JPH0466459A - フィルムキャリアテープの処理装置 - Google Patents

フィルムキャリアテープの処理装置

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JPH0466459A
JPH0466459A JP2180033A JP18003390A JPH0466459A JP H0466459 A JPH0466459 A JP H0466459A JP 2180033 A JP2180033 A JP 2180033A JP 18003390 A JP18003390 A JP 18003390A JP H0466459 A JPH0466459 A JP H0466459A
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tape
film carrier
carrier tape
punching
bonding
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Wataru Hidese
渡 秀瀬
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフィルムキャリアテープの処理装置に係り、詳
しくは、アウターリードボンディングのために、フィル
ムキャリアテープを供給リールから繰り出して打抜き、
次の工程へ移送するための装置に関する。
(従来の技術) 合成樹脂により形成されたフィルムキャリアテープに半
導体をボンディングし、次いでこのフィルムキャリアテ
ープのリード部を打抜き、打抜いて得られたデバイスを
基板にボンディングして電子部品を製造することが、T
AB法として知られている。
上記のようにフィルムキャリアテープに半導体をボンデ
ィングすることはインナーリードボンディングと呼ばれ
ている。また打抜かれたデバイスを基板にボンディング
することはアウターリードボンディングと呼ばれている
(発明が解決しようとする課8) アウターリードボンディングは、極細のリード部を、基
板に形成された極細の電極に合致させてボンディングせ
ねばならないため、要求される実装精度がきわめて高い
。またリード部は極薄の合成樹脂フィルムにより形成さ
れているため、屈曲変形しやすく、取り扱いが困難であ
る。したがってアウターリードボンディングにはきわめ
て高度の技術が要求されるものであり、このためアウタ
ーリードボンディング技術は今日まで未だ確立されてい
ない実情にある。
そこで本発明は、アウターリードボンディングのための
、フィルムキャリアテープの処理手段を従供することを
目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は、フィルムキャリアテープが巻回された供給リ
ールと、層間テープを巻取る巻取りソールと、フィルム
キャリアテープをピッチ送りするピッチ送り手段と、水
平にピッチ送りされるフィルムキャリアテープを上型と
下型とにより打抜く打抜装置と、打抜かれた下型上のデ
バイスをティクアップして次の工程へ移送する移送手段
とからフィルムキャリアテープの処理装置を構成してい
る。
(作用) 上記構成において、供給リールがら繰り出されたフィル
ムキャリアテープを打抜装置により打抜く。次いで打抜
いて得られた下型上のデバイスを移送手段によりティク
アップし、次の工程・\移送する。また層間テープは巻
取リリールに巻取る。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図はフィルムキャリアテープの処理装置を示すもの
である。lは主フレーム、2はこの主フレーム1の後部
に設けられたブラケットである。このブラケット2の上
部と下部には、供給リール3と巻取リリール4が軸着さ
れている。
5は両リール3,4の前方に設けられたガイドローラ、
6,7.8は更にその前方に設けられたスプロケット、
Mlは供給リール3を駆動するモータ、M2は巻取リリ
ール4を駆動するモータである。
第2図は、アウターリードボンディングシステムの全体
図である。供給リール3には、フィルムキャリアテープ
(以下、テープという)10と層間テープ11が一緒に
巻回されている。
供給リール3からテープ10を繰り出しながら、巻取リ
リール4により層間テープ11を巻取る。
第3図はテープ10の平面図である。Cはインナーリー
ドボンディング手段によりテープIOにボンディングさ
れた半導体、Lはリード部、9はスプロケット6.7.
8のビンが係合するピン孔である。後に詳述するように
、打抜装置15によりリード部りを破daで示すように
打抜いて得られるデバイスPを、基板にアウターリード
ボンディングする。
第2図においてM3.M4.M5は、上記スプロケ7)
6.7.8を駆動するモータであり、スプロケット6.
7.8がピッチ回転することにより、テープ10をピッ
チ送りする。モータM3.M4は、正確な回転制御が要
求されるので、パルスモータが使用される。12a、1
2bはテープlOがスプロケット6.7から浮き上って
離脱するのを防止するためのカバー手段である。
スプロケット6.7の間で、テープIOは余裕長を確保
するために垂下している。14a。
14b、15a、15bは発光素子と受光素子であって
、テープ10の検出手段である。鎖線にて示すように、
テープ10が上昇して、受光素子14bにテープ10が
検出されないときは、スプロケット6の回転速度を上げ
るか、若しくはスプロケット7の回転速度を下げる。ま
た破線にて示すように、テープ10が受光素子15bに
検出されたときは、スプロケット6の回転速度を下げる
か若しくはスプロケット7の回転速度を上げる。このよ
うに、スプロケット6゜7間に垂下するテープ10の余
裕長を調整することにより、チー110に適度の余裕長
を付与する。
20はスプロケット7とスプロケット8の間に設けられ
たステージである。このステージ20には、打抜装置1
5が設けられている。この打抜装置15は、ステージ2
0上に載置された下型16と、昇降自在な上型17から
成ってぃる。テープ10は、スプロケット7とスプロケ
ット8の間を水平にピッチ送りされる。
第4図は、テープ10を破線a (第3図参照)に示す
ように打抜いている様子を示すものである。18は上型
17と一体的に昇降するビンである。上型17が下降す
ると、まずビン18がビン孔9に嵌入する。その際、テ
ープ10に送り方向の停止位置誤差△Xがあった場合、
ビン18の先端テーパ面18aがビン孔9の縁部に当っ
てテープ10をわずかにX方向に摺動させることにより
、この誤差△Xを補正し、テープ10を打抜位置に位置
決めする。次いで上型17が更に下降することにより、
リード部りを打抜く。また打抜が終了したならば、移送
手段25 (後述)によるティクアップの障害にならな
いように、上型17は上方に退避する。
第2図において、28.29は、スプロケット7の上方
と、下型16の側部に設けられた光電センサである。セ
ンサ28は、テープ1o上の半導体Cの有無を確認する
ものである。すなわち、テープ10にボンディングされ
た半導体Cが不良品の場合、チー110を供給リール3
に巻回するに先立ち、この半導体Cをテープ10から除
去し、且つテープ10のこの半導体Cがボンディングさ
れていた箇所に、パンチにより孔を開けるなどして、目
印を形成する。そこでこの目印をセンサ28により検出
することにより、この目印がステージ20上にきたとき
は、打抜装置15が作動しないように、また移送手段2
5 (後述)がデバイスPをティクアップしないように
指令を出す。またセンサ29はビン孔9を検出し、テー
プ10が正しく送られたか否かを確認する。
21.22はカッター装置を構成する固定刃と可動刃で
ある。上記のように打抜きが終了したテープ10は、ス
プロケット8を周回した後、この固定刃21と可動刃2
2により切断処理される。切断されたテープlOの破片
10aは、ボックス19に落下して回収される。23は
、ばね材24のばね力により、テープ10を固定刃21
に弾圧する押え部材である。この押え部材23は、テー
プ10を切断する際に、テープIOがふらつくのを防止
する。
30はスプロケット8の前方に設けられたテーブルであ
る。このテーブル30は、スライダ31を介して、レー
ル32上を摺動する。25は移送手段であり、デバイス
Pを吸着するバンド26を備えている。この移送手段2
5は、打抜装置15とテーブル30の間を往復摺動し、
テープ10を打抜いて得られたデバイスPを吸着してテ
ーブル30上に移送する。27は移送手段25のガイド
レールである。
39はレール32の右端部の下方に設けられたカメラか
ら成る第1の光学手段である。また40はテーブル30
上のデバイスPをテーブル43に移送する第2の移送手
段である。第5図に示すように、この移送手段40は、
シャフト42と、このシャフト42の下端部に装着され
た吸着バッド41を備えている。この移送手段40は、
XYZ方向移動装置47. 48. 49に取り付けら
れており、xyz方向に移動する。
光学手段39は、移送手段40にテイクア・7プされた
デバイスPのリード部りを下方から観察する。この観察
の第1の目的は、リード部りを第2の光学手段50(後
述)の視野に確実に入れるために、その位置を爪検出す
ることにある。また第2の目的は、リード部りの熱溶着
子53(後述)に対するXYθ方向の位置ずれを検出す
るためである。したがってこの光学手段39は、第6図
に示すように倍率を下げてデバイスPの全体を荒観察す
るものであり、観察精度ハかなり低く、要求されるボン
ディング精度を満足させることはできない。Aは光学手
段39の視野である。なおθ方向とは、水平回転方向の
ことである。
また移送手段40は、デバイスPをテーブル30からテ
ーブル43に移送するが、その際、移送手段40のxy
X方向移動ストロークを加減し、またデバイスPを吸着
したシャフト42をθ方向に水平回転させることにより
、光学手段39で爪検出されたリード部りのXYθ方向
の位置ずれを荒補正したうえで、デバイスPをテーブル
43に搭載する。
第2図において、テーブル43は、スライダ44を介し
て、レール45上を摺動する。50はレール45の右端
部の下方に設けられたカメラから成る第2の光学手段、
51はテーブル43上のデバイスPをティクアップする
ボンディングヘッドである。このボンディングヘッド5
1は、デバイスPを吸着するノズル52と、リード部り
を基板の電極63に熱溶着する熱溶着子53を有してい
る。55.56.57は、ボンディングヘッド51をX
Yz方向に移動させるXYZ方向移動装置である。
ボンディングヘッド51は、テーブル43上のデバイス
Pをティクアップする。この場合、上記光学手段39に
より爪検出されたリード部りのXYθ方向の位置ずれを
補正するように、ボンディングヘッド51のXY力方向
移動ストロークを調整し、またボンディングヘッド51
をθ方向に水平回転させる。このようにしてXYθ方向
の位置ずれを補正すれば、熱溶着子53をリード部りの
直上に位置させて、ポンディングヘッド51によりデバ
イスPをティクアップすることができる。
光学手段50は、ボンディングヘッド51によりティク
アップされたデバイスPのリード部りを観察する。この
観察は、要求されるボンディング精度を満足するように
、リード部りのXYθ方向の位置ずれを精密に検出する
ために行われるものである。したがって第7図に示すよ
うに光学手段500倍率を上げて、リード部りの先端部
を精密に観察する。この場合、上述のように第1の光学
手段39によりリード部りの位置ずれを爪検出して、そ
の位置ずれを荒補正しているので、リード部りの先端部
を光学手段50の視野Aに確実に入れることができる。
なおこのようなリード部りの精密な位置の計測は、カメ
ラ50に替えて、レーザ装置により行うこともできる。
第2図において、60はXY子テーブル1゜62上に位
置決めされた基板である。この基板60には、リード部
りが溶着される電極63が形成されている(第9図も参
照)。この電極63は、エツチングにより極細に形成さ
れている。
ボンディングヘッド51は、リード部りを電極63に合
致させて、デバイスPを基板60に搭載する(第8図、
第9図参照)。上述したように、このボンディングはア
ウターリードボンディングと呼ばれる。その際、熱溶着
子53は上下動し、リード部りを電極63に押し付けて
熱溶着する。なお熱溶着子53に替えて、レーザ光をリ
ード部りに照射することにより、リード部りを電極63
に溶着することもできる。
光学手段50により検出されたリード部りのXY力方向
位置ずれは、ボンディングへラド51のXY力方向移動
ストロークを加減することにより補正する。またθ方向
の位置ずれは、ボンディングヘッド51をθ方向に水平
回転させることにより補正する。
XYθ方向の位置ずれ補正方法は、自由に決定できる。
すなわち、θ方向の位置ずれは、基板60を水平回転さ
せて補正してもよい。またXY力方向位置ずれは、XY
子テーブル1.62を駆動して、基板60をXY力方向
移動させることにより補正してもよい。また、デバイス
Pを移送する移送手段40やボンディングヘッド51の
X方向やY方向の移動ストロークを加減することにより
、XY力方向位置ずれを補正してもよく、あるいはデバ
イスPが搭載されたテーブル43や基板60を、X方向
やY方向に移動させることにより補正してもよい。また
X方向の補正は、テーブル43や基板60を同方向に移
動させることにより補正し、Y方向の補正は移送手段4
0やボンディングヘッド51を同方向に移動させること
により補正してもよい。
以上のように本手段によれば、供給リール3に巻回され
たテープ10の繰り出しから、基板60へのボンディン
グまでの作業を、一連の作業として、作業性よく、しか
も要求される精度を満足するように精密に行うことがで
きる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、フィルムキャリアテープ
が巻回された供給リールと、層間テープを巻取る巻取リ
リールと、フィルムキャリアテープをピッチ送りするピ
ッチ送り手段と、水平にピッチ送りされるフィルムキャ
リアテープを上型と下型とにより打抜く打抜装置と、打
抜かれた下型上のデバイスをティクアップして次の工程
へ移送する移送手段とからフィルムキャリアテープの処
理装置を構成しているので、フィルムキャリアテープの
繰り出し、打抜き、層間テープの回収、打抜いて得られ
たデバイスの次の工程への移送等の諸作業を有利に行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図はフィ
ルムキャリアテープの処理装置の斜視図、第2図はアウ
ターリードボンディングシステムの全体図、第3図はフ
ィルムキャリアテープの平面図、第4図は打抜中の側面
図、第5図は観察中の側面図、第6図及び第7図は観察
図、第8図及び第9図はボンディング中の側面図及び斜
視図である。 3・・・供給リール 4・・・巻取リリール 6.7.8・・・ピッチ送り手段 10・・・フィルムキャリアテープ 11・・・層間テープ 15・・・打抜装置 16・・・下型 17・・・上型 25・・・移送手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  フィルムキャリアテープが巻回された供給リールと、
    層間テープを巻取る巻取リリールと、フィルムキャリア
    テープをピッチ送りするピッチ送り手段と、水平にピッ
    チ送りされるフィルムキャリアテープを上型と下型とに
    より打抜く打抜装置と、打抜かれた下型上のデバイスを
    テイクアップして次の工程へ移送する移送手段とから成
    ることを特徴とするフィルムキャリアテープの処理装置
JP2180033A 1990-07-06 1990-07-06 フィルムキャリアテープの処理装置 Expired - Fee Related JP2853286B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9157530B2 (en) 2012-03-12 2015-10-13 Nok Corporation Sealing device and sealing structure

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9157530B2 (en) 2012-03-12 2015-10-13 Nok Corporation Sealing device and sealing structure
US9309973B2 (en) 2012-03-12 2016-04-12 Nok Corporation Sealing device and sealing structure
US9388705B2 (en) 2012-03-12 2016-07-12 Nok Corporation Sealing device

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