JPH0458906B2 - - Google Patents
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- JPH0458906B2 JPH0458906B2 JP21365185A JP21365185A JPH0458906B2 JP H0458906 B2 JPH0458906 B2 JP H0458906B2 JP 21365185 A JP21365185 A JP 21365185A JP 21365185 A JP21365185 A JP 21365185A JP H0458906 B2 JPH0458906 B2 JP H0458906B2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
この発明は、シラン系ガスなどの特殊ガスを選
択的に検出できるガス検出素子とその製造方法に
関するものである。 〔従来技術〕 モノシラン(SiH4),ジクロルシラン(SiH2
Cl2),トリクロルシラン(SiHCl3),ホスフイン
(PH3),ジボラン(B2H6)やアルシン(AsH3)
など、空気などの他の気体と接触混合すると数%
の濃度で自然発火する特殊ガスを検出することが
できるガス検出素子として、本発明者は、先に特
願昭59−98818号(特開昭60−243548号公報)に
よつて酸化第2スズ(SnO2)とパラジウム
(Pb)とアンチモン化合物(Sb化合物)を組成物
としシラン系ガス雰囲気で後処理した金属酸化物
半導体のガス検出素子を提案している。 このSnO2−Pb−Sb化合物系ガス検出素子は、
10ppmのSiH4ガスにさらしたときのSN比が5程
度、応答時間が150秒前後であり、エチルアルコ
ール(EtOH)100ppmに対するSiH4ガス10ppm
のガス選択性はR(EtOH 100ppm)/R(SiH4
10ppm)=0.5程度である。 〔目的と解決手段〕 この発明は、応答時間が早く、ガス選択性の良
好な、特殊ガスを選択的に検出できるガス検出素
子とその製造方法を目的とするもので、酸化第2
スズSnO2または塩化第2スズ(SnCl4)が添加さ
れたSnO2を仮焼成して得た活性化酸化第2スズ
(SnO2)を主材とし、パラジウム(Pb)を触媒、
アンチモン(Sb)を安定材としてPb/Sn=0.1〜
8モル%、Sb/Sn=0.5〜8モル%の組成比を有
し、20〜400ppmのシラン系ガス雰囲気で処理し
てなる金属酸化物半導体と、この金属酸化物半導
体を200〜400℃に加熱する加熱手段とからなるこ
とを特徴とするものである。 また、製造方法は次の工程を有することを特徴
とするものである。 SnO2にSnCl4をSnCl4/SnO2=0〜20モル%
となるように添加し、600〜900℃の大気雰囲気
中で仮焼成して活性化SnO2を作成する。 活性化SnO2に酸化パラジウム(PbCl2)溶液
をPb/Sn=0.1〜8モル%となるように加えて
分散させ、乾燥する。 の試料にSb化合物をSb/Sn=0.5〜8モル
%となるように加えて混合する。 の試料に有機溶剤を加えてペースト状に
し、1対の電極が設けられた絶縁体に塗布し乾
燥する。 の素子を、600〜850℃の大気またはアンチ
モン酸化ガスの雰囲気中で5〜30分間焼成す
る。 の素子を、CVD法により、20〜400ppmの
シラン系ガスで5〜30分間処理する。 の素子を加熱してエージングする。 〔作用〕 SnCl4をSnCl4/SnO2=0〜20モル%添加した
SnO2を仮焼成して得た活性化SnO2を主材とした
ことにより、特殊ガス以外のガスに対する感度を
低減させ、かつ特殊ガスへの応答性を早くする作
用がある。 〔実施例〕 以下、この発明のガス検出素子とその製造方法
について実施例により説明する。 実施例1〜10のガス検出素子を次の製造方法に
より製作した。なお、各実施例でのガス検出素子
の製作個数は8個ずつである。 まず、酸化第2スズSnO2に塩化第2スズSnCl4
溶液を、SnCl4/SnO2=0〜10モル%となるよう
に混合し、大気中で600〜900℃の所定温度まで直
線的に昇温させ、所定温度で30分間焼成(以後こ
の焼成を仮焼成という)して活性化SnO2を作成
する。 次に、活性化SnO2に塩化パラジウムPbCl2溶液
をPb/Sn=0.1〜8.0モル%となるように加えて混
合水溶液を作成する。なお、PbCl2溶液は、
PbCl2に例えば0.2%の塩酸水溶液を加えて作成す
る。 この混合水溶液を超音波かくはん機によつてか
くはんし、Pbを良く分散させる。その後、この
分散混合溶液を真空凍結乾燥器にセツトし、−40
℃以下で急速凍結乾燥させて乾燥試料を作成す
る。 そして、この乾燥試料にオキシ塩化アンチモン
(SbOCl)をSb/Sn=1.0〜8モル%となるよう
に加え、乳鉢で約30分間混合して混合試料を得
る。 なお、実施例1〜10における各混合試料のPb,
SbとSnの組成比は後掲の表に示す通りである。 この混合試料に有機溶剤であるイソプロピルア
ルコールを加えてペースト状の混合試料とし、こ
れを1対の電極を有するアルミナ磁器管上に1対
の電極間を覆うように塗布し、その後自然乾燥す
る。 次に、この自然乾燥した素子を700℃にセツト
したアンチモン酸化ガス雰囲気の石英管中で10分
または15分間焼成する。このアンチモン酸化ガス
雰囲気は、後掲の表の焼成雰囲気に示す通り、
2.5mgのSbOClをアルミナボートに載置し、これ
を700℃にセツトされた石英管(内径4cm、電気
炉挿入部50cm)中に30分間入れて蒸発させて作成
したものである。 そして焼成後の素子にヒータを取り付け、この
ヒータに通電して素子を300±50℃に加熱し、大
気中で10時間の1回目のエージングを行う。 さらに、1回目のエージングが終了した素子を
ヒータによつて325±5℃に加熱し、空気中に
50ppmの濃度のSiH4ガスを含んだシラン系ガス
雰囲気中に10分間さらし、CVD法(chemical
vapor deposition method)によつて素子の表面
にSi酸化物を分散させて金属酸化物半導体を得
る。 最後に、この素子をヒータによつて300±50℃
に加熱し、大気中で12時間の2回目のエージング
を行つて各実施例のガス検出素子を完成する。 なお、実施例11は、実施例1〜10と比較を行う
ため、活性化SnO2を用いずに、仮焼成していな
いSnO2を用いて上記製造方法により製作した比
較用のガス検出素子である。 このようにして製作した実施例1〜11のそれぞ
れ8個ずつのガス検出素子について大気中での抵
抗値Roを測定し、各実施例毎に8個の素子の平
均値を求めたことろ表に示す結果が得られた。
択的に検出できるガス検出素子とその製造方法に
関するものである。 〔従来技術〕 モノシラン(SiH4),ジクロルシラン(SiH2
Cl2),トリクロルシラン(SiHCl3),ホスフイン
(PH3),ジボラン(B2H6)やアルシン(AsH3)
など、空気などの他の気体と接触混合すると数%
の濃度で自然発火する特殊ガスを検出することが
できるガス検出素子として、本発明者は、先に特
願昭59−98818号(特開昭60−243548号公報)に
よつて酸化第2スズ(SnO2)とパラジウム
(Pb)とアンチモン化合物(Sb化合物)を組成物
としシラン系ガス雰囲気で後処理した金属酸化物
半導体のガス検出素子を提案している。 このSnO2−Pb−Sb化合物系ガス検出素子は、
10ppmのSiH4ガスにさらしたときのSN比が5程
度、応答時間が150秒前後であり、エチルアルコ
ール(EtOH)100ppmに対するSiH4ガス10ppm
のガス選択性はR(EtOH 100ppm)/R(SiH4
10ppm)=0.5程度である。 〔目的と解決手段〕 この発明は、応答時間が早く、ガス選択性の良
好な、特殊ガスを選択的に検出できるガス検出素
子とその製造方法を目的とするもので、酸化第2
スズSnO2または塩化第2スズ(SnCl4)が添加さ
れたSnO2を仮焼成して得た活性化酸化第2スズ
(SnO2)を主材とし、パラジウム(Pb)を触媒、
アンチモン(Sb)を安定材としてPb/Sn=0.1〜
8モル%、Sb/Sn=0.5〜8モル%の組成比を有
し、20〜400ppmのシラン系ガス雰囲気で処理し
てなる金属酸化物半導体と、この金属酸化物半導
体を200〜400℃に加熱する加熱手段とからなるこ
とを特徴とするものである。 また、製造方法は次の工程を有することを特徴
とするものである。 SnO2にSnCl4をSnCl4/SnO2=0〜20モル%
となるように添加し、600〜900℃の大気雰囲気
中で仮焼成して活性化SnO2を作成する。 活性化SnO2に酸化パラジウム(PbCl2)溶液
をPb/Sn=0.1〜8モル%となるように加えて
分散させ、乾燥する。 の試料にSb化合物をSb/Sn=0.5〜8モル
%となるように加えて混合する。 の試料に有機溶剤を加えてペースト状に
し、1対の電極が設けられた絶縁体に塗布し乾
燥する。 の素子を、600〜850℃の大気またはアンチ
モン酸化ガスの雰囲気中で5〜30分間焼成す
る。 の素子を、CVD法により、20〜400ppmの
シラン系ガスで5〜30分間処理する。 の素子を加熱してエージングする。 〔作用〕 SnCl4をSnCl4/SnO2=0〜20モル%添加した
SnO2を仮焼成して得た活性化SnO2を主材とした
ことにより、特殊ガス以外のガスに対する感度を
低減させ、かつ特殊ガスへの応答性を早くする作
用がある。 〔実施例〕 以下、この発明のガス検出素子とその製造方法
について実施例により説明する。 実施例1〜10のガス検出素子を次の製造方法に
より製作した。なお、各実施例でのガス検出素子
の製作個数は8個ずつである。 まず、酸化第2スズSnO2に塩化第2スズSnCl4
溶液を、SnCl4/SnO2=0〜10モル%となるよう
に混合し、大気中で600〜900℃の所定温度まで直
線的に昇温させ、所定温度で30分間焼成(以後こ
の焼成を仮焼成という)して活性化SnO2を作成
する。 次に、活性化SnO2に塩化パラジウムPbCl2溶液
をPb/Sn=0.1〜8.0モル%となるように加えて混
合水溶液を作成する。なお、PbCl2溶液は、
PbCl2に例えば0.2%の塩酸水溶液を加えて作成す
る。 この混合水溶液を超音波かくはん機によつてか
くはんし、Pbを良く分散させる。その後、この
分散混合溶液を真空凍結乾燥器にセツトし、−40
℃以下で急速凍結乾燥させて乾燥試料を作成す
る。 そして、この乾燥試料にオキシ塩化アンチモン
(SbOCl)をSb/Sn=1.0〜8モル%となるよう
に加え、乳鉢で約30分間混合して混合試料を得
る。 なお、実施例1〜10における各混合試料のPb,
SbとSnの組成比は後掲の表に示す通りである。 この混合試料に有機溶剤であるイソプロピルア
ルコールを加えてペースト状の混合試料とし、こ
れを1対の電極を有するアルミナ磁器管上に1対
の電極間を覆うように塗布し、その後自然乾燥す
る。 次に、この自然乾燥した素子を700℃にセツト
したアンチモン酸化ガス雰囲気の石英管中で10分
または15分間焼成する。このアンチモン酸化ガス
雰囲気は、後掲の表の焼成雰囲気に示す通り、
2.5mgのSbOClをアルミナボートに載置し、これ
を700℃にセツトされた石英管(内径4cm、電気
炉挿入部50cm)中に30分間入れて蒸発させて作成
したものである。 そして焼成後の素子にヒータを取り付け、この
ヒータに通電して素子を300±50℃に加熱し、大
気中で10時間の1回目のエージングを行う。 さらに、1回目のエージングが終了した素子を
ヒータによつて325±5℃に加熱し、空気中に
50ppmの濃度のSiH4ガスを含んだシラン系ガス
雰囲気中に10分間さらし、CVD法(chemical
vapor deposition method)によつて素子の表面
にSi酸化物を分散させて金属酸化物半導体を得
る。 最後に、この素子をヒータによつて300±50℃
に加熱し、大気中で12時間の2回目のエージング
を行つて各実施例のガス検出素子を完成する。 なお、実施例11は、実施例1〜10と比較を行う
ため、活性化SnO2を用いずに、仮焼成していな
いSnO2を用いて上記製造方法により製作した比
較用のガス検出素子である。 このようにして製作した実施例1〜11のそれぞ
れ8個ずつのガス検出素子について大気中での抵
抗値Roを測定し、各実施例毎に8個の素子の平
均値を求めたことろ表に示す結果が得られた。
【表】
【表】
なお、上記の測定ならびに後記の測定のいずれ
の場合にも、各実施例のガス検出素子をヒータに
より325±10℃に加熱して行つた。 次に実施例1〜11の各素子を、それぞれ空気中
に100ppmの濃度の水素(H2),メタン(CH4),
エチレン(C2H4),エタン(C2H6),イソブタン
(iC4H10),アンモニア(NH3),一酸化炭素
(CO),イソプロピルアルコール(iPA),エチル
アルコール(EtOH),を各別に含む各供試ガス
雰囲気中、ならびに空気中に10ppmの濃度の
SiH4ガスを含む供試ガス雰囲気中に順次にさら
し、各供試ガス中での抵抗値Rgならびに応答時
間を測定した。この測定結果から、各実験例毎に
各供試ガスに対するSN比、つまりRo/Rg、な
らびに応答時間について8個の素子の平均値を求
めたところ、表に示す結果が得られた。 この結果から、実施例1〜10のガス検出素子
は、実施例11の素子に比べ、SiH4ガスに対する
SN比にはあまり変化がみられないものの、他の
ガスに対するSN比は2/3〜1/2程度に低下してお
り、SiH4ガスの選択度が大巾に向上しているこ
とがわかる。なお、iPAに対するSiH4の選択度
の場合にも、各実施例のガス検出素子をヒータに
より325±10℃に加熱して行つた。 次に実施例1〜11の各素子を、それぞれ空気中
に100ppmの濃度の水素(H2),メタン(CH4),
エチレン(C2H4),エタン(C2H6),イソブタン
(iC4H10),アンモニア(NH3),一酸化炭素
(CO),イソプロピルアルコール(iPA),エチル
アルコール(EtOH),を各別に含む各供試ガス
雰囲気中、ならびに空気中に10ppmの濃度の
SiH4ガスを含む供試ガス雰囲気中に順次にさら
し、各供試ガス中での抵抗値Rgならびに応答時
間を測定した。この測定結果から、各実験例毎に
各供試ガスに対するSN比、つまりRo/Rg、な
らびに応答時間について8個の素子の平均値を求
めたところ、表に示す結果が得られた。 この結果から、実施例1〜10のガス検出素子
は、実施例11の素子に比べ、SiH4ガスに対する
SN比にはあまり変化がみられないものの、他の
ガスに対するSN比は2/3〜1/2程度に低下してお
り、SiH4ガスの選択度が大巾に向上しているこ
とがわかる。なお、iPAに対するSiH4の選択度
【R(iPA)/R(SiH4)】と活性化SnO2を仮焼成
する際の焼成温度との関係を実施例3、6〜8か
ら求めると、第1図に示す通りである。 また、SiH4に対する応答時間は、実施例1〜
10は実施例11に比べて約1/2の時間であり、大巾
に向上していることがわかる。なお、実施例1〜
5から、SnO2のみを仮焼成して作成した活性化
SnO2を用いた場合でも応答時間は十分に早くな
るが、SnO2にさらにSnO4を添加して仮焼成した
活性化SnO2を用いた場合には応答時間がより早
くなることがわかる。この活性化SnO2を作成す
る際のSnCl4/SnO2と応答時間との関係を図に示
すと第2図に示す通りであり、この第2図から、
SnCl4の添加量はSnO2に対し20モル%程度まで大
きな効果があることがわかる。 また、第3図に、各供試ガスに対する応答特性
の代表例として、実施例3のうちの1つのガス検
出素子の応答特性を示す。 ところで、上記製造方法における各種条件は次
の通りである。 活性化SnO2を作成するための所定温度での仮
焼成時間は10分〜数時間の範囲である。 混合水溶液の乾燥は自然乾燥などで行つてもよ
い。この場合には、急速凍結乾燥の場合に比べ、
Pbの分散状態にむらが生じやすく、製品の歩留
りは低下する。 乾燥試料に添加するSbは、SbOClのほかSb2O3
などのSb化合物でよく、その添加量はSb/Sn=
0.5〜8モル%の範囲が適当である。この範囲外
では、素子のPbの活性度が損なわれたり、Roが
小さくなる。 素子を焼成する際のアンチモン酸化ガス雰囲気
は、上記石英管を用いた場合には、0.25〜10mgの
SbOClまたは三酸化アンチモンSb2O3などのSb化
合物を600〜850℃の温度雰囲気に5〜60分間入れ
て作成した雰囲気を使用する。この場合のSb化
合物の量は、Sb2O3のモル数に換算して1×10-9
〜4.5×10-8モル/cm3である。 なお、素子の焼成は大気雰囲気中で行つてもよ
い。この場合、素子を連続して製造すると、アン
チモン酸化ガス雰囲気中の場合に比べ、製造ロツ
ド間での抵抗値のばらつきが大きくなる点を除け
ば差はない。 また、素子を焼成する際の温度と時間は、アン
チモン酸化ガスあるいは大気のいずれの雰囲気で
も、600〜850℃ならびに5〜30分間の範囲であ
る。この範囲外ではPbの活性度が低下する。 CVD法による金属酸化物半導体の分散処理は、
SiH2Cl2などのシラン系ガスで行つてもよく、ま
た、シラン系ガスの濃度範囲は20〜400ppmであ
る。この範囲外の濃度では、特殊ガスに対する選
択度が低下する。なお、この際の処理温度ならび
に時間は150〜850℃、5〜30分間の範囲である。 エージングは、1回目は省略してもよく、2回
目は10時間以上行うことが望ましい。 また、ガス検出を行う際のガス検出素子の加熱
温度範囲は200〜400℃である。この範囲外では、
特殊ガスに対する応答時間が遅くなるとともに、
選択性が低下する。 〔効果〕 この発明によれば、低濃度の特殊ガスを良好な
選択性でかつ早い応答時間で検出可能なガス検出
素子とその製造方法が得られる効果がある。
する際の焼成温度との関係を実施例3、6〜8か
ら求めると、第1図に示す通りである。 また、SiH4に対する応答時間は、実施例1〜
10は実施例11に比べて約1/2の時間であり、大巾
に向上していることがわかる。なお、実施例1〜
5から、SnO2のみを仮焼成して作成した活性化
SnO2を用いた場合でも応答時間は十分に早くな
るが、SnO2にさらにSnO4を添加して仮焼成した
活性化SnO2を用いた場合には応答時間がより早
くなることがわかる。この活性化SnO2を作成す
る際のSnCl4/SnO2と応答時間との関係を図に示
すと第2図に示す通りであり、この第2図から、
SnCl4の添加量はSnO2に対し20モル%程度まで大
きな効果があることがわかる。 また、第3図に、各供試ガスに対する応答特性
の代表例として、実施例3のうちの1つのガス検
出素子の応答特性を示す。 ところで、上記製造方法における各種条件は次
の通りである。 活性化SnO2を作成するための所定温度での仮
焼成時間は10分〜数時間の範囲である。 混合水溶液の乾燥は自然乾燥などで行つてもよ
い。この場合には、急速凍結乾燥の場合に比べ、
Pbの分散状態にむらが生じやすく、製品の歩留
りは低下する。 乾燥試料に添加するSbは、SbOClのほかSb2O3
などのSb化合物でよく、その添加量はSb/Sn=
0.5〜8モル%の範囲が適当である。この範囲外
では、素子のPbの活性度が損なわれたり、Roが
小さくなる。 素子を焼成する際のアンチモン酸化ガス雰囲気
は、上記石英管を用いた場合には、0.25〜10mgの
SbOClまたは三酸化アンチモンSb2O3などのSb化
合物を600〜850℃の温度雰囲気に5〜60分間入れ
て作成した雰囲気を使用する。この場合のSb化
合物の量は、Sb2O3のモル数に換算して1×10-9
〜4.5×10-8モル/cm3である。 なお、素子の焼成は大気雰囲気中で行つてもよ
い。この場合、素子を連続して製造すると、アン
チモン酸化ガス雰囲気中の場合に比べ、製造ロツ
ド間での抵抗値のばらつきが大きくなる点を除け
ば差はない。 また、素子を焼成する際の温度と時間は、アン
チモン酸化ガスあるいは大気のいずれの雰囲気で
も、600〜850℃ならびに5〜30分間の範囲であ
る。この範囲外ではPbの活性度が低下する。 CVD法による金属酸化物半導体の分散処理は、
SiH2Cl2などのシラン系ガスで行つてもよく、ま
た、シラン系ガスの濃度範囲は20〜400ppmであ
る。この範囲外の濃度では、特殊ガスに対する選
択度が低下する。なお、この際の処理温度ならび
に時間は150〜850℃、5〜30分間の範囲である。 エージングは、1回目は省略してもよく、2回
目は10時間以上行うことが望ましい。 また、ガス検出を行う際のガス検出素子の加熱
温度範囲は200〜400℃である。この範囲外では、
特殊ガスに対する応答時間が遅くなるとともに、
選択性が低下する。 〔効果〕 この発明によれば、低濃度の特殊ガスを良好な
選択性でかつ早い応答時間で検出可能なガス検出
素子とその製造方法が得られる効果がある。
第1図〜第3図はこの発明によるガス検出素子
の特性を示す図で、第1図は選択度と活性化
SnO2の仮焼成温度との関係を、第2図はSnCl4/
SnO2と応答時間との関係を、第3図は実施例3
のうちの1つの素子の各ガスに対する応答特性を
それぞれ示している。
の特性を示す図で、第1図は選択度と活性化
SnO2の仮焼成温度との関係を、第2図はSnCl4/
SnO2と応答時間との関係を、第3図は実施例3
のうちの1つの素子の各ガスに対する応答特性を
それぞれ示している。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 酸化第2スズまたは塩化第2スズが添加され
た酸化第2スズを仮焼成して得た活性化酸化第2
スズを主材、パラジウムを触媒、アンチモンを安
定材としてPb/Sn=0.1〜8モル%、Sb/Sn=
0.5〜8モル%の組成比を有し、20〜400ppmのシ
ラン系ガス雰囲気で処理された金属酸化物半導体
と、この金属酸化物半導体を200〜400℃に加熱す
る加熱手段とからなることを特徴とするガス検出
素子。 2 酸化第2スズに塩化第2スズをSnCl4/SnO2
=0〜20モル%となるように添加し、600〜900℃
の大気雰囲気中で仮焼成して活性化酸化第2スズ
を作成する第1工程と、 活性化酸化第2スズに塩化パラジウム溶液を
Pb/Sn=0.1〜8モル%となるように加えて分散
させ、乾燥させる第2工程と、 第2工程で作成した試料にアンチモン化合物を
Sb/Sn=0.5〜8モル%となるように加えて混合
する第3工程と、 第3工程で作成した試料に有機溶剤を加えてペ
ースト状にし、これを1対の電極を有する絶縁体
に塗布し、乾燥させる第4工程と、 第4工程で作成した素子を、600〜850℃の大気
またはアンチモン酸化ガスの雰囲気中で5〜30分
間焼成する第5工程と、 第5工程で焼成した素子を、CVD法により20
〜400ppmのシラン系ガスで5〜30分間処理する
第6工程と、 第6工程で作成した素子を加熱してエージング
する第7工程と、 からなるガス検出素子の製造方法。 3 アンチモン酸化ガス雰囲気は、三酸化アンチ
モンのモル数に換算して1×10-9〜4.5×10-8モ
ル/cm3のアンチモン化合物を600〜850℃の雰囲気
中に5〜60分間入れて作成したものである特許請
求の範囲第2項記載のガス検出素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21365185A JPS6275245A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | ガス検出素子とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21365185A JPS6275245A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | ガス検出素子とその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6275245A JPS6275245A (ja) | 1987-04-07 |
| JPH0458906B2 true JPH0458906B2 (ja) | 1992-09-18 |
Family
ID=16642692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21365185A Granted JPS6275245A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | ガス検出素子とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6275245A (ja) |
-
1985
- 1985-09-28 JP JP21365185A patent/JPS6275245A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6275245A (ja) | 1987-04-07 |
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