JPH0242368A - 布線検査方式 - Google Patents
布線検査方式Info
- Publication number
- JPH0242368A JPH0242368A JP63193845A JP19384588A JPH0242368A JP H0242368 A JPH0242368 A JP H0242368A JP 63193845 A JP63193845 A JP 63193845A JP 19384588 A JP19384588 A JP 19384588A JP H0242368 A JPH0242368 A JP H0242368A
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- JP
- Japan
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- pattern
- patterns
- circuit
- resistance value
- disconnection
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 101100444142 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) dut-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は布線検査方式、特に、プリント配線基板等の回
路パターンの短絡および断線の検査を行なう布線検査方
式に関する。
路パターンの短絡および断線の検査を行なう布線検査方
式に関する。
従来の布線検査方式は、被試験物内の回路パターン及び
２つのパターン間の抵抗値を測定するための抵抗計と、
抵抗計を試験すべき回路パターンの２点に接続するため
のリレー回路部とを含んで構成されていた。
２つのパターン間の抵抗値を測定するための抵抗計と、
抵抗計を試験すべき回路パターンの２点に接続するため
のリレー回路部とを含んで構成されていた。
次に従来の布線検査方式について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第３図は従来の布線検査方式の一例を示すブロック図で
ある。第３図に示す布線検査方式は、被試験物１内の各
パターン端点に接続されるリレー回路部４と、リレー回
路部４により選択された２点間の抵抗を測定するための
抵抗計２とを含んでいる。ここで被試験物１内のパター
ンＡ、Ｂ、Ｃは、第４図に示す様なプリント配線板１−
１等の回路パターンＡＩ ＋ ８１ 、ＣＩを簡略化し
、直線として表現したものである。
ある。第３図に示す布線検査方式は、被試験物１内の各
パターン端点に接続されるリレー回路部４と、リレー回
路部４により選択された２点間の抵抗を測定するための
抵抗計２とを含んでいる。ここで被試験物１内のパター
ンＡ、Ｂ、Ｃは、第４図に示す様なプリント配線板１−
１等の回路パターンＡＩ ＋ ８１ 、ＣＩを簡略化し
、直線として表現したものである。
まず、パターンＡの断線を検査するために、リレー回路
部４はａ−ｄ間及びａ’ −ｅ間を閉じ、抵抗計２は、
パターンＡの両端ａ−ａ’の抵抗値を測定する、このと
きパターンＡ内に断線がなければ測定される抵抗値は微
小な値となり、逆に断線があれば抵抗値は大きくなる。
部４はａ−ｄ間及びａ’ −ｅ間を閉じ、抵抗計２は、
パターンＡの両端ａ−ａ’の抵抗値を測定する、このと
きパターンＡ内に断線がなければ測定される抵抗値は微
小な値となり、逆に断線があれば抵抗値は大きくなる。
同様にしてｂ−ｄ間、ｂ’ −ｅ間の接続によりパター
ンＢの断線検査ができ、ｃ−ｄ間、ａ′ｅ間の接続によ
りパターンＣの断線検査ができる。
ンＢの断線検査ができ、ｃ−ｄ間、ａ′ｅ間の接続によ
りパターンＣの断線検査ができる。
次に、リレー回路部４がａ−ｄ間及びｂ’ −ｅ間を閉
じることにより抵抗計２はパターンＡとパターンＢに含
まれる２点間の抵抗を測定する。ここでパターンＡ、Ｂ
に断線がなくパターンＡとパター７８間に短絡があれば
、測定される抵抗値は微小なものとなり、逆に短絡がな
い場合には抵抗値は大きくなる。
じることにより抵抗計２はパターンＡとパターンＢに含
まれる２点間の抵抗を測定する。ここでパターンＡ、Ｂ
に断線がなくパターンＡとパター７８間に短絡があれば
、測定される抵抗値は微小なものとなり、逆に短絡がな
い場合には抵抗値は大きくなる。
同様にして、ｂ−ｄ間、ｃ’ −ｅ間の接続によりパタ
ーンＢ−Ｃ間の短絡検査ができ、ａ−ｄ間、ｃ、−ｅ間
の接続によりパターンＡ−Ｃ間の短絡検査ができる。一
方、パターンＡ内に断線がある場合、パターンＡと他の
パターンとの短絡を検査するためには、パターンＡの２
つの端点ａ。
ーンＢ−Ｃ間の短絡検査ができ、ａ−ｄ間、ｃ、−ｅ間
の接続によりパターンＡ−Ｃ間の短絡検査ができる。一
方、パターンＡ内に断線がある場合、パターンＡと他の
パターンとの短絡を検査するためには、パターンＡの２
つの端点ａ。
ａ′についてそれぞれ独立に他のパターンとの短絡を調
べる必要が生じる。
べる必要が生じる。
従って、全パターンの内、正常パターンの数をＮｌとし
、断線のあるパターンの数をＮ２とすると、断線検査に
Ｎｌ ＋Ｎ２回、短絡検査にＮｌ＋前記３パターンの例
では、各パターンに断線のない場合で６回、全パターン
断線の場合には３＋６Ｃ２＝１８回の検査を要する。
、断線のあるパターンの数をＮ２とすると、断線検査に
Ｎｌ ＋Ｎ２回、短絡検査にＮｌ＋前記３パターンの例
では、各パターンに断線のない場合で６回、全パターン
断線の場合には３＋６Ｃ２＝１８回の検査を要する。
上述した従来の布線検査方式は、被試験物内の回路パタ
ーンの１つ１つを独立に試験するため、抵抗計とパター
ンとの接続を切換えるためのリレー回路部が、パターン
の数と共に複雑化すると共に、測定回数も増加し、検査
時間が長くなるという欠点があった。
ーンの１つ１つを独立に試験するため、抵抗計とパター
ンとの接続を切換えるためのリレー回路部が、パターン
の数と共に複雑化すると共に、測定回数も増加し、検査
時間が長くなるという欠点があった。
本発明の布線検査方式は、
互いに異なる抵抗値をもつ複数の抵抗器が直列接続され
各接続点に被検査回路パターンが接続される抵抗器部と
、前記抵抗器部の両端に接続される抵抗計とを含んで構
成される。
各接続点に被検査回路パターンが接続される抵抗器部と
、前記抵抗器部の両端に接続される抵抗計とを含んで構
成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の第１の実施例を示すブロック図である
。
。
第１図に示す布線検査方式は、被試験物１の各パターン
に接続される異なる抵抗値をもつ抵抗器Ｒ１，Ｒ２，Ｒ
５，Ｒ４，Ｒ５が直列接続された抵抗器部３と抵抗計２
とを含んで構成される。
に接続される異なる抵抗値をもつ抵抗器Ｒ１，Ｒ２，Ｒ
５，Ｒ４，Ｒ５が直列接続された抵抗器部３と抵抗計２
とを含んで構成される。
ここで被試験物１は第４図に示す様なプリント配線板等
の回路パターンＡ、Ｂ、Ｃを簡略化して表現したもので
ある。
の回路パターンＡ、Ｂ、Ｃを簡略化して表現したもので
ある。
第１図において、抵抗器Ｒ１、Ｒ３＋ Ｒ５はそれぞれ
パターンＡ、Ｂ、Ｃに並列接続され、Ｒ２，Ｒ。
パターンＡ、Ｂ、Ｃに並列接続され、Ｒ２，Ｒ。
はそれぞれパターンＡ−Ｂ間及びＢ−０間を接続してい
る。また抵抗計２の測定端子ｄ、ｅはそれぞれパターン
Ａの端点ａおよびパターンＣの端点Ｃ′に接続している
。ここで、抵抗計２により抵抗値を測定することにより
各パターンの断線および短絡の状態に応じて以下の値が
得られる。
る。また抵抗計２の測定端子ｄ、ｅはそれぞれパターン
Ａの端点ａおよびパターンＣの端点Ｃ′に接続している
。ここで、抵抗計２により抵抗値を測定することにより
各パターンの断線および短絡の状態に応じて以下の値が
得られる。
断線・短絡なし・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４
（Ｒ：測定抵抗値）
パターンＡ断線・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４＋Ｒ。
パターンＢ断線・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４＋Ｒ３パターンＣ
断線・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４＋Ｒ。
断線・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４＋Ｒ。
Ａ−８間短絡 ・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４−Ｒ２Ｂ−Ｃ間短
絡 ・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４−Ｒ２Ｏ−Ａ間短絡 ・・・
Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４−Ｒ２−Ｒ。
絡 ・・・Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４−Ｒ２Ｏ−Ａ間短絡 ・・・
Ｒ＝Ｒ２＋Ｒ４−Ｒ２−Ｒ。
従って１回の測定により、正常な抵抗値と、測定された
抵抗値との比較をすることで、各パターンの断線および
短絡の検出を行なうことができる。
抵抗値との比較をすることで、各パターンの断線および
短絡の検出を行なうことができる。
ここで、抵抗器Ｒ１〜Ｒ５の抵抗値は不良場所を明らか
ちするために、異なる値でなければならないが、Ｒ１の
抵抗値に対し、例えばＲ２−２Ｒ１，Ｒ，＝４Ｒ１，Ｒ
４＝８Ｒ１，Ｒ５＝１６Ｒ，とすれば、測定値Ｒの値に
より、以下の様な不良診断ができる。
ちするために、異なる値でなければならないが、Ｒ１の
抵抗値に対し、例えばＲ２−２Ｒ１，Ｒ，＝４Ｒ１，Ｒ
４＝８Ｒ１，Ｒ５＝１６Ｒ，とすれば、測定値Ｒの値に
より、以下の様な不良診断ができる。
Ｒ＝１０Ｒ１・・・断線・短絡なし
Ｒ” １１ Ｒ１・・・パターンＡ断線Ｒ＝１４Ｒ１・
・・パターンＢ断線 Ｒ＝２６Ｒ１・・・パターンＣ断線 Ｒ＝８Ｒ□ ・・・Ａ−Ｂ間短絡 Ｒ” ２ Ｒｓ ・・・Ｂ−Ｃ間短絡Ｒ＝Ｏ・・・Ｃ
−Ａ間短絡 次に、被試験物１上の回路パターン数が非常に多数の場
合、異なる抵抗値を必要数用いることが困難となる。
・・パターンＢ断線 Ｒ＝２６Ｒ１・・・パターンＣ断線 Ｒ＝８Ｒ□ ・・・Ａ−Ｂ間短絡 Ｒ” ２ Ｒｓ ・・・Ｂ−Ｃ間短絡Ｒ＝Ｏ・・・Ｃ
−Ａ間短絡 次に、被試験物１上の回路パターン数が非常に多数の場
合、異なる抵抗値を必要数用いることが困難となる。
第２図は本発明の第２の実施例を示すブロック図である
。
。
異なる抵抗値の抵抗器Ｒ１〜Ｒ６により構成される抵抗
器ブロックを複数個有する抵抗器部を用いることにより
被検査パターンをブロックに分割し、検査ブロックの選
択のためのリレー回路部を設けることにより、各ブロッ
ク内の検査を１回で実施することができる。
器ブロックを複数個有する抵抗器部を用いることにより
被検査パターンをブロックに分割し、検査ブロックの選
択のためのリレー回路部を設けることにより、各ブロッ
ク内の検査を１回で実施することができる。
本発明の布線検査方式は、被試験物内の各布線パターン
と、抵抗計とを接続するためのリレー回路部を設ける代
りに、異なる値の複数の抵抗器を有する抵抗器部を設け
ることにより、パターンの数の増加と共に複雑化するリ
レー回路部を簡素化できると共に、試験回数を大幅に減
らせるため、検査時間の短縮が可能になるという効果が
ある。
と、抵抗計とを接続するためのリレー回路部を設ける代
りに、異なる値の複数の抵抗器を有する抵抗器部を設け
ることにより、パターンの数の増加と共に複雑化するリ
レー回路部を簡素化できると共に、試験回数を大幅に減
らせるため、検査時間の短縮が可能になるという効果が
ある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
本発明の第２の実施例を示すブロック図、第３図は従来
の一例を示すブロック図、第４図は第３図に示す被試験
物の布線パターンの詳細図である。 １・・・被試験物、２・・・抵抗計、３・・・抵抗器部
、４・・・リレー回路部、 Ａ、Ｂ、Ｃ・・・布線パターン、Ｒ１＊ Ｒ２、Ｒ３Ｒ
４、Ｒ５＋ Ｒ６・・・抵抗器。
本発明の第２の実施例を示すブロック図、第３図は従来
の一例を示すブロック図、第４図は第３図に示す被試験
物の布線パターンの詳細図である。 １・・・被試験物、２・・・抵抗計、３・・・抵抗器部
、４・・・リレー回路部、 Ａ、Ｂ、Ｃ・・・布線パターン、Ｒ１＊ Ｒ２、Ｒ３Ｒ
４、Ｒ５＋ Ｒ６・・・抵抗器。
Claims (1)
- 互いに異なる抵抗値をもつ複数の抵抗器が直列接続され
各接続点に被検査回路パターンが接続される抵抗器部と
、前記抵抗器部の両端に接続される抵抗計とを有し、前
記抵抗器の抵抗値と前記被検査回路パターンの回路状態
との組合せにより計算上求められる複数推定合成抵抗値
と前記抵抗計の実測抵抗値とを比較することにより前記
被検査回路パターンの良否を判定することを特徴とする
布線検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193845A JPH0242368A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 布線検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193845A JPH0242368A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 布線検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0242368A true JPH0242368A (ja) | 1990-02-13 |
Family
ID=16314700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63193845A Pending JPH0242368A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 布線検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0242368A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008058481A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Brother Ind Ltd | 画像形成装置及びその断線検査方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137571A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-20 | Nec Corp | 布線検査方式 |
-
1988
- 1988-08-02 JP JP63193845A patent/JPH0242368A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137571A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-20 | Nec Corp | 布線検査方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008058481A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Brother Ind Ltd | 画像形成装置及びその断線検査方法 |
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