JPH0474700A - 半導体装置カード - Google Patents
半導体装置カードInfo
- Publication number
- JPH0474700A JPH0474700A JP2191649A JP19164990A JPH0474700A JP H0474700 A JPH0474700 A JP H0474700A JP 2191649 A JP2191649 A JP 2191649A JP 19164990 A JP19164990 A JP 19164990A JP H0474700 A JPH0474700 A JP H0474700A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- semiconductor module
- parts
- circuit substrate
- hole
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、主としてコンピュータの外部記憶媒体として
用いられるメモリカード等の半導体装置カードに関する
。
用いられるメモリカード等の半導体装置カードに関する
。
〈従来の技術〉
従来の半導体装置カートの構造を、第3図および第4図
(A)(B)(C)に示す。第3図は完成品の断面図、
第4図(A XB XC)はその組立途中の断面図であ
る。
(A)(B)(C)に示す。第3図は完成品の断面図、
第4図(A XB XC)はその組立途中の断面図であ
る。
これらの図に示すように、従来の半導体装置カドは、半
導体モジュール21と、樹脂製の枠体22と、保護パネ
ル23.23とからなる。
導体モジュール21と、樹脂製の枠体22と、保護パネ
ル23.23とからなる。
半導体モジュール21は、回路基板24上に半導体素子
25やその他の電子部品を搭載したものであり、その回
路基板24には、位置決め固定用の貫通孔26が形成さ
れている。
25やその他の電子部品を搭載したものであり、その回
路基板24には、位置決め固定用の貫通孔26が形成さ
れている。
枠体22は、その−面側に形成した凹部22a内に半導
体モジュール21を収容するもので、凹部22a内周に
は、回路基板24の周縁を受は止める段部22bが形成
され、段部22bには、回路基板24の貫通孔26に挿
入される突起27が突設されている。
体モジュール21を収容するもので、凹部22a内周に
は、回路基板24の周縁を受は止める段部22bが形成
され、段部22bには、回路基板24の貫通孔26に挿
入される突起27が突設されている。
組立に当たっては、まず、第4図(A)に示すように、
枠体22上で半導体素子25を下側にして半導体モジュ
ール21の位置決めをして、この半導体モジュール21
を枠体22の凹部22a内に収容する。収容した状態で
は、第4図(B)に示すように、回路基板24の貫通孔
26に突起27が挿入されて貫通し、突起27の先端部
は回路基板24の背面側に突出する。そして、回路基板
24の背面側で、第4図(C)に示すように、突起27
の先端部を加圧もしくは加熱によりカシメて、カシメ部
27aを形成することで、半導体モジュール21が枠体
22内の一定位置に固定される。
枠体22上で半導体素子25を下側にして半導体モジュ
ール21の位置決めをして、この半導体モジュール21
を枠体22の凹部22a内に収容する。収容した状態で
は、第4図(B)に示すように、回路基板24の貫通孔
26に突起27が挿入されて貫通し、突起27の先端部
は回路基板24の背面側に突出する。そして、回路基板
24の背面側で、第4図(C)に示すように、突起27
の先端部を加圧もしくは加熱によりカシメて、カシメ部
27aを形成することで、半導体モジュール21が枠体
22内の一定位置に固定される。
半導体モジュール21を収容した枠体22の両面には、
半導体モジュール21を外部の静電気から保護するため
に、保護パネル23が取り付けられ、これで、第3図に
示した半導体装置カードが完成する。
半導体モジュール21を外部の静電気から保護するため
に、保護パネル23が取り付けられ、これで、第3図に
示した半導体装置カードが完成する。
〈発明か解決しようとする課題〉
上記のように、従来の半導体装置カードでは、枠体22
に形成された突起27を、回路基板24の貫通孔26に
貫通させて、回″路基板24の背面側で突起27の先端
部をカシメるから、カシメ加工を済ませた状態では、カ
シメ部27aが回路基板24の背面から突出することに
なる。
に形成された突起27を、回路基板24の貫通孔26に
貫通させて、回″路基板24の背面側で突起27の先端
部をカシメるから、カシメ加工を済ませた状態では、カ
シメ部27aが回路基板24の背面から突出することに
なる。
したかって、半導体モジュール21の背面を覆う保護パ
ネル23は、半導体モンユール21との間にカシメ部2
’7.aに相当する隙間を残して枠体22に取り付ける
必要があり、その分、カートの厚みが厚くなる。このこ
とが、カート全体の薄型化を図るうえでの障害となって
いた。
ネル23は、半導体モンユール21との間にカシメ部2
’7.aに相当する隙間を残して枠体22に取り付ける
必要があり、その分、カートの厚みが厚くなる。このこ
とが、カート全体の薄型化を図るうえでの障害となって
いた。
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであって
、半導体モジュールを固定するためのカシメ部か回路基
板から突出することなく、その板厚内に収まるようにし
て、カード全体の薄型化を可能にすることを課題とする
。
、半導体モジュールを固定するためのカシメ部か回路基
板から突出することなく、その板厚内に収まるようにし
て、カード全体の薄型化を可能にすることを課題とする
。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、上記の課題を達成するために、回路基板を有
する半導体モジュールと、この半導体モジュールを収容
する枠体と、枠体の表面を覆う保護パネルとからなり、
半導体モジュールの回路基板には貫通孔が形成され、枠
体には貫通孔と対応する位置に突起が形成され、突起は
貫通孔を貫通した状態でその先端部がカシメ加工されて
いる半導体装置カードであって、貫通孔のカシメ側に広
口部が四人形成され、この広口部内で突起の先端部によ
りカシメ部が形成されている構成とした。
する半導体モジュールと、この半導体モジュールを収容
する枠体と、枠体の表面を覆う保護パネルとからなり、
半導体モジュールの回路基板には貫通孔が形成され、枠
体には貫通孔と対応する位置に突起が形成され、突起は
貫通孔を貫通した状態でその先端部がカシメ加工されて
いる半導体装置カードであって、貫通孔のカシメ側に広
口部が四人形成され、この広口部内で突起の先端部によ
りカシメ部が形成されている構成とした。
〈作用〉
上記の構成において、組立に当たっては、枠体の突起を
、半導体モノニールの回路基板に形成された貫通孔に挿
入貫通させ、貫通した突起の先端部をカシメることで、
半導体モジュールが枠体に固定されるのであるが、貫通
孔のカシメ側には広口部かあって、この広口部内で突起
の先端部がカシメられるから、カシメ部は広口部内に収
まり、回路基板の背面からは突出しない。
、半導体モノニールの回路基板に形成された貫通孔に挿
入貫通させ、貫通した突起の先端部をカシメることで、
半導体モジュールが枠体に固定されるのであるが、貫通
孔のカシメ側には広口部かあって、この広口部内で突起
の先端部がカシメられるから、カシメ部は広口部内に収
まり、回路基板の背面からは突出しない。
したがって、回路基板の背面側を覆うパネルは、回路基
板との間にほとんど隙間のない状態で取り付けることが
可能となり、その分、カード全体の厚みが薄くなる。
板との間にほとんど隙間のない状態で取り付けることが
可能となり、その分、カード全体の厚みが薄くなる。
〈実施例〉
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図および第2図(A )(B XC)は本発明の一
実施例に係り、第1図は半導体装置カードの完成品の断
面図、第2図(A )(B )(C)はその組立途中の
断面図である。
実施例に係り、第1図は半導体装置カードの完成品の断
面図、第2図(A )(B )(C)はその組立途中の
断面図である。
これらの図に示すように、この実施例の半導体装置カー
トが、半導体モジュール1と、樹脂製の枠体2と、保護
パネル3.3とからなり、半導体モジュールlが回路基
板4上に半導体素子5やその他の電子部品を搭載して構
成されている点は、従来の半導体装置カートと同様であ
る。
トが、半導体モジュール1と、樹脂製の枠体2と、保護
パネル3.3とからなり、半導体モジュールlが回路基
板4上に半導体素子5やその他の電子部品を搭載して構
成されている点は、従来の半導体装置カートと同様であ
る。
また、半導体モジュール1の回路基板4には、位置決め
固定用の貫通孔6か形成されており、方、枠体2には、
その凹部2a内周に回路基板4の周縁を受は止める段部
2bがあって、その段部2bには突起7が形成されてお
り、この突起7は回路基板4の貫通孔6に挿入され、突
起7の先端部が、加圧もしくは加熱によりカシメられる
点も、従来例と同様である。
固定用の貫通孔6か形成されており、方、枠体2には、
その凹部2a内周に回路基板4の周縁を受は止める段部
2bがあって、その段部2bには突起7が形成されてお
り、この突起7は回路基板4の貫通孔6に挿入され、突
起7の先端部が、加圧もしくは加熱によりカシメられる
点も、従来例と同様である。
この実施例の半導体装置カードの構造が、従来例と異な
る点は、貫通孔6のカシメ側(半導体素子5がある側と
は反対側で、図面では、回路基板4の上側)に広口部8
が凹入状に形成されており、突起7の先端部がこの広口
部8の内部でカシメられるところにある。
る点は、貫通孔6のカシメ側(半導体素子5がある側と
は反対側で、図面では、回路基板4の上側)に広口部8
が凹入状に形成されており、突起7の先端部がこの広口
部8の内部でカシメられるところにある。
組立に当たっては、まず、半導体モジュール1と、枠体
2とを別個に用意する。半導体モジュールlの回路基板
4には貫通孔6が、また、枠体2には突起7かそれぞれ
形成されているが、さらに、貫通孔6のカシメ側、すな
わち回路基板4の背面側には広口部8か形成されている
。そして、第2図(A)に示すように、枠体2上で半導
体素子5を下側にして半導体モジュールIの位置決めを
して、この半導体モジュール1を枠体2の凹部2a内に
収容する。
2とを別個に用意する。半導体モジュールlの回路基板
4には貫通孔6が、また、枠体2には突起7かそれぞれ
形成されているが、さらに、貫通孔6のカシメ側、すな
わち回路基板4の背面側には広口部8か形成されている
。そして、第2図(A)に示すように、枠体2上で半導
体素子5を下側にして半導体モジュールIの位置決めを
して、この半導体モジュール1を枠体2の凹部2a内に
収容する。
収容した状態では、第2図(B)に示すように、回路基
板4の貫通孔6に突起7が挿入されて貫通し、突起7の
先端部は回路基板4の背面側に突出する。
板4の貫通孔6に突起7が挿入されて貫通し、突起7の
先端部は回路基板4の背面側に突出する。
次に、回路基板4の背面側にある広口部8内で、第2図
(C)に示すように、突起7の先端部を加圧もしくは加
熱によりカシメて、カシメ部7aを形成する。このカシ
メ部7aにより、回路基板4が段部2b上に固定され、
半導体モジュールlの全体が枠体2内に固定される。
(C)に示すように、突起7の先端部を加圧もしくは加
熱によりカシメて、カシメ部7aを形成する。このカシ
メ部7aにより、回路基板4が段部2b上に固定され、
半導体モジュールlの全体が枠体2内に固定される。
この場合、カシメ部7aは広口部8内に収まり、回路基
板4の背面からは突出しない。
板4の背面からは突出しない。
こののち、半導体モジュール1を収容しR枠体2の両面
に、それぞれ保護パネル3.3を取り付けることで、第
1図に示した完成品か得られるのであるか、両保護パネ
ル3.3のうち、回路基板4の背面側を覆う保護パネル
3は、回路基板4からの突出物かないから、回路基板4
との間にほとんと隙間のない状態で取り付けられる。
に、それぞれ保護パネル3.3を取り付けることで、第
1図に示した完成品か得られるのであるか、両保護パネ
ル3.3のうち、回路基板4の背面側を覆う保護パネル
3は、回路基板4からの突出物かないから、回路基板4
との間にほとんと隙間のない状態で取り付けられる。
〈発明の効果〉
以上述へたように、本発明によれば、回路基板の貫通孔
の広口部内で、枠体側の突起の先端部かカシメられるか
ら、突起とその先端のカシメ部とは回路基板の板厚内に
収まり、回路基板の背面から突出しなくなる。したがっ
て、回路基板の背面側を覆うパネルを、回路基板との間
にはとんと隙間のない密接した状態で取り付けることが
でき、保護パネルと回路基板との間の隙間がなくなる分
、カード全体の厚みを薄くすることができる。
の広口部内で、枠体側の突起の先端部かカシメられるか
ら、突起とその先端のカシメ部とは回路基板の板厚内に
収まり、回路基板の背面から突出しなくなる。したがっ
て、回路基板の背面側を覆うパネルを、回路基板との間
にはとんと隙間のない密接した状態で取り付けることが
でき、保護パネルと回路基板との間の隙間がなくなる分
、カード全体の厚みを薄くすることができる。
第1図および第2図(A )(B )(C)は本発明の
一実施例に係り、第1図は完成品の断面図、第2図(A
)(B )(C)はその組立途中の断面図である。 第3図および第4図(A )(B XC)は従来例に係
り、第3図は完成品の断面図、第4図(A )(B )
(C)はその組立途中の断面図である。 1・・半導体モジュール、2・・・枠体、3・・・保護
パネル、4・・回路基板、6・貫通孔、7・−突起、7
a・・・カシメ部、8・・・広口部。 第3図 21
一実施例に係り、第1図は完成品の断面図、第2図(A
)(B )(C)はその組立途中の断面図である。 第3図および第4図(A )(B XC)は従来例に係
り、第3図は完成品の断面図、第4図(A )(B )
(C)はその組立途中の断面図である。 1・・半導体モジュール、2・・・枠体、3・・・保護
パネル、4・・回路基板、6・貫通孔、7・−突起、7
a・・・カシメ部、8・・・広口部。 第3図 21
Claims (1)
- (1)回路基板を有する半導体モジュールと、この半導
体モジュールを収容する枠体と、枠体の表面を覆う保護
パネルとからなり、半導体モジュールの回路基板には貫
通孔が形成され、枠体には貫通孔と対応する位置に突起
が形成され、突起は貫通孔を貫通した状態でその先端部
がカシメ加工されている半導体装置カードであって、 貫通孔のカシメ側に広口部が凹入形成され、この広口部
内で、突起の先端部によりカシメ部が形成されている、 ことを特徴とする半導体装置カード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2191649A JPH0474700A (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 半導体装置カード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2191649A JPH0474700A (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 半導体装置カード |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474700A true JPH0474700A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16278172
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2191649A Pending JPH0474700A (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 半導体装置カード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0474700A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06171275A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-06-21 | Mitsubishi Electric Corp | Icカードおよびその製造方法 |
| JPH0652294U (ja) * | 1992-12-10 | 1994-07-15 | 帝国通信工業株式会社 | リモコン装置 |
| US7483273B2 (en) * | 2005-05-27 | 2009-01-27 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Semiconductor module and semiconductor module heat radiation plate |
-
1990
- 1990-07-17 JP JP2191649A patent/JPH0474700A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06171275A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-06-21 | Mitsubishi Electric Corp | Icカードおよびその製造方法 |
| JPH0652294U (ja) * | 1992-12-10 | 1994-07-15 | 帝国通信工業株式会社 | リモコン装置 |
| US7483273B2 (en) * | 2005-05-27 | 2009-01-27 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Semiconductor module and semiconductor module heat radiation plate |
| TWI382810B (zh) * | 2005-05-27 | 2013-01-11 | 新光電氣工業股份有限公司 | 半導體模組及半導體模組熱輻射板 |
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