JPH03197955A - 電子写真用感光体 - Google Patents

電子写真用感光体

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JPH03197955A
JPH03197955A JP2631490A JP2631490A JPH03197955A JP H03197955 A JPH03197955 A JP H03197955A JP 2631490 A JP2631490 A JP 2631490A JP 2631490 A JP2631490 A JP 2631490A JP H03197955 A JPH03197955 A JP H03197955A
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JP
Japan
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selenium
alloy
charge
arsenic
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP2631490A
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English (en)
Inventor
Mitsuru Narita
満 成田
Tsuneo Tamura
田村 恒雄
Seizo Kitagawa
清三 北川
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Priority to DE4011267A priority Critical patent/DE4011267C2/de
Priority to US07/507,592 priority patent/US5330863A/en
Publication of JPH03197955A publication Critical patent/JPH03197955A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、長波長光を露光光として用いるデジタル複
写機、プリンタなどに用いられる電子写真用感光体に関
する。
〔従来の技術〕
この種の電子写真応用装置においては、露光光源として
半導体レーザダイオード+HeNeレーザ。
発光ダイオードなどが主として用いられる。これらの光
源からの光は630nmから800n−と長波長である
ため、用いられる電子写真用感光体(以下、単に感光体
と略記する)としては、このような長波長光領域でも高
い感度を有する高テルル濃度のセレン・テルル系合金か
らなる電荷発生層、この電荷発生層に発生した電荷(正
孔)を導電性基体へ輸送するセレン・ひ素系合金からな
る電荷輸送層、および電荷発生層を外部ストレスから保
護する表面保護層を備えた機能分離型の多層積層型の感
光体が一般的に使われてきた。上述の表面保護層の材料
としては、耐剛性、耐化学的安定性、耐熱性などの観点
からセレン・ひ素系合金が用いられる。用いられる合金
のひ素濃度が高い程表面保護層の耐刷性、耐熱性は同上
するが、一方、ひ素濃度が高くなると、感光体の暗減衰
特性や疲労特性が悪くなるという問題が生じてくる。
このような問題点の解決策の一つとして、本出願人の特
許出願に係る特開平1−112250号公報に、高テル
ル濃度のセレン・テルル系合金からなる電荷発生層と表
面保護層との間に、純セレンあるいは10重量%以下の
低ひ素濃度のセレン・ひ素系合金からなる電荷注入抑制
層を介在させることにより、感光体の暗減衰特性および
疲労特性を悪化させることなしに表面保護層材料として
高ひ素濃度のセレン・ひ素系合金を用いることが可能と
なり、耐刷性、耐熱性の大幅に向上した表面保護層を備
えた優れた特性の感光体が得られることが開示されてい
る。
また、高耐刷化を狙いとした表面保護層材料として、セ
レン系材料以外の非晶質シリコン、非晶質窒化シリコン
が知られており、さらに、特開昭63−81367号公
報にて非晶質窒化はう素、特開昭63−81430号公
報にて非晶質窒化酸化シリコンも公知となっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、前述のセレン・テルル系合金からなる電
荷発生層上に、純セレンまたはセレン・ひ素系合金から
なる電荷注入抑制層を積層し、さらに、その上に高ひ素
濃度のセレン・ひ素系合金からなる表面保護層を積層し
た構成の感光体は、室温環境下では電荷注入抑制層の効
果が大きく、良好な暗減衰特性、疲労特性を有するが、
高温環境下ではその作用が十分でなくなり、暗減衰特性
や疲労特性の悪化を防止しきれなくなるという問題が発
生する。
また、表面保護層の材料としてセレン・ひ素系合金以外
の前述の材料を用いる場合には、電荷発生層上にグロー
放電により成膜することになるために、表面保護層の形
成に長時間を要し、感光体の価格が高くなるという欠点
を有している。
本発明は、上述の課題を解決して、高テルル濃度のセレ
ン・テルル系合金からなり長波長光に高感度を有する電
荷発生層、高ひ素濃度のセレン・ひ素系合金からなり耐
刷性、耐熱性に優れた表面保護層を備え、しかも暗減衰
特性、FM労時特性良好で、かつ高温環境下においても
安定で悪化が少ない感光体を提供することを目的とする
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために、本発明は、導電性基体上
にセレン・ひ素系合金からなる電荷輸送層、セレン・テ
ルル系合金からなる電荷発生層。
セレン・ひ素系合金からなる表面保護層が積層されてな
る感光体において、電荷発生層と表面保護層との間にセ
レン・ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑制層が介
在するものとする。あるいは、導電性基体と電荷輸送層
の間にセレン・ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑
制層が介在するものとする。あるいはまた、導電性基体
と電荷輸送層との間および電荷発生層と表面保護層との
間に、セレン・ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑
制層が介在するものとする。
〔作用〕
本発明は、熱膨張率が小さい^s諺sesにいおう(S
)を添加していくと、第2図に示すように任意の高い抵
抗値の合金が得られることに着目してなされたものであ
って、電荷発生層と表面保護層との間に設けられた高抵
抗のセレン・ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑制
層は、高温において感光体内部、特に電荷発生層で生じ
る熱励起キャリアの表面保護層への移動を抑制し、暗減
衰特性および疲労特性の悪化を抑制することができる。
また、導電性基体と電荷輸送層との間に設けられた高抵
抗のセレン・ひ素・いおう系合金からなる層は、高温環
境下においても電荷注入抑制層として良好に機能し、導
電性基体からの電荷の注入を効果的に抑制することがで
き、暗減衰の増大を防止することができる。
さらに、導電性基体と電荷輸送層との間および電荷発生
層と表面保護層との間双方に高抵抗の電荷注入抑制層を
介在させることにより、高温環境下における疲労特性の
悪化1例えば帯電・除電を繰り返したときの帯電低下が
少なくなるようにすることができる。
〔実施例〕
第1図は、本発明に係わる感光体の一実施例の模式的断
面図で、導電性基体1の上に電荷輸送層2、電荷発生層
3が積層され、その上にセレン・ひ素・いおう系合金か
らなる電荷注入抑制層4を介して表面保護層5が設けら
れている。
実施例1 機械加工および洗浄の施された直径80nのアルミニウ
ム円筒管の導電性基体1を蒸着装置の回転支持軸に取り
付け、導電性基体1の温度を約190℃に加熱し、この
温度に保ち、I X 111’Torrにまで真空引き
し、その後Asm5es合金の充填された蒸発源を約4
00℃に加熱して、回転している導電性基体1上に約6
0−の均一な膜厚を有する電荷輸送層2を蒸着した0次
に、フラッシュ蒸着法で、電荷発生層3として34原子
%のTeを含む5e−Te合金を約0.5nの厚さに、
電荷注入抑制層4としてAS*Sel+富S合金を約I
J!11の厚さに、表面保護層5としてへs、se、合
金を約2−の厚さに順次蒸着し、積層して感光体とした
。フラッシュ蒸着は回転支持軸温度60℃、圧力I X
 10−’Torr、蒸発源温度350℃の条件のもと
で行った。
実施例2 実施例1において、電荷注入抑制層4の蒸着材料をAs
655g5合金に替え、蒸着膜厚を約0.5−と薄くし
たこと以外は、実施例1と同様にして感光体を作製した
比較例1 実施例1において、電荷注入抑制層4の蒸着材料を5原
子%のAsを含む5s−As合金に替えたこと以外は、
実施例1と同様にして感光体を作製した。
このようにして作製した実施例および比較例の感光体に
ついて、暗減衰特性の温度依存性を調べた。その結果を
第3図に示す、第3図における縦軸の暗減衰量は帯電後
1秒の暗減衰電位の初めの帯電位に対する百分率である
。また、疲労特性として、帯電・露光を250サイクル
繰り返したときの帯電低下量をとり、その温度依存性を
調べた。
その結果を第4図に示す、第4図における縦軸の帯電低
下量は初期帯電位と250サイクル後の帯電位との電位
差の初期帯電位に対する百分率である。
第3図および第4図より、比較例1の感光体に比べ実施
例1および実施例2の感光体では、高温側での暗減衰特
性および疲労特性が大幅に改善されていることが明らか
である。
第5図は、本発明に係わる感光体の他の実施例の模式的
断面図で、第1図と共通の部分には同一の符号が付され
ている。すなわち、導電性基体1の上に、セレン・ひ素
・いおう系合金からなる電荷注入抑制層4、セレン・ひ
素系合金からなる電荷輸送層2、セレン・テルル系合金
からなる電荷発生層3、セレン・ひ素系合金からなる表
面保護層5が積層された構成のものである。
実施例3 実施例1と同様に加工および洗浄の施された直径80m
のアルミニウム円筒管の導電性基体1を蒸着装置の回転
支持軸に取り付け、導電性基体1の温度を約60℃に加
熱し、この温度に保ち、1×10−’ Torrにまで
真空引きし、回転している導電性基体1上にフラッシュ
蒸着法でAsSe+、□S+、tS合金を1μの厚さに
蒸着して電荷注入抑制層4を形成し、続いて、導電性基
体1の温度を約190℃に加熱し、As1Se3合金の
充填された蒸発源を約400℃に加熱して約60μの均
一な膜厚を有する電荷輸送層2を蒸着した0次に、この
上に、フラッシュ蒸着法で、電荷発生層3として34原
子%のToを含むSs −Te合金を約0.5μの厚さ
に、表面保護層5として^s@Se2合金を約2nの厚
さに順次蒸着し積層して、第5図に示した構成の感光体
を作製した。
フラッシュ蒸着の条件は、実施例1のときと同様である
第6図は、本発明に係わる感光体のさらに別の実施例の
模式的断面図で、第1.第5図と共通の部分には同一の
符号が付されている。すなわち、第5図の感光体の電荷
発生層と表面保護層5の間に、第1図の感光体と同様に
電荷注入抑制層4を設けたものである。
実施例4 実施例3における電荷発生層3の蒸着後、再び電荷注入
抑制層今としてAsSe+、 xsse+、 ts金合
金約1nの厚さにフランシュ蒸着し、次いで実施例3と
同様の表面保護層5をフラッシュ蒸着法で積層して、第
6図に示した構成の感光体を作製した。
比較例2 実施例3.4において、電荷注入抑制層4を設けなかっ
たこと以外は同様の工程で感光体を作製した。
このようにして作製した実施例3.4および比較例2の
感光体について暗減衰の温度依存性を調べた。その結果
を第7図に示す、第7図における縦軸の暗減衰率は、第
3図の場合と同様、帯電後1秒の暗減衰電位の初めの帯
電位に対する百分率である。また、疲労特性として、第
4図の場合と同様、帯電・露光を250サイクル繰り返
したときの帯電低下量をとり、その温度依存性を調べた
その結果を第8図に示す。
第7図および第8図より、比較例2の感光体に比べ実施
例3および実施例4の感光体では、高温側での暗減衰特
性および疲労特性が大幅に改善されていることは明らか
である。特に、導電性基体と電荷輸送層との間、および
電荷発生層と表面保護層との間の二ケ所に電荷注入抑制
層を設けた実施例4の感光体は、導電性基体から感光体
内部への電荷の注入および感光体内部の電荷輸送層、電
荷発生層に生じる熱励起キャリアの表面保護層(感光体
表面)への移動が抑制されて、優れた特性を有すること
が判かる。
また、各実施例の感光体においては、電荷発生層は高テ
ルル濃度のセレン・テルル系合金で形成され、表面保護
層は高ひ素濃度のセレン・ひ素系合金で形成されている
。従って、実施例の感光体は長波長光に高い感度を有し
、暗減衰特性および疲労特性が良好で高温環境下でも悪
化することの少ない優れた特性を有し、しかも耐剛性、
耐熱性に優れた表面保護層を備えたものである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、電荷発生層と表面保護層との間に、あ
るいは、導電性基体と電荷輸送層との間に、あるいはま
た、それぞれの間に、高抵抗のセレン・ひ素・いおう系
合金からなる電荷注入抑制層を設けることにより、電荷
輸送層をセレン・ひ素系合金で形成し、電荷発生層を高
テルル濃度のセレン・テルル系合金で形成し、表面保護
層を高ひ素濃度のセレン・ひ素系合金で形成すれば、耐
剛性、耐熱性に優れた表面保護層を備え、長波長光に高
い感度を有し、しかも、暗減衰特性、疲労特性が良好で
かつ高温環境下においても安定で悪化することの少ない
感光体を得ることが可能となる。
本発明による感光体は、近年急速に普及してきている、
半導体レーザダイオード、発光ダイオードなどの長波長
光を露光光として用いるデジタル複写機、プリンタなど
に好適に使用できる。しかも、高温環境下においても良
質の画像を得ることができ、この発明の効果は顕著であ
る。
また、本発明における表面保護層材料はセレン・ひ素系
合金であり、セレン系材料以外の非晶賞シリコンなどの
場合のように、表面保護層の形成にグロー放電などの長
時間を要する方法を用いることなく、真空蒸着で簡単に
形成することができ、感光体を安価に製造できる利点も
有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる感光体の一実施例の模式的断面
図、第2図はセレン・ひ素・いおう系合金の電気抵抗と
合金中のAa、Setに対するいおう添加量との関係を
示す線図、第3図、第4図はそれぞれ実施例1.2およ
び比較例1の感光体の暗減衰特性および疲労特性の温度
依存性を示す線図、第5図、第6図はそれぞれ本発明に
係わる感光体のさらに異なる実施例の模式的断面図、第
7図および第8図はそれぞれ実施例3.4および比較例
2の暗減衰特性および疲労特性の温度依存性を示す線図
である。 1 導電性基体、 :電荷輸送層、 3 : 電荷光 体層、 :を荷注入抑制層、 :表面保護層。 10    20゜ 王【寛1度(°C) 0 0 第3図 0 0 0 0 iH,温度(0C) 第4図 第1図 AS2Se3に対するSの滲加量(原子%)第2島 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)導電性基体上にセレン・ひ素系合金からなる電荷輸
    送層、セレン・テルル系合金からなる電荷発生層、セレ
    ン・ひ素系合金からなる表面保護層が積層されてなるも
    のにおいて、電荷発生層と表面保護層との間にセレン・
    ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑制層が介在する
    ことを特徴とする電子写真用感光体。 2)導電性基体上にセレン・ひ素系合金からなる電荷輸
    送層、セレン・テルル系合金からなる電荷発生層、セレ
    ン・ひ素系合金からなる表面保護層が積層されてなるも
    のにおいて、導電性基体と電荷輸送層との間にセレン・
    ひ素・いおう系合金からなる電荷注入抑制層が介在する
    ことを特徴とする電子写真用感光体。 3)導電性基体上にセレン・ひ素系合金からなる電荷輸
    送層、セレン・テルル系合金からなる電荷発生層、セレ
    ン・ひ素系合金からなる表面保護層が積層されてなるも
    のにおいて、導電性基体と電荷輸送層との間および電荷
    発生層と表面保護層との間にセレン・ひ素・いおう系合
    金からなる電荷注入抑制層が介在することを特徴とする
    電子写真用感光体。
JP2631490A 1989-04-12 1990-02-06 電子写真用感光体 Pending JPH03197955A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4011267A DE4011267C2 (de) 1989-04-12 1990-04-06 Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
US07/507,592 US5330863A (en) 1989-04-12 1990-04-10 Photosensitive material for electronic photography use

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1-92740 1989-04-12
JP9274089 1989-04-12
JP1-109737 1989-04-28
JP10973789 1989-04-28

Publications (1)

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JPH03197955A true JPH03197955A (ja) 1991-08-29

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ID=26434117

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JP2631490A Pending JPH03197955A (ja) 1989-04-12 1990-02-06 電子写真用感光体

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