JPH02303003A - 電圧非直線性抵抗素子 - Google Patents
電圧非直線性抵抗素子Info
- Publication number
- JPH02303003A JPH02303003A JP1123671A JP12367189A JPH02303003A JP H02303003 A JPH02303003 A JP H02303003A JP 1123671 A JP1123671 A JP 1123671A JP 12367189 A JP12367189 A JP 12367189A JP H02303003 A JPH02303003 A JP H02303003A
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- Japan
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- zno
- electrode
- oxide
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、リレー接点の保護、IC,LSI等の半導体
素子の静電気に対する保護、カラーテレビブラウン管回
路の放電吸収などの手段として利用されている電圧非直
線性抵抗素子の改良に関する。
素子の静電気に対する保護、カラーテレビブラウン管回
路の放電吸収などの手段として利用されている電圧非直
線性抵抗素子の改良に関する。
(従来の技術)
従来、電圧非直線性抵抗素子(以下バリスタともいう)
としては、第3図に示すようにガラス又はセラミックの
基板12上にAu、AJ等を真空蒸着して下部電極(電
極層)13とし、この下部電極13上にスパッタリング
などによりZn0層14を形成し、このZn0層14上
にスパッタリングなどにより酸化プラセオジム(Pr2
03)及び酸化コバルト(CO203)から成る金属酸
化物層15を形成し、さらにこの金属酸化物層15上に
スパッタリングなどによりZn0層16を形成し、続い
てこのZn0層16上にAu。
としては、第3図に示すようにガラス又はセラミックの
基板12上にAu、AJ等を真空蒸着して下部電極(電
極層)13とし、この下部電極13上にスパッタリング
などによりZn0層14を形成し、このZn0層14上
にスパッタリングなどにより酸化プラセオジム(Pr2
03)及び酸化コバルト(CO203)から成る金属酸
化物層15を形成し、さらにこの金属酸化物層15上に
スパッタリングなどによりZn0層16を形成し、続い
てこのZn0層16上にAu。
A1などを蒸着して上部電極(電極層)17が形成され
て成るバリスタ11が知られている。
て成るバリスタ11が知られている。
また、上記構成のバリスタ11は、前記ZnO層14.
16と前記金属酸化物層15の界面に形成された電位障
壁14a、16aによりその特性(バリスタ電圧)が決
定される。
16と前記金属酸化物層15の界面に形成された電位障
壁14a、16aによりその特性(バリスタ電圧)が決
定される。
上記構成のバリスタ11では、前記上部電極17が下部
電極13に対して正になるように電圧を加えると、電位
障壁16aは逆方向にバイアスされ、下部電極13が前
記上部電極17に対して正になるように電圧を加えると
、電位障壁14aは逆方向にバイアスされ、それぞれあ
る一定の電圧まで電流が流れず、ある電圧値から急激に
電流の流れ出す対称型電圧非直線性(非直線指数αが1
0前後)を示すことが知られている。
電極13に対して正になるように電圧を加えると、電位
障壁16aは逆方向にバイアスされ、下部電極13が前
記上部電極17に対して正になるように電圧を加えると
、電位障壁14aは逆方向にバイアスされ、それぞれあ
る一定の電圧まで電流が流れず、ある電圧値から急激に
電流の流れ出す対称型電圧非直線性(非直線指数αが1
0前後)を示すことが知られている。
(発明が解決しようとする課題)
上述したようなバリスタ(電圧非直線性抵抗素子)では
、下部電極を形成した後、前記下部電極上にスパッタリ
ングなどによりZnO層を形成している。
、下部電極を形成した後、前記下部電極上にスパッタリ
ングなどによりZnO層を形成している。
しかしながら、第4図に示すようにZnOはC軸(基板
の垂直方向)に優位配向し易い性質を有するため、結晶
性の金属電極上に成膜するとZnO層の界面に凹凸が生
じこの高低差H1は最高1000人にもなる。この高低
差によりZnO層の平坦性が低下し電流電圧特性におけ
る非直線性に悪影響を与えることになり、非直線指数α
を大きくできず性能向上が図れないないという問題点を
生じてしまう。
の垂直方向)に優位配向し易い性質を有するため、結晶
性の金属電極上に成膜するとZnO層の界面に凹凸が生
じこの高低差H1は最高1000人にもなる。この高低
差によりZnO層の平坦性が低下し電流電圧特性におけ
る非直線性に悪影響を与えることになり、非直線指数α
を大きくできず性能向上が図れないないという問題点を
生じてしまう。
また、上部電極にエツチングにより導電パターンを形成
する場合、ZnOが両性酸化物であることにより酸、ア
ルカリ双方に可溶性であり前記上部電極の除去部分と共
に一部溶解してしまい前記同様に電流電圧特性における
非直線性に悪影響を与えるため容易に導電パターンを形
成できないという問題点も生じる。
する場合、ZnOが両性酸化物であることにより酸、ア
ルカリ双方に可溶性であり前記上部電極の除去部分と共
に一部溶解してしまい前記同様に電流電圧特性における
非直線性に悪影響を与えるため容易に導電パターンを形
成できないという問題点も生じる。
本発明は、上記問題点を解決しZnO層の平坦性が向上
でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を与えず
、非直線指数αを大きくでき、かつエツチングにより上
部電極に容易に導電パターンを形成できる電圧非直線性
抵抗素子を提供することを目的とする。
でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を与えず
、非直線指数αを大きくでき、かつエツチングにより上
部電極に容易に導電パターンを形成できる電圧非直線性
抵抗素子を提供することを目的とする。
[発明の構成コ
(課題を解決するための手段)
本発明は、基材と、前記基材上に形成された電極層と、
前記電極層上に金属酸化物層に挟まれたZnO層とによ
り形成された複合層を少なくとも一つ有し、前記複合層
の最上部に電極層を有することを特徴とするものである
。
前記電極層上に金属酸化物層に挟まれたZnO層とによ
り形成された複合層を少なくとも一つ有し、前記複合層
の最上部に電極層を有することを特徴とするものである
。
(作 用)
上記の様に、基材上に形成された電極層(下部電極)上
に金属酸化物層に挟まれたZnO層が形成された複合層
を有することによりZnO層の平坦性が向上でき、また
エツチングにより上部電極に容易に導電パターンを形成
できる。
に金属酸化物層に挟まれたZnO層が形成された複合層
を有することによりZnO層の平坦性が向上でき、また
エツチングにより上部電極に容易に導電パターンを形成
できる。
(実施例)
本発明による電圧非直線性抵抗素子(以下バリスタとい
う)の一実施例を図面を参照して説明する。
う)の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明によるバリスタの断面図である。
図中に示すバリスタ1は、例えばガラス、アルミナ(絶
縁性基板)やアルミ、亜鉛等く導電性基板)等から成る
基板(基材)2(実施例中ではガラス基板を示す)と、
例えばニッケル(Ni)により形成された下部電極(電
極層)3と、例えば酸化プラセオジム(Pr203)及
び酸化コバル1’ (CO203)により構成されてい
る金属酸化物層4と、ZnOを主成分とするZn0層4
と、更に前記同様の例えば酸化プラセオジム(Pr20
i)及び酸化コバルト(CO203)により構成されて
いる金属酸化物層6と、例えばニッケル(Ni)により
形成された上部電極(電極層)7により構成されている
。尚、本発明でいう複合層とは前記金属酸化物層4、Z
n0層5、金属酸化物層6により構成されている。また
、図中5a、5bは前記金属酸化物層4と前記ZnO層
5の界面に形成された電位障壁である。
縁性基板)やアルミ、亜鉛等く導電性基板)等から成る
基板(基材)2(実施例中ではガラス基板を示す)と、
例えばニッケル(Ni)により形成された下部電極(電
極層)3と、例えば酸化プラセオジム(Pr203)及
び酸化コバル1’ (CO203)により構成されてい
る金属酸化物層4と、ZnOを主成分とするZn0層4
と、更に前記同様の例えば酸化プラセオジム(Pr20
i)及び酸化コバルト(CO203)により構成されて
いる金属酸化物層6と、例えばニッケル(Ni)により
形成された上部電極(電極層)7により構成されている
。尚、本発明でいう複合層とは前記金属酸化物層4、Z
n0層5、金属酸化物層6により構成されている。また
、図中5a、5bは前記金属酸化物層4と前記ZnO層
5の界面に形成された電位障壁である。
次に、前記バリスタ1の製造方法について説明する。
まず、ガラス基板2上にニッケル(Ni)を蒸着により
厚さ0.5μmに形成して下部電極3とし、この下部電
極3に酸化プラセオジム(P r203 )及び酸化コ
バルト(CO2o、’)から成る焼結体をターゲットに
して前記ガラス基板2の温度250℃、スパッタアルゴ
ン(Ar)雰囲気中、投入電力120Wにおいてスパッ
タリングにて金属酸化物層4を形成し、ZnO焼結体を
ターゲットとし上記同様に、Zn0層5を略1μm形成
し、次に、酸化プラセオジム(pr2o3)及び酸化コ
バル1’ (CO203’)から成る焼結体をターゲッ
トにして上記同様に金属酸化物層6を形成し、次にニッ
ケル(Ni)を蒸着にて0.5μm形成して上部電極7
とし前記バリスタ1を得る。
厚さ0.5μmに形成して下部電極3とし、この下部電
極3に酸化プラセオジム(P r203 )及び酸化コ
バルト(CO2o、’)から成る焼結体をターゲットに
して前記ガラス基板2の温度250℃、スパッタアルゴ
ン(Ar)雰囲気中、投入電力120Wにおいてスパッ
タリングにて金属酸化物層4を形成し、ZnO焼結体を
ターゲットとし上記同様に、Zn0層5を略1μm形成
し、次に、酸化プラセオジム(pr2o3)及び酸化コ
バル1’ (CO203’)から成る焼結体をターゲッ
トにして上記同様に金属酸化物層6を形成し、次にニッ
ケル(Ni)を蒸着にて0.5μm形成して上部電極7
とし前記バリスタ1を得る。
上述したように前記バリスタ1は、金属酸化物層4を形
成したのちZn0層5を形成したことにより、ZnO層
の界面の凹凸の高低差H0は第2図に示すように最高値
でも200人に減少しZnO層の平坦性が向上する。こ
の結果電流電圧特性における非直線性に悪影響を与える
ことがなくなり、非直線指数αを30にすることができ
た。
成したのちZn0層5を形成したことにより、ZnO層
の界面の凹凸の高低差H0は第2図に示すように最高値
でも200人に減少しZnO層の平坦性が向上する。こ
の結果電流電圧特性における非直線性に悪影響を与える
ことがなくなり、非直線指数αを30にすることができ
た。
また、上記構成のバリスタ1の上部電極7にエツチング
により導電パターンを形成する場合、Zn0層5が金属
酸化物層4,6に挟まれた構成であるため前記上部電極
7の除去部分と共にZnO溶解することがないため、前
記同様に電流電圧特性における非直線性に悪影響を与え
ず容易に導電パターンを形成できる。
により導電パターンを形成する場合、Zn0層5が金属
酸化物層4,6に挟まれた構成であるため前記上部電極
7の除去部分と共にZnO溶解することがないため、前
記同様に電流電圧特性における非直線性に悪影響を与え
ず容易に導電パターンを形成できる。
以上詳述したように本発明によれば、ZnO層の平坦性
が向上でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を
与えず、非直線指数αを太き(でき、かつ上部電極に容
易に導電パターンを形成できるバリスタを提供すること
ができる。
が向上でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を
与えず、非直線指数αを太き(でき、かつ上部電極に容
易に導電パターンを形成できるバリスタを提供すること
ができる。
本発明は上記実施例に限定されず種々の変形実施が可能
である。例えば本発明の範囲内であれば、電極に用いる
金属もAu、A1等に、金属酸化物層の金属酸化物も酸
化ビスマス(Bi203)1酸化コバルト(C0203
) 、酸化プラセオジム(pr2o3)及びそれらの混
合物等に、ZnO層もZnO単体だけでなく、ZnOに
アルミニウム (AJ2)、ガリウム(Ga)、インジ
ウム(In)等の添加物を加えたものなど種々に選択可
能であり、またスパッタ雰囲気中の不活性ガスもアルゴ
ン(Ar)に限定されず他のガスであってもよい。
である。例えば本発明の範囲内であれば、電極に用いる
金属もAu、A1等に、金属酸化物層の金属酸化物も酸
化ビスマス(Bi203)1酸化コバルト(C0203
) 、酸化プラセオジム(pr2o3)及びそれらの混
合物等に、ZnO層もZnO単体だけでなく、ZnOに
アルミニウム (AJ2)、ガリウム(Ga)、インジ
ウム(In)等の添加物を加えたものなど種々に選択可
能であり、またスパッタ雰囲気中の不活性ガスもアルゴ
ン(Ar)に限定されず他のガスであってもよい。
またさらに本実施例では電極を蒸着で、他の膜をスパッ
タリングで成膜したがCVD(Chemical Va
porDeposition :化学的気相成長)法等
の他の成膜手段を用いても良い。
タリングで成膜したがCVD(Chemical Va
porDeposition :化学的気相成長)法等
の他の成膜手段を用いても良い。
[発明の効果]
上記のように本発明によれば、ZnO層の平坦性が向上
でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を与えず
、非直線指数αを大きくでき、かつ上部電極に容易に導
電パターンを形成できる電圧非直線性抵抗素子を提供す
ることが出来る。
でき、電流電圧特性における非直線性に悪影響を与えず
、非直線指数αを大きくでき、かつ上部電極に容易に導
電パターンを形成できる電圧非直線性抵抗素子を提供す
ることが出来る。
第1図は本発明によるバリスタ(電圧非直線性抵抗素子
)の断面図、第2図は本発明によるバリスタのZnO層
の平坦性を説明するための図、第3図は従来のバリスタ
の断面図、第4図は従来のバリスタのZnO層の平坦性
を説明するための□図である。 1・・・バリスタ(電圧非直線性抵抗素子)、2・・・
ガラス基板(基材)、3・・・下部電極、4.6・・・
金属酸化物層、 5・・・ZnO層、5a、5b・・・
電位障壁、 7・・・上部電極、Ho・・・ZnO層の
界面の凹凸の高低差。
)の断面図、第2図は本発明によるバリスタのZnO層
の平坦性を説明するための図、第3図は従来のバリスタ
の断面図、第4図は従来のバリスタのZnO層の平坦性
を説明するための□図である。 1・・・バリスタ(電圧非直線性抵抗素子)、2・・・
ガラス基板(基材)、3・・・下部電極、4.6・・・
金属酸化物層、 5・・・ZnO層、5a、5b・・・
電位障壁、 7・・・上部電極、Ho・・・ZnO層の
界面の凹凸の高低差。
Claims (1)
- 基材と,前記基材上に形成された電極層と,前記電極層
上に金属酸化物層に挟まれたZnO層とにより形成され
た複合層を少なくとも一つ有し、前記複合層の最上部に
電極層を有することを特徴とする電圧非直線性抵抗素子
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1123671A JPH02303003A (ja) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | 電圧非直線性抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1123671A JPH02303003A (ja) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | 電圧非直線性抵抗素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02303003A true JPH02303003A (ja) | 1990-12-17 |
Family
ID=14866415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1123671A Pending JPH02303003A (ja) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | 電圧非直線性抵抗素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02303003A (ja) |
-
1989
- 1989-05-17 JP JP1123671A patent/JPH02303003A/ja active Pending
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