JPH01209682A - 集積回路ソケット - Google Patents

集積回路ソケット

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JPH01209682A
JPH01209682A JP3446488A JP3446488A JPH01209682A JP H01209682 A JPH01209682 A JP H01209682A JP 3446488 A JP3446488 A JP 3446488A JP 3446488 A JP3446488 A JP 3446488A JP H01209682 A JPH01209682 A JP H01209682A
Authority
JP
Japan
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socket
type
integrated circuit
package
pin
Prior art date
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Pending
Application number
JP3446488A
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English (en)
Inventor
Osamu Toyama
修 遠山
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路ソケットに関し、特にプリン1〜基
板等に搭載される集積回路ソケットに関するものである
〔従来の技術〕
IC(集積回路装置)にはDIP(デイアル・インライ
ン・パッケージ)とかLCC(リードレス・チップ・キ
ャリア)等の種々の形式のものがあり、ICソケットも
DIP用、LCC用というようにICの形式に合わせて
種々の形式のものが製造され、使用されている。
従来においては、同一ビン数のICに対するICソケッ
トでも各形式で異った配置の基板接続用のソケットピン
を有していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の集積回路ソケットは、各形式でソケット
ピンの配置等が異なるため、ICを基板に実装して使用
する場合、たとえ同一ピン数のICであっても形式が異
るICに交換して実装しようとする場合、異る形式のI
Cソケットのソケットピンに対応して配線されたまった
く異なった基板を使用しなくてはならないという欠点が
ある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のICソケットは、集積回路ビンコンタクト部は
接続すべき集積回路のパッケージの形式に対応した形式
であり、基板に接続されるソケ・ントピンは一定の形式
であることを特徴とする。
本発明のICソケットは、集積回路に接続される集積回
路ピンコンタクト部は第1の形式であり、基板に接続さ
れるソケットピンは第2の形式であることを特徴とする
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)〜(d)はそれぞれ本発明の第1の実施例
のICソケット1の正面図、側面図、平面図および底面
図である。ICソケット1にはソケットビン2.ICの
ピンを接続するICビンコンタクト部3を有する0本実
施例の場合、このICビンコンタクト部3はS OJ 
(Small outlineJ−1ead pack
age)のIC用の形式であり、ソケットビン2はD 
I P (dual 1n−line package
)の形式になっている。
第2図(a)〜(C)はそれぞれ本発明の第2の実施例
のICソケット1′の正面図、側面図および上面図であ
る。ICソケット1′はソケットビン2′およびICコ
ンタクト部3′を有する。
第2の実施例の場合、ICビンコンタ25部3′はZ 
I P (zLgzag 1n−1ine packa
ge)のIC用の形式であり、ソケットビン2′はDI
Pの形式になっている。
次に、本実施例の応用について説明する。従来はICパ
ッケージはDIPの形式が主流であった為、ICを実装
するプリント基板等は、DIRに対応するものが主流で
あった。近年ICのパッケージは進歩し、表面実装用の
パッケージ等の高密度実装用のパッケージが供給される
ようになってきた。これらのパッケージを生かすプリン
ト基板を使用すれば、高密度実装が可能となる。しかし
、従来のICソケットの使用では、DIP対応のプリン
ト基板にはDIP以外のICを使用してみる事は出来な
い、今までのDIP対応のプリント基板に高密度実装用
ICを使用してみる為には、第1図、第2図に示す実施
例のICソケットを用いると、簡単に実現できる。
また、テスタ等でICを測定する場合、従来のDIP形
式のICを測定していた治具では、高密度実装用のIC
を測定する事が出来ず、たとえ機能が同一でパッケージ
の形式だけ異なっているICであっても、治具を作りな
おさねばならなかった。ここで第1図、第2図に示すI
CソケットにICを接続してICソケットをテスタの治
具に装着するようにすれば、治具を作りなおす必要がな
く、従来のDIPIC用の治具で、さまざまのパッケー
ジのICを測定する事が可能となる。
第1図、第2図に示す実施例では、ソケットビンがDI
Pの形式のものを使用したが、本発明はこのような場合
に限らず、ソケットビンをZIPの形式やSOJの形式
にしても、またその他のタイプの形式にしても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、ICピンコンタクト部
とソケットビンの形式を変え、従来から1つのタイプの
ICパッケージに対応していた基板、テスタの治具にさ
まざまなタイプのICパッケージを接続出来るようにし
た事により、パッケージごとに基板、測定治具を作成す
る必要がなく、これらの作成工数、管理等を軽減できる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(d)はそれぞれ本発明の第1の実施例
の正面図、側面図、平面図および底面図、第2図(a)
〜(C)はそれぞれ本発明の第2の実施例の正面図、側
面図および平面図である。 1.1′・・・ICソケット、2.2′・・・ソケット
ビン、3.3′・・・ICピンコンタクト部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)集積回路ピンコンタクト部は接続すべき集積回路
    のパッケージの形式に対応した形式であり、基板に接続
    されるソケットピンは一定の形式であることを特徴とす
    る集積回路ソケット。
  2. (2)集積回路に接続される集積回路ピンコンタクト部
    は第1の形式であり、基板に接続されるソケットピンは
    第2の形式であることを特徴とする集積回路ソケット。
JP3446488A 1988-02-16 1988-02-16 集積回路ソケット Pending JPH01209682A (ja)

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JPH01209682A true JPH01209682A (ja) 1989-08-23

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