JPH02196903A - 画像処理用照明装置 - Google Patents
画像処理用照明装置Info
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- JPH02196903A JPH02196903A JP1719189A JP1719189A JPH02196903A JP H02196903 A JPH02196903 A JP H02196903A JP 1719189 A JP1719189 A JP 1719189A JP 1719189 A JP1719189 A JP 1719189A JP H02196903 A JPH02196903 A JP H02196903A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［産業上の利用分野］
本発明は１画像処理対象物の位置あるいは外形寸法のデ
ータの取込みに関し、特にその画像処理用照明装置に関
する。
ータの取込みに関し、特にその画像処理用照明装置に関
する。
従来、この種の位置データ等の取込みのための画像処理
用照明装置は、外部の斜め上部から１画像処理対象物に
光を照射するか、直接拡散板を通して画像処理対象物を
照射して、その影を明確にする構造となっていた。 ［発明が解決しようとする課題］ 上述した従来の外部の斜め上部からの照明装置では１画
像処理対象物に一様に光を照射しにくく、また天井灯等
の別光源の影響を受けやすく画像処理対象物の影が一様
の太さにならず、調整が難しく調整ズレが発生しやすい
という欠点がある。 又、直接拡散板を通す照明装置でもランプの真下とモの
他の位置では、光の強度差があり、上記と同様の欠点が
ある。 このように光の強度差があることは、光の強い所では画
像処理対象物の影が細くなり、その影と判断できず、又
光の弱い所では画像処理対象物の影が太くなり、誤処理
するという欠点となってしまう。 ［Ｗ１題を解決するための手段］ 本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり１画像処
理対象物に対し一様の照射光を与えることによって、こ
れによってできる影を一様とし画像処理装置の誤動作を
防止することを目的としている。 具体的に本発明は、照明ブロック内に、該照明ブロック
の照射口以外に向けて照射する照明用ランプと、該照明
用ランプからの光を乱反射して照射口へ送る乱反射板と
、照射口に設けられ乱反射された光を透過して照明ブロ
ック外に均一に拡散照射させる拡散板とを備えた構成と
している。 ［実施例１ 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。 第１図は本発明の画像処理用照明装置の一実施例を示す
オートハンドラにおけるＩＣ１ｌｉデータの取込み部の
要部破断正面図、第２図は本発明を利用したオートハン
ドラにおけるＩＣの移動フローチャート図である。 第１図において、ｌはハンドラのＩＣＷｉ送アーム、２
はＩＣ搬送アームｌに固定された照明ブロック、３は乱
反射板、４は照明用ランプ、５は拡散板で、乱反射板３
．照明用ランプ４．拡散板５は照明ブロック２に固定さ
れている。 上記照明用ランプ４は、照明ブロック２の照射口２ａ両
側に設けられると共に、照射口２ａの周囲に設けた遮断
壁２ｂによって、直接照明ブロック２外へ光が照射され
ないようにされている。 上記乱反射板３は、照明用ランプ４の光を乱反射して照
射口２ａに送るものであり、照明ブロック２の土壁に設
けられている。 また、拡散板５は、照射口２ａを完全に覆うよう設けら
れた透光板であり、乱反射板３によって乱反射された光
を透過して照明ブロック２外に均一に照射させるもので
ある。 また、６は被測定用のＩＣ１７はＩＣ６のリード、８は
位置データ取込み用のカメラ、９はハンドラのベースで
ある。カメラ８はハンドラのベース９に固定されている
。 次にオートハンドラのａ要動作を＃Ｉ２図で説明する。 供給トレイｌＯに入っている被測定用のＩＣ８はＩＣＷ
ｉ送アームｌでカメラｆｉ２０に移送され。 リード７の影から位置データを取込み、補正値奄割出し
、ＩＣ搬送アーム１を制御する四軸ロボット５０でＩＣ
８の位置を補正し、測定部３ｏに搭載する。測定終了後
、収納トレイ４０に納めることにより一連の動作を完了
する。 第１図で本発明の実施例について動作説明する。 第［図のＩＣ搬送アームｌで供給トレイｌＯから取出さ
れたＩＣ６はカメラ８の真上に搬送され、照明ブロック
２から照射でカメラ８にり−、ドアの影ができる。 カメラ８はリード７の外形の影を画像処理し。 制御部に予めセットされている標準位置データと比較し
、その差から四軸ロボット５０によりＩＣ搬送アームｌ
を微調整して、測定部３０に搭載する。 この後、照明ブロック２に取付けられた左右２個の照明
用ランプ４の光が、乱反射板３で乱反射して、強度差が
少なくなり、さらに拡散板５で拡散される。そのため、
Ｉｃｅには強度差のない光が照射されることとなる。 ［発明の効果］ 以上説明したように本発明は、照明ブロック内に、該照
明ブロックの照射口以外に向けて照射する照明用ランプ
と、該照明用ランプからの光を乱反射して照射口へ送る
乱反射板と、照射口に設けられ乱反射された光を透過し
て照明ブロック外に均一に拡散照射させる拡散板とを備
えたことによリ、画像処理対象物の影の太さが一様にな
るため１位置データ等の取込み精度が向上し、画像処理
が容易になる効果がある。
用照明装置は、外部の斜め上部から１画像処理対象物に
光を照射するか、直接拡散板を通して画像処理対象物を
照射して、その影を明確にする構造となっていた。 ［発明が解決しようとする課題］ 上述した従来の外部の斜め上部からの照明装置では１画
像処理対象物に一様に光を照射しにくく、また天井灯等
の別光源の影響を受けやすく画像処理対象物の影が一様
の太さにならず、調整が難しく調整ズレが発生しやすい
という欠点がある。 又、直接拡散板を通す照明装置でもランプの真下とモの
他の位置では、光の強度差があり、上記と同様の欠点が
ある。 このように光の強度差があることは、光の強い所では画
像処理対象物の影が細くなり、その影と判断できず、又
光の弱い所では画像処理対象物の影が太くなり、誤処理
するという欠点となってしまう。 ［Ｗ１題を解決するための手段］ 本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり１画像処
理対象物に対し一様の照射光を与えることによって、こ
れによってできる影を一様とし画像処理装置の誤動作を
防止することを目的としている。 具体的に本発明は、照明ブロック内に、該照明ブロック
の照射口以外に向けて照射する照明用ランプと、該照明
用ランプからの光を乱反射して照射口へ送る乱反射板と
、照射口に設けられ乱反射された光を透過して照明ブロ
ック外に均一に拡散照射させる拡散板とを備えた構成と
している。 ［実施例１ 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。 第１図は本発明の画像処理用照明装置の一実施例を示す
オートハンドラにおけるＩＣ１ｌｉデータの取込み部の
要部破断正面図、第２図は本発明を利用したオートハン
ドラにおけるＩＣの移動フローチャート図である。 第１図において、ｌはハンドラのＩＣＷｉ送アーム、２
はＩＣ搬送アームｌに固定された照明ブロック、３は乱
反射板、４は照明用ランプ、５は拡散板で、乱反射板３
．照明用ランプ４．拡散板５は照明ブロック２に固定さ
れている。 上記照明用ランプ４は、照明ブロック２の照射口２ａ両
側に設けられると共に、照射口２ａの周囲に設けた遮断
壁２ｂによって、直接照明ブロック２外へ光が照射され
ないようにされている。 上記乱反射板３は、照明用ランプ４の光を乱反射して照
射口２ａに送るものであり、照明ブロック２の土壁に設
けられている。 また、拡散板５は、照射口２ａを完全に覆うよう設けら
れた透光板であり、乱反射板３によって乱反射された光
を透過して照明ブロック２外に均一に照射させるもので
ある。 また、６は被測定用のＩＣ１７はＩＣ６のリード、８は
位置データ取込み用のカメラ、９はハンドラのベースで
ある。カメラ８はハンドラのベース９に固定されている
。 次にオートハンドラのａ要動作を＃Ｉ２図で説明する。 供給トレイｌＯに入っている被測定用のＩＣ８はＩＣＷ
ｉ送アームｌでカメラｆｉ２０に移送され。 リード７の影から位置データを取込み、補正値奄割出し
、ＩＣ搬送アーム１を制御する四軸ロボット５０でＩＣ
８の位置を補正し、測定部３ｏに搭載する。測定終了後
、収納トレイ４０に納めることにより一連の動作を完了
する。 第１図で本発明の実施例について動作説明する。 第［図のＩＣ搬送アームｌで供給トレイｌＯから取出さ
れたＩＣ６はカメラ８の真上に搬送され、照明ブロック
２から照射でカメラ８にり−、ドアの影ができる。 カメラ８はリード７の外形の影を画像処理し。 制御部に予めセットされている標準位置データと比較し
、その差から四軸ロボット５０によりＩＣ搬送アームｌ
を微調整して、測定部３０に搭載する。 この後、照明ブロック２に取付けられた左右２個の照明
用ランプ４の光が、乱反射板３で乱反射して、強度差が
少なくなり、さらに拡散板５で拡散される。そのため、
Ｉｃｅには強度差のない光が照射されることとなる。 ［発明の効果］ 以上説明したように本発明は、照明ブロック内に、該照
明ブロックの照射口以外に向けて照射する照明用ランプ
と、該照明用ランプからの光を乱反射して照射口へ送る
乱反射板と、照射口に設けられ乱反射された光を透過し
て照明ブロック外に均一に拡散照射させる拡散板とを備
えたことによリ、画像処理対象物の影の太さが一様にな
るため１位置データ等の取込み精度が向上し、画像処理
が容易になる効果がある。
第１図は本発明の画像処理用照明装置の一実施例を示す
オートハンドラにおけるＩＣ位置データの取込み部の要
部破断正面図、第２図は本発明を利用したオートハンド
ラにおけるＩＣの移動フローチャート図である。 １：ＩＣ搬送アーム ２：照明ブロック２ａ：照射口
３：乱反射板 ４：照明用ランプ ５：拡散板 ６：ＩＣ７：リード ８：カメラ ９：ベース
オートハンドラにおけるＩＣ位置データの取込み部の要
部破断正面図、第２図は本発明を利用したオートハンド
ラにおけるＩＣの移動フローチャート図である。 １：ＩＣ搬送アーム ２：照明ブロック２ａ：照射口
３：乱反射板 ４：照明用ランプ ５：拡散板 ６：ＩＣ７：リード ８：カメラ ９：ベース
Claims (1)
- 照明ブロック内に、該照明ブロックの照射口以外に向
けて照射する照明用ランプと、該照明用ランプからの光
を乱反射して照射口ヘ送る乱反射板と、照射口に設けら
れ乱反射された光を透過して照明ブロック外に均一に拡
散照射させる拡散板とを備えたことを特徴とする画像処
理用照明装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1719189A JPH02196903A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 画像処理用照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1719189A JPH02196903A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 画像処理用照明装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02196903A true JPH02196903A (ja) | 1990-08-03 |
Family
ID=11937045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1719189A Pending JPH02196903A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 画像処理用照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02196903A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07120530A (ja) * | 1993-10-25 | 1995-05-12 | Nec Corp | 半導体検査装置 |
| JP2011076863A (ja) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Edm Kk | 照明装置及び画像処理装置 |
| JP2023026881A (ja) * | 2021-08-16 | 2023-03-01 | リンテック株式会社 | 位置決め装置および位置決め方法 |
-
1989
- 1989-01-26 JP JP1719189A patent/JPH02196903A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07120530A (ja) * | 1993-10-25 | 1995-05-12 | Nec Corp | 半導体検査装置 |
| JP2011076863A (ja) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Edm Kk | 照明装置及び画像処理装置 |
| JP2023026881A (ja) * | 2021-08-16 | 2023-03-01 | リンテック株式会社 | 位置決め装置および位置決め方法 |
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