JPH0459637A - 低融点ガラス - Google Patents
低融点ガラスInfo
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- JPH0459637A JPH0459637A JP17244190A JP17244190A JPH0459637A JP H0459637 A JPH0459637 A JP H0459637A JP 17244190 A JP17244190 A JP 17244190A JP 17244190 A JP17244190 A JP 17244190A JP H0459637 A JPH0459637 A JP H0459637A
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- glass
- low
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Links
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C8/00—Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
- C03C8/24—Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
- C03C8/245—Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders containing more than 50% lead oxide, by weight
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Organic Chemistry (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は低融点ガラスに関し、より詳しくはコンポジッ
トタイプの磁気へ、ソドに用いられる低融点ガラスに関
するものである。
トタイプの磁気へ、ソドに用いられる低融点ガラスに関
するものである。
［従来の技術］
従来、ハードディスクに使用される磁気へ・ソドはフェ
ライトを主体としたモノシリ・ツクタイプが主流であっ
たが、近年のハードディスクの記録密度の高度化に伴い
、モノシリツクタイプに代わってコンポジットタイプと
呼ばれるものか使用されるようになってきている。この
コンポジットタイプの磁気ヘッドは、第１図に示すよう
に一次ガラス１と呼ばれる接着用ガラスでギヤ・ツブ部
２が封着されたフェライト製のへラドチップ３を、第２
図に示すセラミックススライダー４の切り込み部５に挿
入した後、二次ガラス６と呼ばれるへ、ノドチップ固定
用ガラスをヘッドチップ上に配置して熱処理し、第３図
に示すようにヘッドチップを固定した後、所定の加工を
施すことにより作製される。
ライトを主体としたモノシリ・ツクタイプが主流であっ
たが、近年のハードディスクの記録密度の高度化に伴い
、モノシリツクタイプに代わってコンポジットタイプと
呼ばれるものか使用されるようになってきている。この
コンポジットタイプの磁気ヘッドは、第１図に示すよう
に一次ガラス１と呼ばれる接着用ガラスでギヤ・ツブ部
２が封着されたフェライト製のへラドチップ３を、第２
図に示すセラミックススライダー４の切り込み部５に挿
入した後、二次ガラス６と呼ばれるへ、ノドチップ固定
用ガラスをヘッドチップ上に配置して熱処理し、第３図
に示すようにヘッドチップを固定した後、所定の加工を
施すことにより作製される。
［発明が解決しようとする問題点コ
ヘッドチップの固定に用いられる二次ガラスとしては、
ヘッドチップの材質であるフェライトに適合した熱膨張
係数を有し、しかもへラドチップ固定の際の熱処理によ
って一次ガラスか軟化流動してギャップ長が大きくなっ
たり、実効トラ・ツク幅が小さくなることがないように
、−次ガラスの屈伏点以下の温度て熱処理できる低融点
ガラスが用いられる。
ヘッドチップの材質であるフェライトに適合した熱膨張
係数を有し、しかもへラドチップ固定の際の熱処理によ
って一次ガラスか軟化流動してギャップ長が大きくなっ
たり、実効トラ・ツク幅が小さくなることがないように
、−次ガラスの屈伏点以下の温度て熱処理できる低融点
ガラスが用いられる。
しかしながらフェライトにあうような高い熱膨張係数を
有する低融点ガラスは一般に耐水性が低く、このような
ガラスをヘッドチップの固定に用いた場合、大気中の水
分と反応してガラス表面に異物が析出し、ハードディス
ク表面を損傷させる等の問題が生じる。
有する低融点ガラスは一般に耐水性が低く、このような
ガラスをヘッドチップの固定に用いた場合、大気中の水
分と反応してガラス表面に異物が析出し、ハードディス
ク表面を損傷させる等の問題が生じる。
本発明の目的は、高い熱膨張係数を有し、且つ耐水性の
良い、ヘッドチップの固定に好適な低融点ガラスを提供
することである。
良い、ヘッドチップの固定に好適な低融点ガラスを提供
することである。
Ｅ問題点を解決するための手段］
本発明者等は、上記目的を達成するために種々の研究を
行った結果、ＰｂＯ−８１０゜−８２０３系の低融点ガ
ラスにＴｅＯ２を含有せしめることにより、耐水性が良
好で、しかも高膨張の低融点ガラスが得られることを見
いだし、本発明として提案するものである。
行った結果、ＰｂＯ−８１０゜−８２０３系の低融点ガ
ラスにＴｅＯ２を含有せしめることにより、耐水性が良
好で、しかも高膨張の低融点ガラスが得られることを見
いだし、本発明として提案するものである。
即ち、本発明の低融点ガラスは、重量百分率で、ｐｂｏ
ｅｏ〜７５％、５ｉＯ３１５〜２５％、Ｂｉ２Ｏ３０
〜６％、ＴｅＯ２０，５〜１０％、７１００〜４％、Ｎ
ａ２００〜５％、ＳｒＯ０〜５％、Ｂａ００〜５％、Ｂ
ｉ２Ｏ３０〜６％％からなることを特徴とする。
ｅｏ〜７５％、５ｉＯ３１５〜２５％、Ｂｉ２Ｏ３０
〜６％、ＴｅＯ２０，５〜１０％、７１００〜４％、Ｎ
ａ２００〜５％、ＳｒＯ０〜５％、Ｂａ００〜５％、Ｂ
ｉ２Ｏ３０〜６％％からなることを特徴とする。
［作用］
本発明の低融点ガラスは、３０〜３００°Ｃにおける熱
膨張係数がフェライトのそれ（１００〜１３０Ｘ１０−
’／”Ｃ）にあう９０〜１２０ Ｘｌ０−７／ ’Ｃで
あり、また軟化点が４５０〜５２０℃であるため一次ガ
ラスの屈伏点（通常５５０〜５８０℃）以下である５４
０〜５７０°Ｃで熱処理することが可能である。しかも
ＴｅＯ□を含有するため耐水性が非常に優れている。
膨張係数がフェライトのそれ（１００〜１３０Ｘ１０−
’／”Ｃ）にあう９０〜１２０ Ｘｌ０−７／ ’Ｃで
あり、また軟化点が４５０〜５２０℃であるため一次ガ
ラスの屈伏点（通常５５０〜５８０℃）以下である５４
０〜５７０°Ｃで熱処理することが可能である。しかも
ＴｅＯ□を含有するため耐水性が非常に優れている。
次に、本発明の低融点ガラスの組成を上記のように限定
した理由を以下に示す。
した理由を以下に示す。
ＰｂＯはガラスを低融点化させる成分であり、その含有
量は６０〜７５％である。ＰｂＯが６０％より少ないと
軟化点が高くなり、７５％より多いと耐水性か悪くなる
。
量は６０〜７５％である。ＰｂＯが６０％より少ないと
軟化点が高くなり、７５％より多いと耐水性か悪くなる
。
ＳＩＯ□はガラス化範囲を広げる成分であり、その含有
量は１５〜２５％である。Ｓ１０゜が１５％より少ない
と耐水性が悪くなり、２５％より多いと軟化点が高くな
り、低融点化が困難になる。
量は１５〜２５％である。Ｓ１０゜が１５％より少ない
と耐水性が悪くなり、２５％より多いと軟化点が高くな
り、低融点化が困難になる。
Ｂ２Ｏ３はガラスを安定化させる成分てあり、その含有
量は２〜６％である。Ｂ２Ｏ３が２％より少ないとガラ
スが不安定になり、６％より多いと耐水性が悪くなる。
量は２〜６％である。Ｂ２Ｏ３が２％より少ないとガラ
スが不安定になり、６％より多いと耐水性が悪くなる。
Ｔｅ０９は鉛系ガラスの耐水性を改善する作用かあり、
その含有量は０．５〜１０％である。ＴｅＯ３が０．５
％より少ないと耐水性の改善に寄与せず、１０％より多
いと軟化点が高くなる。
その含有量は０．５〜１０％である。ＴｅＯ３が０．５
％より少ないと耐水性の改善に寄与せず、１０％より多
いと軟化点が高くなる。
ＺｎＯはガラスの熱膨張係数を上げずに低融点化させる
成分であり、その含有量は０〜４％である。
成分であり、その含有量は０〜４％である。
ＺｎＯが４％より多いとガラスが失透し易くなる。
Ｎａ２Ｏ、ＳｒＯ、ＢａＯは共に熱膨張係数を高める成
分であり、その含有量は各々θ〜５％である。Ｎａ２Ｏ
，５ｒＯ１ＢａＯがそれぞれ５％を越えると耐水性が悪
くなる。
分であり、その含有量は各々θ〜５％である。Ｎａ２Ｏ
，５ｒＯ１ＢａＯがそれぞれ５％を越えると耐水性が悪
くなる。
Ｂｉ２Ｏ３はガラスの軟化点を下げる作用があり、その
含有量は０〜ｌＯ％である。Ｂ１゜０３の含有量が１０
％より多いとガラスが着色して不透明になり、ギャップ
深さの測定が困難になる。
含有量は０〜ｌＯ％である。Ｂ１゜０３の含有量が１０
％より多いとガラスが着色して不透明になり、ギャップ
深さの測定が困難になる。
［実施例コ
以下、本発明の低融点ガラスを実施例に基づいて説明す
る。
る。
法衣は本発明の実施例（試料Ｎｏ、１〜４）及び比較例
（試料Ｎｏ、５．［ｉ）を示すものである。
（試料Ｎｏ、５．［ｉ）を示すものである。
以 下 余 白
表のＮｏ、１〜６の各試料は次のようにして調製しまず
重量百分率で表の組成となるように調合した原料バッチ
を白金坩堝に入れ、１１００’Ｃて１時間溶融し、所定
の形状に成形して試料を作製した後、熱膨張係数、軟化
点、熱処理温度及び耐水性を測定した。
重量百分率で表の組成となるように調合した原料バッチ
を白金坩堝に入れ、１１００’Ｃて１時間溶融し、所定
の形状に成形して試料を作製した後、熱膨張係数、軟化
点、熱処理温度及び耐水性を測定した。
表から明らかなように実施例であるＮ００１〜４の各試
料は熱膨張係数か９０〜１１０ Ｘｌ０−７／ ’Ｃ１
軟化点が４７０〜５０５℃、熱処理温度が５４０〜５７
０’Ｃの値を示し、また耐水性が良であった。これに対
して、比較例であるＮｏ、５．６の各試料は熱膨張係数
が１００ Ｘｌ０−７／ ’Ｃ及び１０５ Ｘｌ０−７
／ ’Ｃ，軟化軟化イカ４８０℃４８５℃、熱処理温度
が５５０”Ｃ及び５３０’Ｃであったが、耐水性はとも
に不良であった。
料は熱膨張係数か９０〜１１０ Ｘｌ０−７／ ’Ｃ１
軟化点が４７０〜５０５℃、熱処理温度が５４０〜５７
０’Ｃの値を示し、また耐水性が良であった。これに対
して、比較例であるＮｏ、５．６の各試料は熱膨張係数
が１００ Ｘｌ０−７／ ’Ｃ及び１０５ Ｘｌ０−７
／ ’Ｃ，軟化軟化イカ４８０℃４８５℃、熱処理温度
が５５０”Ｃ及び５３０’Ｃであったが、耐水性はとも
に不良であった。
これらの事実は、本発明が高い熱膨張係数を何する低融
点ガラスであり、しがも耐水性が良好であることを示し
ている。
点ガラスであり、しがも耐水性が良好であることを示し
ている。
なお熱膨張係数及び軟化点は、各ガラスを５φＸ ２０
ｍｍのロッド状に成形した試料を用いて平均線熱膨張係
数測定器によって測定した。また熱処理温度は、ヘッド
チップの固定に必要な流動性が得られる温度、即ちガラ
スの粘度が１０’ポアズを示す時の温度を高温粘性測定
器により測定した。さらに耐水性は、各ガラスを１０．
ＯＸ ２．５ Ｘ ３．Ｏｍｍの短冊状に成形した試料
を、純水中に浸漬して３０分間煮沸した後、その表面を
目視によって観察したものであり、表面状態が変わらな
い場合は良、白濁を生じたものは不良とした。
ｍｍのロッド状に成形した試料を用いて平均線熱膨張係
数測定器によって測定した。また熱処理温度は、ヘッド
チップの固定に必要な流動性が得られる温度、即ちガラ
スの粘度が１０’ポアズを示す時の温度を高温粘性測定
器により測定した。さらに耐水性は、各ガラスを１０．
ＯＸ ２．５ Ｘ ３．Ｏｍｍの短冊状に成形した試料
を、純水中に浸漬して３０分間煮沸した後、その表面を
目視によって観察したものであり、表面状態が変わらな
い場合は良、白濁を生じたものは不良とした。
［効果］
以上説明したように、本発明の低融点ガラスは、フェラ
イトにあった熱膨張係数を有し、−次ガラスの屈伏点以
下で熱処理することができ、しかも耐水性が良好である
ため、コンポジットタイプの磁気ヘッドのヘッドチップ
を固定する二次ガラスとして好適である。
イトにあった熱膨張係数を有し、−次ガラスの屈伏点以
下で熱処理することができ、しかも耐水性が良好である
ため、コンポジットタイプの磁気ヘッドのヘッドチップ
を固定する二次ガラスとして好適である。
第１図はギャップ部が一次ガラスによって封着されたヘ
ッドチップの斜視図、第２図はセラミックススライター
の斜視図、第３図は二次カラスによってセラミックスス
ライダーの切り込み部にヘッドチップが固定された状態
を示す説明図である。 ３・・・ヘッドチップ ４・・・セラミックススライダー ５・・・切り込み部 ６・・・二次ガラス特許出願人
日本電気硝子株式会社 代表者 岸 １）清 作 区 ｉつ 第 図
ッドチップの斜視図、第２図はセラミックススライター
の斜視図、第３図は二次カラスによってセラミックスス
ライダーの切り込み部にヘッドチップが固定された状態
を示す説明図である。 ３・・・ヘッドチップ ４・・・セラミックススライダー ５・・・切り込み部 ６・・・二次ガラス特許出願人
日本電気硝子株式会社 代表者 岸 １）清 作 区 ｉつ 第 図
Claims (1)
- （１）重量百分率で、ＰｂＯ６０〜７５％、ＳｉＯ＿２
１５〜２５％、Ｂ＿２Ｏ＿３２〜６％、ＴｅＯ＿２０．
５〜１０％、ＺｎＯ０〜４％、Ｎａ＿２Ｏ０〜５％、Ｓ
ｒＯ０〜５％、ＢａＯ０〜５％、Ｂｉ＿２Ｏ＿３０〜１
０％からなることを特徴とする低融点ガラス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17244190A JPH0459637A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 低融点ガラス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17244190A JPH0459637A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 低融点ガラス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0459637A true JPH0459637A (ja) | 1992-02-26 |
Family
ID=15942045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17244190A Pending JPH0459637A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 低融点ガラス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0459637A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6163106A (en) * | 1997-09-09 | 2000-12-19 | Asahi Glass Company Ltd. | Color cathode ray tube and water resistant glass frit |
| EP1178019A4 (en) * | 1999-11-30 | 2006-04-05 | Ohara Kk | OPTICAL GLASS |
-
1990
- 1990-06-28 JP JP17244190A patent/JPH0459637A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6163106A (en) * | 1997-09-09 | 2000-12-19 | Asahi Glass Company Ltd. | Color cathode ray tube and water resistant glass frit |
| EP1178019A4 (en) * | 1999-11-30 | 2006-04-05 | Ohara Kk | OPTICAL GLASS |
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