JPH0417524B2 - - Google Patents
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- JPH0417524B2 JPH0417524B2 JP22838984A JP22838984A JPH0417524B2 JP H0417524 B2 JPH0417524 B2 JP H0417524B2 JP 22838984 A JP22838984 A JP 22838984A JP 22838984 A JP22838984 A JP 22838984A JP H0417524 B2 JPH0417524 B2 JP H0417524B2
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- Japan
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- electrode
- group
- signal
- electrode wire
- electrode line
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はタブレツト入力装置に関し、特に容量
結合方式タブレツト入力装置における電極線配置
及び座標特定手法の改良に関する。
結合方式タブレツト入力装置における電極線配置
及び座標特定手法の改良に関する。
商品開発において機能向上及び原価低減はいわ
ば普遍的テーマである。容量結合方式のタブレツ
ト入力装置の場合、そのようなテーマの一つに座
標検出速度の向上と組立工数、部品点数の消減が
ある。
ば普遍的テーマである。容量結合方式のタブレツ
ト入力装置の場合、そのようなテーマの一つに座
標検出速度の向上と組立工数、部品点数の消減が
ある。
しかし、この2つのテーマの同時解決はなかな
か難しい。例えば本願人が先に出願した昭和56年
特許願第214301号および昭和58年特許願第113442
号では、走査時間の短縮を図るため、通常の座標
特定用の電極線の間に更にブロツク特定用の桁電
極線を配置する。ところがこの方式では、例えば
要求されるセグメントの間隔が6mmであつたとす
ると、通常の電極線を6mm間隔で配置し、更にそ
の間に桁電極を配置することになるから、結局の
ところ、電極線の間隔はセグメントの間隔の半分
の3mmとなつてしまう。その結果、間隔が狭くな
る分、パターン作成工数の増大、加工の困難性の
増大、上側の電極のシールド効果増大による下側
電極の信号出力減少に対応するための電極線パタ
ーンの変更の必要性等を招き、原価の上昇を惹き
起こす。
か難しい。例えば本願人が先に出願した昭和56年
特許願第214301号および昭和58年特許願第113442
号では、走査時間の短縮を図るため、通常の座標
特定用の電極線の間に更にブロツク特定用の桁電
極線を配置する。ところがこの方式では、例えば
要求されるセグメントの間隔が6mmであつたとす
ると、通常の電極線を6mm間隔で配置し、更にそ
の間に桁電極を配置することになるから、結局の
ところ、電極線の間隔はセグメントの間隔の半分
の3mmとなつてしまう。その結果、間隔が狭くな
る分、パターン作成工数の増大、加工の困難性の
増大、上側の電極のシールド効果増大による下側
電極の信号出力減少に対応するための電極線パタ
ーンの変更の必要性等を招き、原価の上昇を惹き
起こす。
そこで本発明では、第1及び第2の電極が交互
に平行に配置され、第1の電極線がm本おきに並
列接続され、第2の電極線がm+n本おきに並列
接続され群電極線とされたタブレツトと、該群電
極線に走査パルスを印加するパルス印加手段と、
該走査パルス印加時に前記群電極線に流れる充電
電流を検出する電流検出手段と、検出パルスのタ
イミングから当接位置に最も近い第1の電極線の
電極線群および第2の電極線の電極線群の番号を
割り出せば、その組み合わせから当該当接位置が
いずれの第1の電極線と第2の電極線の間にある
かを判断し、前記タブレツト上の被指示座標を特
定する座標特定手段とを備えるものとした。
に平行に配置され、第1の電極線がm本おきに並
列接続され、第2の電極線がm+n本おきに並列
接続され群電極線とされたタブレツトと、該群電
極線に走査パルスを印加するパルス印加手段と、
該走査パルス印加時に前記群電極線に流れる充電
電流を検出する電流検出手段と、検出パルスのタ
イミングから当接位置に最も近い第1の電極線の
電極線群および第2の電極線の電極線群の番号を
割り出せば、その組み合わせから当該当接位置が
いずれの第1の電極線と第2の電極線の間にある
かを判断し、前記タブレツト上の被指示座標を特
定する座標特定手段とを備えるものとした。
即ち、このように第1の電極線と第2の電極線
とを異なつた本数毎に並列接続すると、例えばm
=7、n=−1とするとき、第1の電極線の1番
目、8番目、15番目、…が同一の電極線群と属す
る一方で、それらの隣に位置する第2の電極線の
1番目、8番目、15番目…は、例えば8番目は2
番目と、15番目は3番目と、…というように、そ
れぞれ異なつた電極線群に属することとなる。
とを異なつた本数毎に並列接続すると、例えばm
=7、n=−1とするとき、第1の電極線の1番
目、8番目、15番目、…が同一の電極線群と属す
る一方で、それらの隣に位置する第2の電極線の
1番目、8番目、15番目…は、例えば8番目は2
番目と、15番目は3番目と、…というように、そ
れぞれ異なつた電極線群に属することとなる。
従つて、各電極線群を走査し、その際の検出パ
ルスのタイミングから当接位置に最も近い第1の
電極線の電極線群および第2の電極線の電極線群
の番号を割り出せば、その組み合わせから当該当
接位置がいずれの第1の電極線と第2の電極線の
間にあるかを判断することが可能となる。
ルスのタイミングから当接位置に最も近い第1の
電極線の電極線群および第2の電極線の電極線群
の番号を割り出せば、その組み合わせから当該当
接位置がいずれの第1の電極線と第2の電極線の
間にあるかを判断することが可能となる。
また発明者の研究によれば、容量結合タブレツ
トでは、検出棒先端をアースした入力ペン或いは
指先で所望の座標を指示すると、該指示座標付近
を通る電極線の対地静電容量がそれ以外の電極線
のそれよりも大きくなり、走査した際にこれら電
極線に流れる充電電流がそれ以外の電極線に流れ
る充電電流より大きくなるという特性がある。
トでは、検出棒先端をアースした入力ペン或いは
指先で所望の座標を指示すると、該指示座標付近
を通る電極線の対地静電容量がそれ以外の電極線
のそれよりも大きくなり、走査した際にこれら電
極線に流れる充電電流がそれ以外の電極線に流れ
る充電電流より大きくなるという特性がある。
そこで本発明では、前者のような電極線接続を
採用することによつて電極線走査の必要回数を削
減して原価上昇を招くことなく高速化を達成する
と共に、後者のような検出方式をとることによつ
て入力ペンの構造の簡素化を図り、より一層の原
価低減を図る。
採用することによつて電極線走査の必要回数を削
減して原価上昇を招くことなく高速化を達成する
と共に、後者のような検出方式をとることによつ
て入力ペンの構造の簡素化を図り、より一層の原
価低減を図る。
以下本発明の詳細を図示実施例に基いて説明す
る。第1図はX方向の電極線配置の一例を示す。
図において、1は第1の電極線、2は第2の電極
線であり、区別のためそれぞれ左から順にAから
Lまでの添字を付す。(電極線2Zについては後
述。)本実施例では、第1の電極線1は左から3
本おきに並列接続されて群電極線3,4,5,6
とされ、また第2の電極線2は左から2本おきに
接続されて群電極線7,8,9とされている。
る。第1図はX方向の電極線配置の一例を示す。
図において、1は第1の電極線、2は第2の電極
線であり、区別のためそれぞれ左から順にAから
Lまでの添字を付す。(電極線2Zについては後
述。)本実施例では、第1の電極線1は左から3
本おきに並列接続されて群電極線3,4,5,6
とされ、また第2の電極線2は左から2本おきに
接続されて群電極線7,8,9とされている。
第2図にブロツク構成例を示す。図において1
1はタブレツト基板であり、第1図に示したX方
向の電極線群3〜9に加え、これと同様の電極線
群21〜27をY方向についても配置したもので
ある。12は入力ペンで、その検出先端13はア
ースされている。14は該入力ペンに内蔵された
ペンスイツチである。
1はタブレツト基板であり、第1図に示したX方
向の電極線群3〜9に加え、これと同様の電極線
群21〜27をY方向についても配置したもので
ある。12は入力ペンで、その検出先端13はア
ースされている。14は該入力ペンに内蔵された
ペンスイツチである。
DX1はドライバで、後述の中央処理装置CPU
から供給されるアドレス信号に従い、X方向第1
電極線1の群電極線、3〜6に走査パルスを供給
する。DX2,DY1,DY2もドライバで、DX
1と同様、各群電極線7〜9,21〜24,25
〜27にそれぞれ走査パルスを供給する。これら
ドライバの各電源入力端子PTには、検出抵抗RS
を介して電源電圧VCCが供給されており、前記
走査パルス印加時に各群電極線3〜9,21〜2
7に流れる充電電流によりこの抵抗RSの両端に
検出信号SSが発生する。
から供給されるアドレス信号に従い、X方向第1
電極線1の群電極線、3〜6に走査パルスを供給
する。DX2,DY1,DY2もドライバで、DX
1と同様、各群電極線7〜9,21〜24,25
〜27にそれぞれ走査パルスを供給する。これら
ドライバの各電源入力端子PTには、検出抵抗RS
を介して電源電圧VCCが供給されており、前記
走査パルス印加時に各群電極線3〜9,21〜2
7に流れる充電電流によりこの抵抗RSの両端に
検出信号SSが発生する。
AMPは増幅器で、前記検出信号SSを増幅す
る。A/Dはアナログデジタル変換器で、増幅さ
れた検出信号のアナログ値をデジタル値に変換す
る。MPXはマルチプレクタで各ドライバDX1,
DX2,DY1,DY2にアドレス信号を切替供給
する。
る。A/Dはアナログデジタル変換器で、増幅さ
れた検出信号のアナログ値をデジタル値に変換す
る。MPXはマルチプレクタで各ドライバDX1,
DX2,DY1,DY2にアドレス信号を切替供給
する。
中央処理装置CPUは、例えばインテル社Z8
0等で構成されリードオンリメモリROMに書き
込まれたプログラムに従い、ランダムアクセスメ
モリRAMを使用して所定の処理を実行する。IO
は入出力ポートでこれを介して中央処理装置
CPUと外部回路とのデータのやりとりが行なわ
れる。なお、以下の説明では各ブロツクの名称は
省略する。
0等で構成されリードオンリメモリROMに書き
込まれたプログラムに従い、ランダムアクセスメ
モリRAMを使用して所定の処理を実行する。IO
は入出力ポートでこれを介して中央処理装置
CPUと外部回路とのデータのやりとりが行なわ
れる。なお、以下の説明では各ブロツクの名称は
省略する。
ドライバDX1の詳細を第3図に示す。図に於
て101はデコーダで、端子ADT、マルチプレ
クサMPXを介しCPUから供給されるアドレス信
ADをデコードする。T3〜T7は電界効果トラ
ンジスタで、それぞれのゲートは、デコーダ10
1の対応する出力端子D3〜D6に、また、それ
ぞれのソースは対応するX群電極線3〜6に、そ
してそれぞれのドレインは端子PTを介して抵抗
RSに接続されている。R3〜R7は各ソースと
アースとの間に接続されたデイスチヤージ抵抗で
ある。
て101はデコーダで、端子ADT、マルチプレ
クサMPXを介しCPUから供給されるアドレス信
ADをデコードする。T3〜T7は電界効果トラ
ンジスタで、それぞれのゲートは、デコーダ10
1の対応する出力端子D3〜D6に、また、それ
ぞれのソースは対応するX群電極線3〜6に、そ
してそれぞれのドレインは端子PTを介して抵抗
RSに接続されている。R3〜R7は各ソースと
アースとの間に接続されたデイスチヤージ抵抗で
ある。
なお、ドライバDX2,DY,DY2の構造もこ
のドライバDX1と同様である。
のドライバDX1と同様である。
而して入力ペン12がタブレツト11に当接さ
れると、ペンスイツチ14が動作し、信号PSW
がIOを介してCPUに供給される。CPUはこの信
号PSWの到来に応動してMPXに対して切替信号
CHを供給し、その接続先をまずDX1とする。
次いでCPUはMPXを介してDX1に対し、一定
の時間間隔でその値が0から3まで順に変化する
アドレス信号ADを供給する。DX1はこのアド
レス信号ADに従い前述のとおり群電極線3〜6
に順次走査パルスSP3〜SP6を供給する。この
走査パルスSP3〜SP6印加により各群電極線3
〜6には充電電流が流れ、その大きさに応じた信
号SSが抵抗RSに発生し、これがAMPに供給さ
れる。
れると、ペンスイツチ14が動作し、信号PSW
がIOを介してCPUに供給される。CPUはこの信
号PSWの到来に応動してMPXに対して切替信号
CHを供給し、その接続先をまずDX1とする。
次いでCPUはMPXを介してDX1に対し、一定
の時間間隔でその値が0から3まで順に変化する
アドレス信号ADを供給する。DX1はこのアド
レス信号ADに従い前述のとおり群電極線3〜6
に順次走査パルスSP3〜SP6を供給する。この
走査パルスSP3〜SP6印加により各群電極線3
〜6には充電電流が流れ、その大きさに応じた信
号SSが抵抗RSに発生し、これがAMPに供給さ
れる。
このときの信号SSの例を第4図に示す。この
図において、縦軸はパルス高H、横軸は時間tを
示し、各信号SS3〜SS6はそれぞれ群電極線3
〜6に走査パルスSP3〜SP6が印加されたとき
に検出される信号SSである。そしてこの信号SS
はAMPで増幅され、ADでそれぞれのパルス高
Hに応じたデジタル値に変換される。
図において、縦軸はパルス高H、横軸は時間tを
示し、各信号SS3〜SS6はそれぞれ群電極線3
〜6に走査パルスSP3〜SP6が印加されたとき
に検出される信号SSである。そしてこの信号SS
はAMPで増幅され、ADでそれぞれのパルス高
Hに応じたデジタル値に変換される。
CPUはIOを介して供給されるこのデジタル値
をRAMの所定番地に格納する。次にCPUは、
MPXを切替えて、DX2にアドレス信号ADを供
給する。DX2がこのアドレス信号ADに従つて
各群電極線7〜9に走査パルスSP7〜SP9を印
加すると、前述の同様、抵抗RSに信号SSが発生
する。このときの検出信号SSの例を第5図に示
す。この図において信号SS7〜SS9はそれぞれ
群電極線7〜9に走査パルスが印加されたときの
信号SSを示し、この信号SS7〜SS9もデジタル
変換されRAMの所定番地に格納される。
をRAMの所定番地に格納する。次にCPUは、
MPXを切替えて、DX2にアドレス信号ADを供
給する。DX2がこのアドレス信号ADに従つて
各群電極線7〜9に走査パルスSP7〜SP9を印
加すると、前述の同様、抵抗RSに信号SSが発生
する。このときの検出信号SSの例を第5図に示
す。この図において信号SS7〜SS9はそれぞれ
群電極線7〜9に走査パルスが印加されたときの
信号SSを示し、この信号SS7〜SS9もデジタル
変換されRAMの所定番地に格納される。
以下同様にしてY方向の第1、第2電極線によ
る群電極線21〜27についても走査パルスが印
加され、そのときの検出信号SS(不図示)のデジ
タル値がRAMの所定番地に格納される。
る群電極線21〜27についても走査パルスが印
加され、そのときの検出信号SS(不図示)のデジ
タル値がRAMの所定番地に格納される。
次にCPUは、この検出信号SSのデジタル値を
基に、入力ペン12の当接位置の判定を行なう。
基に、入力ペン12の当接位置の判定を行なう。
X方向の当接位置判定の手順を第1図、第4図
および第5図を用いて説明する。なおX方向の当
接位置は第1電極線1と第2電極線2の添字の組
合せで表現することとし、例えば電極線1Aと2
Aの間はAAと表現する。
および第5図を用いて説明する。なおX方向の当
接位置は第1電極線1と第2電極線2の添字の組
合せで表現することとし、例えば電極線1Aと2
Aの間はAAと表現する。
而してまずCPUは、X方向の第1電極線によ
る群電極線3〜6を走査したときに検出された信
号SS3〜SS6のデジタル値を比較し、その中の
最大値の信号SSを抽出する。第4図の例では信
号SS4が抽出される。この最大値の信号がSS4
であるということは入力ペン12が第1図に示す
群電極線4のエリアZ4内に当接されていること
を意味する。次いでCPUはX方向の第2電極線
による群電極線7〜9の走査の際検出された信号
SS7〜SS9から最大のものおよび2番目のもの
を抽出する。第5図の例では最大のものとして信
号SS8が、また2番目のものとして信号SS7が
検出される。最大のものがSS8であるというこ
とは、第1図のZ8の範囲に入力ペン12が当接
されていることを意味し、更に2番目のものが
SS7であるということは、その中でも群電極線
SS7に近い方の半分Z87に入力ペン12が当
接されていることを意味する。
る群電極線3〜6を走査したときに検出された信
号SS3〜SS6のデジタル値を比較し、その中の
最大値の信号SSを抽出する。第4図の例では信
号SS4が抽出される。この最大値の信号がSS4
であるということは入力ペン12が第1図に示す
群電極線4のエリアZ4内に当接されていること
を意味する。次いでCPUはX方向の第2電極線
による群電極線7〜9の走査の際検出された信号
SS7〜SS9から最大のものおよび2番目のもの
を抽出する。第5図の例では最大のものとして信
号SS8が、また2番目のものとして信号SS7が
検出される。最大のものがSS8であるというこ
とは、第1図のZ8の範囲に入力ペン12が当接
されていることを意味し、更に2番目のものが
SS7であるということは、その中でも群電極線
SS7に近い方の半分Z87に入力ペン12が当
接されていることを意味する。
従つて、この結果から第4図および第5図に示
すような信号SSを検出しうる領域は、上記Z4
とZ87が重複する領域:即ち領域BBがこのと
きの入力ペン12の当接領域となる。なお、この
領域の特定は、第6図に示すようなテーブルを予
じめROMに格納しておき、上記判定結果を該テ
ーブルに当てはめることによつて為し得る。(第
6図においては信号の頭文字SSは省略)なお、
領域AAについては、第1電極線による群電極線
走査時最大信号SS3、第2電極線による群電極
線走査時最大信号SS7、同じくそのときの2番
目の信号SS8となり、領域DEのそれと同じにな
る。そこで本実施例では、第1図のようにダミー
電極線2Zを電極線1Aの隣りに配置し、これを
群電極線9に接続することによつて領域AAにお
ける第2の電極線群走査時の2番目の信号がSS
9となるようにして領域DEとの区別を行なつて
いる。なお、領域AAを不使用領域とするときは
このようなダミー電極2Zを設ける必要はない。
すような信号SSを検出しうる領域は、上記Z4
とZ87が重複する領域:即ち領域BBがこのと
きの入力ペン12の当接領域となる。なお、この
領域の特定は、第6図に示すようなテーブルを予
じめROMに格納しておき、上記判定結果を該テ
ーブルに当てはめることによつて為し得る。(第
6図においては信号の頭文字SSは省略)なお、
領域AAについては、第1電極線による群電極線
走査時最大信号SS3、第2電極線による群電極
線走査時最大信号SS7、同じくそのときの2番
目の信号SS8となり、領域DEのそれと同じにな
る。そこで本実施例では、第1図のようにダミー
電極線2Zを電極線1Aの隣りに配置し、これを
群電極線9に接続することによつて領域AAにお
ける第2の電極線群走査時の2番目の信号がSS
9となるようにして領域DEとの区別を行なつて
いる。なお、領域AAを不使用領域とするときは
このようなダミー電極2Zを設ける必要はない。
以上の処理は、Y方向電極線による群電極線2
1〜27を走査したときに得られる信号SSにつ
いても同様に行なわれ、Y方向についての当接領
域AA〜LLが特定される。
1〜27を走査したときに得られる信号SSにつ
いても同様に行なわれ、Y方向についての当接領
域AA〜LLが特定される。
そしてCPUはこれらX方向、Y方向のそれぞ
れの当接領域を示すデータTDをIOを介して不図
示データ処理装置等へ送出する。
れの当接領域を示すデータTDをIOを介して不図
示データ処理装置等へ送出する。
以上説明したように、本発明によればパターン
を複雑化することなく検出速度の向上が図れ、し
かも電極線をまとめて走査するので走査のための
部品点数も減少する。加えて本発明では入力ペン
の検出先端が単にアースされていれば足りるた
め、この点でも部品点数が減少する。なお、人間
の身体も不完全ながらアースされており、入力ペ
ンによらず指先でタブレツト上の座標を指示して
入力することも可能で、このようにしたときは入
力ペンそのものも不要となる。
を複雑化することなく検出速度の向上が図れ、し
かも電極線をまとめて走査するので走査のための
部品点数も減少する。加えて本発明では入力ペン
の検出先端が単にアースされていれば足りるた
め、この点でも部品点数が減少する。なお、人間
の身体も不完全ながらアースされており、入力ペ
ンによらず指先でタブレツト上の座標を指示して
入力することも可能で、このようにしたときは入
力ペンそのものも不要となる。
また本実施例では、当接位置特定のために第1
電極線による群電極線走査時の信号のうち最大の
もの、第2電極線による群電極線走査時の信号の
うちの最大のものおよび2番目のものを用いた
が、第1電極線による群電極線に係る信号の最大
のものおよび2番目のもの、第2電極線による群
電極線に係る信号の最大のものを用いても同様に
領域の特定ができる。
電極線による群電極線走査時の信号のうち最大の
もの、第2電極線による群電極線走査時の信号の
うちの最大のものおよび2番目のものを用いた
が、第1電極線による群電極線に係る信号の最大
のものおよび2番目のもの、第2電極線による群
電極線に係る信号の最大のものを用いても同様に
領域の特定ができる。
図は本発明タブレツト入力装置の一実施例を示
し、第1図はX方向の電極線の配置図、第2図は
装置のブロツク図、第3図は第2図のドライバ
DX1の回路図、第4図は群電極線3〜6を走査
した際の出力信号を示す波形図、第5図は群電極
線7〜9を走査した際の出力信号を示す波形図、
第6図は当接領域を特定するためのテーブルを示
す線図である。 1……第1の電極線、2……第2の電極線、3
〜9,21〜27……群電極線、11……タブレ
ツト、DX1,DX2,DY1,DY2……パルス
印加手段、RS……電流検出手段、CPU、ROM、
RAM……座標特定手段。
し、第1図はX方向の電極線の配置図、第2図は
装置のブロツク図、第3図は第2図のドライバ
DX1の回路図、第4図は群電極線3〜6を走査
した際の出力信号を示す波形図、第5図は群電極
線7〜9を走査した際の出力信号を示す波形図、
第6図は当接領域を特定するためのテーブルを示
す線図である。 1……第1の電極線、2……第2の電極線、3
〜9,21〜27……群電極線、11……タブレ
ツト、DX1,DX2,DY1,DY2……パルス
印加手段、RS……電流検出手段、CPU、ROM、
RAM……座標特定手段。
Claims (1)
- 1 第1及び第2の電極が交互に平行に配置さ
れ、第1の電極線がm本おきに並列接続され、第
2の電極線がm+n本おきに並列接続され群電極
線とされたタブレツトと、該群電極線に走査パル
スを印加するパルス印加手段と、該走査パルス印
加時に前記群電極線に流れる充電電流を検出する
電流検出手段と、検出パルスのタイミングから当
接位置に最も近い第1の電極線の電極線群および
第2の電極線の電極線群の番号を割り出し、その
組み合わせから当該当接位置がいずれの第1の電
極線と第2の電極線の間にあるかを判断する、前
記タブレツト上の被指示座標を特定する座標特定
手段とを備えたことを特徴とするタブレツト入力
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22838984A JPS61107422A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | タブレツト入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22838984A JPS61107422A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | タブレツト入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61107422A JPS61107422A (ja) | 1986-05-26 |
| JPH0417524B2 true JPH0417524B2 (ja) | 1992-03-26 |
Family
ID=16875700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22838984A Granted JPS61107422A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | タブレツト入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61107422A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0564927U (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-27 | ぺんてる株式会社 | 情報入力装置 |
| JP3260923B2 (ja) * | 1993-09-20 | 2002-02-25 | 富士通株式会社 | データ処理システムのバックアップ制御装置及び方法 |
| JP5477099B2 (ja) * | 2010-03-24 | 2014-04-23 | 日本電気株式会社 | データ連携定義作成装置 |
| US9423906B2 (en) * | 2011-05-17 | 2016-08-23 | Ching-Yang Chang | Drive system adaptable to a matrix scanning device |
-
1984
- 1984-10-30 JP JP22838984A patent/JPS61107422A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61107422A (ja) | 1986-05-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |