JPH02294118A - リングカウンタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、リングカウンタの出力を制御することにより
デバイステストを容易にするリングカウンタに関するも
のである。

従来の技術 従来のリングカウンタは出力を制御することができなか
ったので、最初の出力をとらえるのにデバイステストで
は、出力の変化点を探すことによって測定していた。（
以下マッチと記す）以下従来のリングカウンタについて
説明する。

第２図は従来のリングカウンタの回路図を示すものであ
る。第２図において、９，１０はＤフリップ・７ロツブ
、１１はＤフリップ・フロップのクロック入力、１２．
１３はリングカウンタの出力である。

第２図は、２ビットの通常のリングカウンタとして動作
する。

発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記の従来の構成では、リングカウンタ
の出力を制御することができないので、出力テスト時に
マッチを取る必要があった。

本発明は上記従来の問題点を解決するもので、リングカ
ウンタの出力を制御することにより、デバイステストを
容易にすることを目的とする。

課題を解決するための手段 この目的を達成するために、本発明のリングカウンタは
、従来のリングカウンタに出力を制御する信号を加えた
回路構成を有している。

作用 この構成によって、リングカウンタの出力を制御するこ
とにより、デバイステストを容易にすることができる。

実施例 以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。

第１図は本発明の実施例リングカウンタの回路図を示す
ものである。第１図において１．２はＤフリップ・フロ
ップ、３はＮＡＮＤ回路、４は制御信号入力端子、５は
クロック、６はインバータ回路、７，８はリングカウン
タの出力端子である。

次に、その動作を説明する。

まず、入力端子４にローレベルの制御信号を入力すると
７リップフロップ１の入力がローレベルになり、同フリ
ップフロツブ１の出力がローレベルになる。

一方、これにより、フリップフロップ２の入力もローレ
ベルになり、同フリップフロップ２の出力がローレベル
になる。よって、クロツクが入力されるとリングカウン
タの出力が固定され、リングカウンタとしては動作しな
いようになる。しかしながら、入力端子４にハイレベル
の制御信号を入れると、ＮＡＮＤゲート３とインバータ
６がない状態と等しくなり、その時からリングカウンタ
として動作を始める。

発明の効果 以上のように、本発明によれば、リングカウンタの出力
を制御する信号を設けることにより、リングカウンタの
出力を制御することができるので、デバイステストを行
なう時に、従来のようにマッチを取ることをしないで、
容易にテストをできる優れたリングカウンタを実現でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例リングカウンタの回路図、第２
図は従来の半導体装置の回路図である。 １・・・・・・フリップ・プロップ、２・・・・・・フ
リップ・フロツプ、３・・・・・・ＮＡＮＤゲート、４
・・・・・・制御信号入力端子、６・・・・・・インバ
ータ、７・・・・・・リングカウンターの出力端子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. リングカウンタのフィードバック系に制御信号を入れる
   入力端子をそなえたリングカウンタ。