JPH0453147A - 半導体集積路 - Google Patents
半導体集積路Info
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- JPH0453147A JPH0453147A JP2159157A JP15915790A JPH0453147A JP H0453147 A JPH0453147 A JP H0453147A JP 2159157 A JP2159157 A JP 2159157A JP 15915790 A JP15915790 A JP 15915790A JP H0453147 A JPH0453147 A JP H0453147A
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- JP
- Japan
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- semiconductor integrated
- semiconductor chip
- bonding wire
- integrated circuit
- bonding
- Prior art date
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- Pending
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W44/00—Electrical arrangements for controlling or matching impedance
- H10W44/20—Electrical arrangements for controlling or matching impedance at high-frequency [HF] or radio frequency [RF]
- H10W44/203—Electrical connections
- H10W44/206—Wires
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/553—Materials of bond wires not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. polymers, ceramics or liquids
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積路に関し、特に半導体集積路のボン
ディングワイヤに関する。
ディングワイヤに関する。
従来の半導体集積路は、第1図に示すように、半導体チ
ップ1と、この半導体チップ1に設けられているボンデ
ィングパッドと外部接続用のリード端子2とがボンディ
ングワイヤ3bで接続され、これらが、例えば、プラス
チックモールド4によって一体化成形されたものであっ
て、通常、このボンディングワイヤ3bは金線又はアル
ミニウム線を使用している。
ップ1と、この半導体チップ1に設けられているボンデ
ィングパッドと外部接続用のリード端子2とがボンディ
ングワイヤ3bで接続され、これらが、例えば、プラス
チックモールド4によって一体化成形されたものであっ
て、通常、このボンディングワイヤ3bは金線又はアル
ミニウム線を使用している。
上述した従来の半導体集積路は、内部に実装した半導体
チップ1の初期欠陥あるいは外部回路からの操作不備等
によって、誤って半導体チップ1に過大電流が供給され
た場合、プラスチックモールド4内のボンディングワイ
ヤ3bは、第1図のA部を拡大した第3図(a)に示す
状態から、第3図(b)に示すように、過電流によりボ
ンディングワイヤ3bが溶融して体積が増加する。
チップ1の初期欠陥あるいは外部回路からの操作不備等
によって、誤って半導体チップ1に過大電流が供給され
た場合、プラスチックモールド4内のボンディングワイ
ヤ3bは、第1図のA部を拡大した第3図(a)に示す
状態から、第3図(b)に示すように、過電流によりボ
ンディングワイヤ3bが溶融して体積が増加する。
しかしながら、ボンディングワイヤ3bは外装材のプラ
スチックモールド4によって覆われているため、溶融し
ても飛散することなく、半導体チップ1に過大電流を供
給し続けるので、半導体チップ1は異常に加熱されてプ
ラスチックモールド4を焼損・発煙させるという欠点が
ある。
スチックモールド4によって覆われているため、溶融し
ても飛散することなく、半導体チップ1に過大電流を供
給し続けるので、半導体チップ1は異常に加熱されてプ
ラスチックモールド4を焼損・発煙させるという欠点が
ある。
本発明は、半導体チップと、リード端子と、前記半導体
チップ上のボンティングパッドと前記リード端子とを接
続するボンディングワイヤとを有するプラスチックモー
ルド形の半導体集積路において、前記ボンディングワイ
ヤの形状を中空構造とする。
チップ上のボンティングパッドと前記リード端子とを接
続するボンディングワイヤとを有するプラスチックモー
ルド形の半導体集積路において、前記ボンディングワイ
ヤの形状を中空構造とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
再度、第1図を参照する。本発明の半導体集積路は、半
導体チップ1.リード端子2.中空ボンディングワイヤ
3及びプラスチックモールドからなり、従来と同様に構
成されている。
導体チップ1.リード端子2.中空ボンディングワイヤ
3及びプラスチックモールドからなり、従来と同様に構
成されている。
第2図(a)及び同図(b)は本発明の一実施例を示す
第1図のA部拡大図である。本発明の半導体集積路のボ
ンディングワイヤ3aは、第2図(a)に示すように、
その形状が中空構造となっている。そして、このボンデ
ィングワイヤ3aを使用した場合、誤って半導体チップ
1に過大電流が供給されると、第2図(b)に示すよう
に、ボンディングワイヤ3aは中空のため、溶融すると
その体積が減少してボンディングワイヤ3aは切断され
る。これにより、半導体チップ1への電流供給は停止す
る。
第1図のA部拡大図である。本発明の半導体集積路のボ
ンディングワイヤ3aは、第2図(a)に示すように、
その形状が中空構造となっている。そして、このボンデ
ィングワイヤ3aを使用した場合、誤って半導体チップ
1に過大電流が供給されると、第2図(b)に示すよう
に、ボンディングワイヤ3aは中空のため、溶融すると
その体積が減少してボンディングワイヤ3aは切断され
る。これにより、半導体チップ1への電流供給は停止す
る。
以上説明したように本発明の半導体集積路によれば、中
空構造を持つボンディングワイヤを用いたことにより、
誤って半導体チップに過大電流が供給されても、ボンデ
ィングワイヤが切れて電流を供給し続けることがなく、
プラスチックモールドの焼損・発煙を防ぐという効果が
ある。
空構造を持つボンディングワイヤを用いたことにより、
誤って半導体チップに過大電流が供給されても、ボンデ
ィングワイヤが切れて電流を供給し続けることがなく、
プラスチックモールドの焼損・発煙を防ぐという効果が
ある。
第1図は一般的な半導体集積路を示す断面図、第2図(
a)及び同図(b)は本発明の一実施例を示す第1図の
A部拡大図、第3図(a)及び同図(b)は従来例を示
す第1図のA部拡大図である。 1・・・半導体チップ、2・・・リード端子、3a・・
・中空ボンディングワイヤ、3b・・・ボンディングワ
イヤ、4・・・プラスチックモールド。
a)及び同図(b)は本発明の一実施例を示す第1図の
A部拡大図、第3図(a)及び同図(b)は従来例を示
す第1図のA部拡大図である。 1・・・半導体チップ、2・・・リード端子、3a・・
・中空ボンディングワイヤ、3b・・・ボンディングワ
イヤ、4・・・プラスチックモールド。
Claims (1)
- 半導体チップと、リード端子と、前記半導体チップ上
のボンディングパッドと前記リード端子とを接続するボ
ンディングワイヤとを有するプラスチックモールド型の
半導体集積路において、前記ボンディングワイヤが中空
構造であることを特徴とする半導体集積路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2159157A JPH0453147A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 半導体集積路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2159157A JPH0453147A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 半導体集積路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0453147A true JPH0453147A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15687516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2159157A Pending JPH0453147A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | 半導体集積路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0453147A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09162221A (ja) * | 1995-12-13 | 1997-06-20 | Nec Corp | 樹脂封止型半導体装置及びワイヤボンディング装置 |
-
1990
- 1990-06-18 JP JP2159157A patent/JPH0453147A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09162221A (ja) * | 1995-12-13 | 1997-06-20 | Nec Corp | 樹脂封止型半導体装置及びワイヤボンディング装置 |
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