JPH02252682A - セラミックスのメタライズ法及びセラミックスの接合法 - Google Patents
セラミックスのメタライズ法及びセラミックスの接合法Info
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- JPH02252682A JPH02252682A JP7126689A JP7126689A JPH02252682A JP H02252682 A JPH02252682 A JP H02252682A JP 7126689 A JP7126689 A JP 7126689A JP 7126689 A JP7126689 A JP 7126689A JP H02252682 A JPH02252682 A JP H02252682A
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- JP
- Japan
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- ceramic
- ceramics
- vacuum
- paste
- atmosphere
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- Pending
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/50—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials
- C04B41/51—Metallising, e.g. infiltration of sintered ceramic preforms with molten metal
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はセラミックスのメタライズ法及び接合法に関す
るものであり、特に真空封止性が必要な機器におけるセ
ラミックスとセラミックス、セラミックスと金属を、密
接強固に接合するためのメタライジング及び接合法に係
るものである。
るものであり、特に真空封止性が必要な機器におけるセ
ラミックスとセラミックス、セラミックスと金属を、密
接強固に接合するためのメタライジング及び接合法に係
るものである。
(従来の技術)
従来のセラミックスとセラミックス、またはセラミック
スと金属を接合する際には、AgとCuの合金に数%の
T1を添加した金属と有機溶媒からなるペーストを印刷
し、これを、真空中の所定温度に保持1−で接合するい
わゆる活性金属法が多く用いられている。しかし、この
方法は、界面の真空封止性が悪く、接合した部品の内部
を真空に保持して使用する場合には、この方法は、−適
用できない欠点があった。
スと金属を接合する際には、AgとCuの合金に数%の
T1を添加した金属と有機溶媒からなるペーストを印刷
し、これを、真空中の所定温度に保持1−で接合するい
わゆる活性金属法が多く用いられている。しかし、この
方法は、界面の真空封止性が悪く、接合した部品の内部
を真空に保持して使用する場合には、この方法は、−適
用できない欠点があった。
一方、真空封止性が要求される部品を接合する場合、一
般にMo−Mn法または高融点金属法とよばれる特殊な
接合方法が用いられている。しかし、この方法は、工程
が非常に複雑である。すなわち、この一般的な方法とし
て、まずセラミックスの表面に、MoとMnと有機溶媒
からなるペーストを印刷し、それを1400℃以上のN
2とN2の混合雰囲気中に保持してメタライズしたのち
、Nlメツキを行う。さらに、Nlを安定に固着するた
め、真空中900℃でシンタリングを行う。次にメタラ
イズされたセラミックスを金属に接合させるため、メタ
ライズ面にろう材を塗布し、これをH2中800℃に保
持してろう付けを行う。
般にMo−Mn法または高融点金属法とよばれる特殊な
接合方法が用いられている。しかし、この方法は、工程
が非常に複雑である。すなわち、この一般的な方法とし
て、まずセラミックスの表面に、MoとMnと有機溶媒
からなるペーストを印刷し、それを1400℃以上のN
2とN2の混合雰囲気中に保持してメタライズしたのち
、Nlメツキを行う。さらに、Nlを安定に固着するた
め、真空中900℃でシンタリングを行う。次にメタラ
イズされたセラミックスを金属に接合させるため、メタ
ライズ面にろう材を塗布し、これをH2中800℃に保
持してろう付けを行う。
このように、活性金属法では、真空封止性という特性を
満足せず、また、Mo−Mn法では、工程が非常に長く
、かつメタライズ温度が高いというそれぞれの問題を有
していた。
満足せず、また、Mo−Mn法では、工程が非常に長く
、かつメタライズ温度が高いというそれぞれの問題を有
していた。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は、真空スイッチ、電子レンジなどの器械におい
て、真空封止性が要求されるセラミックス−セラミック
ス或はセラミックス−金属の接合を、より簡便な方法で
提供することを目的とするものであって、前述した活性
金属法を改良する簡単な工程を採用することにより、M
o −Mn法によって得られる封止性と同等またはそれ
以上の性能をもつようなメタライジング法及びその接合
法を提供するものである。
て、真空封止性が要求されるセラミックス−セラミック
ス或はセラミックス−金属の接合を、より簡便な方法で
提供することを目的とするものであって、前述した活性
金属法を改良する簡単な工程を採用することにより、M
o −Mn法によって得られる封止性と同等またはそれ
以上の性能をもつようなメタライジング法及びその接合
法を提供するものである。
(課題を解決するための手段)
本発明はs Ag * Cu 、 T lなどからな
る活性金属組成粉末に、Ap、Sl、Pb、Ba、Zn
。
る活性金属組成粉末に、Ap、Sl、Pb、Ba、Zn
。
Bi、Cd及びTflのうちの少くとも2種の金属を加
え、これに有機バインダーとオイルを添加して形成した
ペーストを、セラミックス面に塗布し、その後真空また
は不活性ガス雰囲気中にて加熱・焼成し、冷却後または
引き続き工程で、酸素をlO〜11000pp含んだ窒
素(N2)、ヘリウム(He)またはアルゴン(Ar)
の単独または混合雰囲気中で、500℃以上乃至前記焼
成温度以下の範囲で焼成してメタライジングすること、
及び前記ペーストをセラミックスとセ”ラミックス或は
金属の間に介在させてセラミックスとセラミックス或は
金属を当接し、その後前記した2段の処理を行ってセラ
ミックスとセラミックス或はセラミックスと金属を接合
することを要旨とするものである。
え、これに有機バインダーとオイルを添加して形成した
ペーストを、セラミックス面に塗布し、その後真空また
は不活性ガス雰囲気中にて加熱・焼成し、冷却後または
引き続き工程で、酸素をlO〜11000pp含んだ窒
素(N2)、ヘリウム(He)またはアルゴン(Ar)
の単独または混合雰囲気中で、500℃以上乃至前記焼
成温度以下の範囲で焼成してメタライジングすること、
及び前記ペーストをセラミックスとセ”ラミックス或は
金属の間に介在させてセラミックスとセラミックス或は
金属を当接し、その後前記した2段の処理を行ってセラ
ミックスとセラミックス或はセラミックスと金属を接合
することを要旨とするものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
従来、セラミックスと金属の接合に用いられている活性
金属法は、酸素に対して活性な金属であるTi 、Zr
、V、Nb等と、セラミックスとの界面における反応を
利用する接合法である。しかし、この方法による接合界
面には、ガスが通過するミクロな間隙が存在している。
金属法は、酸素に対して活性な金属であるTi 、Zr
、V、Nb等と、セラミックスとの界面における反応を
利用する接合法である。しかし、この方法による接合界
面には、ガスが通過するミクロな間隙が存在している。
これは、真空封止性を要求される部材にはとうてい適用
できない。
できない。
すなわち、例えばヘリウムリーク量をみても、I X
LO−3torrfI/秒以下に保持できる場合が非常
に少くない。本発明者らは、前記ミクロ間隙に着眼し、
この間隙を成形しない方法として、接合温度で溶融する
ガラスの粉末を活性金属に添加し、間隙をガラスで充填
する方法を検討した。しかし、この方法では、接合強度
が得られず、また焼成温度や、混合比率を変えても、満
足を得る接合強度を得ることができなかった。このこと
は、ガラス粉末がT1等の活性金属により、還元されて
しまうことが原因であることがわかった。
LO−3torrfI/秒以下に保持できる場合が非常
に少くない。本発明者らは、前記ミクロ間隙に着眼し、
この間隙を成形しない方法として、接合温度で溶融する
ガラスの粉末を活性金属に添加し、間隙をガラスで充填
する方法を検討した。しかし、この方法では、接合強度
が得られず、また焼成温度や、混合比率を変えても、満
足を得る接合強度を得ることができなかった。このこと
は、ガラス粉末がT1等の活性金属により、還元されて
しまうことが原因であることがわかった。
そこで本発明者らは、活性金属が反応する時期と、ガラ
スが間隙を充填する時期を分離し、活性金属の反応工程
ではTiに還元されない状態に保持し、その後、間隙充
填工程を実施してガラスとなる雰囲気に制御することに
より、Mo −Mn法に匹敵する高真空封W性を有する
接合部が得られることがわかり、本発明を完成するに至
った。
スが間隙を充填する時期を分離し、活性金属の反応工程
ではTiに還元されない状態に保持し、その後、間隙充
填工程を実施してガラスとなる雰囲気に制御することに
より、Mo −Mn法に匹敵する高真空封W性を有する
接合部が得られることがわかり、本発明を完成するに至
った。
本発明の対象とするセラミックスは、酸化物系、窒化物
系、その他従来用いられている何れのものでもよい。接
合材となる活性金属としては、Ag −Cu−Ti系で
の粉末が(例えば、Ag:70vt%、 Cu:28
vL%、 Ti:2wt、%)であり、これも活性金属
法に通常用いられているものであって、これに関しては
特別な限定はない。本発明においては、この活性金属粉
末にAl、Sl、−Pb。
系、その他従来用いられている何れのものでもよい。接
合材となる活性金属としては、Ag −Cu−Ti系で
の粉末が(例えば、Ag:70vt%、 Cu:28
vL%、 Ti:2wt、%)であり、これも活性金属
法に通常用いられているものであって、これに関しては
特別な限定はない。本発明においては、この活性金属粉
末にAl、Sl、−Pb。
Ba、Zr、Bi、Cd及びTflのうちの少くとも2
種の金属を添加する。これらの金属はガラス化したとき
に接合材中のガラス濃度が1〜15%好ましくは3〜5
26となるように配合する。また2踵以上選択するのは
酸化物として単独では比較的融点の高いものであっても
、2種以上配合することにより、その融点を下げること
ができるからである。
種の金属を添加する。これらの金属はガラス化したとき
に接合材中のガラス濃度が1〜15%好ましくは3〜5
26となるように配合する。また2踵以上選択するのは
酸化物として単独では比較的融点の高いものであっても
、2種以上配合することにより、その融点を下げること
ができるからである。
この2以上のガラス組成とその融点の一例は下記の通り
である。
である。
ガラス組成 (括弧内はwt%) 融点Pb0(8
3)−B203(25)−8in2(12) 60
0’CPb0(83)−8203(17)
555℃Zn0(83) B203 (37)
730”Cすなわち、本発明において
配合成分の組合せによって多少異るがはり800℃以下
のガラス化温度を採用することが好ましい。
3)−B203(25)−8in2(12) 60
0’CPb0(83)−8203(17)
555℃Zn0(83) B203 (37)
730”Cすなわち、本発明において
配合成分の組合せによって多少異るがはり800℃以下
のガラス化温度を採用することが好ましい。
本発明において、セラミックス表面に或はセラミックス
とセラミックス或は金属の間にペーストを塗布或は介在
するのは、上述した活性金属及びガラス化金属の各粉末
を混合し、これに有機バインダー(Nえばテルピネオー
ル)とオイル(例えばエチルセルローズ)を加えてペー
スト状にし、これをセラミックス表面に、スクリーン印
刷法、はけ或はスプレー法などそれ自身公知の方法で塗
布する。その後、ペーストを塗布したセラミックスを、
または、該セラミックスに他のセラミックス或は金属を
治具などを用いて当接固定してから、これらを、第一段
階の処理として真空焼成炉に入れ、ペーストをセラミッ
クス溶融接合処理をする。
とセラミックス或は金属の間にペーストを塗布或は介在
するのは、上述した活性金属及びガラス化金属の各粉末
を混合し、これに有機バインダー(Nえばテルピネオー
ル)とオイル(例えばエチルセルローズ)を加えてペー
スト状にし、これをセラミックス表面に、スクリーン印
刷法、はけ或はスプレー法などそれ自身公知の方法で塗
布する。その後、ペーストを塗布したセラミックスを、
または、該セラミックスに他のセラミックス或は金属を
治具などを用いて当接固定してから、これらを、第一段
階の処理として真空焼成炉に入れ、ペーストをセラミッ
クス溶融接合処理をする。
この場合焼成温度は活性金属の共晶点以上であればよく
、通常800〜900℃の範囲が選ばれる。本発明にお
いて、この焼成雰囲気は真空に限らず不活性ガスでよい
。例えば純度の高いArガス雰囲気(02≦1 ppm
)を用いると、次工程のガラス化処理への連続化が可能
となる。
、通常800〜900℃の範囲が選ばれる。本発明にお
いて、この焼成雰囲気は真空に限らず不活性ガスでよい
。例えば純度の高いArガス雰囲気(02≦1 ppm
)を用いると、次工程のガラス化処理への連続化が可能
となる。
前記焼成工程を経たセラミックスを、第2段階の処理と
してA r = He 、N 2ガスの単独または混合
雰囲気を用いて焼成するのであって、本発明はこの焼成
処理に最大の特徴がある。すなわち、前記ガス雰囲気中
に10〜11000ppの酸素を含有させ、第1段階処
理における焼成温度以下の温度であって、500℃以上
の温度範囲で5〜60分の処理を行う。前記のように第
1段階処理されたメタライズ面或は接合面には、ミクロ
間隙が存在するが、第2段階処理によってsi、pbな
どの添加金属がガラス化し、これを埋める。酸素をlO
〜1000pp■雰囲気ガス中に混合させるのは、Sl
、 Pbなどの金属が酸素と反応し、ガラス形成に必
要なためである。酸素が10ppm以下ではセラミック
スを他のセラミックス、金属とを接合するときに接合し
ないか、不完全な接合しかできず、io00ppm以上
になる活性金属が酸化し、脆化が起る。また焼成温度を
500℃以上としたのは、それ以下ではガラス化が不足
し、十分な接合強度が得られない。
してA r = He 、N 2ガスの単独または混合
雰囲気を用いて焼成するのであって、本発明はこの焼成
処理に最大の特徴がある。すなわち、前記ガス雰囲気中
に10〜11000ppの酸素を含有させ、第1段階処
理における焼成温度以下の温度であって、500℃以上
の温度範囲で5〜60分の処理を行う。前記のように第
1段階処理されたメタライズ面或は接合面には、ミクロ
間隙が存在するが、第2段階処理によってsi、pbな
どの添加金属がガラス化し、これを埋める。酸素をlO
〜1000pp■雰囲気ガス中に混合させるのは、Sl
、 Pbなどの金属が酸素と反応し、ガラス形成に必
要なためである。酸素が10ppm以下ではセラミック
スを他のセラミックス、金属とを接合するときに接合し
ないか、不完全な接合しかできず、io00ppm以上
になる活性金属が酸化し、脆化が起る。また焼成温度を
500℃以上としたのは、それ以下ではガラス化が不足
し、十分な接合強度が得られない。
また、第1段階の焼成温度以上の温度で焼成すると、ろ
う材が溶は不都合であるからであり、好ましくは800
℃以下とする。
う材が溶は不都合であるからであり、好ましくは800
℃以下とする。
本発明において、上記範囲を定めたのは下記の実験結果
による。
による。
セラミックスとしてA1120392%よりなる高さ1
0mm、[7径20mmのパイプを使用し、これに活性
金属としてAg 70vt%、Cu28vL%、Ti
2wt%よりなる粉末にガラス形成金属としてPb+B
を混合し、これらの粉末をバインダー(エチルセルロー
ズとテルピネオール)でペースト状にしたものを前記バ
イブの両端部に塗布し、一端を有底のコバール製金具に
、他端を銅バイブに次の要件で接合した。
0mm、[7径20mmのパイプを使用し、これに活性
金属としてAg 70vt%、Cu28vL%、Ti
2wt%よりなる粉末にガラス形成金属としてPb+B
を混合し、これらの粉末をバインダー(エチルセルロー
ズとテルピネオール)でペースト状にしたものを前記バ
イブの両端部に塗布し、一端を有底のコバール製金具に
、他端を銅バイブに次の要件で接合した。
第1段階処理として
雰囲気 N2
温度850℃×80分
で焼成した。その後
第2段階処理としてN2雰囲気中で
酸素濃度を第1表 120ppm温 度 750
℃X20分 可変−第2表第2段階の処理において、
ベースの雰囲気をN2とし酸素濃度を変えた場合(75
0℃×20分の条件で処理)の接合状況を第1表に、雰
囲気濃度−を変化させた場合(酸素濃度120ppm+
)の接合状況を第2表に示した。
℃X20分 可変−第2表第2段階の処理において、
ベースの雰囲気をN2とし酸素濃度を変えた場合(75
0℃×20分の条件で処理)の接合状況を第1表に、雰
囲気濃度−を変化させた場合(酸素濃度120ppm+
)の接合状況を第2表に示した。
第 1 表
第
表
上記試料をHe雰囲気下におき、銅バイブの開放された
上端をHeリークデイティクターに接合して、前記セラ
ミックスバイブとコバール、銅バイブとの接合点よりH
eガスの漏洩性を測定した。
上端をHeリークデイティクターに接合して、前記セラ
ミックスバイブとコバール、銅バイブとの接合点よりH
eガスの漏洩性を測定した。
表において評価良好なものはlO″″” torrI/
secの値を示し、真空封止性が完全であった。それ以
外は、リークが多くみられた。上記結果から本発明の第
2段階処理条件が明らかとなった。
secの値を示し、真空封止性が完全であった。それ以
外は、リークが多くみられた。上記結果から本発明の第
2段階処理条件が明らかとなった。
本発明において、第1段階の処理雰囲気は、真空にする
ことに限定されず、第1段階と、第2段階を連続して処
理する場合は、第2段階での雰囲気と同種のガスを使用
することが作業上好ましい。
ことに限定されず、第1段階と、第2段階を連続して処
理する場合は、第2段階での雰囲気と同種のガスを使用
することが作業上好ましい。
この場合第1段階の雰囲気は純度の高いこと、すなわち
酸素濃度が1 ppm以下となるようにする必要がある
。
酸素濃度が1 ppm以下となるようにする必要がある
。
(実 施 例)
直径20mmのセラミックス(Ag203)の筒1と、
金属としてコバール2及び銅3よりなる部材を添付図に
示すような箱状の接合体をセットした。
金属としてコバール2及び銅3よりなる部材を添付図に
示すような箱状の接合体をセットした。
セラミックスの両端には、あらかじめ下記金属粉末にテ
ルピネオール(有機バインダー)とエチルセルローズ(
オイル)を加えてつくったペースト4を、スクリーン印
刷法で塗布し、前記金属を冶具で固定した。
ルピネオール(有機バインダー)とエチルセルローズ(
オイル)を加えてつくったペースト4を、スクリーン印
刷法で塗布し、前記金属を冶具で固定した。
活性金属粉末
(Ag:88vt%、 Cu:30%、Ti:2%)
を80%ガラス形成用金属粉末 (S i:30vt%、 Pb:40%、B:30%
)を20%これを第3表に示す条件でセラミックスと各
金属を接合した。
を80%ガラス形成用金属粉末 (S i:30vt%、 Pb:40%、B:30%
)を20%これを第3表に示す条件でセラミックスと各
金属を接合した。
第3表 メタライジングの条件
実施例 2
実施例1の条件でセラミックス表面をメタライズ処理後
、メタライズ面3とコバール2及び銅3のそれぞれの間
にろう材(BAg−8)を挿入し治具でこれらを固定し
た後真空中(1o−6torr)で800℃XIO分間
のろう付は処理をした。
、メタライズ面3とコバール2及び銅3のそれぞれの間
にろう材(BAg−8)を挿入し治具でこれらを固定し
た後真空中(1o−6torr)で800℃XIO分間
のろう付は処理をした。
実施例1及び2で処理した接合部材に真空封止試験及び
引張り試験を実施した。何れも真空封止度10−” t
orrg/see s引張強度300kg f以上の結
果が得られ、真空スイッチ等の真空器機に十分使用でき
ることが確認できた。
引張り試験を実施した。何れも真空封止度10−” t
orrg/see s引張強度300kg f以上の結
果が得られ、真空スイッチ等の真空器機に十分使用でき
ることが確認できた。
(効 果)
上述したように、本発明は活性金属法を改良した簡易な
工程によって、Mn −Mo法で可能のような優れた真
空封止性をHするセラミックス−セラミックスまたはセ
ラミックス−金属の接合面を得ることができ、工業的に
極めて有用である。
工程によって、Mn −Mo法で可能のような優れた真
空封止性をHするセラミックス−セラミックスまたはセ
ラミックス−金属の接合面を得ることができ、工業的に
極めて有用である。
図面は本発明実施例の試験材の断面を示す。
復代理人 弁理± IE 村弘明
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、Ag、Cu、Tiからなる活性金属組成粉末に、A
l、Si、Pb、Ba、Zn、Bi、Cd及びTlのう
ちの2種以上の金属を加え、これに有機バインダーとオ
イルを添加して形成したペーストを、セラミックス面に
塗布し、その後真空中または不活性ガス雰囲気中にて加
熱焼成し、さらに、酸素を10〜1000ppm含んだ
窒素、ヘリウムまたはアルゴンの単独または混合雰囲気
で、500℃以上乃至前記加熱焼成温度以下の範囲で焼
成することを特徴とするセラミックスのメタライズ法。 2、Ag、Cu、Tiからなる活性金属組成粉末に、A
l、Si、Pb、Ba、Zn、Bi、Cd及びTlのう
ちの2種以上の金属を加え、これに有機バインダーとオ
イルを添加して形成したペーストを、セラミックスとセ
ラミックス或は金属の間に介在せしめて、セラミックス
とセラミックス或は金属を当接し、その後真空中または
不活性ガス雰囲気中にて加熱焼成し、さらに、酸素を1
0〜1000ppm含んだ窒素、ヘリウムまたはアルゴ
ンの単独または混合雰囲気で、500℃以上乃至前記加
熱焼成温度以下の範囲で焼成することを特徴とするセラ
ミックスの接合法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7126689A JPH02252682A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | セラミックスのメタライズ法及びセラミックスの接合法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7126689A JPH02252682A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | セラミックスのメタライズ法及びセラミックスの接合法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02252682A true JPH02252682A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13455749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7126689A Pending JPH02252682A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | セラミックスのメタライズ法及びセラミックスの接合法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02252682A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0597534A (ja) * | 1991-10-04 | 1993-04-20 | Fujikura Ltd | 金属と固体電解質との接合方法 |
| JPH05105536A (ja) * | 1991-10-15 | 1993-04-27 | Fujikura Ltd | 金属と固体電解質との接合方法 |
| JP2010241627A (ja) * | 2009-04-03 | 2010-10-28 | Dowa Metaltech Kk | 金属−セラミックス接合基板およびそれに用いるろう材 |
-
1989
- 1989-03-23 JP JP7126689A patent/JPH02252682A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0597534A (ja) * | 1991-10-04 | 1993-04-20 | Fujikura Ltd | 金属と固体電解質との接合方法 |
| JPH05105536A (ja) * | 1991-10-15 | 1993-04-27 | Fujikura Ltd | 金属と固体電解質との接合方法 |
| JP2010241627A (ja) * | 2009-04-03 | 2010-10-28 | Dowa Metaltech Kk | 金属−セラミックス接合基板およびそれに用いるろう材 |
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