JPH0120655Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、分析計に接続され該分析計で測定さ
れる校正試料の校正値に基づいて該分析計の校正
係数を求め、該校正係数に従つて上記分析計の測
定値を補正するように構成された分析計用校正装
置に関する。

一般に、分析計は零点変動やスパン点変動があ
るため、これらの変動によつて測定値に誤差が生
ずるのを回避すべく、上記校正装置を用いて測定
値の補正を行なうことが多い。また、このような
校正装置においては、零点で上記分析計における
入力特性の平行移動分を算出しスパン点で該入力
特性の傾斜分を算出して、上記分析計の校正を行
なうようになつている。

然し乍ら、上述のような校正装置においては、
零点で上記入力特性の平行移動分を算出しスパン
点で上記入力特性の傾斜分を算出することと、零
点で上記入力特性の傾斜分を算出しスパン点で上
記入力特性の平行移動分を算出することのどちら
でも可能であるように構成しようとすると、装置
が大形となつて製造コスト等が高くなるという欠
点があつた。

本考案は、かかる欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、装置を大形化することなく、
上記入力特性の平行移動分および傾斜分の夫々の
算出を夫々零点およびスパン点で行なつたり夫々
スパン点および零点で行なつたりするのを自由に
選択できるような分析計用校正装置を提供するこ
とにある。

本考案の特徴は、分析計に接続され該分析計で
測定される校正試料の校正値に基づき入力特性の
平行移動分および傾斜分を算出して該分析計の校
正を行なう分析計用校正装置において、所定のデ
イジタル入力回路を付加し、該デイジタル入力回
路からの出力信号に応じて上記平行移動分および
傾斜分の夫々の算出を夫々零点およびスパン点で
行うか若しくは夫々スパン点および零点で行なう
かを自由に選択できるように構成したことにあ
る。

以下、本考案について図を用いて詳細に説明す
る。第１図は、本考案実施例の使用例を示す信号
系統図であり、図中、１は本考案実施例の校正装
置、２は校正対象である例えば赤外線ガス分析計
等の分析計、４は例えば標準ガスでなる校正試
料、５は例えば測定ガスでなる測定試料である。
また、分析計２には夫々電磁弁３を介して校正試
料４および測定試料５が供給されるとともに、分
析計２からは該分析計で測定された所定の信号形
態（例えば直流電圧０〜1V等）のアナログ入力
信号Saが校正装置１へ送出されるようになつて
いる。更に、校正装置１には、外部から校正動作
開始を指令する接点信号Sbが加えられるととも
に、校正装置１からは、電磁弁３を開閉制御する
ための制御信号Sc、校正動作実行中を示す接点
信号Sd、各種の警報状態を表わす接点信号Se、
および上記アナログ入力信号Saが校正されてな
る校正済の測定信号Sf等が送出されるようになつ
ている。

また、第２図は本考案実施例のブロツク回路図
であり、図中、６は上記アナログ入力信号Saを
受けて増幅する増幅器、７は増幅器６の出力信号
をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、８は例えば切換
スイツチ若しくはプリント板上のジヤンパー等で
構成され所定のデイジタル信号を出力するデイジ
タル入力回路、９はＡ／Ｄ変換器７若しくはデイ
ジタル入力回路８からの夫々の出力信号を受ける
入出力インターフエイス、１０は所定のプログラ
ムおよびデータが格納されたROM（Read Only
Memory）１１およびRAM（Random Access
Memory）１２が装着され上記入出力インターフ
エイス９からの出力信号を受けて所定の演算を行
なうと共に上記入出力インターフエイス９を介し
て各種制御信号等Sc，Sd，Seや校正された測定
信号Sfを出力するマイクロプロセサ（以下、
「CPU」という）である。

以下、上記構成からなる本考案実施例の動作に
ついて説明する。第２図において、上記アナログ
入力信号Saが入力されると、増幅器６によつて
増幅されてのち、Ａ／Ｄ変換器７によつてＡ／Ｄ
変換され、その後、入出力インターフエイス９を
経由してCPU１０へ送出される。一方、デイジ
タル入力回路８からは例えば上記切換スイツチが
ONかOFFかを示す所定のデイジタル信号が、入
出力インターフエイス９を経由してCPU１０へ
送出される。また、CPU１０において、上記デ
イジタル信号により例えば上記切換スイツチが
ONであると判断された場合、上記分析計におけ
る入力特性の平行移動分および傾斜分の算出を
夫々零点およびスパン点で行なうプログラム（以
下「第１プログラム」という）が上記ROM１１
（若しくはRAM１２）に格納されているプログ
ラムの中から選択される。従つて、増幅器６、
Ａ／Ｄ変換器７、および入出力インターフエイス
９を経由してCPU１０へ送出された上記入力信
号Sa（以下「測定入力信号」という）は、上記第
１プログラムに従つて演算処理が施こされ、該演
算結果に対応して、上記各種制御信号等Sc，Sd，
Seや校正された測定信号SfがCPU１０から入出
力インターフエイス９を介して外部へ送出され
る。同様にして、上記デイジタル信号により例え
ば上記切換スイツチがOFFであると判断された
場合には、上記分析計における入力特性の平行移
動分および傾斜分の算出を夫々スパン点および零
点で行なうプログラム（以下「第２プログラム」
という）が上記ROM１１（若しくはRAM１２）
に格納されているプログラムの中から選択され
る。従つて、上記測定入力信号は上記第２プログ
ラムに従つて演算処理が施こされ、該演算結果に
対応して、上記各種制御信号等Sc，Sd，Seや校
正された測定信号SfがCPU１０から入出力イン
ターフエイス９を介して外部へ送出されるように
なる。

以上詳しく説明したような本考案の実施例によ
れば、デイジタル入力回路８からのデイジタル信
号によつて上記第１プログラム若しくは第２プロ
グラムを選択するような構成であるため、特別な
大型装置を付加することなくまた装置を大形化す
ることもなく、分析計における入力特性の平行移
動分および傾斜分の夫々の算出を夫々零点および
スパン点で行なつたり若しくは夫々スパン点およ
び零点で行なつたりするのを自由に選択できると
いう利点を有する。また、上記デイジタル入力回
路は安価な部品であるため、該デイジタル入力回
路を付加することによるコスト上昇分は殆んど無
視できるという利点も有する。尚、上述の本考案
実施例を用いた分析計の校正においては、零点校
正時やスパン校正時に入力信号が安定するまで待
ち安定後のデータを取り込んで校正係数を算出し
なければならないため、零時間やスパン時間とい
う時間要素が必要となるが、この零時間若しくは
スパン時間を零に設定するとスパン校正若しくは
零点校正を夫々単独で行なうことができるように
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案実施例の使用例を示す信号系統
図、第２図は本考案実施例のブロツク回路図であ
る。 １……校正装置、２……分析計、３……電磁
弁、４……校正試料、５……測定試料、６……増
幅器、７……Ａ／Ｄ変換器、８……デイジタル入
力回路、９……入出力インターフエイス、１０…
…マイクロプロセサ、１１……ROM、１２……
RAM。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 分析計に接続され該分析計で測定される校正
   試料の校正値に基づき入力特性の平行移動分お
   よび傾斜分を算出して該分析計の校正を行なう
   分析計用校正装置において、前記分析計からの
   アナログ入力信号を増幅する増幅器と、該増幅
   器の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器
   と、所定のデイジタル信号を出力するデイジタ
   ル入力回路と、該デイジタル入力回路および前
   記Ａ／Ｄ変換器からの夫々の出力信号を受ける
   入出力インターフエイスと、所定のプログラム
   およびデータが格納されたROMおよびRAM
   が装着され前記入出力インターフエイスからの
   出力信号を受けて所定の演算を行なうと共に前
   記入出力インターフエイスを介して各種制御信
   号および校正された測定信号を出力するマイク
   ロプロセサとを具備し、前記平行移動分および
   傾斜分の算出を夫々零点およびスパン点で行な
   うための第１プログラムと前記平行移動分およ
   び傾斜分の算出を夫々スパン点および零点で行
   なうための第２プログラムとが前記プログラム
   に含まれると共に、前記デイジタル信号によつ
   て前記第１プログラム若しくは前記第２プログ
   ラムが選択されるように構成されていることを
   特徴とする分析計用校正装置。 (2) 前記デイジタル入力回路が切換スイツチでな
   る実用新案登録請求範囲第(1)項記載の分析計用
   校正装置。 (3) 前記デイジタル入力回路はプリント板上に設
   けられ任意に接続が切りかえられるジヤンパー
   でなる実用新案登録請求範囲第(1)項記載の分析
   計用校正装置。