JPH02281660A - 縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタ - Google Patents

縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタ

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Publication number
JPH02281660A
JPH02281660A JP1102412A JP10241289A JPH02281660A JP H02281660 A JPH02281660 A JP H02281660A JP 1102412 A JP1102412 A JP 1102412A JP 10241289 A JP10241289 A JP 10241289A JP H02281660 A JPH02281660 A JP H02281660A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
conductivity type
insulated gate
drain
vertical insulated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1102412A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitomo Takahashi
美朝 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタに関
する。
〔従来の技術〕
第2図は従来の縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジス
タの一例の断面図である。
P+ドレイン領域8の上にN+ドレイン領域11、N−
ドレイン領域11を積層形成し、N−ドレイン領域11
にP+ベース領域2を形成し、この中にN+ソース領域
3を形成する。表面にゲート絶縁膜4を介してゲート電
極5を設け、眉間絶縁M6で覆った後、ソース電i7を
設ける。また裏面にドレイン電極10を設ける。
このトランジスタにおいて、N+ドレイン領域11は、
P+ドレイン領域8がらN−ドレイン領域1へ注入され
る少数キャリアの注入効率を低下させる作用をし、これ
によりターンオフ時間を短くするのである。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジス
タでは、ターンオフ時間は少数キャリアの注入効率を低
下させることで短くできるが少数キャリアの注入効率は
P+ドレイン領域8とN+ドレイン領域11の濃度比で
決まり、かつP+ドレイン領域8はドレイン電極10と
オーミック接触をしなければならないため不純物濃度に
制約があり、少数キャリアの注入効率を最適に選択する
ことは難しく、またP+ドレイン領域8とN+ドレイン
領域11は裏面に全面に形成されるため、選択的に少数
キャリアの注入効率を設計できず、少数キャリア電流の
集中しやすいチップ中央部では、発熱のため注入効率が
高くなり、さらに少数キャリア電流が増え、熱暴走しや
すい、ターンオフ時間が長くなるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、ドレイン領域となる一導電型半導体基板の表
面に選択的に形成された逆導電型ベース領域と、該ベー
ス領域内に形成された一導電型ソース領域と、前記ベー
ス領域とソース領域とで形成されるチャネル領域上にゲ
ート絶縁膜を介して設けられたゲート電極と、前記半導
体基板裏面に形成されたドレイン電極とを有する縦型絶
縁ゲート電導度変調型トランジスタにおいて、前記半導
体基板裏面に前記ドレイン電極とオーミック接触する逆
導電型領域と前記ドレイン電極とショットキー接触する
一導電型領域とを設けたことを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の断面図である。
N−ドレイン領域1の表面には選択的にP+ベース領域
2を形成する。このP+ベース領域2にN+ソース領域
3を選択的に形成する。チャネル領域21上にゲート絶
縁膜4を介してゲート電極5を形成する。ゲート電極5
を層間絶縁膜6で覆って絶縁し、ソース電極7を設ける
。裏面にはドレイン電極10とオーミック接触しN−ド
レイン領域1に少数キャリアを注入するP+ドレイン領
域8とドレイン電極10とショットキー接触するN領域
9を形成する。
このように、P+ドレイン領域8とN領域9を選択的に
形成すると、N−ドレイン領域1に注入される少数キャ
リアの注入効率はP+ドレイン領域8とN領域9の面積
比により決まり、N領域9の面積比が大きいほど少数キ
ャリアの注入効率は低下゛する。また、N−ドレイン領
域1がドレイン電極10とショットキー接触する場合は
、N領域9は形成する必要がない。
上記実施例はPチャネルの場合で説明したが、すべての
極性を逆にしても同様の効果を有するトランジスタが得
られることはもちろんである。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、ドレイン領域にドレイ
ン電極とショットキー接触するN領域を形成することに
よりターンオフ時間を短かくするための少数キャリアの
注入効率低下をN領域の面積比率で制御できるという効
果を有する。
また、N領域はチップ裏面の任意の場所に形成できるた
め電流集中を起こしやすいチップ中央部に形成するなど
して熱暴走を抑えるという効果も有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は従来の縦
型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタの一例の断面図
である。 1・・・N−ドレイン領域、2・・・P+ベース領域、
3・・・N+ソース領域、4・・・ゲート絶縁膜、5・
・・ゲート電極、6・・・層間絶縁膜、7・・・ソース
電極、8・・・P+ドレイン領域、9・・・N領域、1
o・・・ドレイン領域、11・・・N+ドレイン領域、
21・・・チャネル領域。 代理人 弁理士  内 原  晋

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ドレイン領域となる一導電型半導体基板の表面に選択的
    に形成された逆導電型ベース領域と、該ベース領域内に
    形成された一導電型ソース領域と、前記ベース領域とソ
    ース領域とで形成されるチャネル領域上にゲート絶縁膜
    を介して設けられたゲート電極と、前記半導体基板裏面
    に形成されたドレイン電極とを有する縦型絶縁ゲート電
    導度変調型トランジスタにおいて、前記半導体基板裏面
    に前記ドレイン電極とオーミック接触する逆導電型領域
    と前記ドレイン電極とショットキー接触する一導電型領
    域とを設けたことを特徴とする縦型絶縁ゲート電導度変
    調型トランジスタ。
JP1102412A 1989-04-21 1989-04-21 縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタ Pending JPH02281660A (ja)

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JP1102412A JPH02281660A (ja) 1989-04-21 1989-04-21 縦型絶縁ゲート電導度変調型トランジスタ

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JPH02281660A true JPH02281660A (ja) 1990-11-19

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ID=14326729

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JP (1) JPH02281660A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03155677A (ja) * 1989-08-19 1991-07-03 Fuji Electric Co Ltd 伝導度変調型mosfet
JPH04180680A (ja) * 1990-02-15 1992-06-26 Fuji Electric Co Ltd 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタおよびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03155677A (ja) * 1989-08-19 1991-07-03 Fuji Electric Co Ltd 伝導度変調型mosfet
JPH04180680A (ja) * 1990-02-15 1992-06-26 Fuji Electric Co Ltd 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタおよびその製造方法

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