JPH0335695B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0335695B2 JPH0335695B2 JP57044842A JP4484282A JPH0335695B2 JP H0335695 B2 JPH0335695 B2 JP H0335695B2 JP 57044842 A JP57044842 A JP 57044842A JP 4484282 A JP4484282 A JP 4484282A JP H0335695 B2 JPH0335695 B2 JP H0335695B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switches
- microcomputer
- switch
- test
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、マイクロコンピユータ装置の自己
診断機能に関するものである。 従来、マイクロコンピユータの外部に接続され
たスイツチ群の特定な状態を検出して自己診断プ
ログラムを実行するようにしたマイクロコンピユ
ータ装置において、そのスイツチ群をも含めた回
路を診断する機能を有するものはなかつた。例え
ば第1図はマイクロコンピユータを応用した装置
であり、3はリセツト回路、4は水晶振動子、5
はマイクロコンピユータ、8は表示装置、7は4
ビツトのDIPスイツチ、10,11,12,13
は個々のスイツチであり、マイクロコンピユータ
に実行させる処理を選択するためのものである。
この様な回路において、例えば特定のスイツチ1
0をONにし(P1=L)電源スイツチ2をONに
すると、自己診断プログラムを実行する方式のも
のが一般的であつた。しかしこの様な方法で自己
診断プログラムを実行したとしても、残されたス
イツチ11,12,13の状態は検出していない
ので、これらのスイツチが故障していても発見で
きない。また自己診断プログラムの中でスイツチ
の良否を判定しようとすれば、スイツチは通常手
動で操作するため、自己診断プログラム実行中に
手でスイツチを操作してやる必要がある。したが
つて外部に接続するスイツチの良否までチエツク
しようとすると、自己診断プログラムが、複雑に
なる上に診断に大変な手間がかかるという欠点が
ある。 この発明は、マイクロコンピユータの外部に接
続された複数のスイツチの良否をも含めて、装置
全体の自己診断機能を有するマイクロコンピユー
タをきわめて簡単な構成で提供することを目的と
するものである。 この発明は、上記目的を達成するために、マイ
クロコンピユータを内蔵した装置のハードウエア
の不具合がスイツチの状態に対応した処理を選択
する場合に影響を及ぼす特定の状態に、そのマイ
クロコンピユータが内蔵された機器の動作試験を
行う処理を対応させたことを特徴とする。 以下、この発明の一実施例を図面にもとづいて
説明する。 第1図においてDIPスイツチ7は4個の個別ス
イツチ10,11,12,13で構成されている
から、すべてのスイツチの開閉状態の組合せは16
通りである。例えば第1図の様な装置において、
10通りの処理を外部スイツチ7によつて選択でき
るものとすれば、第1表に示す入力端子P1、P2、
P3、P4の状態を2進数データとして10通りの処
理に対応させればよいことになる。しかし10通り
すべての処理について正常動作するかどうかを調
べるとすれば、合計10回の手動によるスイツチ設
定を必要とし大変手間がかゝる。そこで第1表に
おける状態6(P1=H、P2=L、P3=H、P4=
L)と状態11(P1=L、P2=H、P3=L、P4=
H)とを除く14種類の状態の10種類の状態に目的
とする処理を対応させ、状態6と状態11とを自己
診断プログラム処理に対応させる。状態6と状態
11は各対応するスイツチ同士の状態が反対の関係
であり、しかも実装された場合の隣接し合うスイ
ツチの状態およびマイクロコンピユータ端子
(P1、P2、P3、P4)の論理が反対の関係になる
ようにしてある。 このようなハードウエア構成において、マイク
ロコンピユータ内のプログラムを第2図に示すよ
うに、マイクロコンピユータがリセツトされた直
後にスイツチの状態を2進数データとして読み込
み(イ)、自己診断の設定(状態6か)或は(状態7
か)の判別(ロ)、(ハ)を行つて、自己診断プログラム
(ニ)を実行するか否かを決定し、自己診断の結果を
異常なし或は異常ありと表示(ホ)(ヘ)するように作つ
ておく。なお第3図は第2図を具体的に表わした
ものでブロツク内の数字1〜16は第1表の各状態
に対応した処理動作を示しており、判別の動作の
フローは簡明であるから、この図の説明は省略す
る。状態6または状態11に外部スイツチ7を設定
し、いずれの場合にも自己診断プログラムを実行
すれば、すべてのスイツチ10,11,12,1
3が正常でありしかも各スイツチからマイクロコ
ンピユータ端子P1、P2、P3、P4にいたる配線に
おいても隣接する導体間の短絡はないことが判明
する。当然の事ではあるが自己診断プログラムの
中に表示装置8をチエツクする処理を含めば、ス
イツチと表示部を含めたほとんどのハードウエア
の試験が完了する。この試験を行うためには、状
態6と状態11を発生させるための2回の手動によ
るスイツチ操作を行うだけでよい。自己診断の設
定において、外部スイツチに異常がなければ、異
常有無の表示がなされ、外部スイツチが不良は実
己診断動作が行われないことで判明する。 この発明によれば上述のように、プログラム選
択用の外部スイツチ回路を含むハードウエアの試
験を2回のスイツチ操作によつて簡単に行うこと
ができる上に、その際に用いられる自己診断プロ
グラムには外部スイツチ回路を診断する処理を含
む必要がないという利点がある。 【表】
診断機能に関するものである。 従来、マイクロコンピユータの外部に接続され
たスイツチ群の特定な状態を検出して自己診断プ
ログラムを実行するようにしたマイクロコンピユ
ータ装置において、そのスイツチ群をも含めた回
路を診断する機能を有するものはなかつた。例え
ば第1図はマイクロコンピユータを応用した装置
であり、3はリセツト回路、4は水晶振動子、5
はマイクロコンピユータ、8は表示装置、7は4
ビツトのDIPスイツチ、10,11,12,13
は個々のスイツチであり、マイクロコンピユータ
に実行させる処理を選択するためのものである。
この様な回路において、例えば特定のスイツチ1
0をONにし(P1=L)電源スイツチ2をONに
すると、自己診断プログラムを実行する方式のも
のが一般的であつた。しかしこの様な方法で自己
診断プログラムを実行したとしても、残されたス
イツチ11,12,13の状態は検出していない
ので、これらのスイツチが故障していても発見で
きない。また自己診断プログラムの中でスイツチ
の良否を判定しようとすれば、スイツチは通常手
動で操作するため、自己診断プログラム実行中に
手でスイツチを操作してやる必要がある。したが
つて外部に接続するスイツチの良否までチエツク
しようとすると、自己診断プログラムが、複雑に
なる上に診断に大変な手間がかかるという欠点が
ある。 この発明は、マイクロコンピユータの外部に接
続された複数のスイツチの良否をも含めて、装置
全体の自己診断機能を有するマイクロコンピユー
タをきわめて簡単な構成で提供することを目的と
するものである。 この発明は、上記目的を達成するために、マイ
クロコンピユータを内蔵した装置のハードウエア
の不具合がスイツチの状態に対応した処理を選択
する場合に影響を及ぼす特定の状態に、そのマイ
クロコンピユータが内蔵された機器の動作試験を
行う処理を対応させたことを特徴とする。 以下、この発明の一実施例を図面にもとづいて
説明する。 第1図においてDIPスイツチ7は4個の個別ス
イツチ10,11,12,13で構成されている
から、すべてのスイツチの開閉状態の組合せは16
通りである。例えば第1図の様な装置において、
10通りの処理を外部スイツチ7によつて選択でき
るものとすれば、第1表に示す入力端子P1、P2、
P3、P4の状態を2進数データとして10通りの処
理に対応させればよいことになる。しかし10通り
すべての処理について正常動作するかどうかを調
べるとすれば、合計10回の手動によるスイツチ設
定を必要とし大変手間がかゝる。そこで第1表に
おける状態6(P1=H、P2=L、P3=H、P4=
L)と状態11(P1=L、P2=H、P3=L、P4=
H)とを除く14種類の状態の10種類の状態に目的
とする処理を対応させ、状態6と状態11とを自己
診断プログラム処理に対応させる。状態6と状態
11は各対応するスイツチ同士の状態が反対の関係
であり、しかも実装された場合の隣接し合うスイ
ツチの状態およびマイクロコンピユータ端子
(P1、P2、P3、P4)の論理が反対の関係になる
ようにしてある。 このようなハードウエア構成において、マイク
ロコンピユータ内のプログラムを第2図に示すよ
うに、マイクロコンピユータがリセツトされた直
後にスイツチの状態を2進数データとして読み込
み(イ)、自己診断の設定(状態6か)或は(状態7
か)の判別(ロ)、(ハ)を行つて、自己診断プログラム
(ニ)を実行するか否かを決定し、自己診断の結果を
異常なし或は異常ありと表示(ホ)(ヘ)するように作つ
ておく。なお第3図は第2図を具体的に表わした
ものでブロツク内の数字1〜16は第1表の各状態
に対応した処理動作を示しており、判別の動作の
フローは簡明であるから、この図の説明は省略す
る。状態6または状態11に外部スイツチ7を設定
し、いずれの場合にも自己診断プログラムを実行
すれば、すべてのスイツチ10,11,12,1
3が正常でありしかも各スイツチからマイクロコ
ンピユータ端子P1、P2、P3、P4にいたる配線に
おいても隣接する導体間の短絡はないことが判明
する。当然の事ではあるが自己診断プログラムの
中に表示装置8をチエツクする処理を含めば、ス
イツチと表示部を含めたほとんどのハードウエア
の試験が完了する。この試験を行うためには、状
態6と状態11を発生させるための2回の手動によ
るスイツチ操作を行うだけでよい。自己診断の設
定において、外部スイツチに異常がなければ、異
常有無の表示がなされ、外部スイツチが不良は実
己診断動作が行われないことで判明する。 この発明によれば上述のように、プログラム選
択用の外部スイツチ回路を含むハードウエアの試
験を2回のスイツチ操作によつて簡単に行うこと
ができる上に、その際に用いられる自己診断プロ
グラムには外部スイツチ回路を診断する処理を含
む必要がないという利点がある。 【表】
第1図は本発明マイクロコンピユータ装置の一
実施例を示すブロツク図、第2図は同上の動作を
示すフローチヤート、第3図は第2図をさらに具
体的に表わしたフローチヤートである。 3……リセツト回路、5……マイクロコンピユ
ータ、7……外部スイツチ、10,11,12,
13……個別スイツチ。
実施例を示すブロツク図、第2図は同上の動作を
示すフローチヤート、第3図は第2図をさらに具
体的に表わしたフローチヤートである。 3……リセツト回路、5……マイクロコンピユ
ータ、7……外部スイツチ、10,11,12,
13……個別スイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 マイクロコンピユータの外部に接続された複
数のスイツチの開閉状態を2進数データとして読
み込み、データの各値に対応した処理を実行する
ようにプログラムされたマイクロコンピユータ装
置において、プリント基板上に配設された上記複
数のスイツチが隣同士相異なる状態をとるような
2種類のデータ値に、該装置の動作試験を行う処
理を対応させたことを特徴とするマイクロコンピ
ユータ装置。 2 リセツト直後に上記データを読み込み、デー
タの値を判別して動作試験を行う処理を実行する
か否かを決定する処理がプログラムされたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のマイクロ
コンピユータ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57044842A JPS58161053A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | マイクロコンピユ−タ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57044842A JPS58161053A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | マイクロコンピユ−タ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58161053A JPS58161053A (ja) | 1983-09-24 |
| JPH0335695B2 true JPH0335695B2 (ja) | 1991-05-29 |
Family
ID=12702720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57044842A Granted JPS58161053A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | マイクロコンピユ−タ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58161053A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0663548U (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-09 | トワロン株式会社 | キャリア |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP57044842A patent/JPS58161053A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58161053A (ja) | 1983-09-24 |
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