JPH0336924Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0336924Y2 JPH0336924Y2 JP14202282U JP14202282U JPH0336924Y2 JP H0336924 Y2 JPH0336924 Y2 JP H0336924Y2 JP 14202282 U JP14202282 U JP 14202282U JP 14202282 U JP14202282 U JP 14202282U JP H0336924 Y2 JPH0336924 Y2 JP H0336924Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- egg
- light
- rays
- egg white
- infrared
- Prior art date
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- Expired
Links
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は割卵後の卵黄と卵白が部分的に混合
した状態(乱れ卵)を光学的に検出する光学式乱
れ卵検出装置に関する。
した状態(乱れ卵)を光学的に検出する光学式乱
れ卵検出装置に関する。
菓子類、マヨネーズ類等、食品工業では卵を原
料とする製品が多い。例えばマヨネーズは、その
主成分の1つである卵の使用形態によつて2種類
に大別される。その1つは卵の卵黄だけを使用す
るタイプのもの、もう1つは卵の卵黄と卵白の両
者とも使用するタイプのものである。前者に属す
るマヨネーズを製造する場合には、卵を卵黄と卵
白の2つに分離する必要がある。現在、上記分離
工程は機械化されており、まず、割卵機により、
卵が自動的に割卵されると同時に卵黄と卵白が自
動的に分離されるようになつている。このとき、
卵黄と卵白とが完全に分離されないで、一部分が
混合された状態になることがある。この状態を乱
れと称している。そしてこのような卵を「乱れ
卵」と称している。上記「乱れ卵」はマヨネーズ
の製造時には必らず除去する必要がある。しか
し、上記「乱れ卵」は、従来、検査員が割卵後の
状態を目視により監視してその都度除去する手段
を講じていたので、非能率的であり、作業能率の
低下を招いていた。
料とする製品が多い。例えばマヨネーズは、その
主成分の1つである卵の使用形態によつて2種類
に大別される。その1つは卵の卵黄だけを使用す
るタイプのもの、もう1つは卵の卵黄と卵白の両
者とも使用するタイプのものである。前者に属す
るマヨネーズを製造する場合には、卵を卵黄と卵
白の2つに分離する必要がある。現在、上記分離
工程は機械化されており、まず、割卵機により、
卵が自動的に割卵されると同時に卵黄と卵白が自
動的に分離されるようになつている。このとき、
卵黄と卵白とが完全に分離されないで、一部分が
混合された状態になることがある。この状態を乱
れと称している。そしてこのような卵を「乱れ
卵」と称している。上記「乱れ卵」はマヨネーズ
の製造時には必らず除去する必要がある。しか
し、上記「乱れ卵」は、従来、検査員が割卵後の
状態を目視により監視してその都度除去する手段
を講じていたので、非能率的であり、作業能率の
低下を招いていた。
この考案は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、マヨネーズ製造時等における乱れ卵を自動的
に検出して作業能率の向上を図つた光学式乱れ卵
検出装置を提供することを目的とする。
で、マヨネーズ製造時等における乱れ卵を自動的
に検出して作業能率の向上を図つた光学式乱れ卵
検出装置を提供することを目的とする。
以下図面を参照してこの考案の一実施例を説明
する。第1図において、1は近赤外発光ダイオー
ド、タングステンランプ、、ハロゲンランプ等か
らなる近赤外光線発生装置で、この装置1からの
近赤外光線は割卵された測定対象となる卵白2に
照射される。卵白2に照射された近赤外光線は散
乱されて反射される。この反射光線は詳細を後述
する検出器3で検出されて回路部4に供給され
る。第2図は上記検出器3と回路部4の詳細を示
すブロツク図で、第2図において、31は前記反
射光線を集光するレンズで、このレンズ31で集
光された光線は光学フイルタ32を通して受光素
子33に入射され、電気信号に変換される。光学
フイルタ32は可視光線を遮断し、近赤外光線を
透過させる特性を持つた黒色フイルタである。な
お、受光素子33は光電管、光導電素子、フオト
トランジスタ、フオトダイオード等が用いられ
る。
する。第1図において、1は近赤外発光ダイオー
ド、タングステンランプ、、ハロゲンランプ等か
らなる近赤外光線発生装置で、この装置1からの
近赤外光線は割卵された測定対象となる卵白2に
照射される。卵白2に照射された近赤外光線は散
乱されて反射される。この反射光線は詳細を後述
する検出器3で検出されて回路部4に供給され
る。第2図は上記検出器3と回路部4の詳細を示
すブロツク図で、第2図において、31は前記反
射光線を集光するレンズで、このレンズ31で集
光された光線は光学フイルタ32を通して受光素
子33に入射され、電気信号に変換される。光学
フイルタ32は可視光線を遮断し、近赤外光線を
透過させる特性を持つた黒色フイルタである。な
お、受光素子33は光電管、光導電素子、フオト
トランジスタ、フオトダイオード等が用いられ
る。
前記受光素子33で電気信号に変換された信号
は増幅回路41で増幅され、判定回路42に入力
される。判定回路42には予め乱れのある卵白を
計測して設定したしきい値がしきい値設定回路4
3から供給されている。判定回路42は前記設定
回路43のしきい値より入力信号が高い場合は
「乱れ」有りと判定し、低い場合には「乱れ」無
しと判定し、前記「乱れ」有りの場合端子44に
判定出力を得る。
は増幅回路41で増幅され、判定回路42に入力
される。判定回路42には予め乱れのある卵白を
計測して設定したしきい値がしきい値設定回路4
3から供給されている。判定回路42は前記設定
回路43のしきい値より入力信号が高い場合は
「乱れ」有りと判定し、低い場合には「乱れ」無
しと判定し、前記「乱れ」有りの場合端子44に
判定出力を得る。
次に上記実施例の動作を述べる。卵白2に近赤
外線発生装置1から波長750nm〜1100nm程度の
近赤外線を含む光線を照射すると卵白2でその光
線は乱反射される。ここで卵白2に近赤外線光線
を照射する理由を述べるに、卵白にほぼ無色透明
体であるので、卵白表面での鏡面反射光線は強い
けれども乱反射光線は弱い、これに対して、卵黄
は黄色不透明体であるため、乱反射光線が非常に
強い。これは近赤外光線を用いると上記現象を呈
するが、白色光線を用いると卵黄が有色であるた
め、光線の一部が吸収されてしまい乱反射光線の
強度が小さくなり、そのため検出能力が低下す
る。そこで、前述したように色の影響を受けにく
い近赤外線を用いた。また白色光線のように可視
光領域を検出する方式では周囲の可視照明光線の
影響を受けやすいことも近赤外線を用いて解決し
ている。
外線発生装置1から波長750nm〜1100nm程度の
近赤外線を含む光線を照射すると卵白2でその光
線は乱反射される。ここで卵白2に近赤外線光線
を照射する理由を述べるに、卵白にほぼ無色透明
体であるので、卵白表面での鏡面反射光線は強い
けれども乱反射光線は弱い、これに対して、卵黄
は黄色不透明体であるため、乱反射光線が非常に
強い。これは近赤外光線を用いると上記現象を呈
するが、白色光線を用いると卵黄が有色であるた
め、光線の一部が吸収されてしまい乱反射光線の
強度が小さくなり、そのため検出能力が低下す
る。そこで、前述したように色の影響を受けにく
い近赤外線を用いた。また白色光線のように可視
光領域を検出する方式では周囲の可視照明光線の
影響を受けやすいことも近赤外線を用いて解決し
ている。
さて、前記卵白2で光線が乱反射されるとその
乱反射光線は集光レンズ31で集光された後、光
学フイルタ32を通ると近赤外線のみが受光素子
33で検出される。受光素子33は近赤外線を電
気信号に変換した後、その信号は回路部4の増幅
回路41に入力される。増幅回路41の増幅出力
信号は判定回路42に入力される。判定回路42
の入力信号はしきい値設定回路43のしきい値と
比較され、そのしきい値より判定回路42の入力
信号が高い場合は「乱れ卵」として判定し、その
判定出力信号を端子44に送出する。
乱反射光線は集光レンズ31で集光された後、光
学フイルタ32を通ると近赤外線のみが受光素子
33で検出される。受光素子33は近赤外線を電
気信号に変換した後、その信号は回路部4の増幅
回路41に入力される。増幅回路41の増幅出力
信号は判定回路42に入力される。判定回路42
の入力信号はしきい値設定回路43のしきい値と
比較され、そのしきい値より判定回路42の入力
信号が高い場合は「乱れ卵」として判定し、その
判定出力信号を端子44に送出する。
なお、第3図は検出部3において、光学フイル
タ32と受光素子33としてフオトダイオードと
を組み合せたときの波長特性図である。また、第
4図は計測結果の一例を示す特性図で、第4図に
おいて、縦軸は乱れのない卵白を計測したときの
出力を「1」とした相対強度、横軸は卵白への卵
黄の滴加量を示す。この第4図から例えば、卵白
への卵黄の滴加量2ml以上を「乱れ」有り、それ
以下を乱れ無しと設定した場合には、相対反射光
強度で「1.5」に前記実施例の設定回路43のし
きい値を設定すれば「乱れ卵」の有無が判定でき
る。
タ32と受光素子33としてフオトダイオードと
を組み合せたときの波長特性図である。また、第
4図は計測結果の一例を示す特性図で、第4図に
おいて、縦軸は乱れのない卵白を計測したときの
出力を「1」とした相対強度、横軸は卵白への卵
黄の滴加量を示す。この第4図から例えば、卵白
への卵黄の滴加量2ml以上を「乱れ」有り、それ
以下を乱れ無しと設定した場合には、相対反射光
強度で「1.5」に前記実施例の設定回路43のし
きい値を設定すれば「乱れ卵」の有無が判定でき
る。
以上述べたように、この考案によれば、卵白に
近赤外線を照射し、その卵白からの反射光線を電
気信号に変換した後、所定のしきい値と比較して
「乱れ卵」であるか否を判定するようにしたので、
乱れ卵の検出が自動化できるとともに検出速度の
向上も図ることができ、しかも周囲の可視光線の
影響も受けにくく、かつ計測精度が高い利点を有
する。
近赤外線を照射し、その卵白からの反射光線を電
気信号に変換した後、所定のしきい値と比較して
「乱れ卵」であるか否を判定するようにしたので、
乱れ卵の検出が自動化できるとともに検出速度の
向上も図ることができ、しかも周囲の可視光線の
影響も受けにくく、かつ計測精度が高い利点を有
する。
第1図および第2図はこの考案の一実施例を示
すもので、第1図は概略構成図、第2図は検出部
と回路部のブロツク図、第3図は受光部の波長特
性図、第4図は卵黄滴加量と相対反射光強度の特
性図である。 1……近赤外線発生装置、2……卵白、3……
検出部、4……回路部、31……集光レンズ、3
2……光学フイルタ、33……受光素子、41…
…増幅回路、42……判定回路、43……しきい
値設定回路。
すもので、第1図は概略構成図、第2図は検出部
と回路部のブロツク図、第3図は受光部の波長特
性図、第4図は卵黄滴加量と相対反射光強度の特
性図である。 1……近赤外線発生装置、2……卵白、3……
検出部、4……回路部、31……集光レンズ、3
2……光学フイルタ、33……受光素子、41…
…増幅回路、42……判定回路、43……しきい
値設定回路。
Claims (1)
- 割卵後の卵白に近赤外線を照射する赤外線発生
装置と、前記卵白からの乱反射光線から可視光線
を遮断し、近赤外光線を透過させる光学フイルタ
と、このフイルタを透過した光線が受光され、そ
の受光光線を電気信号に変換する受光素子と、こ
の素子の出力信号が与えられるとともにその出力
信号が予め設定されたしきい値と比較され、その
比較結果から乱れ卵であるか否の判定を行なう判
定部とを備えた光学式乱れ卵検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1982142022U JPS5945556U (ja) | 1982-09-20 | 1982-09-20 | 光学式乱れ卵検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1982142022U JPS5945556U (ja) | 1982-09-20 | 1982-09-20 | 光学式乱れ卵検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5945556U JPS5945556U (ja) | 1984-03-26 |
| JPH0336924Y2 true JPH0336924Y2 (ja) | 1991-08-05 |
Family
ID=30317467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1982142022U Granted JPS5945556U (ja) | 1982-09-20 | 1982-09-20 | 光学式乱れ卵検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5945556U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4858838B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2012-01-18 | 株式会社ナベル | 卵の品質指標検査装置 |
| WO2008069263A1 (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-12 | Nabel Co., Ltd. | 卵の品質指標検査装置 |
-
1982
- 1982-09-20 JP JP1982142022U patent/JPS5945556U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5945556U (ja) | 1984-03-26 |
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