JPH0334819B2 - - Google Patents

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JPH0334819B2
JPH0334819B2 JP58251879A JP25187983A JPH0334819B2 JP H0334819 B2 JPH0334819 B2 JP H0334819B2 JP 58251879 A JP58251879 A JP 58251879A JP 25187983 A JP25187983 A JP 25187983A JP H0334819 B2 JPH0334819 B2 JP H0334819B2
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JP58251879A
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JPS59200941A (ja
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Sadao Yamatsuta
Mitoshi Fukumoto
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Matsuzawa Seiki KK
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Matsuzawa Seiki KK
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Publication of JPH0334819B2 publication Critical patent/JPH0334819B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/40Investigating hardness or rebound hardness
    • G01N3/42Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の分野 本発明は、金属材料等でなる試料に、圧子を押
込んで、その試料に圧痕を付し、その圧痕から、
試料の硬度を測定する押込型硬度計に関する。
本発明の背景 このような押込型硬度計として、従来、試料載
置台に載置された試料に付された圧痕を、撮像装
置装架体に装架された走査撮像装置を用いて走査
撮像し、その撮像出力から、試料の硬度を表わし
ている硬度信号を得るようになされた構成のもの
が提案されている。
このような構成を有する従来の押込型硬度計に
おいては、試料載置台及び撮像装置装架体を走査
撮像装置が、圧痕を合焦点状態で走査撮像する相
対的な位置に保持せしめる必要がある。
しかしながら、従来の押込型硬度計において
は、そのために、複雑、大型、高価なものを用い
る必要があつたり、比較的長い時間を必要とした
りする欠点を有していた。
本発明の開示 よつて、本発明は、上述した欠点のない、新規
な押込型硬度計を提案せんとするものである。
本発明によれば、走査撮像装置の撮像出力か
ら、走査撮像装置が圧痕をどのような焦点で走査
撮像しているかを表している焦点信号を得、その
焦点信号によつて、試料載置台及び撮像装置装架
体を走査撮像装置が圧痕を合焦点状態で走査撮像
する相対的な位置に移動させる。
このため、本発明によれば、上述した従来の欠
点を有しない。
本発明の実施例 第1図及び第2図は、本発明による押込型硬度
計の機械系の一例を示し、以下に述べる構成を有
する。
すなわち上下に昇降自在な試料載置台1を有す
る。
この試料載置台1は、通常の押込型硬度計にみ
られると同様に、試料2を載置し、その試料2に
圧子(図示せず)を押込んで、その試料2に、第
3図に示すような、4角錐状の圧痕3を付すため
に用いられるものであり、次に述べる構成を有す
る。
即ち、基台4状に筒体5が固定さて配され、そ
の筒体5内に、上述した試料載置台1を遊端に取
付けた筒体6が上下に昇降自在に内装されてい
る。この場合、筒体6の内部内周面には母螺7が
付されている。
一方、基台4に、上述した筒体6の母螺7と螺
合し、且つ遊端に歯車8を取付けている螺軸9が
枢着されている。
また、基台4にモータ10が取付けられ、その
回転軸11が、それに取付けた歯車12、基台4
に枢着した歯車13、上述した螺軸9に取付けら
れた歯車8を介して、螺軸9に連結されている。
よつて、モータ10を順方向に回転駆動させれ
ば、螺軸9が順方向に回転し、これに応じて、筒
体6が上昇し、従つて、試料載置台1が上昇す
る。
また、モータ10を逆方向に回転駆動させれ
ば、螺軸9が逆方向に回転し、これに応じて、筒
体6が下降し、従つて、試料載置台1が下降する
ように構成されている。
また、本発明による押込型硬度計の一例は、撮
像装置装架体20を有する。
この撮像装置装架体20は、一次元走査撮像装
置21を装架している可動盤22と、この可動盤
22を可動自在に装架している保持体23とを有
する。
保持体23は、筒部24と、その上端部からこ
れと一体に輻方向に外方に延長している環部25
と、その環部25の外周部からこれと一体に上方
に延長している筒部26と、その筒部26の上端
部からこれと一体に輻方向に内方に延長している
板部27とを有する。この場合、筒部24には、
その外周面上に、歯車28が付されている。ま
た、板部27には、スリツト29が設けられてい
る。
このような保持体23は、その筒部24内に、
後述する筒体41の上端部を緩挿し、また、筒部
24の下端面を、筒体41の外周部からこれと一
体に輻方向に外方に延長している環板42に受け
させた状態で、筒体41の周りに、回動自在に、
配されている。
一方、上述した基台4に支持体40が固定して
設けられ、その支持体40に、モータ30が取付
けられている。
また、モータ30の回転軸31が、それに取付
けた歯車32、上述した保持体23の筒部24に
付された歯車28を介して、保持体23に連結さ
れている。
よつて、モータ30を順方向に回転駆動させれ
ば、保持体23が、順方向に回動し、また、モー
タ30を逆方向に回転駆動させれば、保持体23
が逆方向に回動する。
また、上述した可動盤22は、上述した保持体
23の環部25及び板部27間で、保持体23の
軸aを通つてこれと直交する線b−bに沿つて、
可動自在に配されている。
また、可動盤22には、その上部に、これと一
体に、杆33が取付けられている。
この杆33は、上述した保持体23の板部27
に設けられたスリツト29内を通つて、上外方に
延長している。
また、杆33の遊端には、上述した保持体23
の軸aと直交する面内の線b−bと平行な線上に
延長している母螺34が設けられている。
一方、上述した保持体23の板部27上に、モ
ータ35が取付けられ、その回転軸36に、上述
した杆33に設けられた母螺34と螺合する、螺
子37が付されている。
よつて、モータ35を順方向に回転駆動させれ
ば、可動盤22が、上述した保持体23の軸aと
直交する線b−bに沿つて第1の方向に移動し、
また、モータ35を逆方向に回転駆動させれば、
可動盤22が、保持体23の軸aと直交する線b
−bに沿つて第1の方向とは逆の第2の方向に移
動する。
さらに、上述した一次元走査撮像装置21は、
第5図と共に参照して明らかなように、多数
(2n+1)個の固体撮像素子(光電変換素子)
En′,Eo-1′,……E1′,E0,E1,E2……Eoを、電
気的に順次直列に接続して、一次元的に一線上に
配列している構成を有する。
このような一次元走査撮像装置21は、上述し
た可動盤22の下面に、固体撮像素子Eo′〜E1′,
E0,E1〜Eoを一次元的に一線上に配列している、
その配列線が、保持体23の軸aを通り、且つ保
持体23の軸aに沿う方向からみて、上述した線
b−bと直交する線c−cと一致するように、設
けられている。
また、上述した保持体23の環部25に、下方
に延長している係合用ピン38が植立されてい
る。
一方、上述した環板42上に、上述した保持体
23に植立された係合用ピン38が係合すること
によつて作動する、スイツチ39及び39′が取
付けられている。これら、スイツチ39及び3
9′は、保持体23の軸aからみて、90゜の間隔を
保つている。
さらに、基台4に、支持体40が設けられ、そ
れに上述した筒体41が取付けられている。
この筒体41は、その軸dが上述した試料載置
台1の上下の昇降方向に延長するように、且つ一
端が試料載置台1と対向するように、支持体40
に取付けられている。
また、筒体41には、これと一体に輻方向に外
方に延長している環板42が取付けられている。
然して、筒体41及び環板42が、上述した保
持体23を、その筒部24内に、筒体41を緩挿
し、また保持体23の筒部24の下端面を、環板
42に受けさせた状態で、回動自在に装架してい
る。
従つて、上述した保持体23の軸aが、筒体4
1の軸dと一致している。
また、筒体41に、その側方から、これと連通
している筒体43が取付けられ、その筒体43内
に、光源44が配されている。
然して、その光源44からの光を、筒体42内
に設けたレンズ45、筒体41内に設けたハーフ
ミラー46、筒体41内に設けたレンズ47を介
して、試料載置台1上に載置された試料2に入射
させ、また、その反射光を、レンズ47、ハーフ
ミラー46を介して、一次元走査撮像装置21に
入射させるようになされている。
以上にて、本発明による押込型硬度計の機械系
の一例が明らかとなつた。
次に、第5図を伴なつて、上述した機械系を有
する本発明による押込型硬度計の電気系の一例
を、その動作と共に述べよう。
上述したように、光源44からの光が、レンズ
45、ハーフミラー46、レンズ47を介して、
試料2に入射し、その反射光が、レンズ47、ハ
ーフミラー46を介して、一次元走査撮像装置2
1に入射することによつて、その一次元走査撮像
装置21から、試料を一次元的に走査撮像した、
撮像出力(これを一般的にSとする)が得られ
る。
この場合、一次元走査撮像装置21は、クロツ
クパルス発生回路50からの、第4図Bに示すよ
うなクロツクパルスCPによつて、駆動制御され
ている。
ところで、一次元走査撮像装置21は、前述し
たように、多数の固体撮像素子Eo′,Eo-1′……
E1′,E0,E1,E2……Eoを、電気的に順次直列に
接続して一次元的に、上述した線c−c上に一線
上に配列している構成を有する。
従つて、撮像出力Sは、固体撮像素子Eo′,
Eo-1′……E1′,E0,E1,E2……Eoでそれぞれ得
られる光電変換出力が、一次元走査撮像装置21
の走査毎に、一般に、So′,So-1′……S1′,S0
S1,S2……Soとして、順次得られる。
今、試料載置台1上の試料2に付された、第3
図に示す圧痕3の、試料2の表面を含む平面上で
みた、相対向する点PX及びPX′を結ぶ対角線
(これを第1の対角線とする)を含んで延長して
いる線を、第4図Aに示すように、LX0とし、ま
た、他の相対向する点PY及びPY′を結ぶ対角線
(これを第2の対角線とする)を含んで延長して
いる線を、LY0とする。さらに、線LX0と線LY0
との交点を0とする。
また、試料2の表面を含む平面上でみた、線
LX0と平行に、線LX0から、線LX0と直交する方
向に、点PY側に向つて、上述した第1及び第2
の対角線の長さ(これ等を夫々、NX及びNYと
する)に比し小なる幅fの1/2、即ちf/2)
の幅をとつた範囲まで、順次等間隔eをとつて延
長している複数m本の線を、第4図Aに示すよう
に、LX1,LX2,……LXnとする。さらに、線
LX0と平行に、線LX0から、線LX0と直交する方
向に、線PY′側に向つて、上述した幅f/2をと
つた範囲まで、順次等間隔eをとつて延長してい
る複数m本の線を、LX1′,LX2′,……LXn′とす
る。
また、線LY0と平行に、線LY0から、線LY0
直交する方向に、点PX側に向つて、上述した幅
f/2をとつた範囲まで、順次等間隔eをとつて
延長している複数m本の線を、LY1,LY2,……
LYnとする。さらに、線LY0と平行に、線LY0
ら、線LY0と直交する方向に、線PX′側に向つ
て、上述した幅f/2をとつた範囲まで、順次等
間隔eをとつて延長している複数の線を、LY1′,
LY2′,……LYn′とする。
しかして、上述した一次元走査撮像装置21を
装架している保持体23が、第2図に示すよう
に、それに設けた係合用ピン38が、上述した環
板42に設けたスイツチ39′と係合している状
態で、上述した一次元走査撮像装置21の固体撮
像素子Eo′〜E1′,E0,E1〜Eoの、上述した配列
線c−cが、上述した回転盤21の軸a、従つて
上述した筒体41の軸dに沿う方向からみて、試
料載置台1上に載置された試料2上の、上述した
線LX0と平行であり、且つその線LX0と略々一致
しているように、試料載置台1上に試料2外予め
位置調整されて載置され、また保持体23が回動
している位置(これを第1の回動位置と称す)を
とつているものとする。
また、保持体23と試料載置台1とが、一次元
撮像装置21が試料2の圧痕3を合焦点状態で、
一次元走査撮像する、相対的位置(これを合焦点
位置と称すつよりも、下降している相対的位置
(これを基準位置と称す)にあるものとする。
然るときは、上述した、一次元走査撮像装置2
1から、その走査毎に得られる撮像出力Sを構成
している、出力So′〜S1′,S0,S1〜Soが、第4図
Cに示すように得られる。
即ち、例えば出力So′〜So-2′と出力So-2〜So
が略々同一レベルをとり、出力So-3′〜S1′,S0
S1〜So-3が、出力So′〜So-2′及びSo-2〜Soに比し
小なるレベルをとるも、出力So-2′〜S1′中の出力
So-2′を含めた出力So-2′の近傍の出力So-2′,
So-3′,So-4′……が、順次小なるレベルをとり、
また、出力So-2〜S1中の、出力So-2を含めた出力
So-2の近傍の出力So-2,So-3,So-4……が、順次
小なるレベルをとつて得られる。
この場合、出録So′〜So-2′及びSo-2〜Soが略々
同一レベルをとつているのは、それ等出力So′〜
So-2′及びSo-2〜Soが試料2の、上述した線LX0
上の点PX′及にPX外の領域を、固体撮像素子
Eo′〜Eo-2′及びEo-2〜Eoが撮像した出力であるか
らである。
また、出力So-2′,So-3′,So-4′……が、順次
小なるレベルをとり、また出力So-2,So-3
So-4,……が、順次小なるレベルをとつているの
は、出力So-2′,So-3′So-4′……が、圧痕3の、
上方からみて線LX0に沿つた、点PX′の近傍の傾
斜領域を、固体撮像素子Eo-2′,Eo-3′,Eo-4′…
…が撮像した出力であり、また、出力So-2
So-3o-4……が、圧痕3の、上方からみて線LX0
に沿つた、点PXの近傍の傾斜領域を、固体撮像
素子Eo-2,Eo-3,Eo-4……が撮像した出力である
からである。
また、上述したように、一次元走査撮像装置2
1の固体撮像素子Eo′〜E1′,E0,E1〜Eoの、上
述した配列線c−cが、丁度、上述した線LX0
一致しているように、試料載置台1上に試料2が
載置され、また、保持体23が上述した第1の回
動位置をとつているが、保持体23と試料載置台
1とが、上述した合焦点位置にあるものとする。
然るときも、前述した、一次元走査撮像装置2
1から、その走査毎に得られる、上述した出力
So′〜S1′,S0,S1〜Soが、第4図Cで上述したと
同様に得られる。
但し、この場合は、出力So′〜S1′,S0,S1
So′が、第4図Dに示すように、保持体23と試
料載置台1との相対位置が上述した基準位置にあ
る場合に比し、大なるレベルで得られる。
また、上した出力So-2′,So-3′,So-4′……が
順次小になる変化率と、出力So-2,So-3,So-4
…が順次小になる変化率とが、共に、第4図Dに
示すように、保持体23と試料載置台1との相対
位置が、上述した基準位置にある場合に比し、大
で得られる。
一次元走査撮像装置21から、その走査毎に、
上述した出力So′〜S1′,S0,S1〜Soの順次の配列
で得られる撮像出力Sは、演算処理回路51に供
給される。
今、一次元走査撮像装置21から、その走査毎
に得られる出力So′〜S1′,S0,S1〜Soの、ある時
点t1から、u走査回分順次得られる、出力So′〜
S1′,S0,S1〜Soを、第6図Aに示すように、順
次、第1回目の出力S1o′〜S11′,S10,S11〜S1o
第2回目の出力S2o′〜S21′,S20,S21〜S2o;……
第u回目の出力Suo′〜Su1′,Su0,Su1〜Suoとす
る。
然るとき、上述した演算処理回路51は、第1
回目の出力S1o′〜S11′,S10,S11〜S1oから、 △S1o′=S1o′−S1(o-1)′ △S1(o-1)′=S1(o-1)′−S1(o-2)′ 〓 △S11′=S11′−S10 △S11=S11−S10 △S12=S12−S11 〓 △S1o=S1o−S1(o-1) で表わされる差出力△S1o′,△S1(o-1)′,……△
S11′,△S11,△S12……△S1oを得、そして、それ
ら差出力△S1o′〜△S11′,△S11〜△S1o中の最大
差出力(これを△S1とする)を、判断して記憶
し、そして、第6図Bに示すように正極性のパル
スP1を出力する。
また演算処理回路51は、次に、上述した第2
回目の出力S2o′〜S21′,S20,S21〜S2oから、 △S2o′=S2o′−S2(o-1)′ △S2(o-1)′=S2(o-1)′−S2(o-2)′ 〓 △S21′=S21′−S20 △S21=S21−S20 △S22=S22−S21 〓 △S2o=S2o−S2(o-1) で表わされる差出力△S2o′,△S2(o-1)′,……△
S21′,△S21,S22……△S2oを得、そして、それら
差出力△S2o′〜△S21′,△S21〜△S2o中の最大差
出力(これを△S2とする)を、判断して、記憶
し、そして、第6図Bに示すように正極性のパル
スP2を出力する。
さらに、演算処理回路51は、以下、順次第3
回目の出力S3o′〜S31′,S30,S31〜S3o、第4回目
の出力S4o′〜S41′,S40、S41〜S4o……について、
上述したと同様の動作をなして、第u回目の出力
Suo′〜Su1,Su0,Su1〜Suoから、 △Suo′=Suo′−Su(o-1)′ △Su(o-1)′=Su(o-1)′−Su(o-2)′ 〓 △Su1′=Su1′−Su0 △Su1=Su1−Su0 △Su2=Su2−Su1 〓 △Suo=Suo−Su(o-1) で表わされる差出力△Suo′,△Su(o-1)′,……△
Su1′,△Su1,△Su2……△Suoを得、そして、そ
れら差出力△Suo′〜△Su1′,△Su1〜△Suo中の最
大差出力(これを△Suとする)を、判断して、記
憶し、そして、第6図Bに示すように正極性のパ
ルスPuを出力する。
上述したようにして、演算処理回路51から順
次得られる正極性のパルスP1,P2……Puは、モ
ータ駆動回路52を介して、上述したモータ10
に供給される。
モータ10は、正極性のパルスP1,P2……Pu
が順次供給される毎に、順方向にステツプ回転す
る。
このため、上述した試料載置台1が、上述した
基準位置からステツプ上昇する。
この場合、試料載置台1がステツプ上昇し終つ
た位置が、上述した合焦点位置の上方の位置にあ
るように、上述した歯車12及び13間の歯車
比、歯車13及び8間の歯車比、上述した螺軸9
の螺子及び筒体6の母螺7のピツチが選ばれてい
る。
また、演算処理回路51は、上述した正極性の
パルスP1〜Puを出力して後、第6図Bに示すよ
うに、u個の負極性のパルスP1′〜Pu′を順次出力
する。
これら負極性のパルスP1′〜Pu′は、上述したモ
ータ駆動回路52を介して、モータ10に供給さ
れる。
モータ10は、負極性のパルスP1′,P2′……
Pu′が順次供給される毎に、逆方向にステツプ回
転する。
このため、これに応じて、上述した試料載置台
1が、上述した上昇位置からステツプ下降し、よ
つて、試料載置台1が上述した基準位置に復帰す
る。
また、演算処理回路51は、上述した負極性の
パルスP1′〜Pu′を順次出力し終るまでの間で、ま
たはパルスPu′を出力して後、上述した最大差出
力△S1,△S2,……△Su中の最大値(これを、最
大差出力中の第r番目の最大差出力△Srである
とする)を判別する。
然して、上述したパルスPu′を出力して後、r
個の正極性のパルスP1″〜Pr″を出力する。
これら正極性のパルスP1″〜Pr″は、モータ駆動
回路52を介して、モータ10に供給される。
従つてモータ10が、再度、順方向にステツプ
回転し、これに応じて、試料載置台1がステツプ
上昇し、そして、その上昇位置を保つ。
ところで、上述した最大差出力△S1,△S2,…
…△Su中の、最大差出力△Srは、第4図Dで上述
したところから明らかなように、一次元走査撮像
装置21が、合焦点状態で、試料2を走査撮像し
ている場合において、一次元走査撮像装置21か
ら、高いレベルで得られる、出力Sro′〜Sr1′,
Sr0r1〜Sroから得られるものである。
また、上述した最大差出力△S1,△S2,……△
Su中の、最大差出力△Sr以外の最大差出力は、第
4図Cで上述したところから明らかなように、一
次元走査撮像装置21が、非合焦点状態で、試料
2を走査撮像している場合において、一次元走査
撮像装置21から、低いレベルで得られる出力か
ら得られるものである。
従つて、上述したパルスP1″〜Pr″に基ずき、試
料台1が、上述したように上昇した位置は、一次
元走査撮像装置21が、合焦点状態で、試料2を
走査撮像している、上述した合焦点位置である。
よつて、試料台1が、合焦点位置を保つて後、
一次元走査撮像装置21から得られる撮像出力S
は、高いレベルで得られる。
上述においては、一次元走査撮像装置21を装
架している保持体23が、上述した第1の回動位
置をとつている状態で、上述した固体撮像素子
Eo′〜E1′,E0,E1〜Eoの配列線c−cが、試料
2上の上述した線LX0と一致しているものとし
て、述べたが、今、保持体23が上述した第1の
回動位置をとつている状態で、上述した固体撮像
素子Eo′〜E1′,E0,E1〜Eoの配列線c−cが、
丁度、試料2上の上述した線LXn′と一致してい
るものとする。
なお、保持体23が上述した第1の回動位置を
とつている状態で、固体撮像素子Eo′〜E1′,E0
E1〜Eoの配列線c−cが、丁度、試料2上の上
述した線LXn′と一致している関係は、試料台1
が上述したように合焦点位置を保つて後、演算処
理回路51より、m個の負極性パルスG11〜G
nを出力させ、そのm個の負極性パルスG11
G1nをモータ駆動回路53を介して、上述した
モータ35に供給させ、これに応じて、モータ3
5を順次順方向にステツプ回転させ、またこれに
応じて上述した可動盤22を、上述した線b−b
と直交する方向に沿つて、上述した線LXn′側に
向つて順次ステツプ移動させることによつて得る
ことができる。この場合、モータ35の回転軸3
6に付された螺子37及び可動盤22の杆33の
母螺34のピツチを、可動盤22が順次上述した
間隔eづつステツプ移動するように選んでおけば
よい。
また、今述べたように、保持体23が第1の回
動位置をとつている状態で、上述した配列線c−
cが、丁度、試料2上の上述した線LXn′と一致
している場合に、上述したように、試料載置台1
が上述した合焦点位置を保つて後の時点t2から、
(2m+1)走行回分順次得られる、上述した出力
So′〜S1′,S0,S1〜Soを、第7図Aに示すよう
に、第6図Aで前述したと同様に、第1回目の出
力QXLno′〜QXLn1′,QXCn0′,QXRn1′〜
QXRno′;第2回目の出力QXL(n-1)o′〜
QXL(n-1)1′,QXC(n-1)0′,QXR(n-1)1′〜
QXR(n-1)o′;……第m回目の出力QXL1o′〜
QXL11′,QXC10′,QXR11〜QXR1o′;第(m+
1)回目の出力QXL0o〜QXL01,QXC00
QXR01〜QXR0o;第(m+2)回目の出力
QXL1o〜QXL11,QXC10,QXR11〜QXR1o:第
(m+3)回目の出力Q×L2o〜Q×L21,Q×
C20、Q×R21〜Q×R2o;……第(2m+1)回目
の出力QXLno〜QXLn1,QXCn0,QXRn1
QXRnoとする。
然るとき、上述した演算処理回路51は、上述
した第1回目の出力QXLno′〜QXLn1′,
QXCn0′,QXRn1′〜QXRno′を記憶し、そして、 △QXLno′=QXLno′−QXLn(o-1)′ △QXLn(o-1)′=QXLn(o-1)′−QXLn(o-2)′ 〓 △QXLn1′=QXLn1′−QXCn0′ △QXRn1′=QXRn1′−QXCn0′ △QXRn2′=QXRn2′−QXRn1′ 〓 △QXRno′=QXRno′−QXRn(o-1)′ で表わされる差出力△QXLno′,△QXLn(o-1)′…
…QXLn1′,△QXRn1′,△QXRn2′……
QXRno′を得る。
また、上述した差出力△QXLn1′〜QXLno′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXLn1′側から
差出力△QXLno′側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値で差出
力が最初に得られる差出力(これを△QXLn′と
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QXLn′が得られる配列上の
位置から、差出力△QXLn1′が得られる配列位置
までの配列長を表わしている出力(これを
WXLn′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXRn1′側か
ら差出力△QXRno′側を順次みたときに、同様
に、正の値での差出力の複数が順次得られて後、
零の値での差出力が最初に得られる差出力(これ
を△QXRn′とする)の得られる配列上の位置を
判知する。
そして、差出力△QXRn′が得られる配列上の
位置から、差出力△QXRn1′が得られる配列上の
位置までの配列長を表わしている出力(これを
WXRn′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WXLn
及びWXRn′から、MXn′=WXLn′+WXRn′で
表わされる出力MXn′を得、これを記憶し、そし
て第7図Bに示すように、パルスHXn′を出力す
る。
また、上述した演算処理回路51は、上述した
第2回目の出力QXL(n-1)o′〜QXL(n-1)1′,
QXC(n-1)0′,QXR(n-1)1′〜QXR(n-1)o′を記憶し、
そして、 △QXL(n-1)o′=QXL(n-1)o′ −QXL(n-1)(o-1)′ △QXL(n-1)(o-1)′=QXL(n-1)(o-1)′ −QXL(n-1)(o-2)′ 〓 △QXL(n-1)1′=QXL(n-1)1′−QXC(n-1)0′ △QXR(n-1)1′=QXR(n-1)1′−QXC(n-1)0′ △QXR(n-1)2′=QXR(n-1)2′−QXR(n-1)1′ 〓 △QXR(n-1)o′=QXR(n-1)o′ −QXR(n-1)(o-1)′ で表わされる差出力△QXL(n-1)o′,△
QXL(n-1)(o-1)′……QXL(n-1)1′,△QXR(n-1)1′,
△QXR(n-1)2′……QXR(n-1)o′を得る。
また、上述した差出力△QXL(n-1)1′〜
QXL(n-1)o′を、それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXL(n-1)1′側か
ら差出力△QXL(n-1)o′側を順次みたときに、正の
値での差出力の複数が順次得られて後、零の値で
の差出力が最初に得られる差出力(これを△
QXLn-1′とする)の得られる配列上の位置を判
別する。
そして、差出力△QXLn-1′が得られる配列上
の位置から、差出力△QXL(n-1)1′が得られる配列
上の位置までの配列長を表わしている出力(これ
をWXLn-1′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXR(n-1)1
から差出力△QXR(n-1)o′側を順次みたときに、
同様に、正の値での差出力の複数が順次得られて
後、零の値での差出力が最初に得られる差出力
(これを△QXRn-1′とする)の得られる配列上の
位置を判知する。
そして、差出力△QXRn-1′が得られる配列上
の位置から、差出力△QXR(n-1)1′が得られる配
列上の位置までの配列長を表わしている出力(こ
れをWXRn-1′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力
WXLn-1′及びWXRn-1′から、MXn-1′=
WXLn-1′+WXRn-1′で表わされる出力
MXn-1′を得、これを記憶し、第7図Bに示すよ
うに、パルスHXn-1′を出力する。
さらに、上述した演算処理回路51は、以下第
3回目のの出力QXL(n-2)o′〜QXL(n-2)1′,
QXC(n-2)0′,QXR(n-2)1′〜QXR(n-2)o′;第4回
目の出力QXL(n-3)o′〜QXL(n-3)1′QXC(n-3)0′,
QXR(n-3)1′〜QXR(n-3)o′;……について、上述
した同様の動作をなす。
なおさらに、上述した演算処理回路51は、上
述した第m回目の出力QXL1o′〜QXL11′,
QXC10′,QXR11′〜QXR1o′を記憶し、そして、 △QXL1o′=QXL1o′−QXL1(o-1)′ △QXL1(o-1)′=QXL1(o-1)′−QXL1(o-2)′ 〓 △QXL11′=QXL11′−QXC10′ △QXR11′=QXR11′−QXC10′ △QXR12′=QXR12′−QXR11′ 〓 △QXR1o′=QXR1o′−QXR1(o-1)′ で表わされる差出力△QXL1o′,△QXL1(o-1)′…
…QXL11′,△QXR11′,△QXR12′……QXR1o′を
得る。
また、上述した差出力△QXL11′〜QXL1o′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXL11′側から
差出力△QXL1o′側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QXL1′と
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QXL1′が得られる配列上の位
置から、差出力△QXL11′が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WXL1′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXR11′側か
ら差出力△QXR1o′側を順次みたときに、同様
に、正の値での差出力の複数が順次得られて後、
零の値での差出力が最初に得られる差出力(これ
を△QXR1′とする)の得られるえ配列上の位置を
判知する。
そして、差出力△QXR1′が得られる配列上の位
置から、差出力△QXR11′が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WXR1′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力
WXL1′及びWXR1′から、MX1′=WXL1′+
WXR1′で表わされる出力MX1′を得、これを記憶
し、そして第7図Bに示すように、パルス
HX1′を出力する。
また、上述した演算処理回路51は、上述した
第(m+1)回目の出力QXL0o〜QXL01
QXC00,QXR01〜QXR0oを記憶し、そして、 △QXL0o=QXL0o−QXL0(o-1) △QXL0(o-1)=QXL0(o-1)−QXL0(o-2) 〓 △QXL01=QXL01−QXC00 △QXR01=QXR01−QXC00 △QXR02=QXR02−QXR01 〓 △QXR0o=QXR0o−QXR0(o-1)で表わされる差
出力△QXL0o,△QXL0(o-1)……QXL01,△
QXR01,△QXR02……QXR0oを得る。
また、上述した差出力△QXL01〜QXL0oを、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXL01側から
差出力△QXL0o側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QXL0
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QXL0が得られる配列上の位
置から、差出力△QXL01が得られる配列上まで
の位置までの配列長を表わらしている出力(これ
をWXL0とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXR01側か
ら差出力△QXR0o側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QXR0とする)の得られる配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QXR0が得られる配列上の位
置から、差出力△QXR01が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WXR0とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WXL0
びWXR0から、MX0=WXL0+WXR0で表わされ
る出力MX0を得、これを記憶する。そして、第
7図Bに示すように、パルスHX0を出力する。
さらに、上述した演算処理回路51は、上述し
た第(m+2)回目の出力QXL1o〜QXL11
QXC10,QXR11〜QXR1oを記憶し、そして、 △QXL1o=QXL1o−QXL1(o-1) △QXL1(o-1)=QXL1(o-1)−QXL1(n-2) 〓 △QXL11=QXL11−QXC10 △QXR11=QXR11−QXC10 △QXR12−QXR12−QXR11 〓 △QXR1o=QXR1o−QXR1(o-1) で表わされる差出力△QXL1o,△QXL1(o-1)……
QXL11,△QXR11,△QXR12……QXR12を得る。
また、上述した差出力△QXL11〜QXL1oを、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXL11側から
差出力△QXL1o側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得て後、零の値での差力が
最初に得られる差出力(これを△QXL1とする)
の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QXL1が得られる配列上の位
置から、差出力△QXL11が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WXL1とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXR11側か
ら差出力△QXR1o側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QXR1とする)の得られる配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QXR1が得られる配列上の位
置から、差出力△QXR11が得られる配列上の位
置までの配列長を表わす出力(これをWXR1とす
る)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WXL1
びWXR1から、MX1=WXL1+WXR1で表わされ
る出力MX1を得、これを記憶する。そして第7
図Bに示すようにパルスHX1を出力する。
また、上述した演算処理回路51は、以下第
(m+3)回目の出力Q×L2o〜Q×L21,Q×
C20、Q×R21〜Q×R2o;第(m+4)回目の出
力Q×L3o〜Q×L31,Q×C30;Q×R31〜Q×
R3o;……について、上述したと同様の動作をな
す。
さらに、上述した演算処理回路51は、上述し
た第(2m+1)回目の出力Q×Lno〜QXLn1
QXCn0,QXRn1〜QXRnoを記憶し、そして、 △QXLno=QXLno−QXLn(o-1) △QXLn(o-1)=QXLn(o-1)−QXLn(o-2) 〓 △QXLn1=QXLn1−QXCn0 △QXRn1=QXRn1−QXCn0 △QXRn2=QXRn2−QXRn1 〓 △QXRno=QXRno−QXRn(o-1) で表わされる差出力△QXLno,△QXLn(o-1)……
QXLn1,△QXRn1,△QXRn2……QXRnoを得
る。
また、上述した差出力△QXLn1〜QXLno′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QXLn1側から
差出力△QXLno側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得て後、零の値での差出力
が最初に得られる差出力(これを△QXLnとす
る)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QXLnが得られる配列上の位
置から、差出力△QXLn1が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WXLnとする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QXRn1側か
ら差出力△QXRno側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QXRnとする)の得られる配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QXRnが得られる配列上の位
置から、差出力△QXRn1が得られる配列上の位
置までの配列長を表わす出力(これをWXRn
する)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わしている出力
WXLn及びWXRnから、MXn=WXLn+WXRn
で表わされる出力MXを得、これを記憶して第7
図Bに示すように、パルスHXnを出力する。
上述したようにして、演算処理回路51から順
次得られるパルスHXn′,HXn-1′……HX1′,
HX0′,HX1,HX2……HXnは、モータ駆動回路
53を介して、上述したモータ35に供給され
る。
モータ35は、パルスHXn′,HXn-1′,……
HX1′,HX0,HX1,HX2……HXnが得られる毎
に、順方向にステツプ回転し、これに応じて、上
述した可能盤22が、上述した線c−cが上述し
た線LXn′と合致している、保持体23との相対
的位置から、上述した線b−bと直交する方向に
沿つて、線LXn側に順次上述した間隔eづつステ
ツプ移動する。
このような可動盤22の順次のステツプ移動に
よつて、上述した線c−cが、上述した線LXn
と合致している保持体23との相対的位置から、
順次、線LXn-1′,LXn-2′……LX1′,LX0,LX1
……LXnと合致する関係が得られる。
ところで、上述した出力MXn′の出力WLn′は、
試料2の圧痕3の、上述した線LXn′上での、圧
痕3の中心位置Oから点PX′側の側縁までの長さ
を表わしている。
その理由は、出力WLn′が、上述した差出力△
QXLn′が得られる配列上の位置から、差出力△
QXLn1′が得られる配列上の位置までの配列長を
表わす出力である。一方、差出力△QXLn′が、
差出力△QXLn1′〜QXLno′を順次配列記憶した
ときの、その配列を、差出力△QXL′側から差出
力△QLno′側を順次みたときに正の値での差出力
の複数が順次得られて後、零の値での差出力が最
初に得られる差出力である。従つて、差出力△
QXLn′が得られる配列上の位置が、第4図C及
びDで、一般的な出力So′,So-1′……S1′,S0
S1,S2……So-1,Soのレベルについて上述したと
ころから、明らかなように、圧痕3の、上述した
線LXn′上での点PX′側の側縁に対応しているか
らである。
また、上述した出力MXn′の出力WXRn′は、
上述したと同様の理由で、試料2の圧痕3の、上
述した線LXn′上での、圧痕3の中心位置から点
PX側の側縁までの長さを表わしている。
従つて、上述した出力MXn′は、圧痕3の、上
述した線LXn′上での長さを表わしている。
さらに、上述した出力MXn-1′,MXn-2′……
MX1′,MX0,MX1,MX2……MXnは、上述し
たと同様の理由で、それぞれ、圧痕3の、上述し
た線LXn-1′,LXn-2′,……LX1′,LX0,LX1
LX2……LXn上での長さを表わしている。
また、演算処理回路51は、上述したパルス
HXn′,HXn-1′,……HX1′,HX0,HX1,HX2
……HXnを出力して後、第7図Cに示すように、
1つの切換用パルスPXWを出力する。
この切換用パルスPXWは、モータ駆動回路5
4に供給される。
一方、モータ駆動回路54には、上述した保持
体23の係合用ピン38が係合する、スイツチ3
9及び39′が接続されている。
スイツチ39′は、上述した保持体23が第1
の回動位置にあるので、上述した切換用パルス
PXWが得られるとき、作動している。
モータ駆動回路54は、スイツチ39′が作動
している状態で、上述した切換用パルスPXWが
供給された場合、第7図Dに示すように、順次パ
ルスKXを出力する。
この順次のパルスKX……は、上述したモータ
30に供給される。
モータ30は、順次のパルスKXの供給を受け
て、順方向にステツプ回動する。このため、保持
体23が順方向に回動する。
そして、保持体23が、上述した係合用ピン3
8が、上述したスイツチ39と係合するまで回動
すれば、スイツチ39が作動する。
このため、モータ駆動回路54からの上述した
パルスKXが得られなくなり、モータ30の回動
が停止し、これに応じて保持体23の回動が停止
する。
保持体23の回動が停止したとき、上述した一
次元走査撮像装置21の固体撮像素子Eo′〜E1′,
E0,E1〜Eoの配列線c−cが、試料2中の、上
述した線LYn′と略々一致している、保持体23
の、試料2との相対的な回動位置(これを第2の
回動位置と称す)を保つているものとする。
今述べたように、保持体23が第2の回動位置
をとつている状態で、上述した配列線c−cが、
試料2上の上述した線LYn′と略々一致している
場合に、時点t3から、(2m+1)走査回分順次得
られる、上述した出力So′〜S1′,S0,S1〜Soを、
第8図Aに示すように、第7図Aで前述したと同
様に、第1回目の出力QYLno′〜QYLn1′,
QYCn0′,QYRn1′〜QYRno′;第2回目の出力
QYL(n-1)o′〜QYL(n-1)1′,QYC(n-1)0′,
QYR(n-1)1′〜QYR(n-1)o′;……第m回目の出力
QYL1o′〜QYL11′,QYC′10,QYR11′〜
QYR1o′;第(m+1)回目の出力QYL0o
QYL01,QYC00,QYR01〜QYR0o;第(m+2)
回目の出力QYL1o〜QYL11,QYC10,QYR11
QYR1o;第(m+3)回目の出力QYL2o
QYL21,QYC20,QYR21〜QYR2o;……第(2m
+1)回目の出力QYLno〜QYLn1,QYCn0
QYRn1〜QYRnoとする。
然るとき、上述した演算処理回路51は、上述
した第1回目の出力QYLno′〜QYLn1′,
QYCn0′,QYRn1′〜LYRno′を記憶し、そして、 △QYLno′=QYLno′−QYLo(o-1)′ △QYLn(o-1)′=QYLn(o-1)′ −QYLn(o-2)′ 〓 △QYLn1′=QYLn1′−QYCn0′ △QYRn1′=QYRn1′−QYCn0′ △QYRn2′=QYRn2′−QYRn1′ 〓 △QYRno′=QYRno′−QYRn(o-1)′ で表わされる差出力△QYLno′,△QYLn(o-1)′…
…QYLn1′,△QYRn1′,△QYRn2′……QYRno
を得る。
また、上述した差出力△QYL′n1〜QYLno′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QYLn1′側から
差出力△QYLno′側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QYLn
とする)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QYLn′が得られる配列上の
位置から、差出力△QYLn1′が得られる配列位置
までの配列長を表わしている出力(これをWYL
m′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYRn1′側か
ら差出力△QYRno′側を順次みたときに、同様
に、正の値での差出力の複数が順次得られて後、
零の値での差出力が最初に得られる差出力(これ
を△QYRn′とする)の得られる配列上の位置を
判知する。
そして、差出力△QYRn′が得られる配列上の
位置から、差出力△QYRn1′が得られる配列上の
位置までの配列長を表わしている出力(これを
WYRn′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WYLn
及びWYRn′から、MXn′=WYLn′+WYRn′で
表わされる出力YMn′を得、これを記憶し、そし
て第8図Bに示すように、パルスHYn′を出力す
る。
また、上述した演算処理回路51は、上述した
第2回目の出力QYL(n-1)o′〜QYL(n-1)1′,
QYC(n-1)0′,QYR(n-1)1′〜QYR(n-1)o′を記憶し、
そして、 △QYL(n-1)o′=QYL(n-1)o′ −QYL(n-1)(o-1)′ △QYL(n-1)(o-1)′=QYL(n-1)(o-1)′ −QYL(n-1)(o-2)′ 〓 △QYL(n-1)1′=QYL(n-1)1′ −QYC(n-1)0′ △QYR(n-1)1′=QYR(n-1)1′ −QYC(n-1)0′ △QYR(n-1)2′=QYR(n-1)2′ −QYR(n-1)1′ 〓 △QYR(n-1)o′=QYR(n-1)o′ −QYR(n-1)(o-1)′ で表わされる差出力△QYRL(n-1)o′,△QYL(n-1)
(o−1)′……QYL(n-1)1′,△QYR(n-1)1′,△
QYR(n-1)2′……QYR(n-1)o′を得る。
また、上述した差出力△QYL(n-1)1′〜
QYL(n-1)o′を、それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QYL(n-1)1′側か
ら差出力△QYL(n-1)o′側を順次みたときに、正の
値での差出力の複数が順次得られて後、零の値で
の差出力が最初に得られる差出力(これを△
QYLn-1′とする)の得られる配列上の位置を判
別する。
そして、差出力△QYLn-1′が得られる配列上
の位置から、差出力△QYL(n-1)1′が得られる配列
上の位置までの配列長を表わしている出力(これ
をWYLn-1′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYR(n-1)1
側から差出力△QYR(n-1)o′側を順次みたときに、
同様に、正の値での差出力の複数が順次得られて
後、零の値での差出力が最初に得られる差出力
(これを△QYRn-1′とする)の得られる配列上の
位置を判知する。
そして、差出力△QYR(n-1)1′が得られる配列
上の位置から、差出力△QYR(n-1)1′が得られる
配列上の位置までの配列長を表わしている出力
(これをWYRn-1′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力
WYL′n-1及びWYRn-1′から、MY′n-1
WYLn-1′+WYRn-1′で表わされる出力MYn-1
を得、これを記憶し、第8図Bに示すように、パ
ルスHYn-1′を出力する。
さらに、上述した演算処理回路51は、以下第
3回目の出力QYL(n-2)o′〜QYL(n-2)1′,
QYC(n-2)0′,QYR(n-2)1′〜QYR(n-2)o′;第4回
目の出力QYL(n-3)o′〜QYL(n-3)1′,QYC(n-3)0′,
QYR(n-3)1′〜QYR(n-3)o′;……について、上述
したと同様の動作をなす。
なおさらに、上述した演算処理回路51は、上
述した第m回目の出力QYL1o′QYL11′,QYC10′,
QYR11′〜QYR1o′を記憶し、そして、 △QYL1o′=QYL1o′−QYL1(o-1)′ △QYL1(o-1)′=QYL1(o-1)′−QYL1(o-2)′ 〓 △QYL11′=QYL11′−QYC10′ △QYR11′=QYR11′−QYC10′ △QYR12′=QYR12′−QYR11′ 〓 〓 〓 △QYR′1o=QYR1o′−QYR1(o-1)′ で表わされる差出力△QYL1o′,△QYL1(o-1)′…
…QYL11′,△QYR11′,△QYR12′……QYR1o′を
得る。
また、上述した差出力△QYL11′〜QYL1o′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QYL11′側から
差出力△QYL1o′側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QYL1′と
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QYL1′が得られる配列上の位
置から、差出力△QYL11′が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WYL1′とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYR11′側か
ら差出力△QYR1o′側を順次みたときに、同様
に、正の値での差出力の複数が順次得られて後、
零の値での差出力が最初に得られる差出力(これ
を△QYR1′とする)の得られる配列上の位置を判
知する。
そして、差出力△QYR1′が得られる配列上の位
置から、差出力△QYR11′が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WYR1′とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力
WYL1′及びWYR1′から、MY1′=WYL1′+
WYR1′で表わされる出力MY′を得、これを記憶
し、そして第8図Bに示すように、パルス
HY1′を出力する。
また、上述した演算処理回路51は、上述した
第(m+1)回目の出力QYL0o〜QYL01
QYC00,QYR01〜QYR0oを記憶し、そして、 △QYL0o=QYL0o−QYL0(o-1) △QYL0(o-1)=QYL0(o-1)−QYL0(o-2) 〓 △QYL01=QYL01−QYC00 △QYR01=QYR01−QYC00 △QYR02=QYR02−QYR01 〓 △QYR0o=QYR0o−QYR0(o-1)で表わされる差
出力△QYL0o,△QYL0(o-1)……QYL01,△
QYR01,△QYR02……QYR0oを得る。
また、上述した差出力△QYL01〜QYL0oを、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QYL01側から
差出力△QYL0o側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QYL0
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QYL0が得られる配列上の位
置から、差出力△QYL01が得られる配列上まで
の位置までの配列長を表わしている出力(これを
WYL0とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYR01側か
ら差出力△QYR0o側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QYR0とする)の得られら配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QYR0が得られる配列上の位
置から、差出力△QYR01が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WYR0とする)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WYL0
びWYR0から、MY0=WYL0+WYR0で表わされ
る出力MY0を得、これを記憶する。そして、第
8図Bに示すように、パルスHY0を出力する。
さらに、上述した演算処理回路51は、上述し
た第(m+2)回目の出力QYL1o〜QYL11
QYC10,QYR11〜QYR1oを記憶し、そして、 △QYL1o=QYL1o−QYL1(o-1) △QYL1(o-1)=QYL1(o-1)−QYL1(n-2) 〓 △QYL11=QYL11−QYC10 △QYR11=QYR11−QYC10 △QYR12=QYR12−QYR11 〓 △QYR1o=QYR1o−QYR1(o-1)で表わされる差
出力△QYL1o,△QYL1(o-1)……QYL11,△
QYR11,△QYR12……QYR1oを得る。
また、上述した差出力△QYL1o〜QYL1oを、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力△QYL11側から
差出力△QYL1o側を順次みたときに、正の値で
の差出力の複数が順次得て後、零の値での差出力
が最初に得られる差出力(これを△QYL1とす
る)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QYL1が得られる配列上の位
置から、差出力△QYL11が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WYL1とする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYL11側か
ら差出力△QYL1o側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QYR1とする)の得られる配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QYR1が得られる配列上の位
置から、差出力△QYR11が得られる配列上の位
置までの配列長を表わす出力(これをWYR1とす
る)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わす出力WYL1
びMYR1から、MY1=WYL1+MYR1で表わされ
る出力MY1を得、これを記憶する。そして第8
図Bに示すようにパルスHY1を出力する。
また、上述した演算処理回路51は、以下第
(m+3)回目の出力QYL2o〜QYL21、QYC20
QYR21〜QYR2o:第(m+4)回目の出力
QYL3o〜QYL31、QYC30:QYR31〜QYR3o:…
…について、上述したと同様の動作をなす。
さらに、上述した演算処理回路51は、上述し
た第(2m+1)回目の出力QYLno〜QYLn1
QYCn0、QYRn1〜QYRnoを記憶し、そして、 △QYLno=QYLno−QYLno-1) △QYLno-1)=QYLn(o-1) −QYLn(o-2) 〓 △QYLn1=QYLn1−QYCn0 △QYRn1=QYRn1−QYCn0 △QYRn2=QYRn2−QYCn1 〓 △QYRno=QYRno−QYRn(o-1) で表わされる差出力△QYLno、△QYLn(o-1)
QYLn1、△QYRn1、△QYRn2…QYRnoを得る。
また、上述した差出力△QYLn1〜QYLno′を、
それらの順に順次配列記憶する。
そして、その配列を、差出力差出力△QYL1
から差出力△QYLno側を順次みたときに、正の
値での差出力の複数が順次得て後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これを△QYLn
する)の得られる配列上の位置を判別する。
そして、差出力△QYLnが得られる配列上の位
置から、差出力△QYLn1が得られる配列上の位
置までの配列長を表わしている出力(これを
WYLnとする)を記憶する。
また、上述した配列を、差出力△QYRn1側か
ら差出力△QYRno側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出力の複数が順次得られて後、零の
値での差出力が最初に得られる差出力(これを△
QYRnとする)の得られる配列上の位置を判知す
る。
そして、差出力△QYRnが得られる配列上の位
置から、差出力△QYRn1が得られる配列上の位
置までの配列長を表わす出力(これをWYRn
する)を記憶する。
そして、上述した配列長を表わしている出力
WYLn及びWYRnから、MYn=WYLn+WYRn
で表わされる出力MYを得、これを記憶して第8
図Bに示すように、パルスHYnを出力する。
上述したようにして、演算処理回路51から順
次得られるパルスHYn′,HYn-1′……HY1′,
HY0,HY1,HY2……HYnは、モータ駆動回路
53を介して、上述したモータ35に供給され
る。
モータ35は、パールスHYn′,HYn-1′,…
…HY1′,HY0,HY1,HY2……HYnが得られる
毎に、順方向にステツプ回転し、これに応じて、
上述した可動盤22が、上述した線c−cが上述
した点LYn′と合致している、保持体23との相
対的位置から、上述した線b−bと直交する方向
に沿つて、線LYn側に順次ステツプ移動する。
この場合、可動盤22の順次のステツプ移動
が、上述した線c−cが、上述した線LYn′と合
致している保持体23との相対的位置から、順次
線LYn-1′,LYn-2′……LY1′,LY0′,LY1……
LYnと合致するようになされる。
ところで、上述した出力MYn′の出力WLn′は、
試料2の圧痕3の、上述した線LYn′上での、圧
痕3の中心位置Oから点PY′側の側縁までの長さ
を表わしている。
その理由は、出力WLn′が、上述した差出力△
QYLn′が得られる配列上の位置から、差出力△
QYLn1′が得られるは配列上の位置までの配列長
を表わす出力である。一方、差出力△QYLn′が、
差出力△QYLn1′〜QYLno′を順次配列記憶した
ときの、その配列を、差出力△QYLn1′側から差
出力△QLno′側を順次みたときに正の値での差出
力の複数が順次得られて後、零の値での差出力が
最初に得られる差出力である。従つて、差出力△
QYLn′が得られる配列上の位置が、第5図C及
びDで、一般的な出力So′,So-1′……S1′,S0
S1,S2……So-1,Soのレベルについて上述したと
ころから、明らかなように、圧痕3の、上述した
線LYn′上での点PY′側の側縁に対応しているか
らである。
また、上述した出力MYn′の出力WYRn′は、
上述したと同様の理由で、試料2の圧痕3の、上
述した線LYn′上での、圧痕3の中心位置から点
PY側の側縁までの長さを表わしている。
従つて、上述した出力MYn′は圧痕3の、上述
した線LYn′上での長さを表わしている。
さらに、上述した出力MYn-1′,MYn-2′……
…MY1,MY0,MY1,MY2………MYnは上述
したと同様の理由で、それぞれ、圧痕3の、上述
した線LYn-1′、LYn-2′,………LY1′,LY0
LY1,LY2………LYn上での長さを表わしてい
る。
また、演算処理回路51は、上述したパルス
HMn′、HYn-1、……HY1′、HY0、HY1、HY2
………HYnを出力して後、第8図Cに示すよう
に、1つの切換用パルスPYWを出力する。
この切換用パルスPYWは、モータ駆動回路5
4に供給される。
一方、モータ駆動回路54には、上述した保持
体23の係合用ピン38が係合する、スイツチ3
9が及び39′接続されている。
スイツチ39は、上述した保持体23が第2の
回動位置にあるので、上述した切換用パルス
PYWが得られるとき、作動している。
モータ駆動回路54は、スイツチ39が作動し
ている状態で、上述した切換用パルスPYWが供
給された場合、第8図Dに示すように、順次パル
スKYを出力する。
この順次のパルスKY………は、上述したモー
タ30に供給される。
モータ30は、順次のパルスKYの供給を受け
て、順方向にステツプ回動する。このため、保持
体23が順方向に回動する。
そして、保持体23が、上述した係合用ピン3
8が、上述したスイツチ39′と係合するまで回
動すれば、スイツチ39′が作動する。
このため、モータ駆動回路54から上述したパ
ルスKYが得られなくなり、モータ30の回動が
停止し、これに応じて保持体23の回動が停止す
る。
保持体23の回動が停止したとき、上述した一
次元走査撮像装置21の固体撮像素子En′〜E1′,
E0,E1〜Enの配列線C−Cが、試料2中の、上
述した線LXn′と略々一致している、保持体23
の、試料2との相対的な第1の回動位置に復帰す
る。
上述したように、演算処理回路51は、上述し
た出力MXn′〜MXn-1′,MX0,MX1〜MXn
記憶していると共に、上述した出力MYn′〜
MY1,MY0,MY1〜MYnを記憶している。
演算処理回路51は、上述した出力MX′n
MX1′,MX0,MX1〜MXn中の、最大値をとる
出力(これをMXとする)を判知し、その出力
MXを出力する。この出力MXは、上述したよう
に上述した出力MXn′〜MX1′,MX0,MX1
MXnを得た場合、出力MX0である。
また、演算処理回路51は、上述した出力
MYn′〜MY1′,MY0,MY1〜MYn中の最大値
をとる出力(これをMYとする)を判知し、その
出力MYを出力する。この出力MYは、上述した
ように上述した出力MYn′〜MY1′,MY0,MY1
〜MYnを得た場合、出力MY0である。
上述した出力MXは、上述したところから明ら
かなように、試料2の圧痕3の点PX及びPX′を
結ぶ第1の対角線の長さNXを表わしている。
また、上述した出力MYは、上述したところか
ら明らかなように、試料2の圧痕3の点PY及び
PY′を結ぶ第2の対角線の長さNYを表わしてい
る。
上述したように、本発明による押込型硬度計の
実施例によれば、試料2に付された圧痕3の、第
1及び第2の対角線の長さNX及びNYを、測定
することができる。
従つて、その長さNX及びNYから、試料2の
硬度を測定することができる。
この場合、上述した本発明による押込型硬度計
によれば、試料2に付された圧痕3を、一次元走
査撮像装置21を用いて一次元走査撮像し、その
撮像出力から、圧痕3の第1及び第2の対角線長
さを表わしている出力を得るようになされてい
る。
従つて本発明による押込型硬度計によれば、第
1及び第2の対角線長さ信号を得るために用いる
撮像装置として、簡易、小型、廉価な一次元走査
撮像装置を用いるのみで良いという大なる特徴を
有する。
また、本発明による押込型硬度計によれば、一
次元走査撮像装置による圧痕の走査撮影を、圧痕
の全域に亙つて行なわないので、高速で圧痕の第
1及び第2の対角線の長さ信号を得ることができ
る。
また、本発明による押込型硬度計によれば、全
体の装置が簡易である等の大なる特徴を有する。
さらに、本発明による押込型硬度計によれば、
一次元走査撮像装置から得られる撮像出力が、圧
痕を合焦点状態で走査撮像して得られる出力であ
るので、圧痕の対角線の長さを正確に得ることが
できるので、試料の硬度を正確に測定し得る。
また、合焦点状態を得るために用いる焦点信号
を撮像装置の出力から得ているので、容易に合焦
点状態を得ることができるなどの特徴を有する。
なお、上述においては、試料に四角錐状の圧痕
を付すようになされた押込型硬度計に、本発明を
適用した場合の一例を述べたが、試料に球状の圧
痕を付すようになされた押込型硬度計に、本発明
を適用することもできるものである。
その他、本発明の精神を脱することなしに、
種々の変型変更をなし得るであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に依る押込型硬度計の実施例
の機械系の一例を示す略線的断面図である。第2
図は、その−線上の断面図である。第3図
は、試料に付された圧痕を示す図である。第4図
Aは、一次元的撮像装置によつて、試料を一次元
走査撮像する場合の説明に供する図、第4図B〜
Dは、試料を一次元的走査した場合の説明に供す
る波形図である。第5図は、本発明による押込型
硬度計の実施例の機械系を用いた場合の電気系の
一例を示す系統的接続図である。第6図、第7図
及び第8図は、その説明に供する信号配列図であ
る。 1……試料載置台、2……試料、3……圧痕、
4……基台、5,6……筒体、7……母螺、8…
…歯車、9……螺軸、10……試料載置台1を昇
降させるモータ、11……モータ10の回転軸、
12,13……歯車、20……撮像装置装架体、
21……一次元走査撮像装置、22……可動盤、
23……保持体、24……保持体23の筒部、2
5……保持体23の環部、26……保持体23の
筒部、27……保持体23の板部、28……筒部
24に付された歯車、29……板部27のスリツ
ト、30……保持体23を回転させるモータ、3
1……モータ30の回転軸、32……回転軸31
に取付けた歯車、33……可動盤22に取付けた
杆、34……杆33に設けた母螺、35……可動
盤22を移動させるモータ、36……モータ35
の回転軸、37……回転軸36に設けた螺子、3
8……保持体23に植立された係合用ピン、3
9,39′……係合用ピン38の係合によつて作
動するスイツチ、Eo′〜E1′,E0,E1〜Eo……一
次元走査撮像装置21の固体撮像素子、a……保
持体23の軸、b−b……軸aと直交する線、c
−c……固体撮像素子Eo′〜E1′,E0,E1〜Eo
配列されている線、40……支持体、41……筒
体、42……筒体41から延長している環板、d
……筒体41の軸、43……筒体41に取付けら
れ且これと連通している筒体、44……光源、4
5,47……レンズ、46……ハーフミラー、5
0……クロツクパルス発生回路、PX,PX′……
圧痕3の相対向する点、PY,PY′……圧痕3の
他の相対向する点、LX0……点PX及びPX′を通
る線、LY0……点PY及びPY′を通る線、O……
LX0及びLY0の交点、LX1〜LXn,LX′1〜LXn
……線LX0と平行な線、LY1〜LYn,LY1′〜
LYn′……線LY0と平行な線、51……演算処理
回路、52,53,54……モータ駆動回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 圧痕の付された試料を載置する試料載置台
    と、 上記試料に付された圧痕を走査撮像する走査撮
    像装置を装架している撮像装置装架体と、 上記走査撮像装置によつて、上記圧痕を順次複
    数U回走査撮像させ、それに応じて、上記走査撮
    像装置から、順次複数U個の撮像出力を出力させ
    る手段と、 上記走査撮像装置から、順次上記複数U個の走
    査撮像出力を出力させるのに応じて、順次複数U
    個のパルスを出力させ、その複数U個のパルスを
    用いて、上記試料載置台及び上記撮像装置装架体
    を、上記走査撮像装置が上記圧痕を合焦点状態で
    走査撮像する相対的な合焦点位置から離れている
    相対的な基準位置から、上記合焦点位置側に、相
    対的に、順次複数U回ステツプ移動させ、それに
    よつて、上記試料載置台及び上記撮像装置装架体
    を、上記合焦点位置を超えた位置まで相対的に移
    動させる手段と、 上記試料載置台及び上記撮像装置装架体を、上
    記合焦点位置を超えた位置まで相対的に移動させ
    て後、複数U個の他のパルスを用いて、上記合焦
    点位置を超えた位置から、上記基準位置側に、相
    対的に、順次複数U回ステツプ移動させ、それに
    よつて、上記試料載置台及び上記撮像装置装架体
    を、上記基準位置まで相対的に移動復帰させる手
    段と、 上記走査撮像装置から出力される上記複数U個
    の撮像出力中の第何回目の撮像出力の最大値が最
    大値をとるかを検出し、第r番目の撮像出力の最
    大値が上記複数U個の撮像出力の最大値中の最大
    値であるとき、上記試料載置台及び上記撮像装置
    装架体を上記基準位置まで相対的に移動復帰させ
    て後、順次r個のパルスを順次発生させ、それを
    用いて、上記試料載置台及び上記撮像装置装架体
    を、上記基準位置から、上記合焦点位置側に、相
    対的に、順次r回ステツプ移動させ、それによつ
    て、上記試料載置台及び上記撮像装置装架体を、
    上記合焦点位置に相対的に移動させる手段とを有
    することを特徴とする押込型硬度計。
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US5633453A (en) * 1993-01-19 1997-05-27 Mayo Foundation For Medical Education And Research Universal penetration test apparatus and method
US5467639A (en) * 1993-01-19 1995-11-21 Mayo Foundation For Medical Education And Research Universal penetration test apparatus and method
US5866801A (en) * 1993-01-19 1999-02-02 Regents Of The University Of California Universal penetration test apparatus with fluid penetration sensor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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