JPH04344701A - 同軸誘電体共振器の製造方法 - Google Patents
同軸誘電体共振器の製造方法Info
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- JPH04344701A JPH04344701A JP11746291A JP11746291A JPH04344701A JP H04344701 A JPH04344701 A JP H04344701A JP 11746291 A JP11746291 A JP 11746291A JP 11746291 A JP11746291 A JP 11746291A JP H04344701 A JPH04344701 A JP H04344701A
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Landscapes
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高周波フィルタ、高周
波発振器等に用いられる同軸誘電体共振器の製造方法に
関し、特に誘電体セラミックの焼結方法に関するもので
ある。
波発振器等に用いられる同軸誘電体共振器の製造方法に
関し、特に誘電体セラミックの焼結方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図3は従来の一般的な同軸誘電体共振器
を示したものである。図において、1は誘電体セラミッ
クであり、中央に円筒状の貫通孔2を有する直方体形状
に焼結される。3は電極層であり、外導体4、内導体5
および短絡端6が銀ペーストの焼きつけによって形成さ
れる。すなわち、銀粉末にガラスフリット、有機バイン
ダおよび溶剤を混合し、ペースト状に形成した銀ペース
トを印刷、塗布あるいはディップ等の方法で誘電体セラ
ミックに付着させた後、800℃前後の高温で焼き付け
される。7は電極層を形成しない開放端である。
を示したものである。図において、1は誘電体セラミッ
クであり、中央に円筒状の貫通孔2を有する直方体形状
に焼結される。3は電極層であり、外導体4、内導体5
および短絡端6が銀ペーストの焼きつけによって形成さ
れる。すなわち、銀粉末にガラスフリット、有機バイン
ダおよび溶剤を混合し、ペースト状に形成した銀ペース
トを印刷、塗布あるいはディップ等の方法で誘電体セラ
ミックに付着させた後、800℃前後の高温で焼き付け
される。7は電極層を形成しない開放端である。
【0003】ところで、高周波用の誘電体共振器には高
いQが要求される。誘電体共振器の無負荷QをQu誘電
体セラミック材料のQをQd電極の導体損によるQをQ
e、放射損によるQをQrとすると、Quは次式で示さ
れる。
いQが要求される。誘電体共振器の無負荷QをQu誘電
体セラミック材料のQをQd電極の導体損によるQをQ
e、放射損によるQをQrとすると、Quは次式で示さ
れる。
【0004】
【数1】
【0005】通常、Qdは10,000〜20,000
程度であり、Qeは数百程度である。また、誘電体共振
器が開放端以外の面が全て導体で被われている場合、Q
rは無限大となる。従 って、Qeの値がQuに大きく
影響する。電極を構成する金属の導電率が高いほどQe
は高くなるため、高いQuを実現するためには電極の導
電率を高くする必要がある。
程度であり、Qeは数百程度である。また、誘電体共振
器が開放端以外の面が全て導体で被われている場合、Q
rは無限大となる。従 って、Qeの値がQuに大きく
影響する。電極を構成する金属の導電率が高いほどQe
は高くなるため、高いQuを実現するためには電極の導
電率を高くする必要がある。
【0006】上述の従来技術においては、銀ペーストは
密着性を得るためにガラスフリットの混入が不可欠であ
り、これにより、銀本来の導電率 6.06×105(
Ω−1cm−1)が20〜30%低下するため、Qu
が低くなるという欠点がある。また、上述の従来技術で
は、外導体4、内導体5および短絡端6の合計6面に電
極を形成する必要があるが、構造が複雑なため、銀ペー
ストを塗布する際の作業性が悪く量産に適さない。さら
に、塗りむらが発生しやすくQu の低下や、素子間で
のばらつきを生じるという欠点があった。
密着性を得るためにガラスフリットの混入が不可欠であ
り、これにより、銀本来の導電率 6.06×105(
Ω−1cm−1)が20〜30%低下するため、Qu
が低くなるという欠点がある。また、上述の従来技術で
は、外導体4、内導体5および短絡端6の合計6面に電
極を形成する必要があるが、構造が複雑なため、銀ペー
ストを塗布する際の作業性が悪く量産に適さない。さら
に、塗りむらが発生しやすくQu の低下や、素子間で
のばらつきを生じるという欠点があった。
【0007】このような理由から、例えば特開昭54−
108554号公報(H01P 7/00)に記載さ
れている如く、最近では銀ペーストを塗布する代わりに
、誘電体セラミック上に無電解メッキにより銅被膜を形
成する方法が提案されている。この従来技術では、■誘
電体セラミックの脱脂工程(セラミック表面を洗浄し界
面活性剤により濡れ性をよくする。)■エッチング工程
(フッ酸、硝酸、塩酸等の混合液にて表面を粗化する。 ) ■活性化工程(触媒を付与する。) ■メッキ工程(硫酸銅、EDTA、ホルマリン、NaO
H等を含むメッキ浴。) ■水洗、乾燥工程 等の工程よりなる。
108554号公報(H01P 7/00)に記載さ
れている如く、最近では銀ペーストを塗布する代わりに
、誘電体セラミック上に無電解メッキにより銅被膜を形
成する方法が提案されている。この従来技術では、■誘
電体セラミックの脱脂工程(セラミック表面を洗浄し界
面活性剤により濡れ性をよくする。)■エッチング工程
(フッ酸、硝酸、塩酸等の混合液にて表面を粗化する。 ) ■活性化工程(触媒を付与する。) ■メッキ工程(硫酸銅、EDTA、ホルマリン、NaO
H等を含むメッキ浴。) ■水洗、乾燥工程 等の工程よりなる。
【0008】上述の従来技術のメッキ工程により形成さ
れる銅被膜の密着性は誘電体セラミックの表面粗さと深
い関係がある。表面粗さが大きい程、銅被膜の密着強度
は上がるが、粗くすれば共振器の無負荷Qが劣化する事
が特開昭60−132402号公報(H01P 11
/00)に記載されている。このため、表面粗さとして
は銅被膜の密着が十分得られ且つ無負荷Qが高い状態が
求められ、しかも、表面粗さは誘電体セラミックのどの
部分においてもバラツキなく均一でなければならない。
れる銅被膜の密着性は誘電体セラミックの表面粗さと深
い関係がある。表面粗さが大きい程、銅被膜の密着強度
は上がるが、粗くすれば共振器の無負荷Qが劣化する事
が特開昭60−132402号公報(H01P 11
/00)に記載されている。このため、表面粗さとして
は銅被膜の密着が十分得られ且つ無負荷Qが高い状態が
求められ、しかも、表面粗さは誘電体セラミックのどの
部分においてもバラツキなく均一でなければならない。
【0009】従来の誘電体セラミックの焼結方法は、図
4に示すようにアルミナ製のこう鉢8にジルコニアセッ
タ9を敷き、その上に誘電体セラミック1をのせアルミ
ナ製の蓋8aをし、炉の中で焼結するものであった。
4に示すようにアルミナ製のこう鉢8にジルコニアセッ
タ9を敷き、その上に誘電体セラミック1をのせアルミ
ナ製の蓋8aをし、炉の中で焼結するものであった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来技術による焼結方法では、図5に示す誘電体セラミ
ック1の外表面10と内表面11とで表面粗さが異なり
、メッキ工程後のメッキ被膜の密着強度にバラツキが発
生していた。それは、焼結時の加熱により誘電体セラミ
ック1中の比較的低融点の物質が蒸発し、アルミナこう
鉢8内に雰囲気をつくるが、誘電体セラミック1の外表
面10と内表面11近傍で、この雰囲気の濃度に差が生
じるためであり、外表面10に比較して内表面11の方
が雰囲気が濃くなるためである。この結果、内表面11
の表面粗さが小さくなり、メッキ工程で内導体にメッキ
のふくれが発生するという欠点があった。
従来技術による焼結方法では、図5に示す誘電体セラミ
ック1の外表面10と内表面11とで表面粗さが異なり
、メッキ工程後のメッキ被膜の密着強度にバラツキが発
生していた。それは、焼結時の加熱により誘電体セラミ
ック1中の比較的低融点の物質が蒸発し、アルミナこう
鉢8内に雰囲気をつくるが、誘電体セラミック1の外表
面10と内表面11近傍で、この雰囲気の濃度に差が生
じるためであり、外表面10に比較して内表面11の方
が雰囲気が濃くなるためである。この結果、内表面11
の表面粗さが小さくなり、メッキ工程で内導体にメッキ
のふくれが発生するという欠点があった。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の従来技術
の欠点を改善するものであり、高周波用誘電体セラミッ
ク上に無電解メッキによる銅被膜電極を形成してなる同
軸誘電体共振器の製造方法において、前記誘電体セラミ
ックと同一の材料を周囲に配置することによって高濃度
雰囲気内にて焼結することにより、誘電体セラミックの
外表面および貫通孔の内表面の表面粗さを均一にするこ
とを特徴とするものである。
の欠点を改善するものであり、高周波用誘電体セラミッ
ク上に無電解メッキによる銅被膜電極を形成してなる同
軸誘電体共振器の製造方法において、前記誘電体セラミ
ックと同一の材料を周囲に配置することによって高濃度
雰囲気内にて焼結することにより、誘電体セラミックの
外表面および貫通孔の内表面の表面粗さを均一にするこ
とを特徴とするものである。
【0012】
【作用】誘電体セラミックと同一の材料を周囲に配置す
ることにより、焼結時の雰囲気の濃度が、外表面と内表
面とで均一となり、表面粗さに差がでない。
ることにより、焼結時の雰囲気の濃度が、外表面と内表
面とで均一となり、表面粗さに差がでない。
【0013】
【実施例】以下本発明の実施例を図面にしたがって説明
する。図1は本発明による同軸誘電体共振器の製造方法
を示すものであり、図2はそのA−A断面を示したもの
である。本発明は、誘電体セラミックと同一材料の焼結
物を誘電体セラミックの周囲に配置し、炉の中で焼結す
るものである。
する。図1は本発明による同軸誘電体共振器の製造方法
を示すものであり、図2はそのA−A断面を示したもの
である。本発明は、誘電体セラミックと同一材料の焼結
物を誘電体セラミックの周囲に配置し、炉の中で焼結す
るものである。
【0014】誘電体セラミック1の材料として、TiO
2−ZrO2−SnO2系のセラミックを用い、貫通孔
2を有する、一辺が3.7mm、高さが6mm の直方
体形状に成形する。そして、一辺が10cm、高さが2
cmのこう鉢8の中央に、誘電体セラミック1と同一材
料でできた敷板12を置き、その上に誘電体セラミック
1を載せ、その周囲に誘電体セラミック1と同一材料の
ブロック状焼結体13を配置する。その後蓋8aをし、
例えば1500℃で5時間の焼結を行う。これによって
、誘電体セラミック1を高濃度雰囲気内にて焼結するこ
ととなり、誘電体セラミック1の外表面10および貫通
孔の内表面11の表面粗さが均一になる。
2−ZrO2−SnO2系のセラミックを用い、貫通孔
2を有する、一辺が3.7mm、高さが6mm の直方
体形状に成形する。そして、一辺が10cm、高さが2
cmのこう鉢8の中央に、誘電体セラミック1と同一材
料でできた敷板12を置き、その上に誘電体セラミック
1を載せ、その周囲に誘電体セラミック1と同一材料の
ブロック状焼結体13を配置する。その後蓋8aをし、
例えば1500℃で5時間の焼結を行う。これによって
、誘電体セラミック1を高濃度雰囲気内にて焼結するこ
ととなり、誘電体セラミック1の外表面10および貫通
孔の内表面11の表面粗さが均一になる。
【0015】実験の結果、外表面10および内表面11
とも、3〜6μm程度(JISB0601−1982
十点平均粗さ:RZ )の均一な表面状態となった。 また、無電解銅メッキを施したところ、メッキふくれの
ない高いQu(約400)の誘電体共振器が得られた。
とも、3〜6μm程度(JISB0601−1982
十点平均粗さ:RZ )の均一な表面状態となった。 また、無電解銅メッキを施したところ、メッキふくれの
ない高いQu(約400)の誘電体共振器が得られた。
【0016】なお、上記実施例では、誘電体セラミック
1の周囲にブロック状焼結体13を配置する構成とした
が、これ以外にたとえば誘電体セラミック1と同一材料
の粉末を配置するようにしてもよい。
1の周囲にブロック状焼結体13を配置する構成とした
が、これ以外にたとえば誘電体セラミック1と同一材料
の粉末を配置するようにしてもよい。
【0017】
【発明の効果】上述のように本発明による同軸誘電体共
振器の製造方法は、誘電体セラミックと同一の材料を周
囲に配置することによって高濃度雰囲気内にて焼結する
ことにより、誘電体セラミックの外表面および貫通孔の
内表面の表面粗さを均一にすることができ、メッキ被膜
の密着強度が均一となりメッキふくれが生じない。この
結果高いQuの誘電体共振器を製造することができる。
振器の製造方法は、誘電体セラミックと同一の材料を周
囲に配置することによって高濃度雰囲気内にて焼結する
ことにより、誘電体セラミックの外表面および貫通孔の
内表面の表面粗さを均一にすることができ、メッキ被膜
の密着強度が均一となりメッキふくれが生じない。この
結果高いQuの誘電体共振器を製造することができる。
【図1】本発明による同軸誘電体共振器の製造方法を示
す図である。
す図である。
【図2】本発明による同軸誘電体共振器の製造方法を示
す断面図である。
す断面図である。
【図3】一般的な同軸誘電体共振器を示す図である。
【図4】従来の同軸誘電体共振器の製造方法を示す図で
ある。
ある。
【図5】誘電体セラミックを示す図である。
1 誘電体セラミック
8 こう鉢
9 ジルコニアセッタ
10 内表面
11 外表面
12 敷板
13 ブロック状焼結体
Claims (1)
- 【請求項1】 高周波用誘電体セラミック上に無電解
メッキによる銅被膜電極を形成してなる同軸誘電体共振
器の製造方法において、前記誘電体セラミックと同一の
材料を周囲に配置することによって高濃度雰囲気内にて
焼結することにより、誘電体セラミックの外表面および
貫通孔の内表面の表面粗さを均一にすることを特徴とす
る同軸誘電体共振器の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11746291A JPH04344701A (ja) | 1991-05-22 | 1991-05-22 | 同軸誘電体共振器の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11746291A JPH04344701A (ja) | 1991-05-22 | 1991-05-22 | 同軸誘電体共振器の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04344701A true JPH04344701A (ja) | 1992-12-01 |
Family
ID=14712281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11746291A Pending JPH04344701A (ja) | 1991-05-22 | 1991-05-22 | 同軸誘電体共振器の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04344701A (ja) |
-
1991
- 1991-05-22 JP JP11746291A patent/JPH04344701A/ja active Pending
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