JPH0229614B2 - - Google Patents
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- JPH0229614B2 JPH0229614B2 JP55134436A JP13443680A JPH0229614B2 JP H0229614 B2 JPH0229614 B2 JP H0229614B2 JP 55134436 A JP55134436 A JP 55134436A JP 13443680 A JP13443680 A JP 13443680A JP H0229614 B2 JPH0229614 B2 JP H0229614B2
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/15—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on an electrochromic effect
- G02F1/1514—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on an electrochromic effect characterised by the electrochromic material, e.g. by the electrodeposited material
- G02F1/1523—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on an electrochromic effect characterised by the electrochromic material, e.g. by the electrodeposited material comprising inorganic material
- G02F1/1525—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on an electrochromic effect characterised by the electrochromic material, e.g. by the electrodeposited material comprising inorganic material characterised by a particular ion transporting layer, e.g. electrolyte
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C3/00—Glass compositions
- C03C3/04—Glass compositions containing silica
- C03C3/076—Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
- C03C3/097—Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing phosphorus, niobium or tantalum
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C4/00—Compositions for glass with special properties
- C03C4/18—Compositions for glass with special properties for ion-sensitive glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M6/00—Primary cells; Manufacture thereof
- H01M6/14—Cells with non-aqueous electrolyte
- H01M6/18—Cells with non-aqueous electrolyte with solid electrolyte
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M6/00—Primary cells; Manufacture thereof
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- H01M6/18—Cells with non-aqueous electrolyte with solid electrolyte
- H01M6/185—Cells with non-aqueous electrolyte with solid electrolyte with oxides, hydroxides or oxysalts as solid electrolytes
-
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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- Secondary Cells (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Primary Cells (AREA)
Description
本発明は、酸化リチウム系非晶質体及びその製
造方法に関する。 近年、リチウムイオン伝導性固体に対する関心
が高まりつつある。とくに、リチウムイオン伝導
体は、リチウム電池の固体電解質として、また、
エレクトロクロミツクデイスプレーの電解質とし
て、その実用化が進みつつある。前者は、電子機
器の小型化、薄型化に伴い、電池の薄型化への要
望が強まつてきたため、近年急速にその用途が開
けつつあるものである。後者は、上記固体電解質
を用い、エレクトロクロミツクデイスプレー素子
を全固体化しその素子特性の安定化を図ろうとす
るものである。これら両者に共通に言えることは
イオン伝導度が高く、かつ、通常の雰囲気で安定
な固体電解質を開発することである。現状では、
固体電解質のイオン伝導に伴う抵抗が大きいた
め、未だ上記デバイスの実用化が達成されていな
い。 上記デバイスのイオン伝導度を高める方法とし
て、固体電解質を薄型化し、幾何学的に抵抗を下
げる方法が考えられる。しかし、従来のセラミツ
ク技術では、膜厚10μｍ以下の薄膜を作成するこ
とは困難である。また、従来の製膜技術である
CVD法、スパツタリング法を用いても、イオン
伝導度の大きい薄膜は得られていなかつた。この
原因は、酸化物系固体電解質の合成温度が高いこ
と、薄膜形成中にアルカリ金属酸化物が蒸発など
によつて失われるため、組成制御が困難であるこ
となどである。 本発明の目的は、イオン伝導性の優れた酸化リ
チウム系非晶質体及びその製造方法を提供するこ
とにある。 本発明の他の目的は、酸化リチウム系非晶質薄
膜及びその製造方法を提供することにある。 本発明の非晶質体は、第１図のLi2O・SiO2・
P2O5三元系組成図にABCDで示した点を結ぶ線
内の領域の組成を有することを特徴とする三元固
溶体である。 この範囲は、（2.5−ｘ／２）〜（１−ｘ／２）Li2O
・ （１−ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5なる範囲である。 これらの固溶体が非晶質であることは、後述す
る実施例で得られた各薄膜の電子線回折及びＸ線
回折の結果から確かめられた。 これらの薄膜は、優れたイオン伝導性を示す。
イオン伝導性の点から本発明の非晶質体は、第１
図にEFGHで示した点を結ぶ線内の領域の組成を
有することがより好ましく、EIJHで示した点を
結ぶ線内の領域の組成を有することがもつとも好
ましい。EIJHで示した点を結ぶ線内の領域の範
囲は、（2.5−ｘ／２）〜３／２（１−ｘ／２）Li2O・
（１− ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5、0.10≦ｘ≦0.80なる範囲で ある。 これらの非晶質体は、 (1) 一般式（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4（ただし
ｘは、0.05ｘ0.95の範囲の値である）なる
リチウムシリケート・リチウムホスフエート組
成物又はスパツタリングによつて該リチウムシ
リケート・リチウムホスフエート組成物を形成
し得る混合物及び (2) スパツタリングによつてLi2Oを形成するリ
チウム化合物、例えばLi2O、の混合物をター
ゲツトとしてスパツタリング法によつて製造す
ることができる。 上記一般式（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4は、
（２−ｘ／２）Li2O・（１−ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5と書 きなおすことができ、第１図の三元系組成図にお
いて、点線ｈの上の組成となる。もし、Li2Oな
どを混合することなく、上記リチウムシリケー
ト・リチウムホスフエート組成物のみをターゲツ
トとしてスパツタリングを行なうと、得られた固
溶体は、原料の組成からLi2Oが失われた組成と
なる。すなわち、（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4−
nLi2Oと表わされる組成となる。ところが、本発
明の如く上記材料にLi2Oなどを混合してスパツ
タリングすることにより、上記一般式；（１−ｘ）
Li4SiO4・xLi3PO4の組成に近い組成の生成物が
得られる。さらに混合するLi2Oなどの量を増加
させることにより、上記一般式の組成により近い
組成のもの、または上記一般式の組成より、さら
にLi2Oが増加した組成の生成物が得られる。 より詳しく説明すると、原料のリチウムシリケ
ート・リチウムホスフエートの比を定める、すな
わちｘの値を定めると、当然第１図の組成図にお
ける相当する位置が決まる。つまりその組成が点
線ｈ上のいかなる点に相当するか定まる。仮りに
ｘを0.40とすれば、これは第１図における点線ｈ
と点線ｃとの交点の組成に相当する。この組成の
組成物をターゲツトとしてスパツタリングすると
前述の通り得られた生成物は、上記原料の組成か
らLi2Oが失われた組成のもの、すなわち、第１
図の点線ｃ又はその延長上であつて、上記点線ｈ
との交点より下方のLi2O＝０の線に近づいた点
の組成となる。上記組成物とLi2Oを混合してタ
ーゲツトとすると、Li2Oの比率を増加するに従
つて生成物は、点線ｃ又はその延長上であつて、
より上方（Li2O側）の組成をとる。 例えば、Li2Oを１モル（組成物１モルに対し
て、以下同じ）混合したとき、得られた生成物の
組成は、点７の組成となる。混合するLi2Oの量
を２、３、４、５、７モルにそれぞれ増加する
と、得られた生成物の組成は、点線ｃ上の点３、
８、９、10、11の組成となる。 混合するLi2Oの量をさらに増加すると、さら
にLi2Oの比率の多いもの、例えば、第１図の点
ADを結んだ線より上方（Li2O側）の組成のもの
が得られる。しかし、このような組成のものは、
イオン伝導性の点から好ましくない。それ故混合
するLi2Oの量は、８モル以下でスパツタリング
することが好ましい。 また逆にLi2Oの量が少ない組成のもの、例え
ば第１図においてBCの線に達しないもの（BCの
線より図の下方に位置するもの）もまたイオン伝
導性がよくない。それ故、整造に際し混合する
Li2Oの量は、1.5モル以上とすることが好ましく、
1.8モル以上とすることがより好ましい。 ターゲツトとして用いるリチウムシリケート・
リチウムホスフエート組成物は、原料を混合、焼
成し、固相反応させて、リチウムシリケート・リ
チウムホスフエート固溶体として用いる方が好ま
しい。これは、容易に得られる生成物のP2O5と
SiO2の比が一定となるので、例えば前述の説明
における第１図の点線ｃ又はその延長上の組成の
ものとなるので、混合するLi2Oの量のみを決定
すれば簡単に望む組成の固溶体が得られるからで
ある。固溶体として用いないと生成物の組成が点
線ｃの上からずれる場合がある。第１図における
点線ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ及びｇは、それぞれ
ｘを0.05、0.20、0.40、0.50、0.60、0.80及び0.95
とした場合の生成物の組成を示す。なお、ｘが
0.05未満のもの、0.95を越えるものはイオン伝導
性の点から好ましくない。 すでに述べた通り、スパツタリングによつて
Li2Oを形成するリチウム化合物は、Li2Oと同じ
ように用いることができる。しかしながら、リチ
ウム、酸素以外の元素として、生成物と反応する
元素、例えばハロゲン元素などを有する化合物
は、好ましくない。それ故Li2O、Li2CO3及び
LiOHからなる群から選ばれた少なくとも一種の
化合物を用いることが好ましい。 これらのリチウム化合物は、リチウム原子とし
て組成物１モルに対して３モル〜16モルの範囲、
すなわちLi2O化合物として1.5〜８モルの範囲の
量を用いることが好ましい。 リチウムシリケート・リチウムホスフエート組
成物と上記リチウム化合物との混合物は、単に両
者を混合した粉末のまま用いることも、またさら
に成形、焼結したものを用いることもできる。 以下実施例を用いて本発明をさらに説明する。 実施例 １〜６ SiO2、Li2CO3、Li3PO4の各原料紛末を、（１−
ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4なる式でｘ＝0.05に相当
するLi、Si、Ｐの比となるよう秤量、混合し、
1000℃、３時間反応させて、上記の式の組成物を
得た。 同様に各原料を（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4
なる式においてｘ＝0.2、0.4、0.5、0.6、0.95に対
応する量となる様秤量、混合し、1000℃、３時間
反応させて、ｘが上記の値の各組成物を得た。 上記６組成物それぞれ１モルに対しLi2CO3を
２モルの比で加え、混合し、1100℃で再度焼成す
る。本焼成物をターゲツトとし、スパツタアツプ
方式としてそれぞれ薄膜形成を行なつた。基板温
度の上昇を防ぐため、基板を水冷しながら、真空
度：２×10-2mmHg、放電ガス（Ar／O2＝60／
40）、プレート電圧2kV、膜形成速度：0.5μｍ／
ｈのスパツタリング条件で石英ガラス基板上に膜
厚約2μｍの薄膜を形成した。これらの薄膜、す
なわちｘ＝0.05、0.2、0.4、0.5、0.6、0.95の組成
のものをターゲツトにして得た薄膜は、化学分析
の結果、第１図に点１、２、３、４、５、６対応
する組成のものである。例えば、点２は
0.56Li2O・0.39SiO2・0.05P2O5なる組成である。 これらの薄膜のブロツキング電極を用いて交流
法で測定したイオン伝導度（室温）を表１に、そ
の温度変化を第２図に示した。図中の1′、2′、3′、
4′、5′、6′は、それぞれ第１図に１、２、３、４、
５、６で示した点の組成の線図であることを示
す。 本発明の薄膜は、非晶質にもかかわらず、通常
のプロセスで作成したセラミツク（焼結体）と比
べ、１桁程度高いイオン伝導性を示している。
造方法に関する。 近年、リチウムイオン伝導性固体に対する関心
が高まりつつある。とくに、リチウムイオン伝導
体は、リチウム電池の固体電解質として、また、
エレクトロクロミツクデイスプレーの電解質とし
て、その実用化が進みつつある。前者は、電子機
器の小型化、薄型化に伴い、電池の薄型化への要
望が強まつてきたため、近年急速にその用途が開
けつつあるものである。後者は、上記固体電解質
を用い、エレクトロクロミツクデイスプレー素子
を全固体化しその素子特性の安定化を図ろうとす
るものである。これら両者に共通に言えることは
イオン伝導度が高く、かつ、通常の雰囲気で安定
な固体電解質を開発することである。現状では、
固体電解質のイオン伝導に伴う抵抗が大きいた
め、未だ上記デバイスの実用化が達成されていな
い。 上記デバイスのイオン伝導度を高める方法とし
て、固体電解質を薄型化し、幾何学的に抵抗を下
げる方法が考えられる。しかし、従来のセラミツ
ク技術では、膜厚10μｍ以下の薄膜を作成するこ
とは困難である。また、従来の製膜技術である
CVD法、スパツタリング法を用いても、イオン
伝導度の大きい薄膜は得られていなかつた。この
原因は、酸化物系固体電解質の合成温度が高いこ
と、薄膜形成中にアルカリ金属酸化物が蒸発など
によつて失われるため、組成制御が困難であるこ
となどである。 本発明の目的は、イオン伝導性の優れた酸化リ
チウム系非晶質体及びその製造方法を提供するこ
とにある。 本発明の他の目的は、酸化リチウム系非晶質薄
膜及びその製造方法を提供することにある。 本発明の非晶質体は、第１図のLi2O・SiO2・
P2O5三元系組成図にABCDで示した点を結ぶ線
内の領域の組成を有することを特徴とする三元固
溶体である。 この範囲は、（2.5−ｘ／２）〜（１−ｘ／２）Li2O
・ （１−ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5なる範囲である。 これらの固溶体が非晶質であることは、後述す
る実施例で得られた各薄膜の電子線回折及びＸ線
回折の結果から確かめられた。 これらの薄膜は、優れたイオン伝導性を示す。
イオン伝導性の点から本発明の非晶質体は、第１
図にEFGHで示した点を結ぶ線内の領域の組成を
有することがより好ましく、EIJHで示した点を
結ぶ線内の領域の組成を有することがもつとも好
ましい。EIJHで示した点を結ぶ線内の領域の範
囲は、（2.5−ｘ／２）〜３／２（１−ｘ／２）Li2O・
（１− ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5、0.10≦ｘ≦0.80なる範囲で ある。 これらの非晶質体は、 (1) 一般式（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4（ただし
ｘは、0.05ｘ0.95の範囲の値である）なる
リチウムシリケート・リチウムホスフエート組
成物又はスパツタリングによつて該リチウムシ
リケート・リチウムホスフエート組成物を形成
し得る混合物及び (2) スパツタリングによつてLi2Oを形成するリ
チウム化合物、例えばLi2O、の混合物をター
ゲツトとしてスパツタリング法によつて製造す
ることができる。 上記一般式（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4は、
（２−ｘ／２）Li2O・（１−ｘ）SiO2・ｘ／２P2O5と書 きなおすことができ、第１図の三元系組成図にお
いて、点線ｈの上の組成となる。もし、Li2Oな
どを混合することなく、上記リチウムシリケー
ト・リチウムホスフエート組成物のみをターゲツ
トとしてスパツタリングを行なうと、得られた固
溶体は、原料の組成からLi2Oが失われた組成と
なる。すなわち、（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4−
nLi2Oと表わされる組成となる。ところが、本発
明の如く上記材料にLi2Oなどを混合してスパツ
タリングすることにより、上記一般式；（１−ｘ）
Li4SiO4・xLi3PO4の組成に近い組成の生成物が
得られる。さらに混合するLi2Oなどの量を増加
させることにより、上記一般式の組成により近い
組成のもの、または上記一般式の組成より、さら
にLi2Oが増加した組成の生成物が得られる。 より詳しく説明すると、原料のリチウムシリケ
ート・リチウムホスフエートの比を定める、すな
わちｘの値を定めると、当然第１図の組成図にお
ける相当する位置が決まる。つまりその組成が点
線ｈ上のいかなる点に相当するか定まる。仮りに
ｘを0.40とすれば、これは第１図における点線ｈ
と点線ｃとの交点の組成に相当する。この組成の
組成物をターゲツトとしてスパツタリングすると
前述の通り得られた生成物は、上記原料の組成か
らLi2Oが失われた組成のもの、すなわち、第１
図の点線ｃ又はその延長上であつて、上記点線ｈ
との交点より下方のLi2O＝０の線に近づいた点
の組成となる。上記組成物とLi2Oを混合してタ
ーゲツトとすると、Li2Oの比率を増加するに従
つて生成物は、点線ｃ又はその延長上であつて、
より上方（Li2O側）の組成をとる。 例えば、Li2Oを１モル（組成物１モルに対し
て、以下同じ）混合したとき、得られた生成物の
組成は、点７の組成となる。混合するLi2Oの量
を２、３、４、５、７モルにそれぞれ増加する
と、得られた生成物の組成は、点線ｃ上の点３、
８、９、10、11の組成となる。 混合するLi2Oの量をさらに増加すると、さら
にLi2Oの比率の多いもの、例えば、第１図の点
ADを結んだ線より上方（Li2O側）の組成のもの
が得られる。しかし、このような組成のものは、
イオン伝導性の点から好ましくない。それ故混合
するLi2Oの量は、８モル以下でスパツタリング
することが好ましい。 また逆にLi2Oの量が少ない組成のもの、例え
ば第１図においてBCの線に達しないもの（BCの
線より図の下方に位置するもの）もまたイオン伝
導性がよくない。それ故、整造に際し混合する
Li2Oの量は、1.5モル以上とすることが好ましく、
1.8モル以上とすることがより好ましい。 ターゲツトとして用いるリチウムシリケート・
リチウムホスフエート組成物は、原料を混合、焼
成し、固相反応させて、リチウムシリケート・リ
チウムホスフエート固溶体として用いる方が好ま
しい。これは、容易に得られる生成物のP2O5と
SiO2の比が一定となるので、例えば前述の説明
における第１図の点線ｃ又はその延長上の組成の
ものとなるので、混合するLi2Oの量のみを決定
すれば簡単に望む組成の固溶体が得られるからで
ある。固溶体として用いないと生成物の組成が点
線ｃの上からずれる場合がある。第１図における
点線ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ及びｇは、それぞれ
ｘを0.05、0.20、0.40、0.50、0.60、0.80及び0.95
とした場合の生成物の組成を示す。なお、ｘが
0.05未満のもの、0.95を越えるものはイオン伝導
性の点から好ましくない。 すでに述べた通り、スパツタリングによつて
Li2Oを形成するリチウム化合物は、Li2Oと同じ
ように用いることができる。しかしながら、リチ
ウム、酸素以外の元素として、生成物と反応する
元素、例えばハロゲン元素などを有する化合物
は、好ましくない。それ故Li2O、Li2CO3及び
LiOHからなる群から選ばれた少なくとも一種の
化合物を用いることが好ましい。 これらのリチウム化合物は、リチウム原子とし
て組成物１モルに対して３モル〜16モルの範囲、
すなわちLi2O化合物として1.5〜８モルの範囲の
量を用いることが好ましい。 リチウムシリケート・リチウムホスフエート組
成物と上記リチウム化合物との混合物は、単に両
者を混合した粉末のまま用いることも、またさら
に成形、焼結したものを用いることもできる。 以下実施例を用いて本発明をさらに説明する。 実施例 １〜６ SiO2、Li2CO3、Li3PO4の各原料紛末を、（１−
ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4なる式でｘ＝0.05に相当
するLi、Si、Ｐの比となるよう秤量、混合し、
1000℃、３時間反応させて、上記の式の組成物を
得た。 同様に各原料を（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4
なる式においてｘ＝0.2、0.4、0.5、0.6、0.95に対
応する量となる様秤量、混合し、1000℃、３時間
反応させて、ｘが上記の値の各組成物を得た。 上記６組成物それぞれ１モルに対しLi2CO3を
２モルの比で加え、混合し、1100℃で再度焼成す
る。本焼成物をターゲツトとし、スパツタアツプ
方式としてそれぞれ薄膜形成を行なつた。基板温
度の上昇を防ぐため、基板を水冷しながら、真空
度：２×10-2mmHg、放電ガス（Ar／O2＝60／
40）、プレート電圧2kV、膜形成速度：0.5μｍ／
ｈのスパツタリング条件で石英ガラス基板上に膜
厚約2μｍの薄膜を形成した。これらの薄膜、す
なわちｘ＝0.05、0.2、0.4、0.5、0.6、0.95の組成
のものをターゲツトにして得た薄膜は、化学分析
の結果、第１図に点１、２、３、４、５、６対応
する組成のものである。例えば、点２は
0.56Li2O・0.39SiO2・0.05P2O5なる組成である。 これらの薄膜のブロツキング電極を用いて交流
法で測定したイオン伝導度（室温）を表１に、そ
の温度変化を第２図に示した。図中の1′、2′、3′、
4′、5′、6′は、それぞれ第１図に１、２、３、４、
５、６で示した点の組成の線図であることを示
す。 本発明の薄膜は、非晶質にもかかわらず、通常
のプロセスで作成したセラミツク（焼結体）と比
べ、１桁程度高いイオン伝導性を示している。
【表】
実施例 ７〜11
実施例１〜６と同様な方法により、ｘ＝0.4す
なわち0.6Li4SiO4・0.4Li3PO4なる組成の組成物
を作成した。 この組成物１モルに対し、それぞれ表２に示す
量Li2Oを加え、実施例１〜６と同様にターゲツ
トとして薄膜を形成した。それぞれの薄膜の組
成、すなわち第１図において相当する組成の位置
に付した番号を同じく表２に、また実施例１〜６
と同様な方法で測定したイオン伝導度（室温）と
その温度変化を表２と第３図とに示す。第３図に
おいて7′、8′、9′、10′、11′は、それぞれ実施例
７、８、９、10、11の薄膜の特性を示すもの、ま
た3′は、比較のため第２図の3′を示したものであ
る。
なわち0.6Li4SiO4・0.4Li3PO4なる組成の組成物
を作成した。 この組成物１モルに対し、それぞれ表２に示す
量Li2Oを加え、実施例１〜６と同様にターゲツ
トとして薄膜を形成した。それぞれの薄膜の組
成、すなわち第１図において相当する組成の位置
に付した番号を同じく表２に、また実施例１〜６
と同様な方法で測定したイオン伝導度（室温）と
その温度変化を表２と第３図とに示す。第３図に
おいて7′、8′、9′、10′、11′は、それぞれ実施例
７、８、９、10、11の薄膜の特性を示すもの、ま
た3′は、比較のため第２図の3′を示したものであ
る。
【表】
実施例 12〜19
実施例２、４、５と同じ各リチウムシリケー
ト・リチウムホスフエート組成物及び原料の比率
を変えたｘ＝0.8に相当する組成物をそれぞれ合
成し、これらとLi2Oの量とをその比を種々変更
して混合し、以下実施例１〜６と同様な方法で、
第１図に番号12〜19に示す組成の薄膜をそれぞれ
得た。なお、図における番号と実施例の番号は、
それぞれ対応する。すなわち実施例12は、
0.69Li2O・0.28SiO2・0.03P2O5、実施例15は、
0.74Li2O・0.09SiO2・0.17P2O5、実施例16は、
0.59Li2O・0.14SiO2・0.27P2O5、実施例18は、
0.78Li2O、0.07SiO2・0.15P2O5なる組成である。 これらの薄膜イオン伝導度（室温）を表３に示
す。
ト・リチウムホスフエート組成物及び原料の比率
を変えたｘ＝0.8に相当する組成物をそれぞれ合
成し、これらとLi2Oの量とをその比を種々変更
して混合し、以下実施例１〜６と同様な方法で、
第１図に番号12〜19に示す組成の薄膜をそれぞれ
得た。なお、図における番号と実施例の番号は、
それぞれ対応する。すなわち実施例12は、
0.69Li2O・0.28SiO2・0.03P2O5、実施例15は、
0.74Li2O・0.09SiO2・0.17P2O5、実施例16は、
0.59Li2O・0.14SiO2・0.27P2O5、実施例18は、
0.78Li2O、0.07SiO2・0.15P2O5なる組成である。 これらの薄膜イオン伝導度（室温）を表３に示
す。
【表】
実施例 20
実施例10で用いた0.6Li4SiO4・0.4Li3PO4＋
6Li2Oの混合物をターゲツトとし、基板ホルダー
を液体窒素で冷却し、スパツタ中の基板温度を−
20℃以下に保つた。得られた薄膜の組成は実施例
10と同じであつたが、イオン伝導度は、第３図に
20′として示すように水冷して得られた実施例10
のそれ（10′）より優れている。 以上説明したごとく本発明によると、5μｍ以
下の薄膜においても、イオン伝導度の著しく高い
薄膜が得られる。バルク材料に比べ、薄膜は厚み
が３桁程小さいため、イオン伝導にともなうデバ
イスの抵抗は３桁小さくなる。これは、固体電解
質を各種デバイスに適用する場合、著しい効果が
期待できるものである。なお、本薄膜は、非晶質
であるが、晶質体と同程度のイオン伝導度を有し
ているため、スパツタ後、熱処理し結晶化させる
必要がなく、各種電子デバイス材料として非常に
有望と考えられる。
6Li2Oの混合物をターゲツトとし、基板ホルダー
を液体窒素で冷却し、スパツタ中の基板温度を−
20℃以下に保つた。得られた薄膜の組成は実施例
10と同じであつたが、イオン伝導度は、第３図に
20′として示すように水冷して得られた実施例10
のそれ（10′）より優れている。 以上説明したごとく本発明によると、5μｍ以
下の薄膜においても、イオン伝導度の著しく高い
薄膜が得られる。バルク材料に比べ、薄膜は厚み
が３桁程小さいため、イオン伝導にともなうデバ
イスの抵抗は３桁小さくなる。これは、固体電解
質を各種デバイスに適用する場合、著しい効果が
期待できるものである。なお、本薄膜は、非晶質
であるが、晶質体と同程度のイオン伝導度を有し
ているため、スパツタ後、熱処理し結晶化させる
必要がなく、各種電子デバイス材料として非常に
有望と考えられる。
第１図は、本発明のLi2O・SiO2・P2O5三元系
組成図、第２図、第３図及び第４図は、それぞれ
本発明を説明するためのイオン伝導度の温度変化
を示す図である。
組成図、第２図、第３図及び第４図は、それぞれ
本発明を説明するためのイオン伝導度の温度変化
を示す図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 第１図のLi2O・SiO2・P2O5三元系組成図に
ABCDで示した点を結ぶ線内の領域の組成を有
することを特徴とする酸化リチウム系非晶質体。 ２ 上記Li2O・SiO2・P2O5三元系組成図に
EFGHで示した点を結ぶ線内の領域の組成を有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
酸化リチウム系非晶質体。 ３ 上記Li2O・SiO2・P2O5三元系組成図にEIJH
で示した点を結ぶ線内の領域の組成を有すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記
載の酸化リチウム系非晶質体。 ４ 一般式（１−ｘ）Li4SiO4・xLi3PO4（ただし
ｘは、0.05ｘ0.95の範囲の値である）なるリ
チウムシリケート・リチウムホスフエート組成物
又はスパツタリングによつて該リチウムシリケー
ト・リチウムホスフエート組成物を形成し得る混
合物及びスパツタリングによつてLi2Oを形成し
得るリチウム化合物よりなる混合物をターゲツト
としてスパツタリングすることを特徴とする第１
図のLi2O・SiO2・P2O5三元系組成図にABCDで
示した点を結ぶ線内の領域の組成を有する酸化リ
チウム系非晶質体の製造方法。 ５ 上記リチウムシリケート・リチウムホスフエ
ート組成物が固溶体である特許請求の範囲第４項
記載の酸化リチウム系非晶質体の製造方法。 ６ 上記リチウム化合物は、上記リチウムシリケ
ート・リチウムホスフエート組成物又は混合物１
モルに対して、リチウム原子として３〜16モルの
範囲の比で混合される特許請求の範囲第４項又は
第５項記載の酸化リチウム系非晶質体の製造方
法。 ７ 上記リチウム化合物は、Li2O、Li2CO3及び
LiOHからなる群から選ばれた少なくとも一種の
化合物である特許請求の範囲第４項から第６項ま
でのいずれかに記載の酸化リチウム系非晶質体の
製造方法。 ８ 上記リチウム化合物は、Li2Oである特許請
求の範囲第７項記載の酸化リチウム系非晶質体の
製造方法。 ９ 上記リチウム化合物は、Li2CO3である特許
請求の範囲第７項記載の酸化リチウム系非晶質体
の製造方法。 １０ 上記一般式のｘが0.10ｘ0.80の範囲の
値であり、上記Li2O・SiO2・P2O5三元系組成図
にEFGHで示した点を結ぶ領域の組成を有する酸
化リチウム系非晶質体を製造することを特徴とす
る特許請求の範囲第４項から第９項までのいずれ
かに記載の酸化リチウム系非晶質体の製造方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55134436A JPS5760669A (en) | 1980-09-29 | 1980-09-29 | Lithium oxide group non-crystal material and production thereof |
| KR1019810003497A KR880001421B1 (ko) | 1980-09-29 | 1981-09-18 | 산화리튬계 비정질체(非晶質體)및 그 제조방법 |
| EP81304466A EP0049145B1 (en) | 1980-09-29 | 1981-09-28 | Process for the preparation of a lithium oxide based amorphous material |
| US06/306,600 US4390460A (en) | 1980-09-29 | 1981-09-28 | Lithium oxide based amorphous material and process for preparation thereof |
| DE8181304466T DE3170733D1 (en) | 1980-09-29 | 1981-09-28 | Process for the preparation of a lithium oxide based amorphous material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55134436A JPS5760669A (en) | 1980-09-29 | 1980-09-29 | Lithium oxide group non-crystal material and production thereof |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5760669A JPS5760669A (en) | 1982-04-12 |
| JPH0229614B2 true JPH0229614B2 (ja) | 1990-07-02 |
Family
ID=15128318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55134436A Granted JPS5760669A (en) | 1980-09-29 | 1980-09-29 | Lithium oxide group non-crystal material and production thereof |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4390460A (ja) |
| EP (1) | EP0049145B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5760669A (ja) |
| KR (1) | KR880001421B1 (ja) |
| DE (1) | DE3170733D1 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3134289A1 (de) * | 1981-08-29 | 1983-03-10 | Varta Batterie Ag, 3000 Hannover | Galvanische festkoerperzelle mit ionen- und elektronenleitender kathode, deren aktives material aus metallchloriden besteht. |
| US4460495A (en) * | 1982-09-10 | 1984-07-17 | General Electric Company | Cathode for molten carbonate fuel cell |
| JPS5960814A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | 株式会社日立製作所 | 酸化リチウム系非晶質イオン導電体 |
| US4465745A (en) * | 1983-06-29 | 1984-08-14 | Union Carbide Corporation | Crystalline solid lithium cation conductive electrolyte |
| US4985317A (en) * | 1988-11-30 | 1991-01-15 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Lithium ion-conductive solid electrolyte containing lithium titanium phosphate |
| KR100393182B1 (ko) * | 1996-07-25 | 2003-10-17 | 삼성전자주식회사 | 고체전해질및이를포함하고있는리튬2차전지 |
| EP1431422B1 (de) * | 2002-12-16 | 2006-12-13 | Basf Aktiengesellschaft | Verfahren zur Gewinnung von Lithium |
| EP1431423A1 (de) * | 2002-12-16 | 2004-06-23 | Basf Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung eines Lithiumionenleiters |
| KR100513726B1 (ko) | 2003-01-30 | 2005-09-08 | 삼성전자주식회사 | 고체 전해질, 이를 채용한 전지 및 그 고체 전해질의 제조방법 |
| EP3192112A4 (en) * | 2014-09-09 | 2018-04-11 | Sion Power Corporation | Protective layers in lithium-ion electrochemical cells and associated electrodes and methods |
| CN105607374B (zh) * | 2016-03-14 | 2019-09-20 | 中国建筑材料科学研究总院 | 固态全无机电致变色玻璃及其制备方法 |
| CN116732482B (zh) * | 2023-05-16 | 2024-01-26 | 河南固锂电技术有限公司 | 一种复合多层镁离子电池正极材料及制备方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4042482A (en) * | 1976-01-22 | 1977-08-16 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Substituted lithium orthosilicates and solid electrolytes therefrom |
| FR2387192A1 (fr) * | 1977-04-15 | 1978-11-10 | France Etat | Conducteurs cationiques amorphes du lithium |
| JPS5543555A (en) * | 1978-09-25 | 1980-03-27 | Toshiba Corp | Display cell |
-
1980
- 1980-09-29 JP JP55134436A patent/JPS5760669A/ja active Granted
-
1981
- 1981-09-18 KR KR1019810003497A patent/KR880001421B1/ko not_active Expired
- 1981-09-28 DE DE8181304466T patent/DE3170733D1/de not_active Expired
- 1981-09-28 US US06/306,600 patent/US4390460A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-09-28 EP EP81304466A patent/EP0049145B1/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5760669A (en) | 1982-04-12 |
| EP0049145A1 (en) | 1982-04-07 |
| DE3170733D1 (en) | 1985-07-04 |
| US4390460A (en) | 1983-06-28 |
| KR830008416A (ko) | 1983-11-18 |
| EP0049145B1 (en) | 1985-05-29 |
| KR880001421B1 (ko) | 1988-08-01 |
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