JPH0415825A - マイクロ分岐処理方式 - Google Patents

マイクロ分岐処理方式

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JPH0415825A
JPH0415825A JP11744390A JP11744390A JPH0415825A JP H0415825 A JPH0415825 A JP H0415825A JP 11744390 A JP11744390 A JP 11744390A JP 11744390 A JP11744390 A JP 11744390A JP H0415825 A JPH0415825 A JP H0415825A
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JP
Japan
Prior art keywords
branch
instruction
branch processing
processing
condition
Prior art date
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Pending
Application number
JP11744390A
Other languages
English (en)
Inventor
Keisuke Tejima
啓介 手島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Computer Engineering Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0415825A publication Critical patent/JPH0415825A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、機械語命令の命令コードにより指定されるマ
イクロ命令により分岐処理を実行するマイクロ分岐処理
方式のうち、特に、分岐コンディションコードフィール
ドの領域を減少させて、システムの処理速度を向上する
マイクロ分岐処理方式に関する。
(従来の技術) 上記マイクロ分岐処理方式を、第3図および第4図を用
いて説明する。
まず、第3図の命令Wの分岐Cを実行する場合、機械語
命令25は命令コードによりマイクロ命令27を指定す
る。指定されたマイクロ命令27は、分岐コードおよび
分岐コンディションコードフィールド(以下、BCFと
いう。)を参照して、当該分岐コードに分岐処理の有を
示す「1」がセットされているときBCFの第5図に示
す分岐コンデイションの分岐Cのro 010Jをデコ
ーダ29にデコードする。一方、ファームウェアにより
セットされる分岐処理の条件要素を示す条件フラグ31
のCは、上記分岐コードが有のとき「1」がセットされ
る。上記条件フラグ31が「1」。
分岐コード「1」およびBCFがro 010Jのとき
アンド回路33Cは、ハイレベルになリオア回路35も
ハイレベルになることにより、分岐実行信号(BrGO
信号)が生成される。同様に、他の命令w、x、y、z
の分岐A、B、D−Pの15種の分岐処理が実行される
。多種類の分岐処理を扱うとき上記BCFのピッド数の
増加を抑えるのが容易ではなかった。
(発明が解決しようとする課題) 従来のマイクロ分岐処理方式は、マイクロ命令のBCF
に4ビツトを使用するため、分岐処理が増加するとBC
Fに使用されるビット数の増加により、BCFに使用さ
れるメモリ容量も増加する。BCFの使用されるメモリ
容量が増加すると、マイクロ命令を格納するファームウ
ェアに使用するメモリ容量が減少して、当該ファームウ
ェアの処理に支障を来たすおそれがあり、また、処理速
度の遅延を招来するおそれかあった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的
は、多種類の分岐処理を処理する場合にも、分岐コンデ
ィションコードフィールドの領域の増加を防止して、当
該増加を防止した領域を他の処理に用いて並列動作を実
行させることにより、システムの処理速度を向上し、且
つ、汎用性を向上するマイクロ分岐処理方式を提供する
ことにある。
C発明の構成コ (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明は、機械語命令の命令
コードにより指定されるマイクロ命令の分岐処理の条件
を示す分岐コンディションコドフィールドの分岐処理の
うち分岐条件の要素を選択するセレクト信号を記憶する
メモリと、このメモリに記憶されているセレクト信号の
うち前記マイクロ命令による分岐処理の実行に用いられ
るセレクト信号をデコードするデコーダと、このデコー
ダからデコードされたセレクト信号に応答して分岐処理
の成立を示す条件フラグのフラグ群から前記マイクロ命
令の分岐処理に該当するフラグをセレクトするセレクタ
と、 このセレクタによりセレクトされたフラグ、前記マイク
ロ命令の分岐処理の有無を示す分岐コドおよび分岐コン
ディションコードフィールドの論理積により分岐処理を
実行する信号を生成する論理回路と、 を備えたことを要旨とする。
(作用) 上記構成を備えたマイクロ分岐処理方式においては、メ
モリに記憶されている分岐処理のうち分岐条件の要素を
選択するセレクト信号のうちマイクロ命令の分岐処理の
実行に用いられるセレクト信号をデコードする。このデ
コードされたセレクト信号に応答して条件フラグのフラ
グ群から上記マイクロ命令の分岐処理に該当するフラグ
をセレクトする。このセレクトされたフラグ、マイクロ
命令の分岐処理の有無を示す分岐コードおよび当該分岐
処理の条件を示す分岐コンディションコードフィールド
の論理積により、当該分岐処理を実行する信号を生成す
るので、分岐コンディションコードフィールドの領域を
減少できる。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明のマイクロ分岐処理方式の一実施例に係
る構成を示すブロック図である。
上記マイクロ分岐処理方式は、機械語命令1の命令の種
類を示す命令コードにより、例えば、第3図に示す各マ
イクロ命令の命令Wのマイクロ命令3を指定する。当該
指定されたマイクロ命令3は、1ビツトの分岐コード(
B C)および2ビ、。
トの分岐コンディションコードフィールド(以下、BC
Fという。)を有する。上記分岐コードは、分岐処理の
命令Wが有のとき「1」を、分岐処理の命令Wが無のと
き「0」がセットされている。
また、BCFは、第2図(a)の表21に示す当該BC
Fの状態を示す分岐コンデイションの分岐A−Pの16
種類を有して、分岐がrAJのとき「00」であり、分
岐Bのとき「01」であり、分岐りのとき「11」であ
る。同様に、分岐がE。
1、Mのとき「00」であり、分岐処理がH,L。
Pのとき「11」である。
第1図に戻り、上記BCFの2ビツトにセットされてい
る分岐コンデイションは、デコーダ5にデコードされ、
後述するアンド回路17a〜17dに出力される。
CROM7 (メモリ)は、上記機械語命令1により指
定された命令コードに応答して、予め第2図(b)に示
す表23に示す上記分岐コンディションコードフィール
ドの2ビツトのデータを有する。即ち、分岐A−Dがr
ooJ、分岐E−HがrolJ、分岐I−LがrlOJ
、分岐M −P カ「11」である。
デコーダ9は、例えば、第3図のマイクロ命令の命令W
のうち分岐Cの分岐処理の場合、機械語命令1の命令コ
ードによりCROM7のアドレスがアクセスされて表2
3の「00」をデコードする。
条件フラグ11は、分岐A−Pに対応する、A〜D、E
−H,I〜LおよびM−Pの4群のフラグを有して、例
えば前述した命令Wの命令Cの場合、フラグA−Dのう
ち、フラグCが「1」にセットされている。
セレクタ13は、後述するアンド回路17a〜17dに
接続され、上記デコーダ9にデコードされた「00」の
セレクト信号より条件フラグ11のフラグ群のうちフラ
グA−Dのセレクト信号を当該アンド回路17a〜17
dに出力する。
論理回路15は、アンド回路17a〜17dおよびオア
回路19を有する。上記アンド回路17a〜17dは、
それぞれマイクロ命令3の分岐コード、デコーダ5およ
びセレクタ13に接続されている。例えば、命令Wの分
岐Cを実行する場合、分岐コードが「1」、デコーダ5
が「1o」であり、セレクタ13からのセレクト信号に
より、アンド回路17a〜17dがハイレベルになる。
オア回路19は、上記アンド回路17a〜17dがハイ
レベルになると命令Wの分岐Cの分岐実行信号(BrG
O信号)を生成する。
次にこの実施例の作用を説明する。
まず、システムの起動後、機械語命令1が指す命令Wの
分岐Cを実行するとき、機械語命令1の命令コードは、
CROM7のアドレスをアクセスしてデコーダ9に「0
0」がデコードされる。デコーダ9は、デコードされた
rooJをセレクタ13にセレクトして、条件フラグ1
1の該当するフラグA−Dのセレクト信号をアンド回路
に出力する。上記機械語命令1の命令コードにより指定
されるマイクロ命令3は、分岐コードおよびBCFを参
照してBCFの「1o」をデコーダ5にデコードする。
論理回路15のアンド回路17a〜17dは、マイクロ
命令3の分岐コーF、BCFおよびセレクタ13の論理
積よりハイレベルになるとオア回路19も、ハイレベル
になり命令Wの分岐Cの分岐実行信号(BrGO信号)
を生成する。
同様に、例えば、命令Yの分岐Hを実行するとき、CR
OM7から「11」がデコーダ9にデコードされ、条件
フラグ11のフラグEが「1」にセットされ、セレクタ
13にセレクトされる。そして、分岐コードが「1」に
、BCFか「01」にセットされてオア回路19から命
令Yの分岐Hの分岐実行信号が生成される。他の分岐処
理も上述した手順により処理される。
これにより、BCFのビット数を従来の4ビツトから2
ビツトに減少して、当該減少したビットを他の分岐処理
にも適用できるため、多種類の分岐処理を可能にする。
また、上記減少したビットを別の処理に適用することに
より、並列動作を可能にして、システムの汎用性を向上
できる。
以上、本発明はその要旨を逸脱しない範囲内て種々変更
して実施することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、多種類の分岐処
理を処理する場合にも、分岐コンディションコードフィ
ールドの領域の増加を防止して、当該増加を防止した領
域を他の処理に用いて並列動作を実行させることにより
、システムの処理速度を向上し、且つ、汎用性の向上を
実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマイクロ分岐処理方式の一実施例に係
る構成−を示すブロワ−り図、第2図は本発明の分岐コ
ンディションコードフィールドの状態を示す図、第3図
は分岐処理を示すフローチャト、第4図および第5図は
従来のマイクロ分岐処理方式を示す図である。 1・・・機械語命令 3・・・マイクロ命令 5.9・・・デコーダ 7 ・・・ CROM 13・・・セレクタ 15・・・論理回路 17a〜17d・・・アン 19・・・オア回路 ド回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 機械語命令の命令コードにより指定されるマイクロ命令
    の分岐処理の有無を示す分岐コードおよび当該分岐処理
    の条件を示す分岐コンディションコードフィールドと、
    当該分岐処理の分岐条件の要素を示すフラグ群の条件フ
    ラグとを有するマイクロ分岐処理方式において、 前記分岐コンディションコードフィールドの分岐処理の
    うち分岐条件の要素を選択するセレクト信号を記憶する
    メモリと、 このメモリに記憶されているセレクト信号のうち前記マ
    イクロ命令による分岐処理の実行に用いられるセレクト
    信号をデコードするデコーダと、このデコーダからデコ
    ードされたセレクト信号に応答して前記条件フラグのフ
    ラグ群から前記マイクロ命令の分岐処理に該当するフラ
    グをセレクトするセレクタと、 このセレクタによりセレクトされたフラグ、前記マイク
    ロ命令の分岐コードおよび分岐コンディションコードフ
    ィールドの論理積により分岐処理を実行する信号を生成
    する論理回路と、 を備えたことを特徴とするマイクロ分岐処理方式。
JP11744390A 1990-05-09 1990-05-09 マイクロ分岐処理方式 Pending JPH0415825A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5635746A (en) * 1995-07-06 1997-06-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device comprising a salicide structure

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5635746A (en) * 1995-07-06 1997-06-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device comprising a salicide structure
US5956617A (en) * 1995-07-06 1999-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a semiconductor device employing salicide technology

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