JPH03187217A - ウエハの表面処理装置 - Google Patents

ウエハの表面処理装置

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Publication number
JPH03187217A
JPH03187217A JP1326919A JP32691989A JPH03187217A JP H03187217 A JPH03187217 A JP H03187217A JP 1326919 A JP1326919 A JP 1326919A JP 32691989 A JP32691989 A JP 32691989A JP H03187217 A JPH03187217 A JP H03187217A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
coating liquid
airtight chamber
surface treatment
holding member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1326919A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Ashikaga
足利 祐司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP1326919A priority Critical patent/JPH03187217A/ja
Publication of JPH03187217A publication Critical patent/JPH03187217A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体製造工程の塗布工程や現像工程等に
用いられるウェハの表面処理装置に関するものである。
特にそのウェハへの塗布の均一性の向上に関するもので
ある。
[従来の技術] 半導体の製造工程において、高濃度の拡散が必要である
ときには、スピンコード法が用いられる。
すなわち、ウェハの表面にボロンやひ素・シリカ等を含
む拡散用塗布液をたらし、ウェハを回転させて拡散用塗
布液をウェハ表面に広がらせている。
ところで、ウェハ表面の拡散用塗布液にむらがあると、
拡散の度合いが位置によって異なり、均一な拡散状態が
得られなくなる。この点、スピンコード法によれば、ウ
ェハの回転によって拡散用塗布液が均一に広がり、塗り
むらが生じにくい利点がある。
また、レジストや現像液をウェハ表面に塗布する場合に
も、上記のスピンコード法が用いられている。この場合
にも、これらを均一に塗布することが望まれる。
[発明が解決しようとする課題] 上記のように、ウェハの回転によって塗布液が広がれば
塗りむらを少なくすることができるが、塗布液が蒸発し
やすいものの場合には、回転により広がる前に固まって
しまい、むらが生じてしまうおそれがある。
この発明は、上記のような問題点を解決して、塗布液の
蒸発を抑えて、均一に塗布液を塗布することのできる表
面処理装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 請求項1のウェハの表面処理装置は、 ウェハを保持する保持部材、 保持部材を回転駆動させる回転駆動源、を備えており、
回転駆動源によって保持部材を回転して、ウェハ表面に
塗布液を塗布するものであって、 少なくともウェハと保持部材を囲むように気密室を設け
、 気密室内に窒素または空気を加圧充填して気密室を1気
圧以上とし、塗布を行うことを特徴としている。
[作用] 気密室には、窒素または空気が加圧充填されて1気圧以
上とされる。したがって、ウェハ表面の塗布液は蒸発を
抑えられ、回転によって十分に広がり、均一に塗布され
る。
[実施例] 第2図に、この発明の一実施例によるウェハの表面処理
装置の平面図を示す。ウェハは、センダ2からベルト4
によって搬送され、スピンナー6に送り込まれる。スピ
ンナー6において塗布液を塗布されたウェハは、ベルト
8によりホットブレー)−10に運ばれる。ホットプレ
ート10では、ウェハ表面に塗布された塗布液が乾燥さ
せられる。ホットブレー)10を出たウェハは、ベルト
12によってレシーバ14に受は取られる。
この装置の、スピンナー6の部分の詳細を第3図に示す
。上部に開口20aを有するカップ20の内部に、保持
部材であるチャック22が設けられている。チャック2
2は、軸24を介して回転駆動源であるモータ(図示せ
ず)に連結されており、回転駆動可能になっている。ま
た、チャック22の上面には、互いに連結された溝22
aが形成されている。
軸24は中空に形成されており、内部空間は真空ポンプ
等により負圧にできるようになっている。軸24の中空
部は、上記溝22aにつながっている。したがって、チ
ャック22の上面にウェハを載置した後、中空部を負圧
にすれば、ウェハをチャック上に固定保持することがで
きる。
カップ20の上面に開口20aが設けられているのは、
図中Aで示すように、ここから塗布液を滴下するためで
ある。また、開口20aの周囲に内部に設けられている
円筒状の壁26は、ウェハの周囲から飛散った塗布液が
、再びウェハ上に戻ってくるのを防止するためのもので
ある。また、カップ20の下面には、排気用の配管28
が接続されている。
このように構成されたカップ6は、第1図に示すように
、気密室30に収められる。気密室30には、配管32
が接続され、高圧窒素ガスが供給される。
気密室30内の高圧窒素ガスの圧力は、レギュレータ3
4によって調整される。なお、排気用配管28には、ダ
ンパー29が設けられており、加圧中はこのダンパー2
9を閉じて圧力が逃げることを防いでいる。
スピンナー6のチャック22の上にウェハ40が置かれ
、負圧によって保持される。この状態で、レギュレータ
34を介して、高圧窒素ガスを気密室30内に導き、気
密室30内のガス圧を1気圧以上にする。例えば、数k
g/c−〜数十kg/am’程度の圧力とするのが好ま
しい。この状態において、モータ70によりチャック2
2、ウェハ40を回転し、ノズル50より拡散用塗布液
60を滴下する。気密室30内は高圧となっているので
、拡散用塗布液は蒸発せず、均一な塗布が行われる。
なお、上記実施例では気密室30内を高圧窒素ガスで満
たしたが、窒素の代りに空気を用いてもよい。その場合
には、はこりと湿度を除いたドライエアー(クリーンエ
アー)を用いることが好ましい。窒素、空気何れの場合
にも、引火爆発の危険がないので、特別の防爆対策を施
す必要がない。
また、上記実施例では、拡散用塗布液を塗布する場合に
ついて説明したが、レジストや現像液を塗布する場合に
も適用できる。
[発明の効果] 請求項1のウェハの表面処理装置は、少なくともウェハ
と保持部材を囲むように気密室を設け、気密室内に窒素
または空気を加圧充填して気密室を1気圧以上とし、塗
布を行うことを特徴としている。したがって、ウェハ表
面の塗布液は蒸発を抑えられ、回転によって十分に広が
り、均一に塗布される。
すなわち、この発明によれば、塗布液の蒸発を抑えて、
ウェハ上に均一に塗布液を塗布することのできる表面処
理装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例による表面処理装置の断
面図、 第2図は、表面処理装置の平面図、 第3図は、第2図のスピンナー6の詳細を示す斜視図で
ある。 22・・・チャック 30・・・気密室 第 40・ ウェハ 60・ ・拡散用塗布液 70・ ・モータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェハを保持する保持部材、 保持部材を回転駆動させる回転駆動源、 を備え、回転駆動源によって保持部材を回転して、ウェ
    ハ表面に塗布液を塗布するウェハの表面処理装置におい
    て、 少なくともウェハと保持部材を囲むように気密室を設け
    、 気密室内に窒素または空気を加圧充填して1気圧以上と
    し、塗布を行うことを特徴とするウェハの表面処理装置
JP1326919A 1989-12-15 1989-12-15 ウエハの表面処理装置 Pending JPH03187217A (ja)

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JP1326919A JPH03187217A (ja) 1989-12-15 1989-12-15 ウエハの表面処理装置

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JP1326919A JPH03187217A (ja) 1989-12-15 1989-12-15 ウエハの表面処理装置

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JPH03187217A true JPH03187217A (ja) 1991-08-15

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ID=18193224

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JP1326919A Pending JPH03187217A (ja) 1989-12-15 1989-12-15 ウエハの表面処理装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0456221A (ja) * 1990-06-25 1992-02-24 Matsushita Electron Corp 回転塗布方法および回転塗布装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56113377A (en) * 1980-02-12 1981-09-07 Fujitsu Ltd Rotary coater
JPS60193339A (ja) * 1984-03-14 1985-10-01 Fujitsu Ltd レジスト膜塗布方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56113377A (en) * 1980-02-12 1981-09-07 Fujitsu Ltd Rotary coater
JPS60193339A (ja) * 1984-03-14 1985-10-01 Fujitsu Ltd レジスト膜塗布方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0456221A (ja) * 1990-06-25 1992-02-24 Matsushita Electron Corp 回転塗布方法および回転塗布装置

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