JPH03116257A - メモリ監視装置 - Google Patents

メモリ監視装置

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Publication number
JPH03116257A
JPH03116257A JP1251797A JP25179789A JPH03116257A JP H03116257 A JPH03116257 A JP H03116257A JP 1251797 A JP1251797 A JP 1251797A JP 25179789 A JP25179789 A JP 25179789A JP H03116257 A JPH03116257 A JP H03116257A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
data
temporary storage
storage circuit
test data
Prior art date
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Pending
Application number
JP1251797A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiichi Kabaya
蒲谷 衛一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1251797A priority Critical patent/JPH03116257A/ja
Publication of JPH03116257A publication Critical patent/JPH03116257A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリ監視装置に係わり、特にタイムスロット
入替装置におけるメモリ監視装置に関する。
〔従来の技術〕
この種のタイムスロット入替装置は、データの真の先頭
位置を示す先頭指示情報が含まれる入力データを一時記
憶回路にシーケンシャル(またはランダム)に書き込み
、この一時記憶回路からデータをランダム(またはシー
ケンシャル)に読み出して入力データのタイムスロット
の入れ替えを行う装置として知られている。このような
タイムスロット入替装置において、一時記憶回路(メモ
リ)を監視するメモリ監視回路は、次のようにして一時
記憶回路の監視をしていた。すなわち、入力されたデー
タは、1TlOd、2(「2を法とする演算」のこと)
の演算が行われる。ついで、この演算結果は、パリティ
ピットとして入力データに付加されてから一時記憶回路
に記憶される。一時記憶回路から読み出したデータは再
度演算が行われる。そして、その演算結果がパリティピ
ットと一致しているかどうかを確認している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のメモリ監視回路は、入力データとパリテ
ィピットとが一組として一時記憶回路に書き込まれ、一
時記憶回路から読み出したデータにおけるタイムスロッ
トが正しい位置でなくても、演算結果が正しければ監視
結果としては異常とはならないという欠点があった。
本発明は、上述した欠点を解消するためになされたもの
で、一時記憶回路の異常を監視できるメモリ監視装置を
提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のメモリ監視装置は、データの真の先頭位置を示
す先頭指示情報が含まれる入力データを一時記憶回路に
書き込み、この一時記憶回路からデータを読み出して入
力データのタイムスロットの入れ替えを行うタイムスロ
ット入替装置において、入力データの先頭指示情報を検
出して先頭指示パルスを形成する先頭パルス書込手段と
、試験データを発生する試験データ発生回路と、入力デ
ータあるいは試験データのいずれかを選択して一時記憶
回路に与える選択回路と、一時記憶回路から先頭指示パ
ルスを読み出して先頭指示情報に変換する先頭指示情報
生成手段と、一時記憶回路から読み出したデータ内の試
験データを照合する試験データ照合回路と、一時記憶回
路から読み出したデータあるいは先頭指示情報生成手段
からの先頭指示情報のいずれかを選択する選択回路とを
備えている。
本発明のメモリ監視装置は、先頭指示情報を先頭指示パ
ルスに変換して一時記憶回路に記憶させるとともに、こ
の先頭指示情報の部分の空タイムスロットに試験データ
を挿入して一時記憶回路に記憶させ、かつ一時記憶回路
から読み出した試験データが正しく読み出されたかを照
合することにより、一時記憶回路の書き込み読み出しの
監視を行うものである。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の実施例を示すブロック図である。第2
図は、同実施例で扱う入力データと先頭指示パルスの関
係を説明するためのタイミング図である。
第1図に示すメモリ監視装置は、一時記憶回路1と、先
頭パルス書込手段2と、試験データ発生回路3と、選択
回路4と、先頭指示情報生成手段5と、試験データ照合
回路6と、選択回路7と、書込カウンタ8と、読出カウ
ンタ9とを備えている。
ここで、一時記憶回路1は、データを一時記憶する装置
である。先頭パルス書込手段2は、入力データDI の
先頭指示情報(a)〜(d)を検出する先頭指示情報検
出回路21と、この先頭指示情報検出回路21からの検
出情報から先頭指示パルスPを形成する先頭指示パルス
発生回路22とから構成されている。試験データ発生回
路3は、試験データを発生して選択回路4に与える回路
である。選択回路4は、入力データD1 あるいは試験
データのいずれかを選択して一時記憶回路1に与える構
成となっている。先頭指示情報生成手段5は、一時記憶
回路1から先頭指示パルスPを読み出す先頭指示パルス
検出回路51と、この先頭指示パルス検出回路51から
の検出パルスから先頭指示情報(a)〜(d)に変換す
る先頭指示情報発生回路52とから構成されている。試
験データ照合回路6は、一時記憶回路1から読み出した
データ内から試験データを照合できるようになっている
。選択回路7は、一時記憶回路1から読み出したデータ
あるいは先頭指示情報生成手段5からの先頭指示情報の
いずれかを選択して出力データDo として出力できる
ようになっている。
このように構成された実施例の作用を説明する。
第2図において、入力データDI は、1フレーム内に
4種類のデータA−Dが五分散に配置した形式としてい
る。また、1フレーム先頭タイムスロフトには、各デー
タの先頭位置を示す先頭指示情報(a)〜(d )が入
っており、各々矢印で示した位置の情報が入っている。
入力された入力データDI は、先頭パルス書込手段2
の先頭指示情報検出回路21において、先頭指示情報(
a)〜(d)が分離される。分離された情報は、先頭指
示パルス発生回路22により、先頭指示情報(a)〜(
d)から先頭指示パルスPに変換された後、一時記憶回
路1に書き込まれる。
一方、入力データDr においては、先頭指示情報(a
)〜(d)が入っていたタイムスロットが空きとなるの
で、試験データ発生回路3で発生した試験データを、選
択回路4を用いてこの空きタイムスロットに挿入した後
、一時記憶回路1に書き込む。
また、一時記憶回路1から読み出したデータは、試験デ
ータ照合回路6において照合して一時記憶回路lの動作
をチエツクする。
また、先頭指示情報生成手段5の先頭指示パルス検出回
路51は、一時記憶回路1から先頭指示パルスPを読み
出した後、先頭指示情報発生回路52に与える。先頭指
示情報発生回路52では、先頭指示パルスPから先頭指
示情報を逆変換して選択回路7に与える。選択回路7で
は、一時記憶回路1から読み出したデータと、先頭指示
情報発生回路52からの先頭指示情報とを再度多重して
出力テ°−タD。とする。
この実施例は、入力データDX の空きタイムスロット
に試験データ発生回路3からの試験データを選択回路4
を用いて挿入した後、一時記憶回路1に書き込み、一時
記憶回路1から読み出したデータを試験データ照合回路
6でチエツクすることにより、一時記憶回路1の動作を
監視するものである。したがって本実施例によれば、タ
イムスロットの異常に対しても正確にしかも確実に監視
ができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、先頭指示情報を先頭指示
パルスに変換し、空きタイムスロットを設け、この空き
タイムスロットに試験データを挿入して一時記憶回路に
書き込み、一時記憶回路から読み出したデータを照合す
ることにより、一時記憶回路の書き込み読み出しの監視
を行い、タイムスロットの異常の監視も行えるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すブロック図、第2図は同
実施例の作用を説明するためのタイミング図である。 1・・・・・・一時記憶回路、 2・・・・・・先頭パルス書込手段、 3・・・・・・試験データ発生回路、 4.7・・・・・・選択回路、 5・・・・・・先頭指示情報生成手段、6・・・・・・
試験データ照合回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 データの真の先頭位置を示す先頭指示情報が含まれる入
    力データを一時記憶回路に書き込み、前記一時記憶回路
    からデータを読み出して前記入力データのタイムスロッ
    トの入れ替えを行うタイムスロット入替装置において、 前記入力データの先頭指示情報を検出して先頭指示パル
    スを形成する先頭パルス書込手段と、試験データを発生
    する試験データ発生回路と、入力データあるいは試験デ
    ータのいずれかを選択して一時記憶回路に与える選択回
    路と、 前記一時記憶回路から先頭指示パルスを読み出して先頭
    指示情報に変換する先頭指示情報生成手段と、 前記一時記憶回路から読み出したデータ内の試験データ
    を照合する試験データ照合回路と、前記一時記憶回路か
    ら読み出したデータあるいは先頭指示情報生成手段から
    の先頭指示情報のいずれかを選択する選択回路 とを具備することを特徴とするメモリ監視装置。
JP1251797A 1989-09-29 1989-09-29 メモリ監視装置 Pending JPH03116257A (ja)

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JP1251797A JPH03116257A (ja) 1989-09-29 1989-09-29 メモリ監視装置

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JP1251797A JPH03116257A (ja) 1989-09-29 1989-09-29 メモリ監視装置

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JPH03116257A true JPH03116257A (ja) 1991-05-17

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JP1251797A Pending JPH03116257A (ja) 1989-09-29 1989-09-29 メモリ監視装置

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