JPH0455939A - 回路基板検査装置の検査プログラム作成時における測定ピンのピン番号設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言え
ば、その検査プログラム作成時における測定ピンのピン
番号設定方法に関する。

〔従来の技術〕

例えば回路基板上に実装されている素子を個別的に検査
する場合には、その素子の両端に接触する測定ピンのピ
ン番号を設定する必要がある。第３図は抵抗Ｒ１，Ｒ２
およびＲ３をΔ結線してなる簡単な回路図であるが、こ
れを例にとって説明すると、従来ではその回路図りを参
照し、それに対応する治具（例えばピンボード）上のピ
ン番号を調べてその番号を入力するようにしている。

すなわち、抵抗Ｒ１に関しては、図示しないキーボード
上で、そのｌ（ｉｇｈピン（ここでは測定信号源側に接
続されるビン）を「１」とし、Ｌｏｉ＋ピン（信号測定
部側に接続されるビン）を「２」と設定する。

同様に、抵抗Ｒ２については、そのＨｉｇｈピンが「１
」、Ｌｏｗピンが「３」と設定される。また、抵抗Ｒ３
に関しては、そのＨｉｇｈビンが例えば「３」、Ｌｏｗ
ピンが「２」と設定される。なお、抵抗などのように極
性がない素子では、Ｈｉｇｈピン、　Ｌｏｗピンは余り
意味を持たないが、ダイオードやコンデンサなどの有極
性の素子になると、その極性を考慮してＨｉｇｈピン、
ＬＯＩＩ＋ピンが設定される。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記のようにして、各素子についての検査プログラムが
作成されるのであるが、これによると、回路図などの資
料が完備されていないと、その測定ピンのピン番号を入
力することができない。また、人手による入力作業に負
うところが大きいため、入力ミスが生じやすいという問
題があった。

〔課題を解決するための手段〕

この発明は上記従来の欠点を解決するためになされたも
ので、その構成上の特徴は、被検査回路基板の被測定部
位に接触する複数の測定ピンと、接地電位とされたピン
サーチ用プローブと、測定信号源および信号測定部と、
ＣＲＴなどからなる表示部とを有し、各測定ピンには一
対のスイッチがそれぞれ設けられ、同スイッチを介して
測定ピンを測定信号源および／または信号測定部に接続
可能とした回路基板検査装置において、測定ピンの各々
を被検査回路基板の対応する各被測定部位に接触させる
とともに、ピンサーチ用プローブを任意の被測定部位に
接触させた状態で、各測定ピンに属する上記一対のスイ
ッチを交代的にオンオフし、その際の信号測定部への信
号入力の有無をもってビンサーチ用プローブにて指定さ
れた被測定部位に電気的に対応する測定ピンを検索し、
そのピン番号を被検査素子名とともに表示部上に表示す
るようにしたことにある。

〔作　　　用〕

通常の状態で一対のスイッチを同時にオンにすると、測
定信号源と信号測定部が直接的に接続することになるた
め、信号測定部にはその測定信号源からの測定信号が入
力されることになる。これに対して、ビンサーチ用プロ
ーブが接触された被測定部位は接地電位となるため、信
号測定部には測定信号源からの測定信号が入力されない
、したがって、この入力信号の有無により、その被測定
部位に接触している測定ピンが検索され、そのピン番号
が被検査素子名とともに表示部上に表示される。

〔実　施　例〕

以下、この発明の実施例を第１図および第２図を参照し
ながら詳細に説明する。

第１図には回路基板検査装置の回路図が示されているが
、この例においては先に説明の第３図と同様な簡単な回
路を被検査回路としているため、測定ピンを３本として
説明する。

Δ結線された抵抗Ｒ１〜Ｒ３の各接続点（被測定部位）
をｘ、ｙ、ｚとし、それに対応する測定ピンをそれぞれ
Ａ、Ｂ、Ｃとする。この場合、各測定ピンには予めピン
番号が付けられており、この実施例では、測定ピンＡは
ｒｌｏｌＪ、　Ｂはｒ１０２Ｊ、Ｃはｒ１０３Ｊである
とする。

測定ピンＡ−Ｃの各々には、それぞれ一対のスイッチｌ
ｌａ　、　ｆｉｂ　；　１２ａ　、　１２ｂ　；　１３
ａ　、　１３ｂが接続されている。この場合、一方の各
スイッチ１１ａ。

１２ａおよび１３ａは、計測部２０の測定信号源２１に
接続されている。これに対して、他方の各スイッチ１１
ｂ、１２ｂおよび１３ｂは計測部２０の信号測定部２２
に接続されている。この例において、同信号測定部２２
は電流測定部である。２３はキーボードを含む操作部、
２４は例えばＣＲＴからなる表示部、２５は各スイッチ
の切替制御、計測部２０および表示部２４の動作を制御
するＣＰＵで、同ＣＰＵ２５にはシステムプログラムな
どが書き込まれているＲＯＭ２５　ａと、検査プログラ
ムやピン番号などを記憶するＲＡＭ２５　ｂが付設され
ている。

この回路基板検査装置は回路基板に実装されている素子
の個別的な検査のほかに、被測定部位のインピーダンス
を測定することにより、その基板の良否を判定すること
ができる。その概略を説明すると、まず、良品基板から
判定基準となる基準データを得る。すなわち、被測定部
位Ｘのインピーダンスを測定する場合には、スイッチ１
１ａ。

１２ｂ、１３ｂをオフ、スイッチｌｌｂ　、　１２ａ　
、　１３ａをオンにする。これにより、測定信号源２１
から測定ピンＢ、Ｃを介して測定信号が供給され、抵抗
Ｒ２゜Ｒ３を経た電流が測定ピンＡより信号測定部２２
に入力される。同様に、その他の被測定部位Ｙ、Ｚにつ
いてもその部位の基準データを得る。検査にあたっては
、製品基板について上記と同じ条件で各被測定部位のイ
ンピーダンスを測定し、その値を基準データと照合して
良否を判定する。この検査方法は、いわば１ピン対他の
残りの全ピンテストであり、この明細書において同検査
方法を素子の個別検査（ビン間テスト）に対してマクロ
テストと呼ぶ。

また、この回路基板検査装置は、ピンサーチ機能を有し
、そのためのピンサーチ用プローブＰを備えている。こ
のプローブＰは例えば装置本体のシャーシなどに接続さ
れ、その電位は接地電位とされている。

次に、第２図のフローチャートを参照しながら、検査プ
ログラムにピン番号を設定する場合について説明する。

なお、各測定ピンＡ−Ｃを予め各被測定部位Ｘ−２にそ
れぞれ接触させておく。抵抗Ｒ１の測定ピンのピン番号
を入力するにあたって、まず、操作部２３のキーボード
にてその素子名を。

例えばＲ１と入力する（ステップＰＬ）。そうすると、
ステップＰ２で表示部２４に「マクロテスト？」と表示
される。マクロテストを選択すると、この検査プログラ
ム自体が終了する。ＮｏによりステップＰ３に移行し、
「ピンサーチ（Ｈｉｇｈピン）入力？」と表示される。

すなわち、オペレータによる設定か、ピンサーチ機能に
よる設定かが問いかけられる。ここで、オペレータによ
る設定であれば、ステップＰ４に移行し、キーボードに
よりそのＨｉｇｈピンである測定ピンＡのピン番号１０
１とＬｏｇピンである測定ピンＢのピン番号１０２が入
力される。

これに対して、ピンサーチ入力をするのであれば、ピン
サーチ用プローブＰを同抵抗Ｒ１の一端である被測定部
位Ｘに接触させたのち、ステップＰ５が実行される。す
なわち、　ＣＰＩＪ２５からのスイッチ切替信号により
、各一対のスイッチｌｌａ　、　ｌｌｂ　；１２ａ　、
　１２ｂ　Ｈ１３ａ　、　１３ｂを交代的にオンオフさ
せる。例えば最初にスイッチＩｌａ、ｌｌｂを同時にオ
ンとしたのちオフ、次に、これに代えてスイッチ１２ａ
、１２ｂを同時にオンとしたのちオフとするように順次
交代的に切換えるのであるが、この場合、被測定部位Ｘ
に接触している測定ピンＡは接地電位とされているため
、スイッチｌｌａ、ｌｌｂを同時にオンとしても信号測
定部２２には測定信号源２１からの測定信号が人力され
ない、これに対して、測定ピンＢおよびＣに属するスイ
ッチ１２ａ　、　１２ｂ　；１３ａ、１３ｂをオンにし
た場合には、測定信号源２１からの測定信号が信号測定
部２２に入力されることになる。このようにして、信号
測定部２２への信号入力の有無により、抵抗Ｒ１の一端
に接触している測定ピンＡがサーチされ、そのピン番号
１０１が表示部２４上で設定される。なお１例えば同一
のパターンに複数本の測定ピンが立てられていると、そ
の全部がサーチされることになるが、このような場合、
この実施例では最小番号の測定ピンを選ぶようにしてい
る。

上記のようにして、Ｈｉｇｈピンが設定されると、ステ
ップＰ６に移り、表示部２４に「ピンサーチ（Ｌｏｗピ
ン）入力？」と表示される。ピンサーチの場合には、ス
テップＰ７が実行される。すなわち、ピンサーチ用プロ
ーブＰを同抵抗Ｒ１の他端である被測定部位Ｙに接触さ
せた状態として、上記ステップＰ５と同じく、各一対の
スイッチｌｌａ　、　ｌｌｂ　；　１２ａ　。

１２ｂ　；　１３ａ　、　１３ｂを交代的にオンさせる
。この場合、測定ピンＢが接地電位とされるため、その
ピンＢに属するスイッチ１３ａ、１３ｂをオンとしても
信号測定部２２には測定信号源２１からの測定信号が入
力されない、これに対して、測定ピンＡおよびＢに属す
るスイッチｌｌａ　、　ｌｌｂ　；　１２ａ　、　１２
ｂをオンにした場合には、測定信号源２１からの測定信
号が信号測定部２２に入力されることになる。このよう
にして、抵抗Ｒ１の他端に接触している測定ピンＢがサ
ーチされ、そのピン番号１０２が表示部２４上で設定さ
れる。複数の測定ピンがサーチされた場合には、上記ス
テップＰ５と同様最小番号の測定ピンが設定される６な
お、ステップＰ６でＮｏを選択した場合には、Ｌｏｗビ
ンを設定することなく、ステップＰ８に進み、終了かが
問われる。

このようにして、各素子のビン間テストに使用される測
定ピンのピン番号と、マクロテスト時のピン番号が設定
される１次表に表示部２４上での表示例を示す。なお、
同表中の測定ステップ順位４番は、上記ステップＰ５で
図示しない素子Ｒ４についてマクロステップを選択した
場合の表示例で、この場合そのピン番号は１０４である
とする。

また、この表示内容はＲＡＭ２５　ｂなどに書き込まれ
、逐次読み出し可能な状態とされる。

（表） 以上説明したように、この発明によれば、ピンサーチ用
プローブＰを接触させることにより、その被測定部位に
対応している測定ピンを自動的に検索して、そのピン番
号が設定されるため、検査プログラムを作成する場合の
労力を大幅に軽減することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を実施するための回路基板検査装置の
一例を示した概略的な回Ｍ図、第２ｇは同発明のピン番
号設定方法に関するフローチャート、第３図は従来例の
説明に用いた回路図である。 図中、Ａ、Ｂ、Ｃは測定ピン、ｘ、ｙ、ｚは被測定部位
、Ｐはピンサーチ用プローブ、Ｉｌａ〜１３ｂはスイッ
チ、２０は計測部、２１は測定信号源、２２は信号測定
部、２３は操作部、２４は表示部、２５はＣＰＵである
。 特許出願人　　日置電機株式会社 代理人　弁理士　　　大　原　　拓　也〔発明の効果〕

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査回路基板の被測定部位に接触する複数の測
   定ピンと、接地電位とされたピンサーチ用プローブと、
   測定信号源および信号測定部と、ＣＲＴなどからなる表
   示部とを有し、上記各測定ピンには一対のスイッチがそ
   れぞれ設けられ、同スイッチを介して上記測定ピンを上
   記測定信号源および／または信号測定部に接続可能とし
   た回路基板検査装置において、 上記測定ピンの各々を上記被検査回路基板の対応する各
   被測定部位に接触させるとともに、上記ピンサーチ用プ
   ローブを任意の被測定部位に接触させた状態で、上記各
   測定ピンに属する上記一対のスイッチを交代的にオンオ
   フし、上記信号測定部への信号入力の有無をもって上記
   ピンサーチ用プローブにて指定された被測定部位に電気
   的に対応する測定ピンを検索し、そのピン番号を被検査
   素子名とともに上記表示部上に表示するようにしたこと
   を特徴とする検査プログラム作成時における測定ピンの
   ピン番号設定方法。