JPH02127030A - 光ディスク原盤の製造方法 - Google Patents

光ディスク原盤の製造方法

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JPH02127030A
JPH02127030A JP63281724A JP28172488A JPH02127030A JP H02127030 A JPH02127030 A JP H02127030A JP 63281724 A JP63281724 A JP 63281724A JP 28172488 A JP28172488 A JP 28172488A JP H02127030 A JPH02127030 A JP H02127030A
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optical disk
optical
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JP63281724A
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太郎 南部
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道芳 永島
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植野 文章
Yoshiya Takemura
佳也 竹村
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、S/N比の高い高密度光ディスク原盤を安価
に製造する方法に関するものである。
従来の技術 光ディスクの高密度化に伴い、トラックピッチは狭くな
り隣接トラック閏のクロストーク改善のため周に沿った
溝加工がなされている。
中でもV溝を有する光ディスクは171mピッチのトラ
ック密度を可能とする技術である。また■溝の場合、光
ディスク原盤での溝加工が精密機械加工で可能なため、
安価な製造が可能である。
発明が解決しようとする課題 光ディスク原盤に対し精密機械加工を可能とならしめる
には、原盤の内生なくともその表面は加工し易い材質で
出来ていなければならない。しかしそのような金属は高
価な金を除くと酸化の影響を受は易いものである。すな
わち表面が酸化された光ディスク原盤は表面性が悪く荒
れており、それから製造された光ディスクは大変ノイズ
レベルが高いものとなっていた。
本発明は、従来のこの様な課題を解決した、光ディスク
原盤の製造方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は、精密機械加工を用いて表面に微細構造が形成
されている光ディスク原盤の製造方法において、原盤表
面を還元処理する工程を含ませる。
作用 光ディスク原盤表面を還元処理することにより、酸化し
ていた原盤表面を元の金属に還元し平滑とすることが可
能となる。
実施例 以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説明す図は、
本発明の光ディスク原盤の製造方法を説明するための、
製造プロセスを示す工程図である。
工程lは銅メツキ、2は平面研削加工、3は■溝カッテ
ィング、4はフォトレジスト塗布、5はレーザーカッテ
ィングでレジスト内にピットを形成、6は現像、7はド
ライエツチングでピットを銅原盤表面に彫り込み、8は
アセトンによるレジスト洗浄、9は酸素アッシングで残
留レジストを除去、lOが還元処理で、11がインジェ
クションによる光ディスク製造工程である。
工程1としては銅メツキ以外の材料も可能である。しか
し工程3てのV溝カッティングが精密切削加工ゆえ原盤
表面の材質としては川原下の硬度しか持たない柔らかい
材料でなくてはならず、請求項;3に挙げた材料(即ち
、金属がCu、In、  Sn、アルカリまたはアルカ
リ土類金属)と他には金しか考えられない。どの材料で
も■溝カッティングは可能であるが、金を用いると安価
な高密度光ディスク原盤の特徴が失われるので本発明に
はそぐわない。
工程3て上記の低硬度金属で出来た光ディスク原盤表面
に精密機械加工を行うが、トラッキング用の溝加工とし
てはトラック幅17zmのV溝カッティングが最も優れ
ている。またV溝カッティングには単純なダイヤモンド
バイトで済むため安価に量産が可能である。
上記■溝光ディスク原盤作製での工程4〜9は再生専用
高密度光ディスク原盤作製のためのプロセスである。中
でも工程9の酸素アッシングは原盤表面の金属を強制酸
化し、特に請求項3に挙げた金属では酸化の影響を受は
易く原盤表面に酸化膜を張り表面粗度が粗くなってしま
う。
記録膜をその上に形成する光ディスク用の原盤では工程
4〜9は含まれないが、工程11でディスクを作製する
までに原盤表面に薄いながらも酸化膜が張り同じく表面
粗度が粗くなってしまう。
ところが本発明の製造方法であるところの原盤表面還元
処理を用いると上記酸化膜が還元され元の金属に戻り表
面粗度も同じく平滑になる。すなわち本発明により得ら
れた原盤を用いて製造された光ディスクは表面性が平滑
に保たれるため再生ノイズが大変低く、特に再生専用光
ディスクでは3dB以上ノイズが抑えられた。
還元処理の中では還元性気体を用いたプラズマ処理が最
も効果的であり、安定して上記の3dBのノイズ抑制が
達成できた。しかし還元性気体として水素ガス以外のガ
スを用いるとプラズマ処理時に原盤表面がスパッタされ
てピット端の弛れをおこし再生出力が1dB程度Fかり
がちであった。
そこでスパッタレートの小さい水素ガスを採用すること
によりこの再生出力減少をなくすことが可能となった。
発明の効果 以上述べたように、本発明は、光ディスク原盤表面を還
元処理することにより、酸化していた原盤表面を元の金
属に還元し平滑とすることが可能となる。本発明で得ら
れた原盤を用いて製造された光ディスクは再生ノイズが
低く抑えられる。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の光ディスク原盤の製造方法の工程を示す
工程図である。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)精密機械加工を用いて表面に微細構造が形成され
    ている光ディスク原盤の製造方法において、原盤表面を
    還元処理する工程が含まれていることを特徴とする光デ
    ィスク原盤の製造方法。
  2. (2)光ディスク原盤の内少なくともその表面は銅以下
    の硬度を有する金属またはその合金で出来ていることを
    特徴とする請求項1記載の光ディスク原盤の製造方法。
  3. (3)金属がCu、In、Sn、アルカリまたはアルカ
    リ土類金属であることを特徴とする請求項2記載の光デ
    ィスク原盤の製造方法。
  4. (4)還元処理が還元性気体を用いたプラズマ処理であ
    ることを特徴とする請求項1記載の光ディスク原盤の製
    造方法。
  5. (5)還元処理に用いられる還元性気体の主成分が水素
    ガスであることを特徴とする請求項4記載の光ディスク
    原盤の製造方法。
  6. (6)上記光ディスク原盤が再生専用でありピット形成
    にフォトレジストを使用しかつレジスト除去法として酸
    素アッシングを用いしかる後に上記原盤表面還元処理を
    行うことを特徴とする請求項1記載の光ディスク原盤の
    製造方法。
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JPH0729386B2 JPH0729386B2 (ja) 1995-04-05

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8316557B2 (en) * 2006-10-04 2012-11-27 Varco I/P, Inc. Reclamation of components of wellbore cuttings material
US9073104B2 (en) 2008-08-14 2015-07-07 National Oilwell Varco, L.P. Drill cuttings treatment systems
US9079222B2 (en) 2008-10-10 2015-07-14 National Oilwell Varco, L.P. Shale shaker
US9643111B2 (en) 2013-03-08 2017-05-09 National Oilwell Varco, L.P. Vector maximizing screen
US9677353B2 (en) 2008-10-10 2017-06-13 National Oilwell Varco, L.P. Shale shakers with selective series/parallel flow path conversion

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9643111B2 (en) 2013-03-08 2017-05-09 National Oilwell Varco, L.P. Vector maximizing screen
US10556196B2 (en) 2013-03-08 2020-02-11 National Oilwell Varco, L.P. Vector maximizing screen

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JPH0729386B2 (ja) 1995-04-05

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