JPH04178577A - Ｉｃテストシステム - Google Patents
ＩｃテストシステムInfo
- Publication number
- JPH04178577A JPH04178577A JP2306895A JP30689590A JPH04178577A JP H04178577 A JPH04178577 A JP H04178577A JP 2306895 A JP2306895 A JP 2306895A JP 30689590 A JP30689590 A JP 30689590A JP H04178577 A JPH04178577 A JP H04178577A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- ics
- relays
- measured
- driver
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣテストシステムに関する。
従来のＩＣテストシステムは第２図に示す様に、ＩＣテ
ストシステム内のドライバ１と被測定ＩＣ４ａの端子を
１対１に接続し、各々独立に信号を駆動する方式となっ
ていた。
ストシステム内のドライバ１と被測定ＩＣ４ａの端子を
１対１に接続し、各々独立に信号を駆動する方式となっ
ていた。
上述した従来のテストシステムは、試験用入力信号を出
力するドライバと被測定ＩＣの端子が１対１に接続され
る為、テストシステムのドライバ保有数にて測定可能な
ＩＣの個数が決まり被測定ＩＣの数を増加させることは
システム内のドライバー数を増すことであり、現行のシ
ステムではその対応が不可能であった。
力するドライバと被測定ＩＣの端子が１対１に接続され
る為、テストシステムのドライバ保有数にて測定可能な
ＩＣの個数が決まり被測定ＩＣの数を増加させることは
システム内のドライバー数を増すことであり、現行のシ
ステムではその対応が不可能であった。
また、ＩＣの大容量化に伴う試験時間の長大化に対応す
るためには、より多くのＩＣを同時に試験するテストシ
ステムが必要であるが新規に開発するには積大なコスト
がかかるという欠点があった。
るためには、より多くのＩＣを同時に試験するテストシ
ステムが必要であるが新規に開発するには積大なコスト
がかかるという欠点があった。
本発明のＩＣテストシステムは、テストボード上にドラ
イバーからの試験用入力信号を複数のＩＣへ並列に供給
するラインと、各ＩＣの端子をドライバーから切り離す
リレーを有している。
イバーからの試験用入力信号を複数のＩＣへ並列に供給
するラインと、各ＩＣの端子をドライバーから切り離す
リレーを有している。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例のプロ・Ｖり図である。
ドライバ１の出力をテストボート２上で分割し、各々、
リレー３ａ、３ｂを通して被測定ＩＣ４ａ、４ｂの端子
に接続する。
リレー３ａ、３ｂを通して被測定ＩＣ４ａ、４ｂの端子
に接続する。
リレー３は被測定ＩＣ単位に駆動する。
論理機能試験を行う場合は両方のリレーを接続し、並列
に信号を被測定ＩＣへ入力すると共に製品が不良の時は
不良側のリレー３ａ又は３ｂを切断して良品側の製品へ
の影響を防ぐことにより測定を可能とする。
に信号を被測定ＩＣへ入力すると共に製品が不良の時は
不良側のリレー３ａ又は３ｂを切断して良品側の製品へ
の影響を防ぐことにより測定を可能とする。
以上説明したように本発明はドライバの出力信号を分割
し、複数のリレーを介して複数の被測定ＩＣへ供給する
共によりシステム内のドライバーを増さずに容易に測定
個数を増加させることができシステムの処理能力を向上
させることができるという効果がある。
し、複数のリレーを介して複数の被測定ＩＣへ供給する
共によりシステム内のドライバーを増さずに容易に測定
個数を増加させることができシステムの処理能力を向上
させることができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は従来
のＩＣテストシステムの一例のブロック図である。 １・・・ドライバ、２・・・テストホード、３ａ、３ｂ
・・・リレー、４ａ、４ｂ−被測定ＩＣ１５ａ、５ｂ・
・・コンパレータ。
のＩＣテストシステムの一例のブロック図である。 １・・・ドライバ、２・・・テストホード、３ａ、３ｂ
・・・リレー、４ａ、４ｂ−被測定ＩＣ１５ａ、５ｂ・
・・コンパレータ。
Claims (1)
- 被試験ＩＣの電気的特性を試験するシステムのドライ
バの出力信号をテストボード上にて分割し、リレーを通
して複数の前記被測定ＩＣへ供給し、複数の被測定ＩＣ
を同時に測定する事を特徴とするＩＣテストシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306895A JPH04178577A (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Ｉｃテストシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306895A JPH04178577A (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Ｉｃテストシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04178577A true JPH04178577A (ja) | 1992-06-25 |
Family
ID=17962554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2306895A Pending JPH04178577A (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Ｉｃテストシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04178577A (ja) |
-
1990
- 1990-11-13 JP JP2306895A patent/JPH04178577A/ja active Pending
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