JPH0332095A - 相互接続構造およびその製造方法 - Google Patents
相互接続構造およびその製造方法Info
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- JPH0332095A JPH0332095A JP2155603A JP15560390A JPH0332095A JP H0332095 A JPH0332095 A JP H0332095A JP 2155603 A JP2155603 A JP 2155603A JP 15560390 A JP15560390 A JP 15560390A JP H0332095 A JPH0332095 A JP H0332095A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はフレキシブルな印刷回路板の製造、特に接続用
に使用するために浮出し金属構造を限定し構成する方法
に関する。
に使用するために浮出し金属構造を限定し構成する方法
に関する。
[従来技術]
表面上に浮出し金属構造を形成することが望ましい種々
の適用が存在する。1つのこのような適用は、このよう
な浮出し構造が例えばヒユーズエアクラフト社の米国特
許第4.453.795号明細書に記載されているよう
なフレキシブルな構造上で相互接続接触点を形成するコ
ネクタ構造の形成である。この特許明細書の記載による
と、第1のウェハは浮出し金属コネクタ構造が銅ボタン
の形態で形成される銅の接触パッドを有する。第2のウ
ェハは銅ボタンと結合するように位置した銅バットを有
している。その後、′!J1および第2のウェハは第1
のウェハの銅ボタンと第2のウェハのパッドとの間に接
続部を形成するために整列され圧縮される。
の適用が存在する。1つのこのような適用は、このよう
な浮出し構造が例えばヒユーズエアクラフト社の米国特
許第4.453.795号明細書に記載されているよう
なフレキシブルな構造上で相互接続接触点を形成するコ
ネクタ構造の形成である。この特許明細書の記載による
と、第1のウェハは浮出し金属コネクタ構造が銅ボタン
の形態で形成される銅の接触パッドを有する。第2のウ
ェハは銅ボタンと結合するように位置した銅バットを有
している。その後、′!J1および第2のウェハは第1
のウェハの銅ボタンと第2のウェハのパッドとの間に接
続部を形成するために整列され圧縮される。
[発明の解決すべき課題]
米国特許第4.453,795号明細書の銅ボタンのよ
うな浮出し金属構造を形成する通常の方法は多数のフォ
トリソグラフステップを必要とする。最初にフォトレジ
ストは、アクリル接着誘電フィルム絶縁体基体表面上に
0.002乃至0.003インチで延在する相互接続特
性を持つ回路板を形成するために3度照明され、露出さ
れて現像される。次にフォトレジストは浮出し構造の周
囲を“テント状に覆われ、別のフォトエッチステップが
基体上の銅パッド上の回路を限定するために実行される
。最後に、予め孔を開けられたカバー層が回路板上に設
けられ、構造を限定するためにカバー層によって露出さ
れたエリアに金めつきが供給される。
うな浮出し金属構造を形成する通常の方法は多数のフォ
トリソグラフステップを必要とする。最初にフォトレジ
ストは、アクリル接着誘電フィルム絶縁体基体表面上に
0.002乃至0.003インチで延在する相互接続特
性を持つ回路板を形成するために3度照明され、露出さ
れて現像される。次にフォトレジストは浮出し構造の周
囲を“テント状に覆われ、別のフォトエッチステップが
基体上の銅パッド上の回路を限定するために実行される
。最後に、予め孔を開けられたカバー層が回路板上に設
けられ、構造を限定するためにカバー層によって露出さ
れたエリアに金めつきが供給される。
上記の処理にはいくつかの問題がある。多数のステップ
が要求される結果、労働集約的な処理方法になる。第2
に、浮出し構造の周囲でフォトレジストのテント被覆を
試みることは困難であり、割れ目を生じることが多い。
が要求される結果、労働集約的な処理方法になる。第2
に、浮出し構造の周囲でフォトレジストのテント被覆を
試みることは困難であり、割れ目を生じることが多い。
さらに、浮出し構造はカバー層を銅パッドから離すよう
に作用し、その結果不十分なライン制限になる。最後に
、予め孔を開けられたカバー層の整列は困難であり、依
然として金めっきされなければならないパッドエリア上
に露出された銅を残す。金めつきはアルカリ接着基体を
露出されたエリアを劣化する。
に作用し、その結果不十分なライン制限になる。最後に
、予め孔を開けられたカバー層の整列は困難であり、依
然として金めっきされなければならないパッドエリア上
に露出された銅を残す。金めつきはアルカリ接着基体を
露出されたエリアを劣化する。
したがって、本発明の目的は浮出し金属接続構造を限定
し構成する方法を改善することである。
し構成する方法を改善することである。
本発明の別の目的は、通常使用されるこのような処理に
おけるステップの数を減少することである。
おけるステップの数を減少することである。
別の目的は、従来技術における不正確さおよび劣化を回
避する簡単化された方法を提供することである。
避する簡単化された方法を提供することである。
[課題解決のための手段]
本発明の処理方法によると、金属接続構造は積層および
エツチングのようなディメンション的変化を誘起する傾
向がある処理の終了後に構成される。本発明の処理方法
によると、エツチングされた回路は誘電フィルム絶縁体
により被覆される。
エツチングのようなディメンション的変化を誘起する傾
向がある処理の終了後に構成される。本発明の処理方法
によると、エツチングされた回路は誘電フィルム絶縁体
により被覆される。
その後、回路はめっきレジストのようなマスク層により
積層される。それからレーザを使用してマスク層および
下方にある誘電フィルムを融除することによって構造位
置が構成される。続いて、構造は融除された位置でめっ
きされ、マスク層は剥がして除去され、誘電表面の上方
に浮上がった構造を残す。
積層される。それからレーザを使用してマスク層および
下方にある誘電フィルムを融除することによって構造位
置が構成される。続いて、構造は融除された位置でめっ
きされ、マスク層は剥がして除去され、誘電表面の上方
に浮上がった構造を残す。
したがって、本発明の方法は相互接続を行うのに十分な
高さを誘電体の上方に有する構造の形成を実現する。さ
らに、ディメンション的な変化を誘起する傾向がある生
産処理の終了後に構造が位置されるため、この方法は接
続構造の正確な配置をもたらす。最後に、レーザは通常
のフォトリソグラフによって行われるものより小さな構
造を融除し、それによって相互接続密度を高めることが
できる。
高さを誘電体の上方に有する構造の形成を実現する。さ
らに、ディメンション的な変化を誘起する傾向がある生
産処理の終了後に構造が位置されるため、この方法は接
続構造の正確な配置をもたらす。最後に、レーザは通常
のフォトリソグラフによって行われるものより小さな構
造を融除し、それによって相互接続密度を高めることが
できる。
[実施例]
第1図は、典型的にプラウエア州つイルミントンのデュ
ポン社から販売されているビララックス(P yral
ux) 0Mから形成されたフレキシブルな誘電フィル
ム基体11を示す。ポリイミド、アクリル性接着剤を含
むポリイミド、ポリエステルおよびテフロンのようなそ
の他多数の既知の材料が誘電フィルムとして使用されて
もよい。はぼ0.0014インチの厚さの銅の導電層1
3は、積層のような通常の印刷回路板製造方法によって
基体上に形成される。
ポン社から販売されているビララックス(P yral
ux) 0Mから形成されたフレキシブルな誘電フィル
ム基体11を示す。ポリイミド、アクリル性接着剤を含
むポリイミド、ポリエステルおよびテフロンのようなそ
の他多数の既知の材料が誘電フィルムとして使用されて
もよい。はぼ0.0014インチの厚さの銅の導電層1
3は、積層のような通常の印刷回路板製造方法によって
基体上に形成される。
露出されたフォトレジスト層I5が銅の導電層13上に
形成される。この層15は例えば0.020インチの幅
である。その幅は、接続構造が最終的に形成される層1
3におけるパッドを限定するように選択される。
形成される。この層15は例えば0.020インチの幅
である。その幅は、接続構造が最終的に形成される層1
3におけるパッドを限定するように選択される。
レジスト部分15を形成するために導電層13は光感応
性レジストにより被覆される。レジストは、技術的に良
く知られた装置であるフォトレジストラミネータを使用
して導電層13上に積層される。
性レジストにより被覆される。レジストは、技術的に良
く知られた装置であるフォトレジストラミネータを使用
して導電層13上に積層される。
フォトレジストラミネータによりフォトレジストは熱お
よび圧力を使用してロールされる。加熱処理の際に使用
される温度はほぼ225乃至250°Fである。
よび圧力を使用してロールされる。加熱処理の際に使用
される温度はほぼ225乃至250°Fである。
その後、供給された光感応性レジストはマスクを通して
露出され、それによって市販の良く知られた露出装置で
ある“露出ユニット”において部分15を限定する。露
出ユニット(示されていない)は、紫外m(、UV)に
それをさらすことによってマスクされていないレジスト
(5を重合する。その後、レジストが現像される。現像
液は、重合されていないレジスト(マスクされたために
露出されなかったレジスト)を除去し、露出または重合
化された部分15を残す。
露出され、それによって市販の良く知られた露出装置で
ある“露出ユニット”において部分15を限定する。露
出ユニット(示されていない)は、紫外m(、UV)に
それをさらすことによってマスクされていないレジスト
(5を重合する。その後、レジストが現像される。現像
液は、重合されていないレジスト(マスクされたために
露出されなかったレジスト)を除去し、露出または重合
化された部分15を残す。
部分15を限定する別の方法は、シルクスクリーンおよ
びアルカリ可溶エツチングレジストを使用してパターン
を印刷することである。この代りの方法はレジスト積層
、露出および現像処理をなくすることができる。ビニル
、ポリビニルまたはララテックスはまた技術的に知られ
ているようにフォトレジストの代わりに使用されてもよ
い。
びアルカリ可溶エツチングレジストを使用してパターン
を印刷することである。この代りの方法はレジスト積層
、露出および現像処理をなくすることができる。ビニル
、ポリビニルまたはララテックスはまた技術的に知られ
ているようにフォトレジストの代わりに使用されてもよ
い。
フォトレジスト15が形成された後、通常のエツチング
ステップが行われ、フォトレジスト15が除去され、そ
の結果第2図に示されるようにバッド17が形成される
。
ステップが行われ、フォトレジスト15が除去され、そ
の結果第2図に示されるようにバッド17が形成される
。
さらに第2図に示されているように、フレキシブルな誘
電フィルム絶縁体19は例えば0.001乃至0.00
2インチの厚さでパッド17上に形成される。
電フィルム絶縁体19は例えば0.001乃至0.00
2インチの厚さでパッド17上に形成される。
ピララックス7Mはまた誘電フィルム絶縁体19として
使用されてもよい。ビララックス7Mは、加圧および加
熱の下に段階的に積層されるキャストレジンである。そ
の他多数の既知の誘電フィルム材料も使用されることが
できる。
使用されてもよい。ビララックス7Mは、加圧および加
熱の下に段階的に積層されるキャストレジンである。そ
の他多数の既知の誘電フィルム材料も使用されることが
できる。
ビララックスTM絶縁層I9が供給された後、フォトレ
ジストの層21は第3図に示されるように層19上に積
層される。この段階で層11.19および21および銅
バッド17を含む部分はレーザ融除に対する準備ができ
る。
ジストの層21は第3図に示されるように層19上に積
層される。この段階で層11.19および21および銅
バッド17を含む部分はレーザ融除に対する準備ができ
る。
第4図に示されるように、レーザビーム25は接触しな
いマスク23によって遮断され、24で概略的に示され
た適切な光学系によってワークピースに焦点を合わせら
れる。マスク23は、レーザビーム25を遮断し、案内
することによってワークピース上に所望の構造を限定す
る開口を含む。
いマスク23によって遮断され、24で概略的に示され
た適切な光学系によってワークピースに焦点を合わせら
れる。マスク23は、レーザビーム25を遮断し、案内
することによってワークピース上に所望の構造を限定す
る開口を含む。
第4図に示されているように、集束されたレーザ光25
は構造における構造開口または“通路層27を融除する
。開口または通路27はフォトレジスト21およびピラ
ラックスフ0誘電フィルム層19を通って銅バッド17
の表面に延在する。
は構造における構造開口または“通路層27を融除する
。開口または通路27はフォトレジスト21およびピラ
ラックスフ0誘電フィルム層19を通って銅バッド17
の表面に延在する。
使用されるレーザは、248ナノメータ(nm)波長の
エクサイマレーザ放射レーザパルスであることが好まし
い。レーザは例えばほぼ0.005乃至o、oosイン
チの深さを有する通路27を融除するために使用される
。
エクサイマレーザ放射レーザパルスであることが好まし
い。レーザは例えばほぼ0.005乃至o、oosイン
チの深さを有する通路27を融除するために使用される
。
このようにして限定された通路27により、銅29は第
5図に示されるように通常の電気分解付着方法によって
電気分解的に開口27中に付着される。
5図に示されるように通常の電気分解付着方法によって
電気分解的に開口27中に付着される。
銅29はフォトレジスト層21の上面22より上まで堆
積される。
積される。
最後に、第6図に示されているようにフォトレジスト層
21が剥がして除去され、パッド17上に形成された所
望の構造29を残し、例えば基礎板上に設けられた接続
パッドと相互接続を行うのに十分な長さでビララックス
TM絶縁層(9の上方に延在する。
21が剥がして除去され、パッド17上に形成された所
望の構造29を残し、例えば基礎板上に設けられた接続
パッドと相互接続を行うのに十分な長さでビララックス
TM絶縁層(9の上方に延在する。
理解できるように、上記の方法は構造29のような構造
を形成する通常の方法に付随する多数のステップを回避
する。構造29はまたバッド17を形成するエツチング
処理後に設けられ、それによってさらに正確な構造配置
をもたらす。最後に、第4図に示されたようなレーザ融
除は小さい構造の形成を実現し、したがって相互接続密
度を高める。
を形成する通常の方法に付随する多数のステップを回避
する。構造29はまたバッド17を形成するエツチング
処理後に設けられ、それによってさらに正確な構造配置
をもたらす。最後に、第4図に示されたようなレーザ融
除は小さい構造の形成を実現し、したがって相互接続密
度を高める。
論議を簡単にするために、1つの金属構造29の形成が
記載されている。当業者は、好ましい実施例の方法がマ
スク23のような種々の適切に構成されたマスクを使用
して多数のこのような構造の種々のパターンの形成に適
用可能なことを理解するであろう。
記載されている。当業者は、好ましい実施例の方法がマ
スク23のような種々の適切に構成されたマスクを使用
して多数のこのような構造の種々のパターンの形成に適
用可能なことを理解するであろう。
当業者はさらに本発明の技術的範囲を逸脱することなく
好ましい実施例の種々の適用および修正が行われること
ができることを理解するであろう。
好ましい実施例の種々の適用および修正が行われること
ができることを理解するであろう。
したがって、本発明は添付された特許請求の範囲の各請
求項の範囲内で特に上記において限定される以外に実現
されることができることを理解すべきである。
求項の範囲内で特に上記において限定される以外に実現
されることができることを理解すべきである。
第1図乃至第6図は、好ましい実施例による浮出し金属
構造の構成における種々の段階を示す断面図である。 11・・・誘電フィルム絶縁体、13・・・導電層、1
5・・・レジスト部分、17・・・パッド、21・・・
フォトレジスト層、23・・・マスク、27・・・通路
、29・・・構造。
構造の構成における種々の段階を示す断面図である。 11・・・誘電フィルム絶縁体、13・・・導電層、1
5・・・レジスト部分、17・・・パッド、21・・・
フォトレジスト層、23・・・マスク、27・・・通路
、29・・・構造。
Claims (12)
- (1)基体上に導電層を形成し、 前記導電層から導電パッドを形成し、 前記パッド上に誘電フィルム絶縁体を形成し、前記誘電
フィルム絶縁体上にマスク層を形成し、前記パッドに到
達する通路を形成するために前記マスク層および前記誘
電フィルム絶縁体を融除し、 誘電フィルム絶縁体上で少なくとも通路の一部を満たす
導電材料を前記通路中に挿入し、 前記マスク層を除去して前記構造を形成するステップを
含む相互接続構造を形成する方法。 - (2)前記融除するステップはレーザにより前記マスク
層および誘電フィルム絶縁体を融除する請求項1記載の
方法。 - (3)前記レーザはエクサイマレーザを含む請求項2記
載の方法。 - (4)前記融除するステップは、前記マスク層に関して
前記構造を限定する手段を含むマスクを位置し、 前記マスク層および前記誘電フィルム絶縁体を融除する
ために前記マスクを通過してレーザ光ビームを照射する
請求項1記載の相互接続構造を形成する方法。 - (5)前記誘電フィルム絶縁体を形成するステップは前
記パッド上に段階的にキャストレジンを供給することを
含む請求項4記載の方法。 - (6)前記マスク層はフォトレジスト層を含み、前記除
去ステップでは前記フォトレジストは剥がして取除かれ
る請求項5記載の方法。 - (7)前記レーザ光ビームを通すステップは、エクサイ
マレーザで前記レーザ光ビームを発生するステップを含
む請求項4記載の方法。 - (8)前記エクサイマレーザは248ナノメータの波長
を発生する請求項7記載の方法。 - (9)誘電フィルム絶縁体基体と、 前記基体上に形成された導電パッドと、 前記導電パッド上に形成された浮出し金属構造と、 前記構造と接触していない前記パッドの部分および前記
基体が前記絶縁体によって取囲まれ、前記金属構造が前
記絶縁体によって部分的に包囲され、そこから延び出る
ように前記パッドおよび前記浮出し金属構造に関して前
記基体上に形成された誘電フィルム絶縁体とを含む回路
構造。 - (10)前記誘電フィルム絶縁体は段階的なキャストレ
ジンを含む請求項9記載の回路構造。 - (11)前記誘電基体は段階的なキャストレジンを含む
請求項10記載の回路構造。 - (12)前記絶縁体によって包囲された前記浮出し金属
構造の部分は5乃至8ミルの長さであり、前記絶縁体か
ら延び出る部分は2乃至3ミルの長さである請求項11
記載の回路構造。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US367,278 | 1989-06-16 | ||
| US07/367,278 US4961259A (en) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | Method of forming an interconnection by an excimer laser |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0332095A true JPH0332095A (ja) | 1991-02-12 |
| JPH0744330B2 JPH0744330B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2155603A Expired - Lifetime JPH0744330B2 (ja) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | 相互接続構造およびその製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| EP (1) | EP0403851B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0744330B2 (ja) |
| DE (1) | DE69012444T2 (ja) |
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| EP0164564A1 (de) * | 1984-05-18 | 1985-12-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Anordnung zur Sacklocherzeugung in einem laminierten Aufbau |
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-
1989
- 1989-06-16 US US07/367,278 patent/US4961259A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-05-31 DE DE69012444T patent/DE69012444T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-31 EP EP90110389A patent/EP0403851B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-15 JP JP2155603A patent/JPH0744330B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US4961259A (en) | 1990-10-09 |
| DE69012444D1 (de) | 1994-10-20 |
| JPH0744330B2 (ja) | 1995-05-15 |
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| EP0403851A2 (en) | 1990-12-27 |
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