JPH0226320B2 - - Google Patents
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- JPH0226320B2 JPH0226320B2 JP62068519A JP6851987A JPH0226320B2 JP H0226320 B2 JPH0226320 B2 JP H0226320B2 JP 62068519 A JP62068519 A JP 62068519A JP 6851987 A JP6851987 A JP 6851987A JP H0226320 B2 JPH0226320 B2 JP H0226320B2
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- JP
- Japan
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- transistors
- semiconductor memory
- control information
- data
- transistor
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体メモリに対し、データ書き込
み動作あるいはビツト操作を実行するメモリ駆動
回路に関する。
み動作あるいはビツト操作を実行するメモリ駆動
回路に関する。
MOS型トランジスタ(以下トランジスタと称
す)により構成される半導体メモリセルの従来の
例を第1図に示す。半導体メモリセル5は、トラ
ンスフアーゲートとして動作するトランジスタ1
及び2と、インバータ回路3及び4により構成さ
れる。トランジスタ1及び2のゲートは、アドレ
スライン6に接続され、アドレスライン6が
“1”(ハイレベル)の時、トランジスタ1及び2
は導通状態となり、アドレスライン6が“0”
(ロウレベル)の時、トランジスタ1及び2の一
方の端子は、データ信号が入力されるデジツトラ
イン7及び7′にそれぞれ接続されている。
す)により構成される半導体メモリセルの従来の
例を第1図に示す。半導体メモリセル5は、トラ
ンスフアーゲートとして動作するトランジスタ1
及び2と、インバータ回路3及び4により構成さ
れる。トランジスタ1及び2のゲートは、アドレ
スライン6に接続され、アドレスライン6が
“1”(ハイレベル)の時、トランジスタ1及び2
は導通状態となり、アドレスライン6が“0”
(ロウレベル)の時、トランジスタ1及び2の一
方の端子は、データ信号が入力されるデジツトラ
イン7及び7′にそれぞれ接続されている。
第1図において、アドレスライン6が、“1”
でトランジスタ1及び2が導通状態であつた場
合、デジツトライン7に“1”、デジツトライン
7′に“0”が入力されると、半導体メモリセル
には“1”が記憶される。又デジツトラインに
“0”、デジツトライン7′に“1”が入力された
時には、半導体メモリセルには“0”が記憶され
る。もし、デジツトライン7及び7′が開放状態
であれば、アドレスライン6が“1”であつても
半導体メモリセルの内容は保持される。尚、アド
レスライン6が“0”であつた場合には、トラン
ジスタ1及び2が非導通状態となるので、半導体
メモリセルの内容は保持される。
でトランジスタ1及び2が導通状態であつた場
合、デジツトライン7に“1”、デジツトライン
7′に“0”が入力されると、半導体メモリセル
には“1”が記憶される。又デジツトラインに
“0”、デジツトライン7′に“1”が入力された
時には、半導体メモリセルには“0”が記憶され
る。もし、デジツトライン7及び7′が開放状態
であれば、アドレスライン6が“1”であつても
半導体メモリセルの内容は保持される。尚、アド
レスライン6が“0”であつた場合には、トラン
ジスタ1及び2が非導通状態となるので、半導体
メモリセルの内容は保持される。
第2図に示すように複数ビツトの半導体メモリ
セルによつて構成された半導体メモリ装置8はア
ドレスライン6にメモリセルのトランジスタ1及
び2のゲートが複数個接続され、又、デジツトラ
イン7及び7′には、メモリセルのトランジスタ
1及び2の一方の端子がそれぞれ複数個接続され
ることによりマトリクス状に構成することができ
る。
セルによつて構成された半導体メモリ装置8はア
ドレスライン6にメモリセルのトランジスタ1及
び2のゲートが複数個接続され、又、デジツトラ
イン7及び7′には、メモリセルのトランジスタ
1及び2の一方の端子がそれぞれ複数個接続され
ることによりマトリクス状に構成することができ
る。
上記のような半導体メモリは、マイクロコンピ
ユータやその周辺装置の内部メモリとして、又、
外部メモリとして広く使用されている。従来この
ような半導体メモリの内容に対しビツトセツトあ
るいはビツトリセツトなどを実行する場合、所定
のアドレスラインを“1”にし、指定された半導
体メモリの内容を一旦読み出し、次に、読み出し
た内容に対し、ビツト操作を実行した後、再び半
導体メモリにその操作結果を書き込まねばならな
かつた。したがつて、半導体メモリの内容に対
し、ビツトセツトあるいはビツトリセツトなどを
実行する場合には、データ書き込み動作処理時間
に比べ、半導体メモリ内容の読み出し及びビツト
操作処理を実行するので少なくとも2倍以上の処
理時間が必要となり、更に半導体メモリから読み
出された内容に対し、ビツト操作を実行するため
に、特別の論理演算回路などを必要としていた。
したがつて半導体メモリに対し、データ書き込み
動作及びビツト操作機能を有する装置を半導体集
積回路で実現する場合、トランジスタ素子数の増
加により、コストが増大するなどの欠点があつ
た。
ユータやその周辺装置の内部メモリとして、又、
外部メモリとして広く使用されている。従来この
ような半導体メモリの内容に対しビツトセツトあ
るいはビツトリセツトなどを実行する場合、所定
のアドレスラインを“1”にし、指定された半導
体メモリの内容を一旦読み出し、次に、読み出し
た内容に対し、ビツト操作を実行した後、再び半
導体メモリにその操作結果を書き込まねばならな
かつた。したがつて、半導体メモリの内容に対
し、ビツトセツトあるいはビツトリセツトなどを
実行する場合には、データ書き込み動作処理時間
に比べ、半導体メモリ内容の読み出し及びビツト
操作処理を実行するので少なくとも2倍以上の処
理時間が必要となり、更に半導体メモリから読み
出された内容に対し、ビツト操作を実行するため
に、特別の論理演算回路などを必要としていた。
したがつて半導体メモリに対し、データ書き込み
動作及びビツト操作機能を有する装置を半導体集
積回路で実現する場合、トランジスタ素子数の増
加により、コストが増大するなどの欠点があつ
た。
本発明は、このような事情に鑑みて発明された
もので、半導体メモリへのデータ書き込み動作と
共に、半導体メモリへのデータ書き込み動作の処
理時間と等しい時間で、半導体メモリの内容に対
し、ビツトセツトあるいはビツトリセツト動作を
非常に簡単な回路構成で実行できるメモリ駆動回
路を提供している。特に、本発明によるメモリ駆
動回路を、半導体メモリが主体で特別な論理演算
回路を必要としない半導体装置(例えば、表示用
メモリを備えた表示装置)などに付加することに
より、半導体メモリに対し、データの書き込み動
作を実行すると共に半導体メモリの内容に対する
ビツトセツトあるいは、ビツトリセツト動作を半
導体メモリへのデータ書き込みと等しい時間で、
容易に実行でき、更に、ビツトセツト及びビツト
リセツト操作を実行する特別の論理演算回路が不
要となるため、トランジスタ素子数の少ない機能
的にすぐれた半導体装置を提供することができ
る。
もので、半導体メモリへのデータ書き込み動作と
共に、半導体メモリへのデータ書き込み動作の処
理時間と等しい時間で、半導体メモリの内容に対
し、ビツトセツトあるいはビツトリセツト動作を
非常に簡単な回路構成で実行できるメモリ駆動回
路を提供している。特に、本発明によるメモリ駆
動回路を、半導体メモリが主体で特別な論理演算
回路を必要としない半導体装置(例えば、表示用
メモリを備えた表示装置)などに付加することに
より、半導体メモリに対し、データの書き込み動
作を実行すると共に半導体メモリの内容に対する
ビツトセツトあるいは、ビツトリセツト動作を半
導体メモリへのデータ書き込みと等しい時間で、
容易に実行でき、更に、ビツトセツト及びビツト
リセツト操作を実行する特別の論理演算回路が不
要となるため、トランジスタ素子数の少ない機能
的にすぐれた半導体装置を提供することができ
る。
本発明によれば、メモリセルに接続され2本で
1対をなす第1および第2のデイジツト線と、第
1のノードと第1の電源電位との間に直列に接続
された第1の導電型の第1および第2のトランジ
スタと、前記第1のノードと第2の電源電位との
間に直列に接続された第2の導電型の第3および
第4のトランジスタと、第1のノードを第1のデ
イジツト線に接続する第1の接続手段と、第2の
ノードと第1の電源電位との間に直列に接続され
た第1の導電型の第5および第6のトランジスタ
と、第2のノードと第2の電源電位との間に直列
に接続された第7および第8のトランジスタと、
第2のノードを第2のデイジツト線に接続する第
2の接続手段と、第1の制御情報を供給する第1
の制御情報供給手段と、この第1の制御情報の反
転情報を供給する第2の制御情報供給手段と、第
2の制御情報を供給する第3の制御情報供給手段
と、この第2の制御情報の反転情報を供給する第
4の制御情報供給手段と、入力情報を供給する入
力情報供給手段と、入力情報の反転情報を供給す
る反転入力情報供給手段と、第1の制御情報供給
手段を第8のトランジスタのゲートに接続する手
段と、第2の制御情報供給手段を第1のトランジ
スタのゲートに接続する手段と、第3の制御情報
供給手段を第4のトランジスタのゲートに接続す
る手段と、第4の制御情報供給手段を第5のトラ
ンジスタのゲートに接続する手段と、入力情報供
給手段を第2および第3のトランジスタのゲート
に接続する手段と、反転入力情報供給手段を第6
および第7のトランジスタのゲートに接続する手
段とを有するメモリ回路を得る。
1対をなす第1および第2のデイジツト線と、第
1のノードと第1の電源電位との間に直列に接続
された第1の導電型の第1および第2のトランジ
スタと、前記第1のノードと第2の電源電位との
間に直列に接続された第2の導電型の第3および
第4のトランジスタと、第1のノードを第1のデ
イジツト線に接続する第1の接続手段と、第2の
ノードと第1の電源電位との間に直列に接続され
た第1の導電型の第5および第6のトランジスタ
と、第2のノードと第2の電源電位との間に直列
に接続された第7および第8のトランジスタと、
第2のノードを第2のデイジツト線に接続する第
2の接続手段と、第1の制御情報を供給する第1
の制御情報供給手段と、この第1の制御情報の反
転情報を供給する第2の制御情報供給手段と、第
2の制御情報を供給する第3の制御情報供給手段
と、この第2の制御情報の反転情報を供給する第
4の制御情報供給手段と、入力情報を供給する入
力情報供給手段と、入力情報の反転情報を供給す
る反転入力情報供給手段と、第1の制御情報供給
手段を第8のトランジスタのゲートに接続する手
段と、第2の制御情報供給手段を第1のトランジ
スタのゲートに接続する手段と、第3の制御情報
供給手段を第4のトランジスタのゲートに接続す
る手段と、第4の制御情報供給手段を第5のトラ
ンジスタのゲートに接続する手段と、入力情報供
給手段を第2および第3のトランジスタのゲート
に接続する手段と、反転入力情報供給手段を第6
および第7のトランジスタのゲートに接続する手
段とを有するメモリ回路を得る。
第3図を参照して本発明が用いられる構成例を
説明する。
説明する。
同図は、メモリ駆動回路23・1〜23・4を
使用し、4ビツト単位で、データ書き込み動作、
ビツトセツト動作及びビツトリセツト動作を実行
する構成例である。4ビツトバスライン24よ
り、データ線21・1〜21・4にデータが入力
されている。後述する本発明の実施例を用いたメ
モリ駆動回路23は、半導体メモリ装置8の各デ
イジツトライン対に接続することにより、デジツ
トライン対上に接続された複数ビツトの半導体メ
モリセルに対し、データ書き込み動作及びビツト
操作を実行することができる。同図の例では、4
ビツト単位に、データ書き込み動作及びビツト操
作を実行する例であるが、任意のビツト単位に拡
張することができる。
使用し、4ビツト単位で、データ書き込み動作、
ビツトセツト動作及びビツトリセツト動作を実行
する構成例である。4ビツトバスライン24よ
り、データ線21・1〜21・4にデータが入力
されている。後述する本発明の実施例を用いたメ
モリ駆動回路23は、半導体メモリ装置8の各デ
イジツトライン対に接続することにより、デジツ
トライン対上に接続された複数ビツトの半導体メ
モリセルに対し、データ書き込み動作及びビツト
操作を実行することができる。同図の例では、4
ビツト単位に、データ書き込み動作及びビツト操
作を実行する例であるが、任意のビツト単位に拡
張することができる。
第4図に第3図において、アドレスライン6・
mをアドレスラインとし、デジツトライン7・
1,7′・1をデジツトラインとする半導体メモ
リセルとデジツトライン7・1,7′・1に接続
された本発明の実施例によるメモリ駆動回路23
を示す。
mをアドレスラインとし、デジツトライン7・
1,7′・1をデジツトラインとする半導体メモ
リセルとデジツトライン7・1,7′・1に接続
された本発明の実施例によるメモリ駆動回路23
を示す。
同図は、相補型MOSトランジスタにより構成
された本発明の具体例である。尚、同図におい
て、第1図と同一手段には同一番号が付してあ
る。
された本発明の具体例である。尚、同図におい
て、第1図と同一手段には同一番号が付してあ
る。
第4図において、トランジスタ26乃至29は
nチヤンネル型トランジスタであり、トランジス
タ24,25,30及び31はPチヤンネル型ト
ランジスタであり、インバータ回路19,20,
22は相補型トランジスタにより構成されてい
る。トランジスタ24及び31のゲートは、それ
ぞれ、インバータ回路19及び20の出力と接続
され、トランジスタ24及び31のソース側は
GND(グランド)に接続されている。トランジス
タ27及び28のゲートは、それぞれ制御線18
及び17の出力と接続され、トランジスタ27及
び28のソース側は+V(ハイレベル電圧)に接
続されている。これらトランジスタ24,27お
よび28,31の間には直列にトランジスタ2
5,26および29,30がれぞれ接続されてお
り、トランジスタ24及び27のドレイン側は、
トランジスタ25,26を介して半導体メモリセ
ルのデジツトライン7・1に接続され、トランジ
スタ28及び31のドレイン側はトランジスタ2
9,30を介してデジツトライン7′・1に接続
されている。制御線17及び18は、データ書き
込み、ビツトセツト、ビツトリセツト及びデータ
保持の4つの状態を指定する制御線であり、制御
線17はトランジスタ28及びインバータ回路1
9に入力されており、インバータ回路19の出力
は、トランジスタ24に入力されている。制御線
18は、トランジスタ27及びインバータ回路2
0に入力されており、インバータ回路20の出力
は、トランジスタ31に入力されている。データ
が入力されるデータ線21は、トランジスタ2
5,26及びインバータ回路22に入力されてお
り、インバータ回路22の出力は、トランジスタ
29と30に入力されている。
nチヤンネル型トランジスタであり、トランジス
タ24,25,30及び31はPチヤンネル型ト
ランジスタであり、インバータ回路19,20,
22は相補型トランジスタにより構成されてい
る。トランジスタ24及び31のゲートは、それ
ぞれ、インバータ回路19及び20の出力と接続
され、トランジスタ24及び31のソース側は
GND(グランド)に接続されている。トランジス
タ27及び28のゲートは、それぞれ制御線18
及び17の出力と接続され、トランジスタ27及
び28のソース側は+V(ハイレベル電圧)に接
続されている。これらトランジスタ24,27お
よび28,31の間には直列にトランジスタ2
5,26および29,30がれぞれ接続されてお
り、トランジスタ24及び27のドレイン側は、
トランジスタ25,26を介して半導体メモリセ
ルのデジツトライン7・1に接続され、トランジ
スタ28及び31のドレイン側はトランジスタ2
9,30を介してデジツトライン7′・1に接続
されている。制御線17及び18は、データ書き
込み、ビツトセツト、ビツトリセツト及びデータ
保持の4つの状態を指定する制御線であり、制御
線17はトランジスタ28及びインバータ回路1
9に入力されており、インバータ回路19の出力
は、トランジスタ24に入力されている。制御線
18は、トランジスタ27及びインバータ回路2
0に入力されており、インバータ回路20の出力
は、トランジスタ31に入力されている。データ
が入力されるデータ線21は、トランジスタ2
5,26及びインバータ回路22に入力されてお
り、インバータ回路22の出力は、トランジスタ
29と30に入力されている。
次に第4図の動作を説明する。今、アドレスラ
イン6・mが“1”であり、半導体メモリセル5
に対し、データの書き込み操作が可能な状態であ
つたとする。初めに半導体メモリセル5に対し、
データ線21に入力されたデータを書き込む場合
について説明する。この場合制御線17及び18
を“1”に指定する。データ線21にデータ
“1”が入力された場合には、トランジスタ26
と27のゲートが“1”となり、トランジスタ3
0,31のゲートが“0”となるので、トランジ
スタ26,27,30及び31が導通状態とな
り、デジツトライン7・1には+V(以下“1”
とする)が伝達され、デジツトライン7′・1に
は、GND(以下“0”とする)が伝達されるので
半導体メモリセル5には、“1”が記憶される。
又、データ線21にデータ“0”が入力された場
合には、トランジスタ24と25のゲートが
“0”となり、トランジスタ28と29のゲート
が“1”となるので、トランジスタ9,24,2
5,28,29が導通状態となるのでデジツトラ
イン7・1には、“0”が伝達され、デジツトラ
イン7′・1には“1”が伝達されるので、半導
体メモリセル5には“0”が記憶される。
イン6・mが“1”であり、半導体メモリセル5
に対し、データの書き込み操作が可能な状態であ
つたとする。初めに半導体メモリセル5に対し、
データ線21に入力されたデータを書き込む場合
について説明する。この場合制御線17及び18
を“1”に指定する。データ線21にデータ
“1”が入力された場合には、トランジスタ26
と27のゲートが“1”となり、トランジスタ3
0,31のゲートが“0”となるので、トランジ
スタ26,27,30及び31が導通状態とな
り、デジツトライン7・1には+V(以下“1”
とする)が伝達され、デジツトライン7′・1に
は、GND(以下“0”とする)が伝達されるので
半導体メモリセル5には、“1”が記憶される。
又、データ線21にデータ“0”が入力された場
合には、トランジスタ24と25のゲートが
“0”となり、トランジスタ28と29のゲート
が“1”となるので、トランジスタ9,24,2
5,28,29が導通状態となるのでデジツトラ
イン7・1には、“0”が伝達され、デジツトラ
イン7′・1には“1”が伝達されるので、半導
体メモリセル5には“0”が記憶される。
次に、半導体メモリセル5に対し、ビツトセツ
ト動作を実行する場合には、制御線17を“0”、
制御線18を“1”に指定する。データ線21
に、データ“1”が入力された場合、トランジス
タ26と27のゲートが“1”となり、トランジ
スタ30と31のゲートが“0”となるので、ト
ランジスタ26,27,30,31が導通状態と
なり、半導体メモリセル5には、“1”が記憶さ
れる。又、データ線にデータ“0”が入力された
場合には、トランジスタ26,30,28,24
が非導通状態となり、デジツトライン7・1及び
7′・1は開放状態となり、半導体メモリセル5
は以前のデータを保持する。したがつて、制御線
17を“0”、制御線18を“1”に指定した場
合、データ線に“1”が入力された時のみ選択さ
れた半導体メモリには“1”が記憶され、ビツト
セツト動作を実行することができる。
ト動作を実行する場合には、制御線17を“0”、
制御線18を“1”に指定する。データ線21
に、データ“1”が入力された場合、トランジス
タ26と27のゲートが“1”となり、トランジ
スタ30と31のゲートが“0”となるので、ト
ランジスタ26,27,30,31が導通状態と
なり、半導体メモリセル5には、“1”が記憶さ
れる。又、データ線にデータ“0”が入力された
場合には、トランジスタ26,30,28,24
が非導通状態となり、デジツトライン7・1及び
7′・1は開放状態となり、半導体メモリセル5
は以前のデータを保持する。したがつて、制御線
17を“0”、制御線18を“1”に指定した場
合、データ線に“1”が入力された時のみ選択さ
れた半導体メモリには“1”が記憶され、ビツト
セツト動作を実行することができる。
次に、半導体メモリセル5に対し、ビツトリセ
ツト動作を実行する場合には、制御線17を
“1”、制御線18を“0”に指定する。データ線
21に、データ“1”が入力された場合、トラン
ジスタ25,29,27,31はすべて非導通状
態となり、半導体メモリセル5は以前のデータを
保持する。又、データ線にデータ“0”が入力さ
れた場合には、トランジスタ25及び24が導通
状態となり、デジツトライン7・1には“0”が
伝達され、一方トランジスタ28,29が導通状
態となつてデジツトライン7′・1には“1”が
伝達されるので半導体メモリセル5には“0”が
記憶される。したがつて制御線17を“1”、制
御線18を“0”に指定した場合、データ線に
“0”が入力された時のみ選択された半導体メモ
リには“0”が記憶され、ビツトリセツト動作を
実行することができる。
ツト動作を実行する場合には、制御線17を
“1”、制御線18を“0”に指定する。データ線
21に、データ“1”が入力された場合、トラン
ジスタ25,29,27,31はすべて非導通状
態となり、半導体メモリセル5は以前のデータを
保持する。又、データ線にデータ“0”が入力さ
れた場合には、トランジスタ25及び24が導通
状態となり、デジツトライン7・1には“0”が
伝達され、一方トランジスタ28,29が導通状
態となつてデジツトライン7′・1には“1”が
伝達されるので半導体メモリセル5には“0”が
記憶される。したがつて制御線17を“1”、制
御線18を“0”に指定した場合、データ線に
“0”が入力された時のみ選択された半導体メモ
リには“0”が記憶され、ビツトリセツト動作を
実行することができる。
尚、半導体メモリに対し、データの書き込みを
実行しない時は、制御線17及び18を“0”に
設定しておけばよい。
実行しない時は、制御線17及び18を“0”に
設定しておけばよい。
第4図における本発明によるメモリ駆動回路2
3は、トランジスタ24〜31と、インバータ回
路19,20及び22と、制御線とデータ線によ
り構成されるが、特に、トランジスタ25,2
6,29,30は、半導体メモリのデジツトライ
ンを駆動するために、本来必要な回路であり本発
明は制御線17及び18により、トランジスタ2
4,27,28,31を制御するだけの簡単な回
路構成で、上記で説明したように半導体メモリに
対し、ビツト操作をも実行可能としている。
3は、トランジスタ24〜31と、インバータ回
路19,20及び22と、制御線とデータ線によ
り構成されるが、特に、トランジスタ25,2
6,29,30は、半導体メモリのデジツトライ
ンを駆動するために、本来必要な回路であり本発
明は制御線17及び18により、トランジスタ2
4,27,28,31を制御するだけの簡単な回
路構成で、上記で説明したように半導体メモリに
対し、ビツト操作をも実行可能としている。
又、ビツトセツト動作において、データ線のデ
ータが“1”の時のみ選択された半導体メモリに
は、“1”が記憶され、ビツトリセツト動作にお
いてはデータ線のデータが“0”の時のみ選択さ
れた半導体メモリには“0”が記憶されるので、
半導体メモリの内容と、データとの論理和演算あ
るいは論理積演算を実行した場合と同様の効果を
持ち、マイクロコンピユータなどにおいて半導体
メモリの内容と、データとの論理和演算あるいは
論理積演算機能として使用することも可能であ
る。
ータが“1”の時のみ選択された半導体メモリに
は、“1”が記憶され、ビツトリセツト動作にお
いてはデータ線のデータが“0”の時のみ選択さ
れた半導体メモリには“0”が記憶されるので、
半導体メモリの内容と、データとの論理和演算あ
るいは論理積演算を実行した場合と同様の効果を
持ち、マイクロコンピユータなどにおいて半導体
メモリの内容と、データとの論理和演算あるいは
論理積演算機能として使用することも可能であ
る。
以上のように、本発明によるメモリ駆動回路に
より、半導体メモリに対し、データ書き込み動作
あるいはビツトセツト動作あるいはビツトリセツ
ト動作を非常に簡単な回路を付加することによつ
て実行することができ、特にビツトセツト及びビ
ツトリセツト動作は、データ書き込み動作の処理
時間と等しい時間ですみ、半導体メモリ駆動回路
を使用することにより、半導体メモリに対する処
理時間を短縮でき、更に、半導体装置においてビ
ツト操作機能を有したことによるトランジスタ素
子数の増加を防止することができ、コストの安
い、すぐれた機能を持つ半導体装置を提供できる
など、その効果は非常に大である。
より、半導体メモリに対し、データ書き込み動作
あるいはビツトセツト動作あるいはビツトリセツ
ト動作を非常に簡単な回路を付加することによつ
て実行することができ、特にビツトセツト及びビ
ツトリセツト動作は、データ書き込み動作の処理
時間と等しい時間ですみ、半導体メモリ駆動回路
を使用することにより、半導体メモリに対する処
理時間を短縮でき、更に、半導体装置においてビ
ツト操作機能を有したことによるトランジスタ素
子数の増加を防止することができ、コストの安
い、すぐれた機能を持つ半導体装置を提供できる
など、その効果は非常に大である。
第1図は半導体メモリセルの構成例を示す図、
第2図は半導体メモリアレイを示す図、第3図は
本発明を用いた4ビツトメモリ操作構成を示す
図、第4図は本発明の実施例によるメモリ駆動回
路を示す図である。 17,18……制御線、19,20,22……
インバータ回路、21……データ線、24〜31
……トランジスタ、23……本発明によるメモリ
駆動回路。
第2図は半導体メモリアレイを示す図、第3図は
本発明を用いた4ビツトメモリ操作構成を示す
図、第4図は本発明の実施例によるメモリ駆動回
路を示す図である。 17,18……制御線、19,20,22……
インバータ回路、21……データ線、24〜31
……トランジスタ、23……本発明によるメモリ
駆動回路。
Claims (1)
- 1 メモリセルに接続され2本で1対をなす第1
および第2のデイジツト線と、第1のノードと第
1の電源電位との間に直列に接続された第1の導
電型の第1および第2のトランジスタと、前記第
1のノードと第2の電源電位との間に直列に接続
された第2の導電型の第3および第4のトランジ
スタと、前記第1のノードを前記第1のデイジツ
ト線に接続する第1の接続手段と、第2のノード
と前記第1の電源電位との間に直列に接続された
前記第1の導電型の第5および第6のトランジス
タと、前記第2のノードと前記第2の電源電位と
の間に直列に接続された第7および第8のトラン
ジスタと、前記第2のノードを前記第2のデイジ
ツト線に接続する第2の接続手段と、第1の制御
情報を供給する第1の制御情報供給手段と、前記
第1の制御情報の反転情報を供給する第2の制御
情報供給手段と、第2の制御情報を供給する第3
の制御情報供給手段と、前記第2の制御情報の反
転情報を供給する第4の制御情報供給手段と、入
力情報を供給する入力情報供給手段と、前記入力
情報の反転情報を供給する反転入力情報供給手段
と、前記第1の制御情報供給手段を前記第8のト
ランジスタのゲートに接続する手段と、前記第2
の制御情報供給手段を前記第1のトランジスタの
ゲートに接続する手段と、前記第3の制御情報供
給手段を前記第4のトランジスタのゲートに接続
する手段と、前記第4の制御情報供給手段を前記
第5のトランジスタのゲートに接続する手段と、
前記入力情報供給手段を前記第2および第3のト
ランジスタのゲートに接続する手段と、前記反転
入力情報供給手段を前記第6および第7のトラン
ジスタのゲートに接続する手段とを有することを
特徴とするメモリ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62068519A JPS6346690A (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | メモリ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62068519A JPS6346690A (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | メモリ回路 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP116880A Division JPS5698777A (en) | 1980-01-09 | 1980-01-09 | Memory driving circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6346690A JPS6346690A (ja) | 1988-02-27 |
| JPH0226320B2 true JPH0226320B2 (ja) | 1990-06-08 |
Family
ID=13376052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62068519A Granted JPS6346690A (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | メモリ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6346690A (ja) |
-
1987
- 1987-03-23 JP JP62068519A patent/JPS6346690A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6346690A (ja) | 1988-02-27 |
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