流パスができるため、バイポーラトランジスタ
1がターンオンし、出力端子3からバイポーラトランジ
スタ1、MOSFET2を通して出力端子4へと抜ける
電流パスができ、このカスコードBiMOS7はターン
オンする。このとき、過電圧吸収手段8に印加する電゛
圧は制限電圧以下であるとする。
った場合について説明する。MOSFET2をターンオ
ンし、MO3FE丁9をターンオンすると、出力端子3
からMOS F ET 9、バイポーラトランジスタ1
のベースを抜け、MOSFET2を通って出力端子4へ
抜ける電流パスができるため、バイポーラトランジスタ
1がターンオンし、出力端子3からバイポーラトランジ
スタ1、MOSFET2を通して出力端子4へと抜ける
電流パスができ、このカスコードBiMOS7はターン
オンする。このとき、過電圧吸収手段8に印加する電゛
圧は制限電圧以下であるとする。
次に、MOSFET2およびMOSFET9をターンオ
フすると、出力端子3から出力端子4ヘバイポーラトラ
ンジスタ1とMOSFET2を通って流れていた電流は
MOSFET2がターンオフしたことにより行き場所を
失い、MOSFET2のドレイン・ソース間電圧は上昇
する。このとき、バイポーラトランジスタ1には相当量
の蓄積電荷が蓄えられているため、バイポーラトランジ
スタ1のベース・エミッタ間は導通状況にあり、このた
め、バイポーラトランジスタ1のベースとMOSFET
2のソースどの間の電圧が上昇する。
フすると、出力端子3から出力端子4ヘバイポーラトラ
ンジスタ1とMOSFET2を通って流れていた電流は
MOSFET2がターンオフしたことにより行き場所を
失い、MOSFET2のドレイン・ソース間電圧は上昇
する。このとき、バイポーラトランジスタ1には相当量
の蓄積電荷が蓄えられているため、バイポーラトランジ
スタ1のベース・エミッタ間は導通状況にあり、このた
め、バイポーラトランジスタ1のベースとMOSFET
2のソースどの間の電圧が上昇する。
この電圧が過電圧吸収手段又はスイッチング手段8の制
限電圧を越えると、過電圧吸収手段8は電流を流し始め
る。過電圧吸収手段又はスイッチング手段8の導通によ
り、バイポーラトランジスタ1のコレクタからバイポー
ラトランジスタ1のベースを通り、過電圧吸収手段8を
抜けてMOSFET2のソースへと電流の流れるパスが
できる。
限電圧を越えると、過電圧吸収手段8は電流を流し始め
る。過電圧吸収手段又はスイッチング手段8の導通によ
り、バイポーラトランジスタ1のコレクタからバイポー
ラトランジスタ1のベースを通り、過電圧吸収手段8を
抜けてMOSFET2のソースへと電流の流れるパスが
できる。
このとき流れる電流により、バイポーラトランジスタl
の蓄積電荷は急速に放電され、ついにはバイポーラトラ
ンジスタ1はターンオフし、出力端子3・4間はターン
オフする。このとき、出力端子3・4間にかかる電圧は
バイポーラトランジスタ1とMOSFET2とにかかる
ことになる。
の蓄積電荷は急速に放電され、ついにはバイポーラトラ
ンジスタ1はターンオフし、出力端子3・4間はターン
オフする。このとき、出力端子3・4間にかかる電圧は
バイポーラトランジスタ1とMOSFET2とにかかる
ことになる。
以上の動作を繰り返すことにより、カスコードBiMO
S7はターンオン、ターンオフを繰り返す。
S7はターンオン、ターンオフを繰り返す。
次に過電圧吸収手段をスイッチング手段に置き換えた場
合の動作について説明する。これまでの過電圧吸収手段
を使った場合の動作において、過電圧吸収手段の両端に
制限電圧以上の電圧が印加し、過電圧吸収手段が導通す
る期間は、カスコードBiMOS7のスイッチングのタ
イミングに対して決まっている。そこで、過電圧吸収手
段が導通する期間には、過電圧吸収手段の代わりに置か
れたスイッチング手段8をオンしており、逆に過電圧吸
収手段に電圧が印加されていながら導通しない期間、す
なわちカスコードBiMOS7がオンしている期間には
、スイッチング手段8がオフしているようにスイッチン
グ手段8を駆動することによって過電圧吸収手段に要求
される動作をなし、もって過電圧吸収手段を使った場合
と同様にカスコードBiMOS7をオン・オフする。
合の動作について説明する。これまでの過電圧吸収手段
を使った場合の動作において、過電圧吸収手段の両端に
制限電圧以上の電圧が印加し、過電圧吸収手段が導通す
る期間は、カスコードBiMOS7のスイッチングのタ
イミングに対して決まっている。そこで、過電圧吸収手
段が導通する期間には、過電圧吸収手段の代わりに置か
れたスイッチング手段8をオンしており、逆に過電圧吸
収手段に電圧が印加されていながら導通しない期間、す
なわちカスコードBiMOS7がオンしている期間には
、スイッチング手段8がオフしているようにスイッチン
グ手段8を駆動することによって過電圧吸収手段に要求
される動作をなし、もって過電圧吸収手段を使った場合
と同様にカスコードBiMOS7をオン・オフする。
従来のカスコードBiMOS7の駆動回路は以上のよう
に構成されているので、MOS F ET 9はバイポ
ーラトランジスタlと同程度の耐圧が必要となり、特に
高耐圧の場合には、MOSFET9の必要とするチップ
面積はバイポーラトランジスタ1の必要とするチップ面
積に対しきわめて大きなものとなり、このため、駆動用
のMOSFET・9の入力容量がきわめて大きなものと
なり、またコストもかかる。また、過電圧吸収手段又は
スイッチング手段8は、カスコードBiMOS7のター
ンオフ時にカスコードBiMOS7のオン時のコレクタ
電流程度の電流を流す必要上、カスコードBiMOS7
のコレクタ・ソース間すなわち出力端子3・4間のオン
抵抗に相当する程度の低オン抵抗でなくではならず、こ
れがMOS F ET9と共にカスコードB1MOS7
に対するカスコード]31MO3駆動回路のコストをき
わめて大きなものとしていた。さらに、バイポーラトラ
ンジスタ1の急峻なターンオフによって各端子に生じる
サージ電圧を抑えるため、MOSFET9のターンオフ
タイミングをMOSFET2のターンオフタイミングよ
りわずかに遅らせて、カスコードBiMOS7全体とし
てのターンオフ速度をゆるやかにするための駆動回路上
の操作が必要であった。
に構成されているので、MOS F ET 9はバイポ
ーラトランジスタlと同程度の耐圧が必要となり、特に
高耐圧の場合には、MOSFET9の必要とするチップ
面積はバイポーラトランジスタ1の必要とするチップ面
積に対しきわめて大きなものとなり、このため、駆動用
のMOSFET・9の入力容量がきわめて大きなものと
なり、またコストもかかる。また、過電圧吸収手段又は
スイッチング手段8は、カスコードBiMOS7のター
ンオフ時にカスコードBiMOS7のオン時のコレクタ
電流程度の電流を流す必要上、カスコードBiMOS7
のコレクタ・ソース間すなわち出力端子3・4間のオン
抵抗に相当する程度の低オン抵抗でなくではならず、こ
れがMOS F ET9と共にカスコードB1MOS7
に対するカスコード]31MO3駆動回路のコストをき
わめて大きなものとしていた。さらに、バイポーラトラ
ンジスタ1の急峻なターンオフによって各端子に生じる
サージ電圧を抑えるため、MOSFET9のターンオフ
タイミングをMOSFET2のターンオフタイミングよ
りわずかに遅らせて、カスコードBiMOS7全体とし
てのターンオフ速度をゆるやかにするための駆動回路上
の操作が必要であった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、チップ面積が小さくでき、抵抗
コストで、かつターンオフ時のサージ電圧を抑制できる
簡便なカスコードBiMO8駆動回路を得ることにある
。
の目的とするところは、チップ面積が小さくでき、抵抗
コストで、かつターンオフ時のサージ電圧を抑制できる
簡便なカスコードBiMO8駆動回路を得ることにある
。
このような目的を達成するために本発明は、バイポーラ
トランジスタとMOSFETとから成り、バイポーラト
ランジスタのエミッタとMOSFETのドレインとを接
続し、バイポーラトランジスタのコレクタを第1の出力
端子に接続し、MOSFETのソースを第2の出力端子
に接続し、バイポーラトランジスタのベースを第1の制
御端子に接続し、MOS F ETのゲートを第2の制
御端子に接続したカスコードBiMOSを駆動する回路
において、一方がバイポーラトランジスタのベースに接
続され他方がMOS F ETのソースに接続された過
電圧吸収手段又はスイッチング手段と、コレクタがバイ
ポーラトランジスタのコレクタに接続されエミッタがバ
イポーラトランジスタのベースに接続されたI GBT
とを設けるようにしたものである。
トランジスタとMOSFETとから成り、バイポーラト
ランジスタのエミッタとMOSFETのドレインとを接
続し、バイポーラトランジスタのコレクタを第1の出力
端子に接続し、MOSFETのソースを第2の出力端子
に接続し、バイポーラトランジスタのベースを第1の制
御端子に接続し、MOS F ETのゲートを第2の制
御端子に接続したカスコードBiMOSを駆動する回路
において、一方がバイポーラトランジスタのベースに接
続され他方がMOS F ETのソースに接続された過
電圧吸収手段又はスイッチング手段と、コレクタがバイ
ポーラトランジスタのコレクタに接続されエミッタがバ
イポーラトランジスタのベースに接続されたI GBT
とを設けるようにしたものである。
C作用〕
本発明によるカスコードBiMOS駆動回路においては
、コレクタがバイポーラトランジスタのコレクタに接続
されエミッタがバイポーラトランジスタのベースに接続
されたI G E T (InsulatedGate
Bipoler Transistor)を設けたこ
とにより、高耐圧、低オン抵抗かつ低コストにすると共
に、I GBTがターンオフのときゆるやかにターンオ
フするというテイル減少によって、カスコードBiMO
Sのきわめて急峻なターンオフが抑制されるため、IG
BTとMOS F ETを同時に駆動しても、各端子に
サージ電圧が生じ難くなる。また、過電圧吸収手段又は
スイッチング手段のオン期間からオフ期間までの間には
、両端に電圧が印加されず、オンでもオフでもよい期間
が存在するため、過電圧吸収手段又はスイッチング手段
のフォワードリカバリー又はターンオン時間がきわめて
小さい必要がある反面、ターンオフ時間は比較的長くて
もよいことになる。このことを利用して、過電圧吸収手
段又はスイッチング手段として上記I GBTとは別の
第2のI GBTを採用すれば、低コストかつ低オン抵
抗が実現される。さらに、第2のIGBTをpチャネル
とするならば、上記IGBT、MOSFETと同一の駆
動出力による駆動も可能となる。
、コレクタがバイポーラトランジスタのコレクタに接続
されエミッタがバイポーラトランジスタのベースに接続
されたI G E T (InsulatedGate
Bipoler Transistor)を設けたこ
とにより、高耐圧、低オン抵抗かつ低コストにすると共
に、I GBTがターンオフのときゆるやかにターンオ
フするというテイル減少によって、カスコードBiMO
Sのきわめて急峻なターンオフが抑制されるため、IG
BTとMOS F ETを同時に駆動しても、各端子に
サージ電圧が生じ難くなる。また、過電圧吸収手段又は
スイッチング手段のオン期間からオフ期間までの間には
、両端に電圧が印加されず、オンでもオフでもよい期間
が存在するため、過電圧吸収手段又はスイッチング手段
のフォワードリカバリー又はターンオン時間がきわめて
小さい必要がある反面、ターンオフ時間は比較的長くて
もよいことになる。このことを利用して、過電圧吸収手
段又はスイッチング手段として上記I GBTとは別の
第2のI GBTを採用すれば、低コストかつ低オン抵
抗が実現される。さらに、第2のIGBTをpチャネル
とするならば、上記IGBT、MOSFETと同一の駆
動出力による駆動も可能となる。
第1図は、本発明に係わるカスコードBtMO8駆動回
路の一実施例を示す回路図であり、第1図において、1
1はI GBT、12は第3の制御端子であり、カスコ
ードBiMOS7の構成・接続は従来の第4図の場合と
同様である。なお、第1図において第4図と同一部分又
は相当部分には同一符号が付しである。
路の一実施例を示す回路図であり、第1図において、1
1はI GBT、12は第3の制御端子であり、カスコ
ードBiMOS7の構成・接続は従来の第4図の場合と
同様である。なお、第1図において第4図と同一部分又
は相当部分には同一符号が付しである。
このような構成において、バイポーラトランジスタ1の
ベースとMOS F ET 2のソースとが過電圧吸収
手段又はスイッチング手段8を通して接続され、バイポ
ーラトランジスタ1のコレクタとIGBTIIのコレク
タとが接続され、バイポーラトランジスタ1のベースと
IGBTIIのエミッタとが接続されている。
ベースとMOS F ET 2のソースとが過電圧吸収
手段又はスイッチング手段8を通して接続され、バイポ
ーラトランジスタ1のコレクタとIGBTIIのコレク
タとが接続され、バイポーラトランジスタ1のベースと
IGBTIIのエミッタとが接続されている。
第2図、第3図は特許請求の範囲第2項に対応する回路
図であり、過電圧吸収手段又はスイッチング手段8とし
てIGBT8a、8bを採用し、各々のIGBT8a、
8bをnチャネル、pチャネルとし、コレクタ又はエミ
ッタをバイポーラトランジスタ1のベースに接続し、エ
ミッタ又はコレクタをMOSFET2のソースに接続し
たものである。第2図、第3図で13は第4の制御端子
である。
図であり、過電圧吸収手段又はスイッチング手段8とし
てIGBT8a、8bを採用し、各々のIGBT8a、
8bをnチャネル、pチャネルとし、コレクタ又はエミ
ッタをバイポーラトランジスタ1のベースに接続し、エ
ミッタ又はコレクタをMOSFET2のソースに接続し
たものである。第2図、第3図で13は第4の制御端子
である。
次に、第1図の回路の動作について説明する。
まず、ターンオンについて説明する。カスコードBiM
OS7がオフのときは、バイポーラトランジスタ1.M
O3FP、T2.IGBTIIはすべてオフ状態で、過
電圧吸収手段又はスイッチング手段8又は第2図、第3
図のIGBT8a、8b(以下単に「過電圧吸収手段8
」という)には電流がほとんど流れていない。カスコー
ドBiMO87の出力端子3,4にかかる電圧のほとん
どはバイポーラトランジスタ1とIGBTIIにかかっ
ている。この状態から、MO8FET2およびIGBT
IIをゲート信号の操作によってターンオンする。する
と、カスコードBiMOS7のプラス出力端子3からI
GBTIIのコレクタ、エミッタを通り、バイポーラト
ランジスタ1のベース、エミッタを通って、MOS F
ET 2のドレインカラソースすなわちカスコードB
iMOS7のマイナス出力端子4へと抜ける電流路が形
成される。これにより、バイポーラトランジスタ1のベ
ースにキャリアが注入され、バイポーラトランジスタ1
はターンオンする。これにより、バイポーラトランジス
タ1のコレクタすなわちカスコードBiMOS7のプラ
ス出力端子3からエミッタを通り、MOSFET2のド
レインからソースすなわちカスコードBiMOS7のマ
イナス出力端子4へと抜ける電流路が形成され、カスコ
ードBiMOS7はオン状態となる。以上の動作中およ
びオン状態の期間、過電圧吸収手段8にはほとんど電流
は流れない。
OS7がオフのときは、バイポーラトランジスタ1.M
O3FP、T2.IGBTIIはすべてオフ状態で、過
電圧吸収手段又はスイッチング手段8又は第2図、第3
図のIGBT8a、8b(以下単に「過電圧吸収手段8
」という)には電流がほとんど流れていない。カスコー
ドBiMO87の出力端子3,4にかかる電圧のほとん
どはバイポーラトランジスタ1とIGBTIIにかかっ
ている。この状態から、MO8FET2およびIGBT
IIをゲート信号の操作によってターンオンする。する
と、カスコードBiMOS7のプラス出力端子3からI
GBTIIのコレクタ、エミッタを通り、バイポーラト
ランジスタ1のベース、エミッタを通って、MOS F
ET 2のドレインカラソースすなわちカスコードB
iMOS7のマイナス出力端子4へと抜ける電流路が形
成される。これにより、バイポーラトランジスタ1のベ
ースにキャリアが注入され、バイポーラトランジスタ1
はターンオンする。これにより、バイポーラトランジス
タ1のコレクタすなわちカスコードBiMOS7のプラ
ス出力端子3からエミッタを通り、MOSFET2のド
レインからソースすなわちカスコードBiMOS7のマ
イナス出力端子4へと抜ける電流路が形成され、カスコ
ードBiMOS7はオン状態となる。以上の動作中およ
びオン状態の期間、過電圧吸収手段8にはほとんど電流
は流れない。
次にターンオフについて説明する。MOSFET2およ
びIGBTIIをゲート信号の操作によりターンオフす
る。このとき、まずMO5FET2がオフとなる。する
と、MOS F ET 2のドレイン・ソース間電圧は
上昇するが、バイポーラトランジスタ1は、蓄積キャリ
アのため、まだオン状態であり、そのべ=ス・エミッタ
間は正逆方向共に導通状態であるため、MOSFET2
のドレイン・ソース間にかかる電圧はそのまま過電圧吸
収手段8にかかる。ここで、過電圧吸収手段8にかかる
電圧が十分に高くなる前に過電圧吸収手段8が電流を流
すようにしておくと、バイポーラトランジスタ1のコレ
クタ・エミッタ間に流れていた電流はバイポーラトラン
ジスタ1のコレクタからベースを通して過電圧吸収手段
8へと流れるようになる。このバイポーラトランジスタ
lのコレクタからベースへと流れる電流により、バイポ
ーラトランジスタ1の蓄積キャリアは急速に抜かれ、バ
イポーラトランジスタ1はターンオフする。バイポーラ
トランジスタ1がターンオフした時点で、IGBTII
はまだテイル状態であり十分オフしきっておらず、これ
によって流れる電流によりバイポーラトランジスタ1の
非常に短い下降時間は緩和され、カスコードBiMOS
7の回路全体としての下降時間は、素子実装王道は難い
配線インダクタンスによるL(di/dt)サージ電圧
のため実現が困難となる程には短い時間とならなくなる
。なお、オフ期間には、過電圧吸収手段8はオンでもオ
フでもかまわない、つまり、過電圧吸収手段8は非常に
高速なターンオンを必要とする反面、ターンオフについ
てはかなり遅くて構わないことになり、このことは過電
圧吸収手段8としてIGBTを使用することが有効であ
ることを意味する。
びIGBTIIをゲート信号の操作によりターンオフす
る。このとき、まずMO5FET2がオフとなる。する
と、MOS F ET 2のドレイン・ソース間電圧は
上昇するが、バイポーラトランジスタ1は、蓄積キャリ
アのため、まだオン状態であり、そのべ=ス・エミッタ
間は正逆方向共に導通状態であるため、MOSFET2
のドレイン・ソース間にかかる電圧はそのまま過電圧吸
収手段8にかかる。ここで、過電圧吸収手段8にかかる
電圧が十分に高くなる前に過電圧吸収手段8が電流を流
すようにしておくと、バイポーラトランジスタ1のコレ
クタ・エミッタ間に流れていた電流はバイポーラトラン
ジスタ1のコレクタからベースを通して過電圧吸収手段
8へと流れるようになる。このバイポーラトランジスタ
lのコレクタからベースへと流れる電流により、バイポ
ーラトランジスタ1の蓄積キャリアは急速に抜かれ、バ
イポーラトランジスタ1はターンオフする。バイポーラ
トランジスタ1がターンオフした時点で、IGBTII
はまだテイル状態であり十分オフしきっておらず、これ
によって流れる電流によりバイポーラトランジスタ1の
非常に短い下降時間は緩和され、カスコードBiMOS
7の回路全体としての下降時間は、素子実装王道は難い
配線インダクタンスによるL(di/dt)サージ電圧
のため実現が困難となる程には短い時間とならなくなる
。なお、オフ期間には、過電圧吸収手段8はオンでもオ
フでもかまわない、つまり、過電圧吸収手段8は非常に
高速なターンオンを必要とする反面、ターンオフについ
てはかなり遅くて構わないことになり、このことは過電
圧吸収手段8としてIGBTを使用することが有効であ
ることを意味する。
このように、IGBTIIの使用により、チップ面積を
増大することなく高耐圧、低オン抵抗でかつ低コズトと
なるのみならず、そのテイル現象によってターンオフが
ゆるやかになり、サージ電圧も十分小さくなる。
増大することなく高耐圧、低オン抵抗でかつ低コズトと
なるのみならず、そのテイル現象によってターンオフが
ゆるやかになり、サージ電圧も十分小さくなる。
以上説明したように本発明は、カスコードBiMOSの
駆動をI GBTによって行なうようにしたことにより
、MOS F ETによる駆動を不要とし、チップ面積
を増大することなく高耐圧、低オン抵抗でかつ低コスト
の駆動回路を得ることができる効果がある。また、小型
で低オン抵抗であることにより、駆動電力が少なくなる
効果がある。
駆動をI GBTによって行なうようにしたことにより
、MOS F ETによる駆動を不要とし、チップ面積
を増大することなく高耐圧、低オン抵抗でかつ低コスト
の駆動回路を得ることができる効果がある。また、小型
で低オン抵抗であることにより、駆動電力が少なくなる
効果がある。
第1図は本発明に係わるカスコードBiMOS駆動回路
の一実施例を示す回路図、第2図および第3図は特許請
求の範囲第2項に対応する回路図、第4図は従来のカス
コードBiMOS駆動回路を示す回路図である。 1・・・バイポーラトランジスタ、2・・・MOSFE
T、3.4・・・出力端子、5.6.12・・・制御端
子、7・・・カスコードB1MOS、8・・・過電圧吸
収手段又はスイッチング手段、11・・・IGBT。
の一実施例を示す回路図、第2図および第3図は特許請
求の範囲第2項に対応する回路図、第4図は従来のカス
コードBiMOS駆動回路を示す回路図である。 1・・・バイポーラトランジスタ、2・・・MOSFE
T、3.4・・・出力端子、5.6.12・・・制御端
子、7・・・カスコードB1MOS、8・・・過電圧吸
収手段又はスイッチング手段、11・・・IGBT。
Claims (2)
- (1)バイポーラトランジスタとMOSFETとから成
り、前記バイポーラトランジスタのエミッタと前記MO
SFETのドレインとを接続し、前記バイポーラトラン
ジスタのコレクタを第1の出力端子に接続し、前記MO
SFETのソースを第2の出力端子に接続し、前記バイ
ポーラトランジスタのベースを第1の制御端子に接続し
、前記MOSFETのゲートを第2の制御端子に接続し
たカスコードBiMOSを駆動する回路において、一方
が前記バイポーラトランジスタのベースに接続され他方
が前記MOSFETのソースに接続された過電圧吸収手
段又はスイッチング手段と、コレクタが前記バイポーラ
トランジスタのコレクタに接続されエミッタが前記バイ
ポーラトランジスタのベースに接続されたIGBTとを
備えたことを特徴とするカスコードBiMOS駆動回路
。 - (2)過電圧吸収手段又はスイッチング手段は、IGB
Tであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
カスコードBiMOS駆動回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292708A JPH01133414A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | カスコードBiMOS駆動回路 |
| US07/249,997 US4866313A (en) | 1987-11-18 | 1988-09-27 | Cascode BiMOS driving circuit using IGBT |
| GB8822983A GB2212682B (en) | 1987-11-18 | 1988-09-30 | Cascode bimos driving circuit |
| DE3838964A DE3838964A1 (de) | 1987-11-18 | 1988-11-17 | Kaskoden bimos-treiberschaltung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292708A JPH01133414A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | カスコードBiMOS駆動回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01133414A true JPH01133414A (ja) | 1989-05-25 |
Family
ID=17785279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62292708A Pending JPH01133414A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | カスコードBiMOS駆動回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4866313A (ja) |
| JP (1) | JPH01133414A (ja) |
| DE (1) | DE3838964A1 (ja) |
| GB (1) | GB2212682B (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| US5171696A (en) * | 1988-11-07 | 1992-12-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
| US4994694A (en) * | 1989-08-23 | 1991-02-19 | Tektronix, Inc. | Complementary composite PNP transistor |
| US5055722A (en) * | 1989-12-20 | 1991-10-08 | Sundstrand Corporation | Gate drive for insulated gate device |
| US5005061A (en) * | 1990-02-05 | 1991-04-02 | Motorola, Inc. | Avalanche stress protected semiconductor device having variable input impedance |
| GB9127476D0 (en) * | 1991-12-30 | 1992-02-19 | Texas Instruments Ltd | A semiconductor integrated circuit |
| CA2172890C (en) * | 1995-06-06 | 2005-02-22 | Harold R. Schnetzka | Switch driver circuit |
| EP1847018B1 (en) * | 2005-12-13 | 2009-01-14 | STMicroelectronics S.r.l. | Driving circuit for an emitter-switching configuration |
| DE102005062755B4 (de) * | 2005-12-28 | 2007-08-09 | Conergy Ag | Emitter-geschalteter Bipolartransistor |
| ITMI20070141A1 (it) * | 2007-01-30 | 2008-07-31 | St Microelectronics Srl | Circuito di pilotaggio per una configurazione emitter-switching di transistori |
| DE102010038623A1 (de) * | 2010-07-29 | 2012-02-02 | Robert Bosch Gmbh | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Begrenzung von Stromstärke und/oder Flankensteilheit elektrischer Signale |
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|---|---|---|---|---|
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| US4360744A (en) * | 1979-06-01 | 1982-11-23 | Taylor Brian E | Semiconductor switching circuits |
| DE3240778A1 (de) * | 1982-11-04 | 1984-05-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektronischer schalter |
| US4547686A (en) * | 1983-09-30 | 1985-10-15 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Hybrid power semiconductor switch |
| US4551643A (en) * | 1983-10-24 | 1985-11-05 | Rca Corporation | Power switching circuitry |
| US4581542A (en) * | 1983-11-14 | 1986-04-08 | General Electric Company | Driver circuits for emitter switch gate turn-off SCR devices |
| DE3409423A1 (de) * | 1984-03-15 | 1985-09-26 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Schaltungsanordnung zum schalten des stromes in einer induktiven last |
| EP0166390B1 (en) * | 1984-06-22 | 1991-08-28 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor switch circuit |
| US4651035A (en) * | 1984-11-13 | 1987-03-17 | Fuji Electric Co., Ltd. | Compound diverse transistor switching circuit |
| KR900008276B1 (ko) * | 1985-02-08 | 1990-11-10 | 가부시끼가이샤 도시바 | 2단계차단동작을이용한절연게이트바이폴라트랜지스터용보호회로 |
| JPS61288617A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
| EP0220791B1 (en) * | 1985-06-18 | 1989-06-14 | Fuji Electric Co., Ltd. | Switching device |
| JPS62176168A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-01 | Nippon Denso Co Ltd | 縦型mosトランジスタ |
| JPS6382123A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Mitsubishi Electric Corp | 駆動回路 |
-
1987
- 1987-11-18 JP JP62292708A patent/JPH01133414A/ja active Pending
-
1988
- 1988-09-27 US US07/249,997 patent/US4866313A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-30 GB GB8822983A patent/GB2212682B/en not_active Expired
- 1988-11-17 DE DE3838964A patent/DE3838964A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3838964C2 (ja) | 1991-08-29 |
| US4866313A (en) | 1989-09-12 |
| GB8822983D0 (en) | 1988-11-09 |
| GB2212682B (en) | 1991-07-31 |
| GB2212682A (en) | 1989-07-26 |
| DE3838964A1 (de) | 1989-06-08 |
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