JPH0362983A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
- Publication number
- JPH0362983A JPH0362983A JP19850289A JP19850289A JPH0362983A JP H0362983 A JPH0362983 A JP H0362983A JP 19850289 A JP19850289 A JP 19850289A JP 19850289 A JP19850289 A JP 19850289A JP H0362983 A JPH0362983 A JP H0362983A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- monitor
- stem
- chip
- heat sink
- semiconductor laser
- Prior art date
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- Pending
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体レーザダイオードのパッケージの形
状に関するものである。
状に関するものである。
〔従来の技術j
第3図および第4図は従来のモニタPDを付ける台(以
下モニタPDマウント部という)として凸部形状をなす
ステムを持つ半導体レーザ装置を示す図で、第3図は上
面図、第4図は第3図に示すB−Bにおける断面図、第
5図及び第6図は従来のモニタPDマウント部として凹
部形状をなすステムを持つ半導体レーザ装置を示す図で
、@5図は上面図、第6図は第5図に示すC−C4ζお
ける断面図である。図において、(1)はレーザチップ
、(2)はサブマウント、(3)はヒートシンクブロッ
ク、(4)はモニタPDチップ、(7J 、 (Q)は
ステム、(8)は凸部形状を持つモニタPDマウント部
、CIGは凹部形状を持つモニタPDマウント部である
。
下モニタPDマウント部という)として凸部形状をなす
ステムを持つ半導体レーザ装置を示す図で、第3図は上
面図、第4図は第3図に示すB−Bにおける断面図、第
5図及び第6図は従来のモニタPDマウント部として凹
部形状をなすステムを持つ半導体レーザ装置を示す図で
、@5図は上面図、第6図は第5図に示すC−C4ζお
ける断面図である。図において、(1)はレーザチップ
、(2)はサブマウント、(3)はヒートシンクブロッ
ク、(4)はモニタPDチップ、(7J 、 (Q)は
ステム、(8)は凸部形状を持つモニタPDマウント部
、CIGは凹部形状を持つモニタPDマウント部である
。
次に動作について説明する。
ステム(7)又は、ステム(9)にモニタPDチップ(
4)をハンダ付けする。モニタPD受光直は、ステム(
73、(9Jの中心にくるようにする。
4)をハンダ付けする。モニタPD受光直は、ステム(
73、(9Jの中心にくるようにする。
次に、レーザテップ(1)、サブマウント(2]及びヒ
ートシンクブロック(3)をハンダ付けしたブロックを
レーザチップ(1)がモニタPDチップ(4)の受光面
上にくるようにハンダ付けする。第4図に示す凸部形状
のモニタPDマウント部(8)を持つものでは、レーザ
チップ(1)とモニタPDチップ(4)の間隔が小すく
、第6図に示す凹部形状のモニタFDマウント部σQを
持つものでは、大きくなる。
ートシンクブロック(3)をハンダ付けしたブロックを
レーザチップ(1)がモニタPDチップ(4)の受光面
上にくるようにハンダ付けする。第4図に示す凸部形状
のモニタPDマウント部(8)を持つものでは、レーザ
チップ(1)とモニタPDチップ(4)の間隔が小すく
、第6図に示す凹部形状のモニタFDマウント部σQを
持つものでは、大きくなる。
従来の半導体レーザ装置は以上のように構成されている
ので、凸部形状のモニタPDマウント部を持つステムで
は、組立後レーザテップとモニタPDチップが近いので
1mが大きくなる。又、凹部形状のモニタPDマウント
部を持つステムでは、ステムとヒートシンクブロックを
組立てるとき、ヒートシンクブロックの位置決めができ
ないという問題点があった。
ので、凸部形状のモニタPDマウント部を持つステムで
は、組立後レーザテップとモニタPDチップが近いので
1mが大きくなる。又、凹部形状のモニタPDマウント
部を持つステムでは、ステムとヒートシンクブロックを
組立てるとき、ヒートシンクブロックの位置決めができ
ないという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、組立後の1mの低減、組立の際のヒートシ
ンクブロックの位置決め可能を目的とする。
れたもので、組立後の1mの低減、組立の際のヒートシ
ンクブロックの位置決め可能を目的とする。
この発明に係る、モニタPDマウント部をもつステムの
構造は、モニタPDマウント部の形状に、凸凹を併用し
た形を施したものである。
構造は、モニタPDマウント部の形状に、凸凹を併用し
た形を施したものである。
モニタPDマウント部を凸凹併用型にすることで、組立
後のIm低減、組立時のヒートシンクブロックの位置決
め可能を実現できる。
後のIm低減、組立時のヒートシンクブロックの位置決
め可能を実現できる。
〔実施例」
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は半導体レーザ装置の上置図、第2図は第1図に
示すA−Aにおける断簡図である。図において(1)〜
(4)は第3図の従来例に示したものと同等であるので
説明を省略する。(6)は凸凹併用型のモニタPDマウ
ント部、(5)は凸凹併用型のモニタFDマウント部(
67を持つステムである。
示すA−Aにおける断簡図である。図において(1)〜
(4)は第3図の従来例に示したものと同等であるので
説明を省略する。(6)は凸凹併用型のモニタPDマウ
ント部、(5)は凸凹併用型のモニタFDマウント部(
67を持つステムである。
次に動作について説明する。
凸凹併用型のステム(旬のモニタFDマウント部(6)
にモニタPi)チップ(4)をハンダ付けする。モニタ
FDチップ(4)Iよ、ステム(5)の中心にくるよう
にする。
にモニタPi)チップ(4)をハンダ付けする。モニタ
FDチップ(4)Iよ、ステム(5)の中心にくるよう
にする。
次に、レーザチップ(l〉、サブマウント(2)及びヒ
ートシンクブロック(3)をハンダ付けしたブロックを
ステム(5)にハンダ付けする。このとき、モニタPD
マウント部(6)の凸部を目安にして、モニタPDチッ
プ(4)の受光筒上にレーザテップ(1)がくるように
する。
ートシンクブロック(3)をハンダ付けしたブロックを
ステム(5)にハンダ付けする。このとき、モニタPD
マウント部(6)の凸部を目安にして、モニタPDチッ
プ(4)の受光筒上にレーザテップ(1)がくるように
する。
そして、また、組立後は、第3図の従来例に示す凸部形
状のモニタPDマウント部(8)をもつステム(7)の
ときよりもレーザテップ(1)とモニタPDチップ(4
)の間隔が大きくなる。
状のモニタPDマウント部(8)をもつステム(7)の
ときよりもレーザテップ(1)とモニタPDチップ(4
)の間隔が大きくなる。
〔発明の効果」
以上のように、この発明によれば、ステム上向に凸凹併
用型のモニタPDマウント部を形成することで、組立後
のモニタPDの1m低減や、組立時のヒートシンクブロ
ックの位置決めが可能となる効果がある。
用型のモニタPDマウント部を形成することで、組立後
のモニタPDの1m低減や、組立時のヒートシンクブロ
ックの位置決めが可能となる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による半導体レーザ装置の
上面図、第2図は第1図に示すl’t・Aにおける断面
図、第3図は従来の凸部形状をなすステムを持つ半導体
レーザ装置の上面図、第4図は第3図に示すB−Bにお
ける断痛図、@5図は従来の凹部形状をなすステムを持
つ半導体レーザ装置の上面図、第6図は第5図に示すC
−Cにおける断面図である。図において(1)はレーザ
チップ、(2)はサブマウント、(3)はヒートシンク
ブロック、(4JはモニタPDチップ、(5〕はステム
、(6)はモニタPDマウント部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
上面図、第2図は第1図に示すl’t・Aにおける断面
図、第3図は従来の凸部形状をなすステムを持つ半導体
レーザ装置の上面図、第4図は第3図に示すB−Bにお
ける断痛図、@5図は従来の凹部形状をなすステムを持
つ半導体レーザ装置の上面図、第6図は第5図に示すC
−Cにおける断面図である。図において(1)はレーザ
チップ、(2)はサブマウント、(3)はヒートシンク
ブロック、(4JはモニタPDチップ、(5〕はステム
、(6)はモニタPDマウント部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 上面に、PDを付ける台を形成しているステムを用い
たことを特徴とする半導体レーザ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19850289A JPH0362983A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 半導体レーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19850289A JPH0362983A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 半導体レーザ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0362983A true JPH0362983A (ja) | 1991-03-19 |
Family
ID=16392201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19850289A Pending JPH0362983A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0362983A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5519720A (en) * | 1993-03-04 | 1996-05-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor light emitting device |
| JP2009021432A (ja) * | 2007-07-12 | 2009-01-29 | Nichia Corp | 半導体レーザ装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6039880A (ja) * | 1983-08-12 | 1985-03-01 | Hitachi Ltd | 発光装置 |
| JPS63102387A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-07 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザ−装置用パツケ−ジ |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP19850289A patent/JPH0362983A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6039880A (ja) * | 1983-08-12 | 1985-03-01 | Hitachi Ltd | 発光装置 |
| JPS63102387A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-07 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザ−装置用パツケ−ジ |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5519720A (en) * | 1993-03-04 | 1996-05-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor light emitting device |
| JP2009021432A (ja) * | 2007-07-12 | 2009-01-29 | Nichia Corp | 半導体レーザ装置 |
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