JPS6236573A - 論理回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 通常動作用のクロック信号として他の集積回路の出力信
号を受信する集積回路の、クロック信号の受信経路にゲ
ートを設け、走査試験用のクロック信号を入力の際、ゲ
ートを遮断することにより、走査試験を確実に実施可能
とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は集積回路におけるクロック信号入力方式の改良
に関する。

例えばフリップフロップ回路を構成する半導体集積回路
においては、通常の論理動作を行う為のクロック信号お
よびデータ信号を受信する端子の他に、縦続接続した同
類の半導体集積回路間に試験用のデータを循環させる、
所謂走査試験用のクロック信号およびデータ信号を受信
する端子を具備している。通常動作用のクロック信号お
よびデータ信号と、走査試験用のクロック信号およびデ
ータ信号とは、同時に何れか一方のみしか入力すること
は出来ない。

なお集積回路の中には、通常動作用のクロック信号とし
て、他の集積回路の出力信号を入力されるものもある。

この種の集積回路においても、前記走査試験が確実に実
行されることが望まれる。

〔従来の技術〕

第３図は従来あるクロック信号入力方式の一例を示す図
である。

第３図において、３個のフリップフロップ１．２および
３が相互接続されている。

各フリップフロップ１乃至３は、それぞれ通常動作用の
クロック信号ｃｋおよびデータ信号ｄを受信するクロッ
ク端子ＣＫおよびデータ端子りと、走査試験用の走査ク
ロック信号ｓｃｋおよび走査データ信号ｓｄを受信する
走査クロック端子ＳＣＫおよび走査データ端子ＳＤと、
出力信号ｑを送出する出力端子Ｑとを具備している。各
フリップフロップ１乃至３共、クロック端子ＣＫおよび
データ端子りにそれぞれクロック信号ｃｋおよびデータ
信号ｄが入力される場合には、走査クロック端子ＳＣＫ
および走査データ端子ＳＤに走査クロック信号ｓｃｋお
よび走査データ信号ｓｄの入力を禁止し、また走査クロ
ック端子ＳＣＫおよび走査データ端子ＳＤに走査クロッ
ク信号ｓｃｋおよび走査データ信号ｓｄが入力される場
合には、クロック端子ＣＫおよびデータ端子りにそれぞ
れクロック信号ｃｋおよびデータ信号ｄの入力を禁止す
る配慮が必要となる。

なおフリップフロップ３のクロック端子ＧＫには、フリ
ップフロップ１の出力端子Ｑから送出される出力信号ｑ
が、クロック信号ｃｋとして入力される。

またフリップフロップ２および３の走査データ端子ＳＤ
には、それぞれフリップフロップ１および２の出力端子
Ｑから出力される出力信号ｑが入力される。

フリップフロップ１乃至３に走査試験を行う場合には、
フリップフロップ１の走査データ端子ＳＤに走査データ
信号ｓｄを入力し、各フリップフロップ１乃至３の走査
クロック端子ＳＣＫに走査クロック信号ｓｃｋを入力す
る。その結果フリップフロップＩの走査データ端子ＳＤ
に入力された走査データ信号ｓｄが、走査クロック信号
ｓｃｋに同期して順次フリップフロップ２および３に転
送される。

然し走査試験中も、フリップフロップ３のクロ・ツク端
子ＧＫには、フリップフロップ１から出力される出力信
号ｑがクロック信号ｃｋとして入力される為、フリップ
フロップ３に対しては、走査試験が不可能となる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

以上の説明から明らかな如く、従来あるクロック信号入
力方式においては、フリップフロップ３が走査試験中も
フリップフロップ１の出力信号ｑをクロック端子ＧＫに
受信する為、走査試験が実施不可能となる問題があった
。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理を示す図である。

第１図においては、通常動作用のクロック信号ｃｋとし
て他の集積回路１０の出力信号ｑを受信し、且つ走査試
験用のクロック信号ｓｃｋを受信する集積回路２０にお
いて、クロック信号ｃｋの受信経路にゲート３０を設け
、走査試験用のクロック信号ｓｃｋを他の集積回路１０
と共に人力の際、ゲート３０を遮断状態に設定する。

〔作用〕

即ち本発明によれば、集積回路に走査試験用のクロック
信号が入力される場合には、他の集積回路の出力信号が
クロック信号として入力され無くなり、走査試験動作が
確実に実施可能となる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面により説明する。

第２図は本発明の一実施例によるクロック信号入力方式
を示す図である。なお、全図を通じて同一符号は同一対
象物を示す。

第２図においては、フリップフロップ１の出力端子Ｑと
、フリップフロップ３のクロック端子ＣＫとの間には、
ゲート４が設けられている。ゲート４の一方の入力端子
Ａには、フリップフロンプｌの出力端子Ｑから送出され
る出力信号ｑが入力され、他方の入力端子Ｂには、試験
用クロック信号ｔｃｋが入力される。

通常動作中は、試験用クロック信号ｔｃｋは論理“０”
に設定される。その結果ゲート４の入力端子Ａに入力さ
れるフリップフロップ１の出力信号ｑは、その侭出力端
子Ｃに出力され、フリップフロップ３のクロック端子Ｃ
Ｋに伝達される。

その結果フリップフロップ３は、第３図におけると同様
に通常動作を行う。

次に走査試験を行う場合には、試験用クロック信号ｔＣ
ｋを論理“１”に設定する。その結果ゲート４の出力端
子Ｃからフリップフロップ３のクロック端子ＣＫに伝達
されるクロック信号ｃｋも、フリップフロップ１の出力
信号ｑの論理値に拘らず論理“１”に設定される。

かかる状態でフリップフロップ１の走査データ端子ＳＤ
に走査データ信号ｓｄを入力し、各フリップフロップｌ
乃至３に走査クロック信号ｓｃｋを入力すると、走査デ
ータ信号ｓｄは走査クロック信号ｓｃｋに同期してフリ
ップフロップ１乃至３を順次転送される。

その間ツリツブフロップ１の出力端子Ｑから出力される
出力信号ｑは、フリップフロ・７プ３のクロック端子Ｃ
Ｋに入力されることは無く、フリップフロップ３は確実
に走査試験動作を実施する。

一方通常動作および走査試験動作を行わぬ場合に、ゲー
ト４の入力端子Ｂに所要周期の試験用クロック信号ｔｃ
ｋを入力すると、フリップフロップ３のクロック端子Ｃ
Ｋには試験用クロック信号ｔｃｋがゲート４を介して入
力され、フリップフロップ３を試験的に動作させる。

以上の説明から明らかな如く、本実施例によれば、フリ
ップフロップ１の出力端子Ｑと、フリップフロップ３の
クロック端子ＣＫとの間にゲート４を挿入し、試験用ク
ロック信号ｔｃｋにより導通および遮断を制御すること
により、通常動作および走査試験動作が確実に実施可能
となる。また試験用クロック信号ｔｃｋによりフリップ
フロップ３単独を試験動作させることも可能となる。

なお、第２図はあく迄本発明の一実施例に過ぎず、例え
ば集積回路はフリップフロップに限定されることは無く
、他に幾多の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発
明の効果は変わらない。

〔発明の効果〕

以上、本発明によれば、集積回路に走査試験用のクロッ
ク信号が入力される場合には、他の集積回路の出力信号
がクロック信号として入力され無くなり、走査試験動作
が確実に実施可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示す図、第２図は本発明の一実
施例によるクロック信号入力方式を示す図、第３図は従
来あるクロック信号入力方式の一例を示す図である。 図において、■乃至３はフリップフロップ、４および３
０はゲート、工０および２ｏは集積回路、ｃｋはクロッ
ク信号、ｄはデータ信号、ｑは出力信号、ｓｃｋは走査
クロック信号、ｓｄは走査データ信号、ｔｃｋは試験用
クロック信号、を示す。 、！企明、凧贋図 ヒ１５　　丁　Ｌ戸］ 東雁ｅ目１−Ω勺口、ノ゛フイ言号Ｘｆ１ちべη　２　
図 （来）５　ワ　ロ４．″フイ名さ−”ｘ−ｉ−’２　デ
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Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 通常動作用のクロック信号（ｃｋ）として他の集積回路
   （１０）の出力信号（ｑ）を受信し、且つ走査試験用の
   クロック信号（ｓｃｋ）を受信する集積回路（２０）に
   おいて、 前記クロック信号（ｃｋ）の受信経路にゲート（３０）
   を設け、 前記走査試験用のクロック信号（ｓｃｋ）を前記他の集
   積回路（１０）と共に入力の際、前記ゲート（３０）を
   遮断状態に設定することを特徴とするクロック信号入力
   方式。