JPH03244149A - リードフレーム - Google Patents
リードフレームInfo
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- JPH03244149A JPH03244149A JP2041576A JP4157690A JPH03244149A JP H03244149 A JPH03244149 A JP H03244149A JP 2041576 A JP2041576 A JP 2041576A JP 4157690 A JP4157690 A JP 4157690A JP H03244149 A JPH03244149 A JP H03244149A
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高速、高消費電力が要求される半導体装置を
製造する際に使用するリードフレームに関し、特にイン
ナーリードの構造に関するものである。
製造する際に使用するリードフレームに関し、特にイン
ナーリードの構造に関するものである。
従来のこの種のリードフレームを第9図および第10図
によって説明する。
によって説明する。
第9図は従来のリードフレームのインナーリード部分を
拡大して示す平面図、第1O図はワイヤボンディング後
の従来のリードフレームのインナーリード部分を拡大し
て示す平面図である。なお、従来のリードフレームはそ
の幅方向中心部分を中心として略左右対称であるため、
第9図および第10図においてはリードフレームの片側
のみを示す。これらの図において、■は半導体素子2を
搭載するためのダイスバッドで、このダイスバッド1は
吊りリード3を介してリードフレームの外枠(図示せず
)に連結されている。4はワイヤ5を介して前記半導体
素子2の電極パッド(図示せず)にワイヤボンディング
されるインナーリードである。このインナーリード4は
、半導体装置の外部と信号の授受を行なう外部リード(
図示せず)と一体に設けられ、前記ダイスバッド1の周
囲に多数配設されている。このように槽底されたリード
フレームは、一般にFe−Ni合金またはCu合金によ
って一体に形成されており、インナーリード4の表面は
Agめっきされている。なお、6はインナーリード4を
固定するためのサポートテープである。
拡大して示す平面図、第1O図はワイヤボンディング後
の従来のリードフレームのインナーリード部分を拡大し
て示す平面図である。なお、従来のリードフレームはそ
の幅方向中心部分を中心として略左右対称であるため、
第9図および第10図においてはリードフレームの片側
のみを示す。これらの図において、■は半導体素子2を
搭載するためのダイスバッドで、このダイスバッド1は
吊りリード3を介してリードフレームの外枠(図示せず
)に連結されている。4はワイヤ5を介して前記半導体
素子2の電極パッド(図示せず)にワイヤボンディング
されるインナーリードである。このインナーリード4は
、半導体装置の外部と信号の授受を行なう外部リード(
図示せず)と一体に設けられ、前記ダイスバッド1の周
囲に多数配設されている。このように槽底されたリード
フレームは、一般にFe−Ni合金またはCu合金によ
って一体に形成されており、インナーリード4の表面は
Agめっきされている。なお、6はインナーリード4を
固定するためのサポートテープである。
次に、上述したリードフレームを用いた半導体装置の組
立て手順について説明する。先ず、半導体素子2を半田
または樹脂によってダイスバッド1上に固定する。この
半導体素子2の内部には能動回路が集積され、All、
による相互配線が行なわれており、相互配線の終端には
、これらの回路と外部の信号のやり取りを行なうための
電極パッドが設けられている。そして、この電極パッド
とインナーリード4とをワイヤ5によってワイヤボンデ
ィングする。このワイヤ5はAuまたはCuによって形
成されたものが使用される。ワイヤボンディング方法と
しては、先ず、ワイヤが通されたキャピラリーチップ先
端のワイヤ部分に入熱して金属ボールを形成し、この金
属ボールを加圧、塑性変形させた状態で熱と振動エネル
ギーによりAll−AuまたはAll−Cuの合金接合
を行なう。
立て手順について説明する。先ず、半導体素子2を半田
または樹脂によってダイスバッド1上に固定する。この
半導体素子2の内部には能動回路が集積され、All、
による相互配線が行なわれており、相互配線の終端には
、これらの回路と外部の信号のやり取りを行なうための
電極パッドが設けられている。そして、この電極パッド
とインナーリード4とをワイヤ5によってワイヤボンデ
ィングする。このワイヤ5はAuまたはCuによって形
成されたものが使用される。ワイヤボンディング方法と
しては、先ず、ワイヤが通されたキャピラリーチップ先
端のワイヤ部分に入熱して金属ボールを形成し、この金
属ボールを加圧、塑性変形させた状態で熱と振動エネル
ギーによりAll−AuまたはAll−Cuの合金接合
を行なう。
次に、ワイヤをキャピラリーチップの先端から引き出し
ながらインナーリード側へ移動させ、その後、上述した
手順と同様にして熱と振動エネルギーによりAg−Au
またはAg−Cuの合金接合を行なう。しかる後、ワイ
ヤを引き千切って配線が完了することになる。このよう
にワイヤボンディングを行なった後、半導体素子2.イ
ンナーリード4およびワイヤ5等をエポキシ樹脂等の樹
脂によって封止し、外部リード(図示せず)および吊り
リード3等をリードフレームの外枠より分断して半導体
装置が得られる。
ながらインナーリード側へ移動させ、その後、上述した
手順と同様にして熱と振動エネルギーによりAg−Au
またはAg−Cuの合金接合を行なう。しかる後、ワイ
ヤを引き千切って配線が完了することになる。このよう
にワイヤボンディングを行なった後、半導体素子2.イ
ンナーリード4およびワイヤ5等をエポキシ樹脂等の樹
脂によって封止し、外部リード(図示せず)および吊り
リード3等をリードフレームの外枠より分断して半導体
装置が得られる。
しかるに、従来のリードフレームはこのように槽底され
ているので、とりわけゲートアレー等の集積回路ではV
cc(電源電圧)用ビンとVss (接地電圧)用ピン
の占める割合が全ピンの20〜30%にもなり、ビン数
が多くなる関係から、リード幅が狭められてリードのイ
ンダクタンスが増大する。その結果、VccまたはVs
sの電圧が不安定になり、バウンスと呼ばれる一種の電
源雑音が発生して誤動作を引き起こしてしまう。また、
信号の位相遅れが発生するため、高速で正確な信号を伝
送することができなくなる。
ているので、とりわけゲートアレー等の集積回路ではV
cc(電源電圧)用ビンとVss (接地電圧)用ピン
の占める割合が全ピンの20〜30%にもなり、ビン数
が多くなる関係から、リード幅が狭められてリードのイ
ンダクタンスが増大する。その結果、VccまたはVs
sの電圧が不安定になり、バウンスと呼ばれる一種の電
源雑音が発生して誤動作を引き起こしてしまう。また、
信号の位相遅れが発生するため、高速で正確な信号を伝
送することができなくなる。
また、VccやVssの電源系のピンは、半導体素子2
の電極パッドと対応する位置に配置される関係からこれ
らを集約することはできない。このため、リードビン数
が規格されたパッケージに収めるためには、ひと回り大
きな(ビン数の多い〉パッケージを使用しなければなら
ない場合があり、このような場合には、ビン数が一致せ
ずにNCピンが発生してしまい不経済であった。
の電極パッドと対応する位置に配置される関係からこれ
らを集約することはできない。このため、リードビン数
が規格されたパッケージに収めるためには、ひと回り大
きな(ビン数の多い〉パッケージを使用しなければなら
ない場合があり、このような場合には、ビン数が一致せ
ずにNCピンが発生してしまい不経済であった。
さらに、インナーリード4のばたつきを抑えるサポート
テープ6が原因で、リークによるクロストーク等の電気
特性の低下や耐湿性の低下が発生し易く、信頼性が低く
なるという問題もあった。
テープ6が原因で、リークによるクロストーク等の電気
特性の低下や耐湿性の低下が発生し易く、信頼性が低く
なるという問題もあった。
さらにまた、従来のリードフレームを使用して形成され
た半導体装置においては、高速化、高集積化されること
に伴う消費電力の増大により、動作中に半導体素子2が
高温になり、誤動作等を起こしたりして信頼性が低いも
のであった。このため、熱放散性の高いパッケージ構造
にする必要がんあった。
た半導体装置においては、高速化、高集積化されること
に伴う消費電力の増大により、動作中に半導体素子2が
高温になり、誤動作等を起こしたりして信頼性が低いも
のであった。このため、熱放散性の高いパッケージ構造
にする必要がんあった。
本発明の第1の発明に係るリードフレームは、ダイスパ
ッドとインナーリードとの間に、ダイスパッド側部に沿
って幅広に形成されかつインナーリードのうち電源系の
インナーリードの先端に一体に設けられた電源系ワイヤ
パッドを配置してなり、この電源系ワイヤパッドと前記
ダイスバッドのうち一方に半導体素子の電源用電極をワ
イヤボンディングし、他方に接地用電極をワイヤボンデ
ィングしたものである。
ッドとインナーリードとの間に、ダイスパッド側部に沿
って幅広に形成されかつインナーリードのうち電源系の
インナーリードの先端に一体に設けられた電源系ワイヤ
パッドを配置してなり、この電源系ワイヤパッドと前記
ダイスバッドのうち一方に半導体素子の電源用電極をワ
イヤボンディングし、他方に接地用電極をワイヤボンデ
ィングしたものである。
本発明の第2の発明に係るリードフレームは、ダイスバ
ッドとインナーリードとの間に、グイスパント側部に沿
って幅広に形成された電源系ワイヤパッドを配置してな
り、この電源系ワイヤパッドを、インナーリードのうち
電源用のインナーリードの先端に一体に設けられ、半導
体素子の電源用電極にワイヤボンディングされる電源用
ワイヤパッドと、インナーリードのうち接地用のインナ
ーリードの先端に一体に設けられ、半導体素子の接地用
電極にワイヤボンディングされる接地用ワイヤパッドと
によって形成し、これらを内外に並べたものである。
ッドとインナーリードとの間に、グイスパント側部に沿
って幅広に形成された電源系ワイヤパッドを配置してな
り、この電源系ワイヤパッドを、インナーリードのうち
電源用のインナーリードの先端に一体に設けられ、半導
体素子の電源用電極にワイヤボンディングされる電源用
ワイヤパッドと、インナーリードのうち接地用のインナ
ーリードの先端に一体に設けられ、半導体素子の接地用
電極にワイヤボンディングされる接地用ワイヤパッドと
によって形成し、これらを内外に並べたものである。
本発明に係るリードフレームは、半導体素子の全ての電
源系の電極パッドが電源系ワイヤパッドにワイヤボンデ
ィングされ、電源用インナーリードおよび接地用インナ
ーリードを電源系ワイヤパ・7ドによってそれぞれ集約
することができる。このため、パッケージの全ピン数を
少なくできると共に、電源系ワイヤパッドのパッド領域
が広い関係からインダクタンスを低減させることができ
る。
源系の電極パッドが電源系ワイヤパッドにワイヤボンデ
ィングされ、電源用インナーリードおよび接地用インナ
ーリードを電源系ワイヤパ・7ドによってそれぞれ集約
することができる。このため、パッケージの全ピン数を
少なくできると共に、電源系ワイヤパッドのパッド領域
が広い関係からインダクタンスを低減させることができ
る。
また、信号用インナーリードに接続されるワイヤが接地
用ワイヤパッド上を通るから、樹脂封止後にはこのワイ
ヤと接地用ワイヤパッドとの関係は両者の間が封止樹脂
で満たされて実質的なストリップライン構造になる。こ
のため、インピーダンス整合が可能になり、インダクタ
ンスが低減される。さらに、第1の発明に係るリードフ
レームにおいてダイスパッドを半導体素子より充分に幅
広に形成することによって、熱放散性を高めること一 ができる。
用ワイヤパッド上を通るから、樹脂封止後にはこのワイ
ヤと接地用ワイヤパッドとの関係は両者の間が封止樹脂
で満たされて実質的なストリップライン構造になる。こ
のため、インピーダンス整合が可能になり、インダクタ
ンスが低減される。さらに、第1の発明に係るリードフ
レームにおいてダイスパッドを半導体素子より充分に幅
広に形成することによって、熱放散性を高めること一 ができる。
以下、本発明に係る第1の発明を第1図ないし第3図(
a)、 (b)に示す実施例によって詳細に説明する。
a)、 (b)に示す実施例によって詳細に説明する。
第1図は本発明の第1の発明に係るリードフレームの要
部を拡大して示す平面図、第2図は第1図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図、第3図(a)、 (b)はワイヤボンディング
状態を示す図で、同図(a)は第2図におけるA−A線
断面図、同図(b)は第2図におけるB−B線断面図で
ある。なお、本発明に係るリードフレームはその幅方向
中心部分を中心として略左右対称であるため、第1図お
よび第2図においてはリードフレームの片側のみを示す
。
部を拡大して示す平面図、第2図は第1図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図、第3図(a)、 (b)はワイヤボンディング
状態を示す図で、同図(a)は第2図におけるA−A線
断面図、同図(b)は第2図におけるB−B線断面図で
ある。なお、本発明に係るリードフレームはその幅方向
中心部分を中心として略左右対称であるため、第1図お
よび第2図においてはリードフレームの片側のみを示す
。
これらの図において前記第9図および第10図で説明し
たものと同一もしくは同等部材については、同一符号を
付し詳細な説明は省略する。これらの図において、1■
は電源系のワイヤパッドを示し、本実施例ではこのワイ
ヤパッド11を特に電源電圧用ワイヤパッド(以下、こ
れを単にVccワイヤパッドという。)として使用した
例について説明する。このVccワイヤバッド11は、
ダイスパッド1側部に沿うように幅広に形成され、ダイ
スパッド1とインナーリード4との間であってダイスバ
ッド1の4方に配置されている。また、このVccワイ
ヤパッド11はインナーリード4のうち電源用インナー
リード4aの先端に一体に設けられており、この電源用
インナーリード(以下、これをVccインナーリードと
いう。)4aによって支持されるように構成されている
。前記Vccワイヤバッド11を支持するVccインナ
ーリード4aは本実施例においては、ダイスバッド1の
長辺側に配置されたものにおいては3本とされ、短辺側
に配置されたものにおいては2本とされている。また、
本実施例ではVccインナーリード4a同士がその間に
信号用インナーリード4を複数本隔てて配置された例を
示したが、Vccインナーリード4aを幅広に形成して
1本に集約することもできる。
たものと同一もしくは同等部材については、同一符号を
付し詳細な説明は省略する。これらの図において、1■
は電源系のワイヤパッドを示し、本実施例ではこのワイ
ヤパッド11を特に電源電圧用ワイヤパッド(以下、こ
れを単にVccワイヤパッドという。)として使用した
例について説明する。このVccワイヤバッド11は、
ダイスパッド1側部に沿うように幅広に形成され、ダイ
スパッド1とインナーリード4との間であってダイスバ
ッド1の4方に配置されている。また、このVccワイ
ヤパッド11はインナーリード4のうち電源用インナー
リード4aの先端に一体に設けられており、この電源用
インナーリード(以下、これをVccインナーリードと
いう。)4aによって支持されるように構成されている
。前記Vccワイヤバッド11を支持するVccインナ
ーリード4aは本実施例においては、ダイスバッド1の
長辺側に配置されたものにおいては3本とされ、短辺側
に配置されたものにおいては2本とされている。また、
本実施例ではVccインナーリード4a同士がその間に
信号用インナーリード4を複数本隔てて配置された例を
示したが、Vccインナーリード4aを幅広に形成して
1本に集約することもできる。
なお、4bは接地用インナーリード(以下、これ0
をVssインナーリードという。)を示す。本実施例で
使用されるダイスパッド1は、その幅および長さ寸法が
半導体素子2のそれより充分に大きくなるように設定さ
れている。
使用されるダイスパッド1は、その幅および長さ寸法が
半導体素子2のそれより充分に大きくなるように設定さ
れている。
12は半導体素子2をダイスパッド1上に搭載するため
のダイボンドろう材が必要範囲外へ流れ出すのを阻止す
るための凹溝で、この凹溝12は、前記ダイスパッド1
の半導体素子搭載面に、半導体素子2の外周形状に沿っ
て平面視四角形状にハーフエッチを施すことによって形
成されている。
のダイボンドろう材が必要範囲外へ流れ出すのを阻止す
るための凹溝で、この凹溝12は、前記ダイスパッド1
の半導体素子搭載面に、半導体素子2の外周形状に沿っ
て平面視四角形状にハーフエッチを施すことによって形
成されている。
このように槽底されたリードフレームにおいては、半導
体素子2の複数のVcc(電源電圧)電極パッドとVc
cワイヤパッド11とがワイヤ5によってワイヤボンデ
ィングされ、半導体素子2の複数のVss (接地電圧
〉電極バンドとダイスパッド1とがワイヤ5によってワ
イヤボンディングされる。また、前記ダイスパッドIと
Vssインナーリード4bもワイヤ5によってワイヤボ
ンディングされる。すなわち、Vcc電極パッドは、第
3図(a)に示すように、ワイヤ5およびVccワイヤ
パッド11を介してVccインナーリード4aに電気的
に接続されることになる。また、Vss電極バンドは、
第3図(b)に示すように、ワイヤ5.ダイスパッド1
およびワイヤ5を順次介してVssインナーリード4b
に電気的に接続されることになる。なお、ダイスパッド
1を支持する吊りリード3の近傍にVssインナーリー
ド4bが配置される場合には、第2図に示すように、こ
の吊りリード3とVssインナーリード4bとをワイヤ
ボンディングして両者を導通させることもできる。
体素子2の複数のVcc(電源電圧)電極パッドとVc
cワイヤパッド11とがワイヤ5によってワイヤボンデ
ィングされ、半導体素子2の複数のVss (接地電圧
〉電極バンドとダイスパッド1とがワイヤ5によってワ
イヤボンディングされる。また、前記ダイスパッドIと
Vssインナーリード4bもワイヤ5によってワイヤボ
ンディングされる。すなわち、Vcc電極パッドは、第
3図(a)に示すように、ワイヤ5およびVccワイヤ
パッド11を介してVccインナーリード4aに電気的
に接続されることになる。また、Vss電極バンドは、
第3図(b)に示すように、ワイヤ5.ダイスパッド1
およびワイヤ5を順次介してVssインナーリード4b
に電気的に接続されることになる。なお、ダイスパッド
1を支持する吊りリード3の近傍にVssインナーリー
ド4bが配置される場合には、第2図に示すように、こ
の吊りリード3とVssインナーリード4bとをワイヤ
ボンディングして両者を導通させることもできる。
このように槽底されたリードフレームにおいては、Vc
cワイヤパッド11とダイスパッドlとで電源系のワイ
ヤパッドが槽底される。そして、半導体素子2の複数の
Vcc電極バンドをそれぞれ最寄りのVCCワイヤバッ
ド11にワイヤボンディングし、半導体素子2の複数の
Vss電極バッドをダイスパッド1にそれぞれワイヤボ
ンディングすることによって、Vccインナーリード4
a、Vssインナーリード4bをそれぞれ集約でき、V
cc電極パッド、Vss電極パッドの数に較べてVcc
インナ1 2 一リード4a、Vssインナーリード4bの本数を少な
くすることができる。
cワイヤパッド11とダイスパッドlとで電源系のワイ
ヤパッドが槽底される。そして、半導体素子2の複数の
Vcc電極バンドをそれぞれ最寄りのVCCワイヤバッ
ド11にワイヤボンディングし、半導体素子2の複数の
Vss電極バッドをダイスパッド1にそれぞれワイヤボ
ンディングすることによって、Vccインナーリード4
a、Vssインナーリード4bをそれぞれ集約でき、V
cc電極パッド、Vss電極パッドの数に較べてVcc
インナ1 2 一リード4a、Vssインナーリード4bの本数を少な
くすることができる。
したがって、パッケージの全ピン数を少なくできると共
に、電源系ワイヤパッド(Vccワイヤバッド11.ダ
イスパッド1)のパッド領域を広くとることができる関
係から、インダクタンスを低減させることができる。ま
た、信号用インナーリード4に接続されるワイヤ5は、
Vss電極パッドと同電位のダイスパッド1上を通るか
ら、樹脂封止後には、このワイヤ5とダイスパッド1と
の関係は両者の間がエポキシ樹脂等の封止樹脂で満たさ
れて実質的なストリップライン構造になる。このため、
インピーダンス整合が可能になり、インダクタンスが低
減される。さらに、ダイスパッド1は半導体素子2より
充分に幅広に形成されているため、半導体素子2の発熱
を放散させ易くすることができ、しかも、インナーリー
ド4が短くなるために従来必要とされたサポートテープ
を使用しなくても済む。
に、電源系ワイヤパッド(Vccワイヤバッド11.ダ
イスパッド1)のパッド領域を広くとることができる関
係から、インダクタンスを低減させることができる。ま
た、信号用インナーリード4に接続されるワイヤ5は、
Vss電極パッドと同電位のダイスパッド1上を通るか
ら、樹脂封止後には、このワイヤ5とダイスパッド1と
の関係は両者の間がエポキシ樹脂等の封止樹脂で満たさ
れて実質的なストリップライン構造になる。このため、
インピーダンス整合が可能になり、インダクタンスが低
減される。さらに、ダイスパッド1は半導体素子2より
充分に幅広に形成されているため、半導体素子2の発熱
を放散させ易くすることができ、しかも、インナーリー
ド4が短くなるために従来必要とされたサポートテープ
を使用しなくても済む。
なお、上記実施例では、ダイスパッド1上でのダイボン
ドろう材の流出を抑えるためにダイスパッド1に凹溝1
2を設けた例を示したが、第4図に示すように、ダイス
パッド1にスリットを設ける構造にしてもよい。
ドろう材の流出を抑えるためにダイスパッド1に凹溝1
2を設けた例を示したが、第4図に示すように、ダイス
パッド1にスリットを設ける構造にしてもよい。
第4図は第1の発明のリードフレームにおけるダイスパ
ッドの他の実施例を示す平面図で、同図において前記第
1図で説明したものと同一もしくは同等部材については
、同一符号をイ」シ詳細な説明は省略する。第4図にお
いて、13はダイボンドろう材の流出を抑えるためのス
リットで、このスリット13はダイスパッド1における
半導体素子2の4辺と対応する部位に形成されており、
スリット13によって囲まれた部分(半導体素子搭載部
)はインナー吊りピン14によって外側の部分に連結さ
れている。
ッドの他の実施例を示す平面図で、同図において前記第
1図で説明したものと同一もしくは同等部材については
、同一符号をイ」シ詳細な説明は省略する。第4図にお
いて、13はダイボンドろう材の流出を抑えるためのス
リットで、このスリット13はダイスパッド1における
半導体素子2の4辺と対応する部位に形成されており、
スリット13によって囲まれた部分(半導体素子搭載部
)はインナー吊りピン14によって外側の部分に連結さ
れている。
また、本実施例ではVssインナーリード4bがダイス
パッド用吊りリード3の近傍に配置された場合にこの吊
りリード3とVssインナーリード4bとをワイヤボン
ディングした例を示したが、このような場合には、第5
図に示すように、吊りす3 14 −ドとVssインナーリードとを集約して一体に形成す
ることもできる。
パッド用吊りリード3の近傍に配置された場合にこの吊
りリード3とVssインナーリード4bとをワイヤボン
ディングした例を示したが、このような場合には、第5
図に示すように、吊りす3 14 −ドとVssインナーリードとを集約して一体に形成す
ることもできる。
第5図は第1の発明のリードフレームおける吊りリード
の他の実施例を示す平面図で、同図において前記第1図
で説明したものと同一もしくは同等部材については、同
一符号を付し詳細な説明は省略する。第5図において、
15はダイスパッド1をリードの外枠に連結してダイス
パッド1を支持するための吊りリードで、この吊りリー
ド15は、インナーリード4と対応する部位が他の部位
より幅広に形成されている。そして、この吊りリード1
5においては、前記幅広部分が実質的に■ssインナー
リードとなるように設定されている。
の他の実施例を示す平面図で、同図において前記第1図
で説明したものと同一もしくは同等部材については、同
一符号を付し詳細な説明は省略する。第5図において、
15はダイスパッド1をリードの外枠に連結してダイス
パッド1を支持するための吊りリードで、この吊りリー
ド15は、インナーリード4と対応する部位が他の部位
より幅広に形成されている。そして、この吊りリード1
5においては、前記幅広部分が実質的に■ssインナー
リードとなるように設定されている。
このようにしても本実施例と同等の効果が得られる。
さらに、本実施例では電源系ワイヤパッドたるVccワ
イヤバッド11をVcc電極パッドと同電位とし、ダイ
スパッド1をVSS電極パッドと同電位とした例を示し
たが、デバイスによっては素子基板の電位がVccのも
のもあるため、このようなデバイスを使用する場合には
、ダイスパッド1を■cc電位とし、Vccワイヤバッ
ド11をVss電位とすることもできる。
イヤバッド11をVcc電極パッドと同電位とし、ダイ
スパッド1をVSS電極パッドと同電位とした例を示し
たが、デバイスによっては素子基板の電位がVccのも
のもあるため、このようなデバイスを使用する場合には
、ダイスパッド1を■cc電位とし、Vccワイヤバッ
ド11をVss電位とすることもできる。
次に、本発明に係る第2の発明を第6図ないし第8図(
a)、 (b)に示す実施例によって詳細に説明する。
a)、 (b)に示す実施例によって詳細に説明する。
第6図は本発明の第2の発明に係るリードフレームの要
部を拡大して示す平面図、第7図は第6図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図である。第8図(a)。
部を拡大して示す平面図、第7図は第6図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図である。第8図(a)。
(b)はワイヤボンディング状態を示す図で、同図(a
)は第7図におけるA−A線断面図、同図(b)は第7
図におけるB−B線断面図である。なお、本発明に係る
リードフレームはその幅方向中心部分を中心として略左
右対称であるため、第6図および第7図においてはリー
ドフレームの片側のみを示す。これらの図において前記
第1図ないし第5図で説明したものと同一もしくは同等
部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略する
。
)は第7図におけるA−A線断面図、同図(b)は第7
図におけるB−B線断面図である。なお、本発明に係る
リードフレームはその幅方向中心部分を中心として略左
右対称であるため、第6図および第7図においてはリー
ドフレームの片側のみを示す。これらの図において前記
第1図ないし第5図で説明したものと同一もしくは同等
部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略する
。
これらの図において、21は接地用ワイヤパッド5
6
としてのVssワイヤパッド、22は電源用ワイヤパッ
ドとしてのVccワイヤパッドを示ず。前記VSSワイ
ヤパッド21およびVccワイヤバッド22は、それぞ
れダイスパッド1側部に沿うように幅広に形成され、ダ
イスパッド1とインナーリード4との間であってダイス
パッドlの4方に配置されている。本実施例ではVss
ワイヤバッド21がダイスパット1側に配置され、Vc
cワイヤバッド22がこのVssワイヤパッド21の外
側に配置されている。また、前記Vssワイヤバッド2
1およびVccワイヤバッド22のそれぞれの両側部に
は、側部をリードフレームの外枠側へ延設することによ
ってVssインナーリード4bおよびVccインナーリ
ード4aが一体に設けられており、このVssインナー
リード4b、Vccインナーリード4aによって外枠に
支持されている。
ドとしてのVccワイヤパッドを示ず。前記VSSワイ
ヤパッド21およびVccワイヤバッド22は、それぞ
れダイスパッド1側部に沿うように幅広に形成され、ダ
イスパッド1とインナーリード4との間であってダイス
パッドlの4方に配置されている。本実施例ではVss
ワイヤバッド21がダイスパット1側に配置され、Vc
cワイヤバッド22がこのVssワイヤパッド21の外
側に配置されている。また、前記Vssワイヤバッド2
1およびVccワイヤバッド22のそれぞれの両側部に
は、側部をリードフレームの外枠側へ延設することによ
ってVssインナーリード4bおよびVccインナーリ
ード4aが一体に設けられており、このVssインナー
リード4b、Vccインナーリード4aによって外枠に
支持されている。
このように構成されたリードフレームにおいては、第7
図に示すように、半導体素子2の複数のVss電極パッ
ドとVssワイヤバッド21とがワイヤ5によってワイ
ヤボンディングされ、半導体素子2の複数のVcc電極
パッドとVccワイヤパッド22とがワイヤ5によって
Vssワイヤパッド21を通り越してワイヤボンディン
グされる。すなわち、Vss電極バンドは、第8図(a
>に示すように、ワイヤ5およびVssワイヤパッド2
1を介してVssインナーリード4bに電気的に接続さ
れることになる。また、Vcc電極パッドは、第8図(
b)に示すように、ワイヤ5およびVccワイヤバッド
22を介してVccインナーリード4aに電気的に接続
されることになる。
図に示すように、半導体素子2の複数のVss電極パッ
ドとVssワイヤバッド21とがワイヤ5によってワイ
ヤボンディングされ、半導体素子2の複数のVcc電極
パッドとVccワイヤパッド22とがワイヤ5によって
Vssワイヤパッド21を通り越してワイヤボンディン
グされる。すなわち、Vss電極バンドは、第8図(a
>に示すように、ワイヤ5およびVssワイヤパッド2
1を介してVssインナーリード4bに電気的に接続さ
れることになる。また、Vcc電極パッドは、第8図(
b)に示すように、ワイヤ5およびVccワイヤバッド
22を介してVccインナーリード4aに電気的に接続
されることになる。
このように構成されたリードフレームにおいては、半導
体素子2の複数のVss電極バンドをそれぞれ最寄りの
Vssワイヤバッド21にワイヤボンディングし、半導
体素子2の複数のVcc電極バッドをVccワイヤパッ
ド22にそれぞれワイヤボンディングすることによって
、Vssインナーリード4b、Vccインナーリード4
aをそれぞれ集約でき、Vss電極パッド、Vcc電極
バッドの数に較べてVssインナーリード4b、Vcc
インナーリード4aの本数を少なくすることができる。
体素子2の複数のVss電極バンドをそれぞれ最寄りの
Vssワイヤバッド21にワイヤボンディングし、半導
体素子2の複数のVcc電極バッドをVccワイヤパッ
ド22にそれぞれワイヤボンディングすることによって
、Vssインナーリード4b、Vccインナーリード4
aをそれぞれ集約でき、Vss電極パッド、Vcc電極
バッドの数に較べてVssインナーリード4b、Vcc
インナーリード4aの本数を少なくすることができる。
7
8
したがって、パッケージの全ビン数を少なくできると共
に、電源系ワイヤパッド(Vssワイヤバッド21.V
ccワイヤパッド22)のパッド領域を広くとることが
できる関係から、インダクタンスを低減させることがで
きる。また、信号用インナーリード4に接続されるワイ
ヤ5は、Vssワイヤバッド21上を通るから、樹脂封
止後には、このワイヤ5とVssワイヤパッド21との
関係は両者の間がエポキシ樹脂等の封止樹脂で満たされ
て実質的なストリップライン構造になる。このため、イ
ンピーダンス整合が可能になり、インダクタンスが低減
される。さらに、インナーリード4が短くなるために従
来必要とされたサポートテープを使用しなくても済む。
に、電源系ワイヤパッド(Vssワイヤバッド21.V
ccワイヤパッド22)のパッド領域を広くとることが
できる関係から、インダクタンスを低減させることがで
きる。また、信号用インナーリード4に接続されるワイ
ヤ5は、Vssワイヤバッド21上を通るから、樹脂封
止後には、このワイヤ5とVssワイヤパッド21との
関係は両者の間がエポキシ樹脂等の封止樹脂で満たされ
て実質的なストリップライン構造になる。このため、イ
ンピーダンス整合が可能になり、インダクタンスが低減
される。さらに、インナーリード4が短くなるために従
来必要とされたサポートテープを使用しなくても済む。
なお、本実施例ではVssワイヤバッド21をダイスパ
ッド1側に、Vccワイヤパッド22をVssワイヤバ
ッド21より外側に配置した例を示したが、本発明はこ
のような限定にとられれることなく、上述したものとは
逆に配置することもできる。
ッド1側に、Vccワイヤパッド22をVssワイヤバ
ッド21より外側に配置した例を示したが、本発明はこ
のような限定にとられれることなく、上述したものとは
逆に配置することもできる。
以上説明したように本発明の第1の発明に係るリードフ
レームは、ダイスパッドとインナーリードとの間に、ダ
イスパッド側部に沿って幅広に形成されかつインナーリ
ードのうち電源系のインナーリードの先端に一体に設け
られた電源系ワイヤパッドを配置してなり、この電源系
ワイヤパッドと前記ダイスパッドのうち一方に半導体素
子の電源用電極をワイヤボンディングし、他方に接地用
電極をワイヤボンディングしたものであり、また、本発
明の第2の発明に係るリードフレームは、ダイスパッド
とインナーリードとの間に、ダイスパッド側部に沿って
幅広に形成された電源系ワイヤパッドを配置してなり、
この電源系ワイヤパッドを、インナーリードのうち電源
用のインナーリードの先端に一体に設けられ、半導体素
子の電源用電極にワイヤボンディングされる電源用ワイ
ヤパッドと、インナーリードのうち接地用のインナーリ
ードの先端に一体に設けられ、半導体素子の接地用電極
にワイヤボンディングされる接地用ワイヤパッドとによ
って形成し、これらを内外に並べ9 0 たものであるため、半導体素子の全ての電源系の電極ハ
ンドが電源系ワイヤパッドにワイヤボンディングされ、
電源用インナーリードおよび接地用インナーリードを電
源系ワイヤパッドによってそれぞれ集約することができ
る。したがって、パ。
レームは、ダイスパッドとインナーリードとの間に、ダ
イスパッド側部に沿って幅広に形成されかつインナーリ
ードのうち電源系のインナーリードの先端に一体に設け
られた電源系ワイヤパッドを配置してなり、この電源系
ワイヤパッドと前記ダイスパッドのうち一方に半導体素
子の電源用電極をワイヤボンディングし、他方に接地用
電極をワイヤボンディングしたものであり、また、本発
明の第2の発明に係るリードフレームは、ダイスパッド
とインナーリードとの間に、ダイスパッド側部に沿って
幅広に形成された電源系ワイヤパッドを配置してなり、
この電源系ワイヤパッドを、インナーリードのうち電源
用のインナーリードの先端に一体に設けられ、半導体素
子の電源用電極にワイヤボンディングされる電源用ワイ
ヤパッドと、インナーリードのうち接地用のインナーリ
ードの先端に一体に設けられ、半導体素子の接地用電極
にワイヤボンディングされる接地用ワイヤパッドとによ
って形成し、これらを内外に並べ9 0 たものであるため、半導体素子の全ての電源系の電極ハ
ンドが電源系ワイヤパッドにワイヤボンディングされ、
電源用インナーリードおよび接地用インナーリードを電
源系ワイヤパッドによってそれぞれ集約することができ
る。したがって、パ。
ケージの全ピン数を少なくできると共に、電源系ワイヤ
パッドのパッド領域を広くとることができる。このため
、インダクタンスを低減させることができ、本発明に係
るリードフレームを使用して組立てられた半導体装置に
おいてはバウンスが発生するのを確実に抑えて信頼性を
高めることができる。また、信号用インナーリードに接
続されるワイヤが接地用ワイヤパッド上を通るから、樹
脂封止後にはこのワイヤと接地用ワイヤパッドとの関係
は両者の間が封止樹脂で満たされて実質的なストリップ
ライン構造になる。このため、インピーダンス整合が可
能になり、インダクタンスが低減されて信号の遅延時間
を短縮することができる。
パッドのパッド領域を広くとることができる。このため
、インダクタンスを低減させることができ、本発明に係
るリードフレームを使用して組立てられた半導体装置に
おいてはバウンスが発生するのを確実に抑えて信頼性を
高めることができる。また、信号用インナーリードに接
続されるワイヤが接地用ワイヤパッド上を通るから、樹
脂封止後にはこのワイヤと接地用ワイヤパッドとの関係
は両者の間が封止樹脂で満たされて実質的なストリップ
ライン構造になる。このため、インピーダンス整合が可
能になり、インダクタンスが低減されて信号の遅延時間
を短縮することができる。
さらに、本発明に係るリードフレームにおいては、信号
用のインナーリードを短くすることができるため、従来
必要としたインナーリード固定用サポートテープを使用
しな(て済む。このため、サポートテープ貼り付は工程
を削除することができるばかりか、サポートテープ使用
による電気特性信頼性の低下を招(ようなこともなくな
る。さらにまた、第1の発明に係るリードフレームにお
いてダイスパッドを半導体素子より充分に幅広に形成す
ると、熱放散性を高めることができ、これによっても信
頼性を高めることができる。
用のインナーリードを短くすることができるため、従来
必要としたインナーリード固定用サポートテープを使用
しな(て済む。このため、サポートテープ貼り付は工程
を削除することができるばかりか、サポートテープ使用
による電気特性信頼性の低下を招(ようなこともなくな
る。さらにまた、第1の発明に係るリードフレームにお
いてダイスパッドを半導体素子より充分に幅広に形成す
ると、熱放散性を高めることができ、これによっても信
頼性を高めることができる。
第1図は本発明の第1の発明に係るリードフレームの要
部を拡大して示す平面図、第2図は第1図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図、第3図(a)、 (b)−はワイヤボンディン
グ状態を示す図で、同図(a)は第2図におけるA−A
線断面図、同図(b)は第2図におけるB−B線断面図
である。第4図は第1の発明のリードフレームにおける
ダイスパッドの他の実施例を示す平面図、第5図は第1
の発明のリードフレームおける吊りリードの他の実施例
を2■ 2 示す平面図である。第6図は本発明の第2の発明に係る
リードフレームの要部を拡大して示す平面図、第7図は
第6図に示したリードフレームにワイヤボンディングを
行なった状態を示す平面図、第8図(a)、 (b)は
ワイヤボンディング状態を示す図で、同図(a)は第7
図におけるA−A線断面図、同図(b)は第7図におけ
るB−B線断面図である。 第9図は従来のリードフレームのインナーリード部分を
拡大して示す平面図、第10図はワイヤボンディング後
の従来のリードフレームのインナーリード部分を拡大し
て示す平面図である。 1・・・・ダイスバッド、2・・・・半導体素子、4・
・・・インナーリード、4a・・・・Vccインナーリ
ード、4b・・・・Vssインナーリード、5・・・・
ワイヤ、11.22・・・・Vccワイヤパッド、21
・・・・Vssワイヤパッド。
部を拡大して示す平面図、第2図は第1図に示したリー
ドフレームにワイヤボンディングを行なった状態を示す
平面図、第3図(a)、 (b)−はワイヤボンディン
グ状態を示す図で、同図(a)は第2図におけるA−A
線断面図、同図(b)は第2図におけるB−B線断面図
である。第4図は第1の発明のリードフレームにおける
ダイスパッドの他の実施例を示す平面図、第5図は第1
の発明のリードフレームおける吊りリードの他の実施例
を2■ 2 示す平面図である。第6図は本発明の第2の発明に係る
リードフレームの要部を拡大して示す平面図、第7図は
第6図に示したリードフレームにワイヤボンディングを
行なった状態を示す平面図、第8図(a)、 (b)は
ワイヤボンディング状態を示す図で、同図(a)は第7
図におけるA−A線断面図、同図(b)は第7図におけ
るB−B線断面図である。 第9図は従来のリードフレームのインナーリード部分を
拡大して示す平面図、第10図はワイヤボンディング後
の従来のリードフレームのインナーリード部分を拡大し
て示す平面図である。 1・・・・ダイスバッド、2・・・・半導体素子、4・
・・・インナーリード、4a・・・・Vccインナーリ
ード、4b・・・・Vssインナーリード、5・・・・
ワイヤ、11.22・・・・Vccワイヤパッド、21
・・・・Vssワイヤパッド。
Claims (2)
- (1)半導体素子が搭載されるダイスパッドを備え、半
導体素子にワイヤボンディングされるインナーリードが
前記ダイスパッドの周囲に配置されたリードフレームに
おいて、前記ダイスパッドとインナーリードとの間に、
ダイスパッド側部に沿って幅広に形成されかつインナー
リードのうち電源系のインナーリードの先端に一体に設
けられた電源系ワイヤパッドを配置してなり、この電源
系ワイヤパッドと前記ダイスパッドのうち一方に半導体
素子の電源用電極をワイヤボンディングし、他方に接地
用電極をワイヤボンディングしたことを特徴とするリー
ドフレーム。 - (2)半導体素子が搭載されるダイスパッドを備え、半
導体素子にワイヤボンディングされるインナーリードが
前記ダイスパッドの周囲に配置されたリードフレームに
おいて、前記ダイスパッドとインナーリードとの間に、
ダイスパッド側部に沿って幅広に形成された電源系ワイ
ヤパッドを配置してなり、この電源系ワイヤパッドを、
インナーリードのうち電源用のインナーリードの先端に
一体に設けられ、半導体素子の電源用電極にワイヤボン
ディングされる電源用ワイヤパッドと、インナーリード
のうち接地用のインナーリードの先端に一体に設けられ
、半導体素子の接地用電極にワイヤボンディングされる
接地用ワイヤパッドとによって形成し、これらを内外に
並べたことを特徴とするリードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2041576A JPH03244149A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2041576A JPH03244149A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | リードフレーム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03244149A true JPH03244149A (ja) | 1991-10-30 |
Family
ID=12612270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2041576A Pending JPH03244149A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | リードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03244149A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0620593A1 (en) * | 1993-04-16 | 1994-10-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device with smaller package |
| US5592020A (en) * | 1993-04-16 | 1997-01-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device with smaller package having leads with alternating offset projections |
| US5639694A (en) * | 1994-10-07 | 1997-06-17 | International Business Machines Corporation | Method for making single layer leadframe having groundplane capability |
| US5798571A (en) * | 1995-07-04 | 1998-08-25 | Nec Corporation | Inductance reduced wire-bonding type semiconductor device |
| JP2005026520A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リードフレーム及びそれを用いた半導体装置 |
| JP2010016054A (ja) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Renesas Technology Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
| EP1925027A4 (en) * | 2005-08-15 | 2010-06-30 | Texas Instruments Inc | SEMICONDUCTOR ASSEMBLY AND HOUSING FOR HIGH CURRENT AND LOW INDUCTANCE APPLICATIONS |
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| JP2014011227A (ja) * | 2012-06-28 | 2014-01-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置 |
| JP2014229679A (ja) * | 2013-05-21 | 2014-12-08 | 株式会社リコー | 半導体装置 |
-
1990
- 1990-02-21 JP JP2041576A patent/JPH03244149A/ja active Pending
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| JP2014229679A (ja) * | 2013-05-21 | 2014-12-08 | 株式会社リコー | 半導体装置 |
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