JPH0319337A - ウエハ異物除去装置 - Google Patents

ウエハ異物除去装置

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Publication number
JPH0319337A
JPH0319337A JP15488789A JP15488789A JPH0319337A JP H0319337 A JPH0319337 A JP H0319337A JP 15488789 A JP15488789 A JP 15488789A JP 15488789 A JP15488789 A JP 15488789A JP H0319337 A JPH0319337 A JP H0319337A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
foreign matter
liquid
holding member
pure water
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15488789A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Kishibe
岸部 健治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0319337A publication Critical patent/JPH0319337A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はウェハ只物除去装置に関し、特に、液体をウ
ェハ表面に接触摩擦させることによってウェハ表面から
異物を除去するようにしたウェハ異物除去装置に関する
[従来の技術] 第3A図および第3B図は従来のウェハ異物除去装置を
示しており、特に、第3A図は正面図であり、第3B図
は平面図である。第4図は第3A図に示す領域■の拡大
図である。次に、第3A図,第3B図および第4図を参
照して、従来のウェハ異物除去装置について説明する。
従来のウエ八先物除去装置は、シリコンウェハ1を賊置
するためのウェハ支持台2と、外周面に多数のブラシが
形成されたブラシロール4と、シリコンウェハ1の表面
に純水を注水するための純水バイブ7とを備える。ウェ
ハ支持台2は、その上に載置されたシリコンウェハ1を
固定するための吸着機構(図示せず)を有し、回転軸3
を中心として回転可能となっている。回転軸3は図示し
ない電動機等により回転力を与えられる。ブラシロール
4も回転軸6を中心として回転可能であり、回転軸6は
図示しない電動機等により回転力が与えられるようにな
っている。次に、動作について説明する。
シリコンウェハ1を、その洗浄すべき表面11を上方に
向けた状態でウェハ支持台2上に載置し、ウェハ支持台
2に設けられた吸着機構によってウェハ支持台2上に固
定する。次に、ウェハ支持台2を数千回/分で回転させ
るとともに、ブラシロール4を回転させ、かつ純水パイ
プ7からウェハ表面11に純水を注水する。
これにより、ブラシ3によりウェハ表面11が擦られ、
擦り取られた入物が純水によって洗い流されることによ
って、ウェハ上の叉物は除去される。
[発明が解決しようとする課題] 従来のウェハ異物除去装置は、以上のように構成されて
いるので、ブラシロール4の回転によりウェハ1上の異
物を除去するときに、ブラシ5の先端の一部が削り取ら
れ、それが異物となったり、第4図に示すように、既に
ウェハ1上に存在する異物がたとえばウェハ上の段差8
の角部91や段差と段差との間の溝92に集まってしま
い、異物除去が完全に行なわれないという問題点があっ
た。
それゆえに、この発明は上述のような問題点を解消する
ためになされたもので、ウェハ上の段差の角部あるいは
段差と段差との間の溝に異物が残らないようにして、異
物除去が完全に行なえるようなウェハ異物除去装置を提
供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明はウェハ表面から異物を除去するためのウェハ
異物除去装置である。この発明に係るウェハ異物除去装
置は、ウェハ表面を洗浄するための液体を収納するため
の液体収納部と、該液体収納部に収納された液体に超音
波振動を与えるための超音波発生手段と、ウェハ表面を
上記液体によって超音波洗浄することができるように、
ウェハを、その洗浄すべき表面が下方に向くようにして
保持することのできる回転可能なウェハ保持部材と、該
ウェハ保持部材を回転駆動するための回転駆動手段を備
えて構成される。
[作用コ この発明では、ウェハは洗浄すべき表面を下方に向けて
洗浄するための液体に浸され、回転される。この液体に
は、超音波振動が加えられる。これにより、ウェハ表面
に付着している異物は、液体とウェハ表面との摩擦力お
よび超音波振動によリウェハ表面から除去され、液体に
より洗い流される。
[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例のウェハ異物除表装置を示
す図であり、第2図は第1図に示す領域■の拡大図であ
る。
第1図に示すように、ウェハ異物除去装置は、シリコン
ウェハ1を洗浄するための液体たとえば純水12を収納
する容器10と、容器10の底部あるいは側部に設けれ
た超音波振動子13と、シリコンウェハ1をその洗浄す
べき表面を下方に向けて保持することのできる回転可能
な保持部材21とを備える。保持部材21はシリコンウ
ェハ1をたとえば吸着することにより保持固定できるよ
うになっている。また、保持部材21は、昇降自在な回
転軸23に取付けられ、この回転軸23には図示しない
電動機等により回転力が与えられるようになっている。
したがって、保持部材21は凹転しながら昇降すること
ができる。保持部材21の回転は1000〜6000回
/分の範囲で、また、超音波振動子13の周波数は10
0kHz〜10MHzの範囲でコントローラ(図示せず
)により変えることができるようになっている。
このように構成されたウェハ穴物除去装置においては洗
浄すべきシリコンウェハ1を洗浄すべき表面を下方に向
けて保持部材21に保持させる。
次に、保持部材21を所定の回転数で回転させながら降
下させ、純水12にシリコンウェハ1の表面11を浸す
。また、純水12を超音波振動子13によって超音波振
動させる。これにより、シリコンウェハ1の異物は、純
水l2とウェハ1表面との摩擦力および超音波振動によ
りウェハ表面から除去され、純水12によって洗い流さ
れる。このようにしてシリコンウェハ上の異物除去の際
に、ウェハ表面の段差8の角部や段差8間の溝に異物が
集まるのを防ぐことができる。洗浄処理後、シリコンウ
ェハ1を保持部材21とともに上昇させる。これにより
、シリコンウェハ1は純水12の水面を離れ、シリコン
ウェハ1表面に付着した水滴は高速回転によって飛散さ
れる。その後、シリコンウェハ1は回収される。
なお、上記実施例では、洗浄するための液体として水を
用いた場合を示したが、この液体としては、粘性の高い
液体でもよく、同様の効果を奏する。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、ウェハ表面と液体と
の摩擦力およびウエ八表面への超音波振動が存在するこ
とによって、ウェハ異物除去時に、ウェハ表面上の段差
の角部や段差と段差との間の溝に異物が集まるのを防ぎ
、異物除去を完全に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のウェハ異物除去装置を示
す図である。第2図は第1図に示す領域Hの拡大図であ
る。第3A図および第3B図は従来のウェハ異物除去装
置を示す図である。第4図は第3A図に示す領域■の拡
大図である。 図において、1はシリコンウェハ、10は容器、11は
ウェハ表面、12は純水、13は超音波振動子、21は
保持部材、23は回転軸を示す。 なお、図中、同一符号は同一または相当する部分を示す

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ウェハ表面から異物を除去するためのウェハ異物除去装
    置であって、 前記ウェハ表面を洗浄するための液体を収納するための
    液体収納部、 前記液体収納部に収納された前記液体に超音波振動を与
    えるための超音波発生手段、 前記ウェハ表面を前記液体によって超音波洗浄すること
    ができるように、前記ウェハを、その洗浄すべき表面が
    下方に向くようにして保持することのできる回転可能な
    ウェハ保持部材、および前記ウェハ保持部材を回転駆動
    するための回転駆動手段を備えた、ウェハ異物除去装置
JP15488789A 1989-06-16 1989-06-16 ウエハ異物除去装置 Pending JPH0319337A (ja)

Priority Applications (1)

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JP15488789A JPH0319337A (ja) 1989-06-16 1989-06-16 ウエハ異物除去装置

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JP15488789A JPH0319337A (ja) 1989-06-16 1989-06-16 ウエハ異物除去装置

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JPH0319337A true JPH0319337A (ja) 1991-01-28

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ID=15594131

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JP15488789A Pending JPH0319337A (ja) 1989-06-16 1989-06-16 ウエハ異物除去装置

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JP (1) JPH0319337A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6021789A (en) * 1998-11-10 2000-02-08 International Business Machines Corporation Wafer cleaning system with progressive megasonic wave
JP2005303131A (ja) * 2004-04-14 2005-10-27 Fuji Electric Holdings Co Ltd 半導体装置の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6021789A (en) * 1998-11-10 2000-02-08 International Business Machines Corporation Wafer cleaning system with progressive megasonic wave
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