JPH02216069A - 多端子物の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、多数の電線が配列されたハーネスなどのよ
うに互いに絶縁されるべき多数の端子を有する多端子物
の製造時や使用時において多端子物の端子間の絶縁不良
や耐圧不良の有無を検査する、多端子物の検査装置に関
する。

「従来の技術」 リボンケーブルのように多数の電線が配列されたハーネ
スや多数のコンタクトが配置されたコネクタや多数の接
続端子部が形成されたプリント基板などのように互いに
絶縁されるべき多数の端子を有する多端子物の製造時や
使用時においては、多端子物の端子間の絶縁不良や耐圧
不良の有無を検査して絶縁不良や耐圧不良があるものは
出荷や使用を中止している。

従来、この場合の検査方法としては、多端子物のすべて
の端子間を順番に直接、検査する方法と、多端子物の多
数の端子をマトリクス状に配列するように複数の行系統
および複数の列系統に分配して、その行系統単位および
列系統単位で検査する方法とがある。

すなわち、第６図に示すように多端子物が１５個の端子
Ｔ１〜ＴＩ５を有する場合を例にとると、前者の方法は
、第７図に示すように、最初に端子ＴＩ、Ｔ２間を、次
に端子ＴＩ、Ｔ３間を、次に端子Ｔ１．Ｔ４間を、最後
に端子Ｔｉ４７１５間を、というように多端子物のすべ
ての端子間を順番に直接、検査するものである。

また、後者の方法は、第８図に示すように１５個の端子
Ｔ１〜′Ｆ１５を４行４列のマトリックス状に配列する
として、最初に、まず行系統Ｘ１に属せられる端子Ｔ１
〜Ｔ４および他の行系統Ｘ２〜ｘ４に属せられる端子Ｔ
５〜Ｔ１５をそれぞれ共通に接続して両端子群間を検査
し、次に行系統Ｘ２に属せられる端子Ｔ５〜Ｔ８および
他の行系統Ｘ１、Ｘ３．Ｘ４に属せられる端子Ｔ１〜Ｔ
４゜Ｔ９〜Ｔ１５をそれぞれ共通に接続して両端子群間
を検査し、というように行系統単位で４回の検査を行い
、次に、まず列系統Ｙ１に属せられる端子Ｔｌ、Ｔ５．
Ｔ９、Ｔ１３および他の列系統Ｙ２〜Ｙ４に属せらレル
端子’Ｔ゛２．Ｔ６．ＴＩＯ。

ＴＩ４．Ｔ３．Ｔ７．Ｔ１．Ｌ　　Ｔ１５．Ｔ４．Ｔ８
　Ｔ１２をそれぞれ共通に接続して両端子群間を検査し
、次に列系統Ｙ２に属せられる端子Ｔ２］”６．ＴＩ　
Ｏ，Ｔｌ　、１および他の列系統Ｙｌ、　Ｙ３　　Ｙ４
に属せられる端子Ｔｌ、Ｔ５．Ｔ９．Ｔ１３　　Ｔ３　
　Ｔ７　　Ｔｌｌ　　Ｔ１５．Ｔ４．Ｔ８ＴＬ２をそれ
ぞれ共通に接続して両端子群間を検査し、というように
列系統単位で４回の検査を行うものである。

「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、上述した従来の前者の方法は、多端子物
のすべての端子間を順番に直接、検査するので、検査回
数が多くなり、検査の完了に長い時間を要する不都合が
ある。

すなわち、前者の方法においては、絶縁または耐圧とい
う一つの検査項目についての検査回数は、一般に多端子
物の端子数をｎとすると、組み合せの公式 ％式％ にｒ＝２を代入した となって、第７図に例示したｎ−１５の場合にはとなり
、図示していないがｎ＝１２８の場合にはとなるように
、多端子物の端子数ｎが多くなるにつれて検査回数が著
しく多くなり、検査の完了に著しく長い時間を要する。

これに対して、上述した従来の後者の方法においては、
一つの検査項目についての検査回数は、−Ｃに行系綿の
数にと列系統の数２の和に等しくなって、第８図に例示
したようにｎ＝１５でに一！−４にする場合には８回と
なり、図示していないがｎ＝１２８でに＝１１．　　ｐ
、＝１２にする場合には２３回となるように、検査回数
が著しく少なくなり、短時間で検査を完了することがで
きる。

しかしながら、後者の方法は、多端子物の多数の端子を
マトリックス状に配列するように複数の行系綿および複
数の列系統に分配して、その行系綿単位および列系統単
位で検査するので、絶縁不良や耐圧不良の有無は検出て
きるが、不良個所を特定することができない不都合があ
る。

例えば、第８図に例示したようにｎ−１５でに＝ｆｆ−
４にする場合において、端子Ｔ６．Ｔ７間に絶縁不良が
あるときは、列系統Ｙ２の単位の検査のとき、および列
系統Ｙ３の単位の検査のときに絶縁不良があることが検
出されるが、それが端子Ｔ２．Ｔ３間、端子Ｔ６．Ｔ７
間、端子Ｔｌ０Ｔ１．１間または端子１４．Ｔ１５間の
いずれであるかはわからない。また、端子Ｔ６．Ｔｌ１
間に絶縁不良があるときは、行系綿Ｘ２の単位の検査の
とき、行系綿ｘ３の単位の検査のとき、列系統Ｙ２の単
位の検査のとき、および列系統Ｙ３の単位の検査のとき
に絶縁不良があることが検出されるか、それが端子Ｔ６
．Ｔｌ１間または端子Ｔ７゜Ｔ１０間のいずれであるか
はわからない。

そして、このように不良個所を特定することができない
と、その検査結果をその多端子物の製造のだめの装置や
治具の補修や改良などに役立てることができない。

そこで、この発明は、多端子物の端子間の絶縁不良や耐
圧不良の有無を検査する、多端子物の検査装置において
、検査回数が著しく少なくなり、短時間で検査を完了す
ることができるとともに、不良個所を特定することがで
きるようにしたものである。

「課題を解決するための手段」 この発明においては、接続部、端子分配部、系統選択部
、測定部および制御演算部を設ける。

接続部は、検査対象である多端子物の互いに絶縁される
べき多数の端子が一つずつ接続される多数の端子を有す
るものにする。

端子分配部は、上記の接続部に接続し、多端子物の多数
の端子が接続部の多数の端子に接続された状態で、スイ
ッチの切替によって、多端子物の多数の端子をこれらを
マトリックス状に配列したときにおける複数の行系綿に
対応する複数の行端子に振り分けて接続する行モードと
、多端子物の多数の端子を上記のマトリクスにおレノる
複数の列系統に対応する複数の列端子に振り分けて接続
する列モードと、多端子物の多数の端子を上記のマＩ・
リクスにおける複数の斜め系統に対応する複数の第三端
子に振り分しＪで接続する第三モードとをとるようにす
る。

系統選択部は、上記の端子分配部に接続し、スイッチの
切替によって、端子分配部が行モードをとるときに、端
子分配部の複数の行端子のうちの一つを一方の測定端子
に接続し、残りを他方の測定端子に接続する単位モード
を、複数の行端子のうちの一つを順次変えてよる行モー
ドと、端子分配部が列モードをとるときに、端子分配部
の複数の列端子のうちの一つを上記一方の測定端子に接
続し、残りを上記他方の測定端子に接続する単位モード
を、複数の列端子のうちの一つを順次変えてとる列モー
ドと、端子分配部か第三モードをとるときに、端子分配
部の複数の第三端子のうちの一つを上記一方の測定端子
に接続し、残りを上記他方の測定端子に接続する単位モ
ードを、複数の第三端子のうちの一つを順次変えてとる
第三モードとをとるようにする。

測定部は、上記の系統選択部の一方および他方の測定端
子に接続し、上記それぞれの単位モードにおいて、」−
記一方の測定端子と上記他方の測定端子の間の絶縁また
は耐圧を測定して、その良否を示す検査データを出力す
るものにする。

制御演算部は、多端子物の多数の端子が接続部の多数の
端子に接続された状態で、端子分配部および系統選択部
を切替制御するとともに、測定部の出力の検査データを
取り込み、端子分配部および系統選択部が行モー１゛、
列モードおよび第三モードのすべてをとった後に、それ
までの上記検査データから多端子物のいずれかの端子間
に絶縁不良または耐圧不良があるか否かを検出するとと
もに、絶縁不良または耐圧不良があるときには、多端子
物の多数の端子と上記のマＩ・リクスにおＬＪる行系統
、列系統および斜め系統との対応関係を示す数列データ
にもとづいて多端子物の絶縁不良ま１ま たは耐圧不良が存する端子間を特定する。

「作　用Ｊ 」−記のように構成された、この発明の検査装置におい
ては、多端子物の多数の端子が接続部の多数の端子に接
続された状態において、すなわち検査対象である多端子
物が検査装置に接続された状態においで、端子分配部お
よび系統選択部が行千ドをとるときは、多端子物の多数
の端子のろらのマトリックスにおける一つの行系統に属
ゼられるものが一方の測定端子に接続され、残りが他方
の測定端子に接続されて、両◇：１１子群間の絶縁また
は耐圧が測定される単位モードの検査が、その一つの行
系統が順次変えられてマトリックスにおける行系統の数
分の回数だけ行われ、端子分配部および系統選択部が列
モー１′をとるときは、多端子物の多数の端子のうちの
マｉ・リクスにおける−・つの列系統に属せられるもの
が−・方の測定端子に接続され、残りが他方の測定端子
に接続されて、両端子群間の絶縁または耐圧か測定され
る単位モードの検査が、その一つの列系統が順次変えら
れて７１−リクスにおりる列系統の数分の回数だの行わ
れ、端子分配部および系統選択部が第三モードをとると
きは、多端子物の多数の端子のうちのマトリックスにお
ける一つの斜め系統に属せられるものか−・方の測定端
子に接続され、残りが他方の測定端子に接続されて、両
端子群間の絶縁または耐圧が測定される単位モードの検
査が、その一つの斜め系統が順次変えられて７１−リク
スにおける斜め系統の数分の回数だけ行われ、これら検
査の結果から多端子物の端子間の絶縁不良または耐圧不
良の有無が検出されるので、−・つの検査項目について
の検査回数ばマトリックスにおける行系統の数と列系統
の数と斜め系統の数の和に等しい著しく少ないものとな
り、多端子物の端子間の絶縁不良または耐圧不良の有無
を短時間で検査することができる。

しかも、このように行系統単位の検査と列系列単位の検
査と斜め系統単位の検査との結果から絶縁不良または耐
圧不良の有無を検出するので、絶縁不良または耐圧不良
があるときには、多端子物の多数の端子と７１−リクス
における行系統、列系統および斜め系統との対応関係を
示す数列データにもとづいて多端子物の絶縁不良または
耐圧不良が存する端子間を特定することができる。

「実施例」 第１図は、この発明の検査装置の一例を検査対象である
多端子物の一例とともに示す。

検査対象である多端子物１０は、この例においては、互
いに絶縁されるべき１５個の端子Ｔ１〜Ｔ１５として一
方向に配列された１５木の電線を有し、その一端にコネ
クタ１１が接続されたものである。

検査装置２０は、この例においては、接続部２１、端子
分配部２２、系統選択部２３、絶縁測定部２４、耐圧測
定部２５、制御演算部２６、記憶部２７、表示部２８お
よび操作部２９を備える。

接続部２１は、多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ１５が一つ
ずつ接続される１５個の端子Ｐ１〜Ｐ１５を有するもの
で、具体的には多端子物１０のコネクタ１１が嵌合され
るコネクタによって構成される。

端子分配部２２ば、接続部２１の端子Ｐ１〜Ｐ１５に接
続され、それぞれリレースイッチなどのスイッチＡ１〜
Ａ１５およびＢ１−１３１５と、４個の行端子ＱＸＩ〜
ＱＸ４．４個の列端子ＱＹＩ〜ＱＹ４および６個の第三
端子ＱＺ１−ＱＺ６とを有する構成にされる。

ここで、多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ１５を第２図に示
すように４行４列のマトリクス状に配列するとして、行
端子ＱＸＩ〜ＱＸ４は、その７１〜リクス１の行系統Ｘ
１〜ｘ４に対応し、列端子ＱＹ１〜ＱＹ４は、そのマト
リックス１の列系統Ｙｌ〜Ｙ４に対応し、第三端子ＱＺ
Ｉ〜ＱＺ６は、そのマトリクス１の斜め系統Ｚ１〜Ｚ６
に対応する。

端子分配部２２は、スイッチＡ１〜Ａ１５およびＢ１−
Ｂ＋５が制御演算部２６からの切替制御信号によって切
り替えられることによって、接続部２１の端子Ｐ１〜Ｐ
１５を、すなわち多端子物ｌＯの端子Ｔ１〜Ｔ１５が接
続部２１の端子Ｐ１〜Ｐ　１．５に接続された状態にお
いては多端子物１０の端子Ｔ１〜・Ｔ１５を、行端子Ｑ
ＸＩ〜ＱＸ４に振り分けて接続する行モードと、列端子
ＱＹＩ〜ＱＹ４に振り分けて接続する列モードと、第：
端子ＱＺＩ〜ＱＺ６に振り分けて接続する第三モーＩ・
とをとるようにされる。

系統選択部２３は、端子分配部２２の行端子ＱＸ１〜Ｑ
Ｘ４、列端子ＱＹＩ〜ＱＹ４および第三端子ＱＺＩ〜Ｑ
Ｚ６に接続され、スイッチＣＸ１〜ＣＸ４、ＣＹＩ〜Ｃ
Ｙ４およびＣＺＩ〜ＣＺ６と、行ラインＸＭ、ＸＮ、列
ラインＹＭ、ＹＮおよび第三ラインＺＭ、ＺＮと、スイ
ッチＤＸＭ。

ＤＸＮ、ＤＹＭ　　ＤＹＮおよびＤＺＭ、ＤＺＮと、測
定ラインＲＭおよびＲＮと、スイッチＥＭ、ＥＮおよび
ＦＭ、ＦＮと、測定端子ＩＭ、ＩＮおよびＶＭ　　ＶＮ
とを有する構成にされる。

スイッチＣχ１〜ＣＸ４、ＣＹ］〜ＣＹ４およびＣＺＩ
〜ＣＺ６は、制御演算部２６からの切替制御信号によっ
て切り替えられて、端子分配部２２か」−述した行モー
ドをとるときには、行端子Ｑｘ１〜Ｑχ４のうちの一つ
を行ラインχＭに接続し、残りを行ラインＸＮに接続す
る単位モードを、その行端子ＱＸＩ〜ＱＸ４のうちの一
つを順次変えてとる行モードをとり、端子分配部２２が
上ｊホした列モードをとるときには、列端子ＱＹＩ〜Ｑ
Ｙ４のうちの一つを列ラインＹＭに接続し、残りを列ラ
インＹＮに接続する単位モードを、その列端子ＱＹＩ〜
ＱＹ４のうちの一つを順次変えてとる列モードをとり、
端子分配部２２が上述した第三モーＩ・をとるときにば
、第三端子ＱＺＩ〜ＱＺ６のうちの一つを第三９４７２
Ｍに接続し、残りを第三ラインＺＮに接続する単位モー
ドを、その第三端子ＱＺＩ〜ＱＺ６のうちの一つを順次
変えてとる第三モードをとるようにされる。

スイッチＤＸＭ　　ＤＸＮ、ＤＹＭ、ＤＹＮおよびＤＺ
Ｍ　　ＤＺＮは、制御演算部２６からの切替制御信号に
よって、端子分配部２２が行モードをとるときにはスイ
ッチＩ）　Ｘ　ＭおよびＤＸＮのめがオンにされて行ラ
インＸＭおよびＸＮを測定ラインＲＭおよびＲＮに接続
し、端子分配部２２が列モードをとるときにはスイ・７
チＤＹＭおよびＤＹＮのみかオンにされて列ラインＹＭ
およびＹＮを測定ラインＲＭおよびＲＮに接続し、端子
分配部２２が第三千−ＦをとるときにはスイッチＤＺＭ
およびＤＺＮのみがオンにされて第三９４７２Ｍおよび
ＺＮを測定ラインＲＭおよびＲＮに接続するようにされ
る。

スイッチＥＭ、ＥＮおよびＦＭ、ＦＮは、制御卸演算部
２６からの切替制御信号によって、絶縁検査時にはスイ
ッチＥＭおよびＥＮのみがオンにされて測定ラインＲＭ
およびＲＮを測定端子ＩＭおよびＩＮに接続し、耐圧検
査時にはスイッチＦＭおよびＦＮのみがオンにされて測
定ラインＲＭおよびＲＮを測定端子ＶＭおよびＶＮに接
続するようにされる。測定端子ＩＭおよびＶＭは、それ
ぞれ接地される。

絶縁測定部２４は、その正側の端子２４ａと負側の端子
２４ｂの間に接続される被側定物の絶縁抵抗を測定し、
その絶縁抵抗が所定値を超えるときには絶縁良好として
例えばＯ（低し−・ル）の検査データを出力し、その絶
縁抵抗か所定値以下のときには絶縁不良として逆に１　
（高し−・ル）の検査データを出力するもので、既存の
絶縁泪を用いることができ、その端子２４ａおよび２４
ｂが系統選択部２３の測定端子ＩＭおよびＩＮに接続さ
れる。

耐圧測定部２５は、その正側の端子２５ａと負側の端子
２５ｂの間に所定電圧を所定時間にわたって印加して端
子２５ａ、２５ｂ間に接続された被測定物に絶縁破壊を
生しるが否かを測定し、絶縁破壊を生じないときには耐
圧良好として例えば０の検査データを出力し、絶縁破壊
を生じるときには耐圧不良として逆に１の検査データを
出力するもので、既存の耐圧側を用いることができ、そ
の端子２５ａおよび２５ｂが系統選択部２３の測定端子
ＶＮおよびＶＭに接続される。

制御演算部２６としては、具体的にはＣＰＵが用いられ
る。制御演算部２６は、後述するように、絶縁検査時お
よび耐圧検査時において、あらがじめ記憶部２７に記憶
された検査プログラムに従って、端子分配部２２および
系統選択部２３の各スイッチを切替制御するとともに、
絶縁測定部２４および耐圧測定部２５の出力の検査デー
タを取り込め、端子分配部２２および系統選択部２３が
上述した行モード、列モードおよび第三モードのすべて
をとった後に、それまでの絶縁測定部２４および耐圧測
定部２５の出力の検査データから多端子物１０のいずれ
かの端子間に絶縁不良または耐圧不良があるか否かを検
出するとともに、絶縁不良または耐圧不良があるときに
は、あらがしめ記憶部２７に記憶された後述の数列デー
タにもとづいて絶縁不良または耐圧不良が存する端子間
を特定する。

記憶部２７としては、ＲＯＭやＲＡＭなどのメモリまた
は磁気ディスクなどの記憶手段が用いられ、これには、
あらかしめ検査プログラムと数列データが書き込まれる
。数列データは、多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ１５が」
二連したマトリクス１における行系統χ１〜χ４、列系
統Ｙ１〜Ｙ４および斜め系統Ｚ１〜Ｚ６のいずれに属せ
られるかを、すなわち多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ１５
とマトリックス１にお＆Ｊる行系統Ｘ１〜×４、列系統
Ｙ１〜Ｙ４および斜め系統７１〜Ｚ６との対応関係を示
すものである。また、後述するように、絶縁測定部２４
および耐圧測定部２５の出力の検査データが制御演算部
２６から記憶部２７に書き込まれ、記憶部２７から制御
演算部２６に読み出される。

表示部２８としてはＣＲＴデイスプレィや液晶デイスプ
レィなどが用いられ、これに制御演算部２６において得
られた検査結果が表示される。

操作部２９としては押釦操作機構やキーボードなどが用
いられ、これを操作することによって制御演算部２６に
検査項目指示信号と検査開始指示信号が供給される。

なお、接続部２１、端子分配部２２および系統選択部２
３の互いに絶縁されるべき端子間の絶縁および耐圧は検
査対象である多端子物１０の端子間が有すべき絶縁およ
び耐圧に比べて十分高くされる。

以上の構成の検査装置２０によって多端子物１０の端子
間の絶縁および耐圧を検査するには、多端子物１０の端
子Ｔ１〜Ｔ１５を接続部２Ｉの端子Ｐ１〜Ｐ１５に接続
し、すなわち多端子物１０を検査装置２０に接続し、操
作部２９において絶縁および耐圧という二つの検査項目
と検査開始を指示する。これによって制御演算部２６に
検査項目指示信号と検査開始指示信号が供給されて制御
演算部２６は記憶部２７から検査プログラムを読み出し
、その検査プログラムに従って以下のように絶縁検査お
よび耐圧検査がなされる。

ます、系統選択部２３のスイッチＥＭおよびＥＮがオン
にされて測定ラインＲＭおよびＲＮが測定端子１．Ｍお
よびＩＮに接続されるとともに、スイッチＦＭおよびＦ
Ｎがオフにされて測定ラインＲＭおよびＲＮが測定端子
ＶＭおよびＶＮから遮断される絶縁検査モードにされる
が、この絶縁検査モードにおいては、最初に、端子分配
部２２のスイッチＡ１〜Ａ１５が上側に切り替えられて
、多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ４が接続部２１の端子Ｐ
１〜Ｐ４を介して行端子ＱＸＩに接続され、端子Ｔ５〜
Ｔ８が端子Ｐ５〜Ｐ８を介して行端子Ｑχ２に接続され
、端子Ｔ９〜ＴＩ２が端子Ｐ９〜Ｐ１２を介して行端子
ＱＸ３に接続され、端子Ｔ１３〜Ｔ１５が端子Ｐ１３〜
Ｐ１５を介して行端子ＱＸ４に接続されるとともに、系
統選択部２３のスイッチＤＸＭおよびＩ〕χＮがオンに
され、スイッチＤＹＭ、ＤＹＮおよびＤＺＭ、ＤＺＮが
オフにされて、行ラインＸＭ、ＸＮが測定ラインＲＭ、
ＲＮを介して測定端子ＩＭ、ＩＮに接続される行モード
にされ、この行モードにおいて以下のように第１番目か
ら第４番目までの単位モードの検査がなされる。

すなわち、第１番目には、系統選択部２３のスイッチＣ
ＸＩが上側に切り替えられ、スイッチＣＸ２〜ＣＸ４が
下側に切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔ１〜Ｔ４
が行端子ＱＸＩを介して測定端子［Ｍに接続されるとと
もに、端子Ｔ５〜Ｔ８、Ｔ９〜ＴＩ２．Ｔ１３〜１゛１
５が行端子Ｑχ２、ＱＸ３．ＱＸ４を介して測定端子Ｉ
Ｎに接続され、絶縁測定部２４において多端子物１０の
上述したマトリックス１における行系統χ１に属せられ
る端子Ｔ１〜Ｔ４の群と他の行系統χ２〜Ｘ４に属せら
れる端子Ｔ５〜Ｔ１５の群との間の絶縁が測定されて、
その良否を示す検査データが制御演算部２６に取り込ま
れ、制御演算部２６において行系統ｘ１を示す符号が付
加されて制御演算部２６から記憶部２７に書き込まれる
。

第２番目には、系統選択部２３のスイッチＣＸ２が上側
に切り替えられ、スイッチＣＸＩ、ＣＸ３、ＣＸ４が下
側に切り替えられて、多端子物ＩＯの端子Ｔ５〜Ｔ８が
行端子ＱＸ２を介して測定端子ＩＭに接続されるととも
に、端子Ｔ　１〜Ｔ４Ｔ９〜Ｔ１２．Ｔ１３〜Ｔ１５が
行端子ＱＸＩ。

ＱＸ３．ＱＸ４を介して測定端子ＩＮに接続され、絶縁
測定部２４において多端子物１０のマトリックス１にお
ける行系統ｘ２に属ゼられる端子Ｔ５〜Ｔ８の群と他の
行系統ＸＩ、Ｘ３．Ｘ４に属ゼられる端子Ｔ１〜Ｔ４．
Ｔ９〜Ｔ１５の群との間の絶縁が測定されて、その良否
を示す検査データが制御演算部２６に取り込まれ、制御
演算部２６において行系統Ｘ２を示す符号が付加されて
制御演算部２６から記憶部２７に書き込まれる。

同様にして、第３番目には、系統選択部２３のスイッチ
ＣＸ３が上側に切り替えられ、スイッチＣＸＩ、ＣＸ２
．Ｃχ４が下側に切り替えられて、絶縁測定部２４にお
いて多端子物１０のマトリクス１における行系統Ｘ３に
属せられる端子Ｔ９〜Ｔ１２の群と他の行系統Ｘｉ、Ｘ
２．Ｘ４に属せられる端子Ｔ１〜Ｔ８．Ｔ１３〜Ｔ１５
の群との間の絶縁が測定されて、その良否を示す検査ブ
タが行系統Ｘ３を示す符号とともに記憶部２７に書き込
まれ、第４番目には、系統選択部２３のスイッチＣＸ４
が上側に切り替えられ、スイッチＣＸ１〜Ｃχ３が下側
に切り替えられて、絶縁測定部２４において多端子物１
０のマトリクス１におりる行系統Ｘ４に属せられる端子
Ｔ１３〜Ｔ　１５の群と他の行系統Ｘ１〜χ３に属せら
れる端子Ｔ１−Ｔｌ２Ｏ群との間の絶縁が測定されて、
その良否を示す検査データが行系統ｘ４を示す符号とと
もに記憶部２７に書き込まれる。

次に、端子分配部２２のスイッチＡ１〜Ａ１５が下側に
切り替えられるとともに、スイッチＢｌ〜Ｂ１５が上側
ルこ切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔｌ、Ｔ５．
Ｔ９．ＴＩ３が接続部２１の端子ＰＩ、Ｐ５．Ｐ９．Ｐ
１３を介して列端子ＱＹ１に接続され、端子Ｔ２．Ｔ６
．ＴＬＯ、Ｔ１４が端子Ｐ２．Ｐ６．ＰＩＯ，Ｐ１４を
介して列端子ＱＹ２に接続され、端子Ｔ３．Ｔ７．Ｔｌ
　１゜ＴＬ５が端子Ｐ３．Ｐ７．ｐＨ，ＰＩ５を介して
列端子ＱＹ３に接続され、端子Ｔ４．Ｔ８．Ｔ１２が端
子Ｐ４．Ｐ８．．Ｐ１２を介して列端子ＱＹ４に接続さ
れるとともに、系統選択部２３のスイッチＤＹＭおよび
ＤＹＮがオンにされ、スイッチＤＸＭ、ＤＸＮお、Ｊｌ
、びＤＺＭ　ＤＺＮがオフにされて、列ラインＹＭ、Ｙ
Ｎが測定ラインＲＭ。

ＲＮを介して測定端子ＩＭ、ＩＮに接続される列モード
にされ、この列モードにおいて以下のように第５番目か
ら第８番目までの単位モードの検査がなされる。

すなわち、第５番目には、系統選択部２３のスイッチＣ
ＹＩが上側に切り替えられ、スイッヂＣＹ２〜ＣＹ４が
下側に切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔ１．Ｔ５
．Ｔ９．Ｔ１．３が列端子ＱＹ１を介して測定端子ＩＭ
に接続されるとともに、端子Ｔ２．Ｔ６．ＴＩＯ，Ｔ１
４．Ｔ３．Ｔ７Ｔｌｌ、Ｔ１５．Ｔ４．Ｔ８．ＴＩ２が
列端子ＱＹ２〜ＱＹ４を介して測定端子ＩＮに接続され
、絶縁測定部２４において多端子物１０のマトリックス
１における列系統Ｙ１に属せられる端子ＴＩＴ５．’Ｔ
’９．Ｔ１３の群と他の列系統Ｙ２〜Ｙ４に属せられる
端子Ｔ２．Ｔ６．ＴＩＯＴ１４Ｔ３．Ｔ７．Ｔｌｌ、Ｔ
１５．Ｔ４．Ｔ８　　Ｔ１２の群との間の絶縁が測定さ
れて、その良否を示す検査データが制御卸演算部２６に
取り込まれ、制御演算部２６において列系統Ｙ１を示す
符号が付加されて制御演算部２６から記憶部２７に書き
込まれる。

第６番目には、系統選択部２３のスイッチＣＹ２が上側
に切り替えられ、スイッチＣＹＩ　　ＣＹ３、ＣＹ４が
下側に切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔ２．Ｔ６
．ＴＩＯ，Ｔ１４が列端子ＱＹ２を介して測定端子ＩＭ
に接続されるとともに、端子Ｔｌ、Ｔ５．Ｔ９．Ｔ１３
．Ｔ３　　Ｔ７　　Ｔ１１、ＴＩ５．Ｔ４．Ｔ８．Ｔ１
２が列端子ＱＹＬ　ＱＹ３．ＱＹ４を介して測定端子Ｉ
Ｎに接続され、絶縁測定部２４において多端子物１０の
マＩ・リクス１における列系統￥２に属せられる端子Ｔ
２．Ｔ６．ＴＩＯ，Ｔ１４の群と他の列系統Ｙ１、Ｙ３
．Ｙ４に属せられる端子ＴＩ、Ｔ５．−Ｆ９、ＴＩ　３
．Ｔ３．ｉ”７．Ｔ’ｌ　］、Ｔｌｌ５　　Ｔ／ＩＴ８
．ＴＩ２の群との間の絶縁が測定されて、その良否を示
す検査データが制御演算部２６に取り込まれ、制御演算
部２６において列系統Ｙ２を示す符号が付加されて制御
演算部２６から記憶部２７に書き込まれる。

同様にして、第７番目には、系統選択部２３のスイッチ
ＣＹ３が上側に切り替えられ、スイッチＣＹ１．Ｃ￥２
．ＣＹ４か下側に切り替えられて、絶縁測定部２４にお
いて多端子物１０のマトリクス１における列系統Ｙ３に
属せられる端子Ｔ３Ｔ７．Ｔｌ　１．Ｔｌ　５の群と他
の列系統Ｙｌ、Ｙ２、Ｙ４に属せられる端子Ｔｌ、Ｔ５
．Ｔ９．”ｒ’Ｍｌ、Ｔ２．Ｔ６．ＴＩＯ，Ｔ１４．Ｔ
４．Ｔ８Ｔ１２の群との間の絶縁が測定されて、その良
否を示す検査データが列系統Ｙ３を示す符号とともに記
憶部２７に書き込まれ、第８番目には、系統選択部２３
のスイッチＣＹ４が上側に切り替えられ、スイッチＣＹ
Ｉ−ＣＹ３が下側に切り替えられて、絶縁測定部２４に
おいて多端子物１０のマＩ・リクス１における列系統Ｙ
４に属せられる端子Ｔ４．Ｔ８．Ｔ１２の群と他の列系
統Ｙ１〜Ｙ３に属ゼられる端子ＴＩ、Ｔ５．Ｔ９　　Ｔ
１３　　Ｔ２、Ｔ６．ＴＩＯ，ＴＩ４．Ｔ３．Ｔ７　　
Ｔｌ１Ｔ１５の群との間の絶縁が測定されて、その良否
を示す検査データが列系統Ｙ４を示す符号とともに記憶
部２７に書き込まれる。

次に、端子分配部２２のスイッチＡ１〜Ａ１５およびス
イッチＢ１〜Ｂ１５がともに下側に切り替えられて、多
端子物１０の端子ＴＩが接続部２１の端子Ｐ１を介して
第三端子ＱＺＩに接続され、端子Ｔ２．Ｔ５が端子Ｐ２
．Ｐ５を介して第二端子ＱＺ２に接続され、端子Ｔ３．
Ｔ６．Ｔ９が端子Ｐ３．Ｐ６．Ｐ９を介して第三端子Ｑ
Ｚ３に接続され、端子Ｔ４．Ｔ７　　ＴＩＯＴ１３が端
子Ｐ４．Ｐ７．ＰＬＯ，Ｐ１３を介して第三端子ＱＺ４
に接続され、端子Ｔ８．Ｔ１．１．Ｔｌ　４が端子Ｐ８
．ｐＨ，Ｐ１４を介して第三端子ＱＺ５に接続され、端
子ＴＩ２．Ｔ１５が端子ＰＩ２Ｐ１５を介して第三端子
ＱＺ６に接続されるとともに、系統選択部２３のスイッ
チＤＺＭおよびＤＺＮがオンにされ、スイッチＤＸＭ　
　ＤＸＮおよびＤＹＭ、ＤＹＮがオフにされて、第三ラ
インＺＭ、ＺＮが測定ラインＲＭ、ＲＮを介して測定端
子ＩＭ、ＩＮに接続される第三モードにされ、この第三
モードにおいて以下のように第９番目から第１４番目ま
での単位モードの検査がなされる。

すなわち、第９番目には、系統選択部２３のスイッチＣ
Ｚ１が」二側に切り替えられ、スイッチＣＺ２〜ＣＺ６
が下側に切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔ１が第
三端子ＱＺＩを介して測定端子ｒＭに接続されるととも
に１、端子Ｔ２．Ｔ５”Ｆ３．　　′Ｆ６　　　Ｔ９．
Ｔ／ｌ　　　Ｔ７　　　ＴＩＯＴ１３Ｔ８．Ｔｌ　１．
、Ｔ１４．Ｔ１２．Ｔ１５が第三端子ＱＺ２〜ＱＺ６を
介して測定端子ＩＮに接続され、絶縁測定部２４におい
て多端子物１０のマトリックス１における斜め系統Ｚ１
に属せられる端子ＴＩと他の斜め系統Ｚ２〜Ｚ６に属せ
られる端子Ｔ２．Ｔ５．Ｔ３．Ｔ６．Ｔ９．Ｔ４　　Ｔ
７．Ｔ１０　　Ｔ１３　　Ｔ８　　Ｔｌｌ　　Ｔ１４　
　Ｔ１２Ｔ１５の群との間の絶縁が測定されて、その良
否を示す検査データが制御演算部２６に取り込まれ、制
御演算部２６において斜め系統Ｚ］を示す符号が付加さ
れて制御演算部２６から記憶部２７に書き込まれる。

第１０番目には、系統選択部２３のスイッチＣＺ２が上
側に切り替えられ、スイッチＣＺＩ、ＣＺ３〜ＣＺ６が
下側に切り替えられて、多端子物１０の端子Ｔ２．Ｔ５
が第三端子ＱＺ２を介して測定端子ＩＭに接続されると
ともに、端子ＴＩＴ３．Ｔ６．Ｔ９．Ｔ４．Ｔ７．ＴＩ
Ｏ，Ｔ１３゜Ｔ８．Ｔｌ　１．ＴＩ４．ＴＩ２．’ｒ゛
１５が第三端子ＱＺＩ、ＱＺ３〜ＱＺ６を介して測定端
子ＩＮに接続され、絶縁測定部２４において多端子物１
０のマトリックス１における斜め系統Ｚ２に属せられる
端子Ｔ２．Ｔ５の群と他の斜め系統２１．２３〜Ｚ６に
属せられる端子ＴＩ、Ｔ３．Ｔ６．Ｔ９、Ｔ４．Ｔ７．
ＴＩＯ，Ｔ１３．Ｔ８．Ｔｌ１Ｔｌ　４．ＴＩ　２．Ｔ
ｌ　５の群との間の絶縁が測定されて、その良否を示す
検査データが制御演算部２６に取り込まれ、制御演算部
２６において斜め系統Ｚ２を示す符号が付加されて制御
演算部２６から記憶部２７に書き込まれる。

同様にして、第１１番目には、系統選択部２３のスイッ
チＣＺ３が上側に切り替えられ、スイッチＣＺ１．ＣＺ
２．ＣＺ４〜ＣＺ６が下側に切り替えられて、絶縁測定
部２４において多端子物１０のマトリクス１におりる斜
め系統Ｚ３に属せられる端子Ｔ３．Ｔ６．Ｔ９の群と他
の斜め系統Ｚ１、Ｚ２．Ｚ４〜Ｚ６に属せられる端子Ｔ
Ｉ　　Ｔ２、Ｔ５．Ｔ４．Ｔ７．ＴＩＯ，Ｔｌ　３．Ｔ
８Ｔｌ　１．ＴＩ　４．’Ｉ’ｌ　２．Ｔ１．．５の群
との間の絶縁が測定されて、その良否を示す検査データ
が斜め系統Ｚ３を示す符号とともに記憶部２７に書き込
まれ、第１２番目には、系統選択部２３のスイッチＣＺ
４が上側に切り替えられ、スイッチＣＺ１〜ＣＺ３．Ｃ
Ｚ５．ＣＺ６が下側に切り替えられて、絶縁測定部２４
において多端子物１ｏのマトリックス１における斜め系
統Ｚ４に属せられる端子Ｔ４．Ｔ７．Ｔ１０．Ｔ１３の
群と他の斜め系統Ｚ１〜Ｚ３．Ｚ５．Ｚ６に属セられる
端子Ｔｌ。

Ｔ２．Ｔ５．Ｔ３．Ｔ６．Ｔ９．Ｔ８　　Ｔｌ１Ｔｌ、
’Ｉ、ＴＩ２．Ｔ１５の群との間の絶縁が測定されて、
その良否を示す検査データが斜め系統Ｚ４を示す符号と
ともに記憶部２７に書き込まれ、第１３番目には、系統
選択部２３のスイッチｃＺ５が上側に切り替えられ、ス
イッチＣＺ１〜ｃＺ４、Ｃ２０が下側に切り替えられて
、絶縁測定部２４において多端子物１０の７１−リクス
１におりる斜め系統Ｚ５に属せられる端子Ｔ８．Ｔｌ１
１’　ｌ　４の群々他の斜め系統Ｚ１〜Ｚ４．Ｚ６に属
せられる端子ＴＩ、Ｔ２、Ｔ５．Ｔ３　　Ｔ６　　Ｔ９
、Ｔ４．Ｔ７．Ｔ１．Ｏ，Ｔ１３．　　ＴＩ２．Ｔ１５
の群との間の絶縁が測定されて、その良否を示す検査デ
ータが斜め系統Ｚ５を示す符号とともに記憶部２７に書
き込まれ、第１４番目には、系統選択部２３のスイッチ
ＣＺ６が」二側に切り替えられ、スイッチＣＺＩ〜ＣＺ
５が下側に切り替えられて、絶縁測定部２４において多
端子物１０のマトリクス１における斜め系統Ｚ６に属せ
られる端子ＴＩ２．Ｔ１５の群と他の斜め系統Ｚ１〜Ｚ
５に属ゼられる端子ＴＩ、Ｔ２　　Ｔ５　　Ｔ３　　Ｔ
６Ｔ９．Ｔ４．ＴＶ、ＴＩＯ，Ｔ１３．Ｔ８．Ｔ１１、
Ｔ１４の群との間の絶縁が測定されて、その良否を示す
検査データが斜め系統Ｚ６を示す符号とともに記憶部２
７に書き込まれる。

このように行モード、列モードおよび第三子ドにわたる
第１番目から第１４番目までの単位モードの検査がなさ
れると、その第１番目から第１４番目までの単位モード
における検査データが記憶部２７から制御演算部２６に
読み出されて、その検査データから制御演算部２６にお
いて多端子物１０のいずれかの端子間に絶縁不良がある
か否かが検出され、その検出結果が表示部２８に表示さ
れるとともに、制御演算部２６において多端子物１０の
いずれかの端子間に絶縁不良があることが検出されたと
きには、さらに、その端子が属せられるマトリクス１に
おける行系統、列系統および斜め系統についての上述し
た数列データが記憶部２７から制御演算部２６に読み出
されて、その数列データにもとづいて制御演算部２６に
おいて多端子物１０の絶縁不良が存する端子間が特定さ
れ、その特定された端子間が表示部２８に表示される。

すなわち、例えば多端子物１０の端子Ｔ６．Ｔ１１間に
絶縁不良があるときには、行モードにおける第２番目の
単位モードであるマトリクス１の行系統Ｘ２に属せられ
る端子Ｔ５〜Ｔ８の群と他の端子の群との間の絶縁の検
査時、行モードにおける第３番目の単位モードであるマ
トリックス１の行系統Ｘ３に属せられる端子Ｔ９〜ＴＩ
２の群と他の端子の群との間の絶縁の検査時、列モード
における第６番目の単位モードであるマトリクス１の列
系統Ｙ２に属せられる端子Ｔ２．Ｔ６．ＴｌＯ，Ｔ１４
の群と他の端子の群との間の絶縁の検査時、列モードに
おける第７番目の単位モードであるマトリックス１の列
系統Ｙ３に属せられる端子Ｔ３．Ｔ７．Ｔｌ　１．Ｔ１
．５の群と他の端子の群との間の絶縁の検査時、第三モ
ードにおける第１１番目の単位モードであるマトリクス
１の斜め系統Ｚ３に属せられる端子Ｔ３．Ｔ６．Ｔ９の
群と他の端子の群との間の絶縁の検査時、および第三モ
ードにおける第１３番目の単位モードであるマトリクス
１の斜め系統Ｚ５に属せられる端子Ｔ８゜Ｔｌｌ、Ｔｌ
、ｌｉＯ群と他の端子の群との間の絶縁の検査時におけ
る検査データか絶縁不良を示すものとなって、多端子物
１０のいずれかの端子間に絶縁不良があることが検出さ
れ、表示されるとともに、第３図に示すように、マトリ
ックス１の行系統Ｘ２．Ｘ３、列系統Ｙ２．Ｙ３および
斜め系統Ｚ３．Ｚ５についての数列データ、すなわち行
系統Ｘ２．Ｘ３、列系統Ｙ２．Ｙ３および斜め系統Ｚ３
．Ｚ５に属せられる端子を示す数列データが読み出され
、これら数列データに３回現われる端子が見つけ出され
ることによって、多端子物１゜の絶縁不良が存する端子
間は端子ＴＧ、Ｔｌ１間であると特定され、表示される
。

なお、多端子物１０の絶縁不良が存する端子間が二つ以
上ある特殊な場合には、その端子間を特定することがで
きないので、二つ以上あって特定できない旨が表示部２
８に表示される。

このようにして絶縁検査が終了したら、系統選択部２３
のスイッチＦＭおよびＦＮがオンにされて測定ラインＲ
ＭおよびＲＮが測定端子ＶＭおよびＶＮに接続されると
ともに、スイッチＥＭおよびＥＮがオフにされて測定ラ
インＲＭおよびＲＮが測定端子ＩＭおよびＩＮから遮断
される耐圧検査モードにされるが、この耐圧検査モード
は耐圧測定部２５によって耐圧が測定される点を除けば
上述した絶縁検査モードとまったく同じである。

したがって、絶縁検査と同様に、行モード、列モードお
よび第三モードにわたる第１番目から第１４番目までの
単位モードの検査後に、制御演算部２６において多端子
物１０のいずれがの端子間に耐圧不良があるか否かが検
出され、その検出結果が表示部２８に表示されるととも
に、制御演算部２６において多端子物１０のいずれかの
端子間に耐圧不良があることが検出されたときには、さ
らに制御演算部２６において多端子物１０の耐圧不良が
存する端子間が特定され、その特定された端子間が表示
部２８に表示される。

このように、上述した例においては、絶縁検査について
も、耐圧検査についても、それぞれ１４回とい・う少な
い検査回数で多端子物１ｏの端子間の絶縁不良または耐
圧不良の有無を検査することができ、短時間で検査を完
了することができるとともに、多端子物１０の絶縁不良
または耐圧不良が存する端子間が二つ以上ある特殊な場
合を除いて不良個所を特定することができる。

一般に、多端子物のｎ個の端子をに行β列のマトリクス
状に配列するとして、第４図に示すようにｎ＝に−ｆｆ
ｉの場合には、同図から明らかなように斜め系統の数か
に→−ρ−１になるので、一つの検査項目についての検
査回数は２（ｋ十ρ）−１となり、第５図に示すように
ｎ＜ｋ・ρの場合には、同図から明らかなように斜め系
統の数かに−１−４２−２になるので、一つの検査項目
についての検査回数は２（ｋ十ρ）−２となる。ｋとで
は、等しくするか、一つ違いにするのが望ましい。例え
ばｎ＝１２８でに＝ＩＬ　　Ｎ＝１２にするときは、一
つの検査項目についての検査回数は４４回となる。

上述した例のように操作部２９において検査項目を指示
するときは必要に応じて絶縁と耐圧のいずれか一方また
は両方を検査することができるが、検査対象である多端
子物１０が絶縁と耐圧の両方を検査する必要がある物に
限定される場合には、操作部２９において検査項目を指
示することなく単に検査開始を指示するだけで上述した
ように絶縁と耐圧の両方の検査が順次なされるようにし
てもよい。また、検査開始の指示を操作部２９において
行うことなく、検査装置２０の接続部２１などに検査対
象である多端子物１０が検査装置２０に接続されたこと
を検出する適当な検出手段が設けられ、その検出手段の
出力によって検査開始の指示が自動的になされるように
することもできる。

また、検査対象である多端子物１０を絶縁と耐圧のいず
れか一方のみを検査する物に限る場合には、耐圧測定部
２５または絶縁測定部２４は不要で、系統選択部２３に
おいても測定ラインＲＭおよびＲＮが直接、測定端子Ｔ
ＭおよびＩＮまたはＶＭおよびＶＮに接続され、あらか
しめ記憶部２７に記憶される検査プログラムもそれに対
応するものにされればよい。この場合も、検査項目の指
示は必要ないとともに、上述したように検査開始の指示
が自動的になされるようにすることができる。

「発明の効果」 上述したよ・うに、この発明によれば、検査回数が著し
く少なくなり、短時間で検査を完了することができると
ともに、不良個所を特定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の検査装置の一例を検査対象である多
端子物の一例とともに示す接続図、第２図ばマトリック
スの一例を示す図、第３図は数列データの一例の一部を
示す図、第４図および第５図はそれぞれマトリックスの
一般的な例を示す図、第６図は検査対象である多端子物
の−・例の端子構成を示す回、第７図および第８図はそ
れぞれ従来の検査方法を説明するための図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）検査対象である多端子物の互いに絶縁されるべき
   多数の端子が一つずつ接続される多数の端子を有する接
   続部と、 この接続部に接続され、上記多端子物の多数の端子が上
   記接続部の多数の端子に接続された状態で、スイッチの
   切替によって、上記多端子物の多数の端子をこれらをマ
   トリックス状に配列したときにおける複数の行系統に対
   応する複数の行端子に振り分けて接続する行モードと、
   上記多端子物の多数の端子を上記マトリクスにおける複
   数の列系統に対応する複数の列端子に振り分けて接続す
   る列モードと、上記多端子物の多数の端子を上記マトリ
   クスにおける複数の斜め系統に対応する複数の第三端子
   に振り分けて接続する第三モードとをとる端子分配部と
   、この端子分配部に接続され、スイッチの切替によって
   、上記端子分配部が上記行モードをとるときに、上記複
   数の行端子のうちの一つを一方の測定端子に接続し、残
   りを他方の測定端子に接続する単位モードを、上記複数
   の行端子のうちの一つを順次変えてとる行モードと、上
   記端子分配部が上記列モードをとるときに、上記複数の
   列端子のうちの一つを上記一方の測定端子に接続し、残
   りを上記他方の測定端子に接続する単位モードを、上記
   複数の列端子のうちの一つを順次変えてとる列モードと
   、上記端子分配部が上記第三モードをとるときに、上記
   複数の第三端子のうちの一つを上記一方の測定端子に接
   続し、残りを上記他方の測定端子に接続する単位モード
   を、上記複数の第三端子のうちの一つを順次変えてとる
   第三モードとをとる系統選択部と、 この系統選択部の上記一方および他方の測定端子に接続
   され、上記それぞれの単位モードにおいて、上記一方の
   測定端子と上記他方の測定端子の間の絶縁または耐圧を
   測定して、その良否を示す検査データを出力する測定部
   と、 上記多端子物の多数の端子が上記接続部の多数の端子に
   接続された状態で、上記端子分配部および上記系統選択
   部を切替制御するとともに、上記検査データを取り込み
   、上記端子分配部および上記系統選択部が上記行モード
   、上記列モードおよび上記第三モードのすべてをとった
   後に、それまでの上記検査データから上記多端子物のい
   ずれかの端子間に絶縁不良または耐圧不良があるか否か
   を検出するとともに、絶縁不良または耐圧不良があると
   きには、上記多端子物の多数の端子と上記マトリクスに
   おける行系統、列系統および斜め系統との対応関係を示
   す数列データにもとづいて上記多端子物の絶縁不良また
   は耐圧不良が存する端子間を特定する制御演算部と を備える、多端子物の検査装置。