JPH0474859B2 - - Google Patents
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- JPH0474859B2 JPH0474859B2 JP57051237A JP5123782A JPH0474859B2 JP H0474859 B2 JPH0474859 B2 JP H0474859B2 JP 57051237 A JP57051237 A JP 57051237A JP 5123782 A JP5123782 A JP 5123782A JP H0474859 B2 JPH0474859 B2 JP H0474859B2
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- electrode
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- bonding
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- B23K20/004—Wire welding
- B23K20/005—Capillary welding
- B23K20/007—Ball bonding
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
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- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
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- H10W72/931—Shapes of bond pads
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- H10W72/90—Bond pads, in general
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- H10W72/952—Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Arc Welding In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はワイヤボンデイング方法に関し、特に
アルミニウム線などの酸化しやすい金属の細線を
熱圧着法でボンデイングできるようにしたワイヤ
ボンデイング方法に関するものである。
アルミニウム線などの酸化しやすい金属の細線を
熱圧着法でボンデイングできるようにしたワイヤ
ボンデイング方法に関するものである。
半導体装置の製造工程のひとつに素子ペレツト
の電極パツドとパツケージ側のリードとをワイヤ
にて接続するワイヤボンデイング工程があり、現
在では金線(Auワイヤ)を用いた熱圧着法と、
アルミニウム線(Alワイヤ)を用いた超音波法
が多く使用されている。Auワイヤの熱圧着法は、
所謂ネイルヘツドボンデイングと称し、Auワイ
ヤの先端を水素トーチや放電アークにて加熱溶融
して金ボールを形成し、この金ボールをボンデイ
ング部位に押圧させながら圧着させるもので、強
固なボンデイングを可能にすると共にボンデイン
グの方向性が存在しないという利点を有するもの
の、ボンデイング部位がペレツト電極パツドのよ
うなアルミニウム材のときにはパープルプレーグ
現象が生じてボンデイング強度が低下したり、金
価格の高騰によつてコスト高になる等の問題があ
る。一方、Alワイヤの超音波法はAlワイヤを超
音波振動によつて固着させるため、低価格にでき
るという利点を有するものの、ボンデイングの方
向性が存在するためにワイヤボンダの構造が複雑
になると共にボンデイングスピードが低いという
問題がある。
の電極パツドとパツケージ側のリードとをワイヤ
にて接続するワイヤボンデイング工程があり、現
在では金線(Auワイヤ)を用いた熱圧着法と、
アルミニウム線(Alワイヤ)を用いた超音波法
が多く使用されている。Auワイヤの熱圧着法は、
所謂ネイルヘツドボンデイングと称し、Auワイ
ヤの先端を水素トーチや放電アークにて加熱溶融
して金ボールを形成し、この金ボールをボンデイ
ング部位に押圧させながら圧着させるもので、強
固なボンデイングを可能にすると共にボンデイン
グの方向性が存在しないという利点を有するもの
の、ボンデイング部位がペレツト電極パツドのよ
うなアルミニウム材のときにはパープルプレーグ
現象が生じてボンデイング強度が低下したり、金
価格の高騰によつてコスト高になる等の問題があ
る。一方、Alワイヤの超音波法はAlワイヤを超
音波振動によつて固着させるため、低価格にでき
るという利点を有するものの、ボンデイングの方
向性が存在するためにワイヤボンダの構造が複雑
になると共にボンデイングスピードが低いという
問題がある。
このため、近年では両ボンデイング法の夫々の
利点を生かし得るように、Alワイヤを用いた熱
圧着法、即ちAlワイヤの先端にボールを形成し
てネイルヘツドボンデイングを行なう方法が考え
られている。しかしながら、従来のAuワイヤを
使用しているワイヤボンダをそのまま用いてAl
ワイヤでネイルヘツドボンデイングを行なつても
Alワイヤの先端に良好なボールを形成すること
はできず、したがつて高信頼性のワイヤボンデイ
ングを行なうことは困難である。
利点を生かし得るように、Alワイヤを用いた熱
圧着法、即ちAlワイヤの先端にボールを形成し
てネイルヘツドボンデイングを行なう方法が考え
られている。しかしながら、従来のAuワイヤを
使用しているワイヤボンダをそのまま用いてAl
ワイヤでネイルヘツドボンデイングを行なつても
Alワイヤの先端に良好なボールを形成すること
はできず、したがつて高信頼性のワイヤボンデイ
ングを行なうことは困難である。
即ち、本発明者が、第1図に示すように、Al
ワイヤ1と放電用の電極2とに夫々高電圧源3の
負電位と正電位を加え、かつAlワイヤ先端をAr
ガス雰囲気に保つた状態で両者間に放電アークを
発生させてAlのボールを形成したところ、形成
されたボールの真球度は悪くかつボール直上のネ
ツク部にくびれが生じた。このため、このような
状態でワイヤボンデイングを行なうと圧着された
ボールの円形状が悪くかつ正しい位置へのボンデ
イングが困難になると共に前述したくびれの部分
から断線され易くなり、結果的にボンデイングの
信頼性が低下することになる。
ワイヤ1と放電用の電極2とに夫々高電圧源3の
負電位と正電位を加え、かつAlワイヤ先端をAr
ガス雰囲気に保つた状態で両者間に放電アークを
発生させてAlのボールを形成したところ、形成
されたボールの真球度は悪くかつボール直上のネ
ツク部にくびれが生じた。このため、このような
状態でワイヤボンデイングを行なうと圧着された
ボールの円形状が悪くかつ正しい位置へのボンデ
イングが困難になると共に前述したくびれの部分
から断線され易くなり、結果的にボンデイングの
信頼性が低下することになる。
このように、Alワイヤのボールの真球度が悪
くかつくびれが生ずる原因としては、Alワイヤ
の表面に形成されているアルミナ(Al2O3)がAl
ワイヤの溶融およびボール形成の障害になるこ
と、また、放電アークがAlワイヤの先端近傍に
広がつてエネルギ分散が生じてしまうこと等が大
きな原因になると考えられている。
くかつくびれが生ずる原因としては、Alワイヤ
の表面に形成されているアルミナ(Al2O3)がAl
ワイヤの溶融およびボール形成の障害になるこ
と、また、放電アークがAlワイヤの先端近傍に
広がつてエネルギ分散が生じてしまうこと等が大
きな原因になると考えられている。
したがつて本発明の目的は前記問題点を解決す
ることである。このような目的を達成する為の本
発明の要旨は酸化しやすいワイヤ先端と、それと
離間して対向する場所に電極を位置させ、前記ワ
イヤを陽極に電極を陰極として、更に前記ワイヤ
先端と電極間を還元性雰囲気に保つことにより、
前記ワイヤ先端と電極間で放電させて前記ワイヤ
先端にボールを形成し、前記ボールを被ボンデイ
ング部に接続することを特徴とするワイヤボンデ
イング方法を提供することにある。
ることである。このような目的を達成する為の本
発明の要旨は酸化しやすいワイヤ先端と、それと
離間して対向する場所に電極を位置させ、前記ワ
イヤを陽極に電極を陰極として、更に前記ワイヤ
先端と電極間を還元性雰囲気に保つことにより、
前記ワイヤ先端と電極間で放電させて前記ワイヤ
先端にボールを形成し、前記ボールを被ボンデイ
ング部に接続することを特徴とするワイヤボンデ
イング方法を提供することにある。
以下、本発明を図示の実施例により説明する。
第2図は本発明のワイヤボンデイング方法に用
いられるワイヤボンダの要部の構成図であり、
XYテーブル10上に搭載したボンデイングヘツ
ド11にはボンデイングアーム12をその基端に
おいて枢支し、キヤピラリ13を固設した先端を
図外のカム機構によつて上下に揺動できるように
している。前記ボンデイングアーム12の上側に
は、例えば電磁ソレノイド14にて作動される一
対のクランパアーム15,16を設置し、これら
アーム15,16の各先端を前記キヤピラリ13
の直上位置に配設してクランパ17を形成してい
る。1はAlワイヤであり、図外のスプールから
引き出され、ガイド18を挿通した後はクランパ
17間を通つてキヤピラリ13に挿通される。な
お、ワイヤとしては、Alワイヤに限定されずSi
入りAlなどの酸化しやすい金属ワイヤであつて
もよいことは勿論である。
いられるワイヤボンダの要部の構成図であり、
XYテーブル10上に搭載したボンデイングヘツ
ド11にはボンデイングアーム12をその基端に
おいて枢支し、キヤピラリ13を固設した先端を
図外のカム機構によつて上下に揺動できるように
している。前記ボンデイングアーム12の上側に
は、例えば電磁ソレノイド14にて作動される一
対のクランパアーム15,16を設置し、これら
アーム15,16の各先端を前記キヤピラリ13
の直上位置に配設してクランパ17を形成してい
る。1はAlワイヤであり、図外のスプールから
引き出され、ガイド18を挿通した後はクランパ
17間を通つてキヤピラリ13に挿通される。な
お、ワイヤとしては、Alワイヤに限定されずSi
入りAlなどの酸化しやすい金属ワイヤであつて
もよいことは勿論である。
一方、19はボンデイングステージであり、被
ボンデイング体としての半導体構体20を載置
し、前記キヤピラリ13の上下動によつてリード
フレーム21と素子ペレツト22との間にAlワ
イヤ1を接続させる。
ボンデイング体としての半導体構体20を載置
し、前記キヤピラリ13の上下動によつてリード
フレーム21と素子ペレツト22との間にAlワ
イヤ1を接続させる。
更に、23は本発明の特徴とする放電電極部で
あり、前記キヤピラリ13の近傍に独立して設け
ている。この放電電極部23は、第3図および第
4図に合わせて示すように、全体を略L字状に形
成した中空の電極24を有し、その上側の端部に
一体的に設けた枢軸25を装置固定部の軸受26
に軸支させることにより、電極24全体を図示矢
印方向に揺動でき、これにより電極24の下側部
24aを前記キヤピラリ13の下方位置、つまり
Alワイヤ1の先端の直下位置とキヤピラリ13
の側方位置(退避位置)との間で移動させること
ができる。この場合、前記枢軸25の一部にクラ
ンク27を形成し、このクランク27と新たに設
けた電磁ソレノイド28とを連結杆29にて連結
することにより、ソレノイド28の往復移動を電
極24の前記した揺動に変化できる。更に、前記
電極24の下側部24a上面には複数個の透孔3
0を形成してその中空内部と連通させると共に、
この下側部24aを包囲するようにして円筒状の
カバー31を取着している。このカバー31は上
側一部に略円周の4分の1の切欠き32を形成
し、電極24が下動したときにAlワイヤ1の先
端がこの切欠き32を通してカバー31内に侵入
位置されるようにしている。一方、前記電極24
の基端には中空内部に連通するチユーブ33を連
設し、このチユーブ33を通して前記電極24内
に後述するガスを供給する。また、この電極24
と前記クランパ17との間には、図示のような電
源回路34を接続し、これによりクランパ17、
即ちこれに導通されるAlワイヤ1を陽極とする
と共に電極24を陰極とし、電極24からAlワ
イヤ1に向かつて放電アークを生成させるように
している。
あり、前記キヤピラリ13の近傍に独立して設け
ている。この放電電極部23は、第3図および第
4図に合わせて示すように、全体を略L字状に形
成した中空の電極24を有し、その上側の端部に
一体的に設けた枢軸25を装置固定部の軸受26
に軸支させることにより、電極24全体を図示矢
印方向に揺動でき、これにより電極24の下側部
24aを前記キヤピラリ13の下方位置、つまり
Alワイヤ1の先端の直下位置とキヤピラリ13
の側方位置(退避位置)との間で移動させること
ができる。この場合、前記枢軸25の一部にクラ
ンク27を形成し、このクランク27と新たに設
けた電磁ソレノイド28とを連結杆29にて連結
することにより、ソレノイド28の往復移動を電
極24の前記した揺動に変化できる。更に、前記
電極24の下側部24a上面には複数個の透孔3
0を形成してその中空内部と連通させると共に、
この下側部24aを包囲するようにして円筒状の
カバー31を取着している。このカバー31は上
側一部に略円周の4分の1の切欠き32を形成
し、電極24が下動したときにAlワイヤ1の先
端がこの切欠き32を通してカバー31内に侵入
位置されるようにしている。一方、前記電極24
の基端には中空内部に連通するチユーブ33を連
設し、このチユーブ33を通して前記電極24内
に後述するガスを供給する。また、この電極24
と前記クランパ17との間には、図示のような電
源回路34を接続し、これによりクランパ17、
即ちこれに導通されるAlワイヤ1を陽極とする
と共に電極24を陰極とし、電極24からAlワ
イヤ1に向かつて放電アークを生成させるように
している。
そして、本実施例においては前記したガスとし
て還元作用のあるガス、例えばH2、CO、N2O、
CH4等のガスを使用し、これらのガスを電極24
の下側部24aの透孔30からカバー31内に噴
出させ、カバー内つまり電極24とAlワイヤ1
との間を還元性ガス雰囲気に保つようにしている
のである。
て還元作用のあるガス、例えばH2、CO、N2O、
CH4等のガスを使用し、これらのガスを電極24
の下側部24aの透孔30からカバー31内に噴
出させ、カバー内つまり電極24とAlワイヤ1
との間を還元性ガス雰囲気に保つようにしている
のである。
以上の構成によれば、最初に電磁ソレノイド2
8の伸長作用によつてクランク27および枢軸2
5を揺動すれば、電極下側部24aは下方へ揺動
してAlワイヤ1の直下位置に揺動位置され、Al
ワイヤ1の先端をカバー31内に侵入させる。そ
して、電極24の中空内部を通して透孔30から
噴出された還元性ガスにより、カバー31内、つ
まりAlワイヤ1と電極24との間を還元性ガス
雰囲気に保持した上で電源回路34をオン作動す
れば、Alワイヤ1と電極24との間で放電アー
クが発生し、このアークのエネルギによつてAl
ワイヤ1先端が溶融してボールが形成されること
になる。このとき、本例ではAlワイヤ1は還元
性ガス雰囲気でボール形成が行なわれるため、
Alワイヤ表面のアルミナが還元されてアルミニ
ウムとなりこの状態で溶融されるので、Alワイ
ヤ先端は内部および表面の全体が均一に溶融され
ることになり、したがつて均一な表面張力が発生
して真球度の高いボールが形成されることになる
のである。
8の伸長作用によつてクランク27および枢軸2
5を揺動すれば、電極下側部24aは下方へ揺動
してAlワイヤ1の直下位置に揺動位置され、Al
ワイヤ1の先端をカバー31内に侵入させる。そ
して、電極24の中空内部を通して透孔30から
噴出された還元性ガスにより、カバー31内、つ
まりAlワイヤ1と電極24との間を還元性ガス
雰囲気に保持した上で電源回路34をオン作動す
れば、Alワイヤ1と電極24との間で放電アー
クが発生し、このアークのエネルギによつてAl
ワイヤ1先端が溶融してボールが形成されること
になる。このとき、本例ではAlワイヤ1は還元
性ガス雰囲気でボール形成が行なわれるため、
Alワイヤ表面のアルミナが還元されてアルミニ
ウムとなりこの状態で溶融されるので、Alワイ
ヤ先端は内部および表面の全体が均一に溶融され
ることになり、したがつて均一な表面張力が発生
して真球度の高いボールが形成されることになる
のである。
また、このとき生成される放電アークは、Al
ワイヤと電極の極性に基づき、電極24からAl
ワイヤ1に向かつて生ずるので、所謂クリーニン
グ作用(アークがAlワイヤ表面の新しい酸化膜
を求めて走り回る現象、Alワイヤ先端からその
近傍の広い範囲にわたつてアークが生じる作用)
が生じることはなく、これによりAlワイヤのボ
ール形成箇所以外に熱の影響をおよぼすことはな
い。したがつて、ボール直上部にくびれを生成さ
せることもない。
ワイヤと電極の極性に基づき、電極24からAl
ワイヤ1に向かつて生ずるので、所謂クリーニン
グ作用(アークがAlワイヤ表面の新しい酸化膜
を求めて走り回る現象、Alワイヤ先端からその
近傍の広い範囲にわたつてアークが生じる作用)
が生じることはなく、これによりAlワイヤのボ
ール形成箇所以外に熱の影響をおよぼすことはな
い。したがつて、ボール直上部にくびれを生成さ
せることもない。
ボールの形成後は、電磁ソレノイド28の短縮
によつて枢軸25および電極24は上方へ向かつ
て揺動され、電極下側部24aはAlワイヤ1の
直下位置から退避される。したがつて、ボンデイ
ングアーム12の揺動に伴なつてキヤピラリ13
を下動させれば、Alワイヤ1を半導体構体20
のペレツト22上に熱圧着させることができるの
であり、形成したボールの真球度の向上によつて
信頼性の高いワイヤボンデイングを行なうことが
できるのである。
によつて枢軸25および電極24は上方へ向かつ
て揺動され、電極下側部24aはAlワイヤ1の
直下位置から退避される。したがつて、ボンデイ
ングアーム12の揺動に伴なつてキヤピラリ13
を下動させれば、Alワイヤ1を半導体構体20
のペレツト22上に熱圧着させることができるの
であり、形成したボールの真球度の向上によつて
信頼性の高いワイヤボンデイングを行なうことが
できるのである。
次に本発明のワイヤボンデイング方法の他の実
施例を説明する。他の例は電極24内に供給する
ガスとして、前例の還元性ガスに加えてサーマル
ピンチ作用のあるガスを添加したガスを使用する
点に特徴を有する。この種のガスとしてはH2、
He、CH4、N2等があり、このガスがAlワイヤ1
と電極24との間の雰囲気中に存在すれば、放電
アークがAlワイヤ1の先端部に集中するという
所謂サーマルピンチ作用が得られ、これにより放
電エネルギがAlワイヤ先端に集中してボール形
成に有効に利用され、真球度の向上と共に省エネ
ルギの点でも有効である。なお、このサーマルピ
ンチ作用はAlワイヤと電極の極性に拘らず発生
するので、電源回路34が図示のものに限定され
ることはない。また、ガスにH2、CH4、COを使
用すれば、H2、CH4、COは両方の作用を有して
いるので単独で両方の効果を得ることができる。
施例を説明する。他の例は電極24内に供給する
ガスとして、前例の還元性ガスに加えてサーマル
ピンチ作用のあるガスを添加したガスを使用する
点に特徴を有する。この種のガスとしてはH2、
He、CH4、N2等があり、このガスがAlワイヤ1
と電極24との間の雰囲気中に存在すれば、放電
アークがAlワイヤ1の先端部に集中するという
所謂サーマルピンチ作用が得られ、これにより放
電エネルギがAlワイヤ先端に集中してボール形
成に有効に利用され、真球度の向上と共に省エネ
ルギの点でも有効である。なお、このサーマルピ
ンチ作用はAlワイヤと電極の極性に拘らず発生
するので、電源回路34が図示のものに限定され
ることはない。また、ガスにH2、CH4、COを使
用すれば、H2、CH4、COは両方の作用を有して
いるので単独で両方の効果を得ることができる。
以上のようにして形成された半導体装置の一例
を第5図に示す。この半導体装置40はリードフ
レーム21上にペレツト22をAu−Si共晶41
等にて固着した上で、Alワイヤ1にてペレツト
22のパツド42とリードフレーム21のインナ
リード43をワイヤ接続し、レジン44にてモー
ルド封止している。Alワイヤ1は前述のように
ボール形成した上で熱圧着により接続を行なう。
また、Alワイヤ1とインナリード43との接続
を良好なものにするためにインナリード43の表
面にAgまたはAuのめつき層45を形成してい
る。
を第5図に示す。この半導体装置40はリードフ
レーム21上にペレツト22をAu−Si共晶41
等にて固着した上で、Alワイヤ1にてペレツト
22のパツド42とリードフレーム21のインナ
リード43をワイヤ接続し、レジン44にてモー
ルド封止している。Alワイヤ1は前述のように
ボール形成した上で熱圧着により接続を行なう。
また、Alワイヤ1とインナリード43との接続
を良好なものにするためにインナリード43の表
面にAgまたはAuのめつき層45を形成してい
る。
このような半導体装置では、Agワイヤに代え
てAlワイヤを使用するので低価格に製作できる。
また、熱圧着法を用いているのでボンデイングの
方向性がなく、ワイヤボンダの構成(特にボンデ
イングステージやボンデイングヘツドの構成)を
簡単化することができ、かつボンデイングスピー
ドが向上できる。また、ボールの真球度が向上し
たことにより、ボンデイングの信頼性を向上する
こともできる。
てAlワイヤを使用するので低価格に製作できる。
また、熱圧着法を用いているのでボンデイングの
方向性がなく、ワイヤボンダの構成(特にボンデ
イングステージやボンデイングヘツドの構成)を
簡単化することができ、かつボンデイングスピー
ドが向上できる。また、ボールの真球度が向上し
たことにより、ボンデイングの信頼性を向上する
こともできる。
ここで、電極部23の構成としては、第6図な
いし第8図に示すような構成としてもよい。第6
図のものは、電極24の下側部24aに取着する
カバー31Aの一端を開放する一方、カバー31
Aの一部にガス供給口35を形成し、この供給口
35を通してカバー31A内にガスを満たそうと
するものであり、Alワイヤ1の先端にガスを吹
きかける方式である。第7図のものは、カバー3
1Bの両端を閉塞する点では第3図のものと同時
であるが、ガス供給口36をカバー31Bに直接
設けてガスを切欠部32へ向けて直接的に直流さ
せ、Alワイヤ1の近傍でガスを噴き上げるよう
にした方式である。第8図のものは、前述の各例
のものとは全く異なりキヤピラリ13のの外周に
カバー37を一体に取着し、キヤピラリ13とカ
バー37との間にガスを供給することにより、ガ
スをカバー37の下端開口38からAlワイヤ1
の先端に吹き下げるようにした方式である。
いし第8図に示すような構成としてもよい。第6
図のものは、電極24の下側部24aに取着する
カバー31Aの一端を開放する一方、カバー31
Aの一部にガス供給口35を形成し、この供給口
35を通してカバー31A内にガスを満たそうと
するものであり、Alワイヤ1の先端にガスを吹
きかける方式である。第7図のものは、カバー3
1Bの両端を閉塞する点では第3図のものと同時
であるが、ガス供給口36をカバー31Bに直接
設けてガスを切欠部32へ向けて直接的に直流さ
せ、Alワイヤ1の近傍でガスを噴き上げるよう
にした方式である。第8図のものは、前述の各例
のものとは全く異なりキヤピラリ13のの外周に
カバー37を一体に取着し、キヤピラリ13とカ
バー37との間にガスを供給することにより、ガ
スをカバー37の下端開口38からAlワイヤ1
の先端に吹き下げるようにした方式である。
これらの各例においても、Alワイヤの先端を
所定のガス雰囲気に保持する点では全て共通して
おり、このガスに還元性ガスを使用すること、ま
たは還元性ガスとサーマルピンチ作用のあるガス
との混合ガスを使用することは必要に応じて選択
できる。
所定のガス雰囲気に保持する点では全て共通して
おり、このガスに還元性ガスを使用すること、ま
たは還元性ガスとサーマルピンチ作用のあるガス
との混合ガスを使用することは必要に応じて選択
できる。
なお、本発明においては、放電用電源の電圧、
電流、時間等の電気的要因やAlワイヤと電極と
の距離等の機械的要因、更にはガス濃度等の化学
的要因等によつてボールの真球度やその寸法等に
若干の影響を受けることがあり、これらの要因は
要求されるボールの寸法等に合わせて適宜設定す
ることが肝要である。因みに、H2濃度変化によ
るボール径/ワイヤ径の特性変化を第9図に示
す。この特性はN2ガス中に含まれるH2濃度で示
しており、H2濃度が高い程ボールが真球に近づ
くことがわかる。したがつて、H2消費量をコス
ト等を比較した上で満足できるボールの得られる
H2濃度に設定すればよい。
電流、時間等の電気的要因やAlワイヤと電極と
の距離等の機械的要因、更にはガス濃度等の化学
的要因等によつてボールの真球度やその寸法等に
若干の影響を受けることがあり、これらの要因は
要求されるボールの寸法等に合わせて適宜設定す
ることが肝要である。因みに、H2濃度変化によ
るボール径/ワイヤ径の特性変化を第9図に示
す。この特性はN2ガス中に含まれるH2濃度で示
しており、H2濃度が高い程ボールが真球に近づ
くことがわかる。したがつて、H2消費量をコス
ト等を比較した上で満足できるボールの得られる
H2濃度に設定すればよい。
以上のように本発明のワイヤボンデイング方法
によれば、ワイヤと電極との間、更に言えばワイ
ヤ先端の雰囲気を還元性雰囲気に保つて両者間に
放電アークを生成せしめるよう構成し、更にサー
マルピンチ作用が生ずるようなガス雰囲気に保つ
ように構成しているので、Alなどの酸化容易な
金属製ワイヤ先端に形成するボールの真球度を向
上すると共にワイヤのくびれを防止し、更にワイ
ヤと電極との極性を考慮することにより前述した
真球度やくびれを更に向上し、Alなどの酸化容
易な金属製ワイヤを使用したワイヤボンデイング
の信頼性を一層向上することができるという効果
を奏する。
によれば、ワイヤと電極との間、更に言えばワイ
ヤ先端の雰囲気を還元性雰囲気に保つて両者間に
放電アークを生成せしめるよう構成し、更にサー
マルピンチ作用が生ずるようなガス雰囲気に保つ
ように構成しているので、Alなどの酸化容易な
金属製ワイヤ先端に形成するボールの真球度を向
上すると共にワイヤのくびれを防止し、更にワイ
ヤと電極との極性を考慮することにより前述した
真球度やくびれを更に向上し、Alなどの酸化容
易な金属製ワイヤを使用したワイヤボンデイング
の信頼性を一層向上することができるという効果
を奏する。
第1図は従来装置の一部の概略構成図、第2図
は本発明のワイヤボンデイング方法に用いられる
ワイヤボンダの一部の正面図、第3図はその要部
の拡大斜視図、第4図は第3図のA−A線断面
図、第5図はワイヤボンデイング方法によつて作
られた半導体装置の断面図、第6図ないし第8図
は夫々異なる変形例を示す斜視図および正面断面
図、第9図はH2濃度とボール形状の関係を示す
特性図である。 1…Alワイヤ、10…XYテーブル、11…ボ
ンデイングヘツド、12…ボンデイングアーム、
13…キヤピラリ、17…クランパ、19…ボン
デイングステージ、20…半導体構体、21…リ
ードフレーム、22…ペレツト、23…放電電極
部、24…電極、24a…下側部、30…透孔、
31,31A,31B…カバー、32…切欠き、
34…電源、35,36…供給口、37…カバ
ー、40…半導体装置、42…パツド、43…イ
ンナリード、44…レジン。
は本発明のワイヤボンデイング方法に用いられる
ワイヤボンダの一部の正面図、第3図はその要部
の拡大斜視図、第4図は第3図のA−A線断面
図、第5図はワイヤボンデイング方法によつて作
られた半導体装置の断面図、第6図ないし第8図
は夫々異なる変形例を示す斜視図および正面断面
図、第9図はH2濃度とボール形状の関係を示す
特性図である。 1…Alワイヤ、10…XYテーブル、11…ボ
ンデイングヘツド、12…ボンデイングアーム、
13…キヤピラリ、17…クランパ、19…ボン
デイングステージ、20…半導体構体、21…リ
ードフレーム、22…ペレツト、23…放電電極
部、24…電極、24a…下側部、30…透孔、
31,31A,31B…カバー、32…切欠き、
34…電源、35,36…供給口、37…カバ
ー、40…半導体装置、42…パツド、43…イ
ンナリード、44…レジン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 酸化しやすいワイヤ先端と、それと離間して
対向する場所に電極を位置させ、前記ワイヤを陽
極に電極を陰極として、更に前記ワイヤ先端と電
極間を還元性でかつサーマルピンチ作用を有する
ガスの雰囲気に保つことにより、前記ワイヤ先端
と電極間で放電させて前記ワイヤ先端にボールを
形成し、前記ボールを被ボンデイング部に接続す
ることを特徴とするワイヤボンデイング方法。 2 前記還元性でかつサーマルピンチ作用を有す
るガスとして、すくなくともH2,CO,CH4のい
づれかひとつのガスを用いることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のワイヤボンデイング方
法。 3 前記ワイヤ先端の延在方向に対して、前記還
元性でかつサーマルピンチ作用を有するガスをワ
イヤ先端に吹き付けることを特徴とする特許請求
の範囲第1項又は第2項記載のワイヤボンデイン
グ方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57051237A JPS58169918A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | ワイヤボンダ |
| KR1019830001087A KR920005630B1 (ko) | 1982-03-31 | 1983-03-17 | 와이어본더를 사용한 수지봉지 반도체장치의 제조방법 |
| US06/476,268 US4564734A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-17 | Wire bonder |
| GB8308622A GB2117299B (en) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | Improvements in wire bonders |
| FR8305253A FR2524704B1 (fr) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Appareil pour la fixation de fils par soudage, notamment pour composants a semi-conducteurs |
| IT2038283A IT1161808B (it) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Saldafili per saldare fili sottili di metallo facilmente ossidabile con voncolo per termocompressori |
| GB08412000A GB2137914A (en) | 1982-03-31 | 1984-05-10 | Wire bonders |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57051237A JPS58169918A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | ワイヤボンダ |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1078242A Division JPH01280330A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58169918A JPS58169918A (ja) | 1983-10-06 |
| JPH0474859B2 true JPH0474859B2 (ja) | 1992-11-27 |
Family
ID=12881333
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57051237A Granted JPS58169918A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | ワイヤボンダ |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4564734A (ja) |
| JP (1) | JPS58169918A (ja) |
| KR (1) | KR920005630B1 (ja) |
| FR (1) | FR2524704B1 (ja) |
| GB (2) | GB2117299B (ja) |
| IT (1) | IT1161808B (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4476365A (en) * | 1982-10-08 | 1984-10-09 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Cover gas control of bonding ball formation |
| US4549059A (en) * | 1982-11-24 | 1985-10-22 | Nec Corporation | Wire bonder with controlled atmosphere |
| US4732313A (en) * | 1984-07-27 | 1988-03-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus and method for manufacturing semiconductor device |
| GB2165178A (en) * | 1984-10-05 | 1986-04-09 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for wire bonding |
| US4705204A (en) * | 1985-03-01 | 1987-11-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of ball forming for wire bonding |
| FR2586599B1 (fr) * | 1985-09-03 | 1990-01-12 | Thomson Csf | Dispositif de soudage par thermocompression |
| US4976393A (en) * | 1986-12-26 | 1990-12-11 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and production process thereof, as well as wire bonding device used therefor |
| US5285949A (en) * | 1987-01-26 | 1994-02-15 | Hitachi, Ltd. | Wire-bonding method, wire-bonding apparatus, and semiconductor device produced by the wire-bonding method |
| DE3851901T2 (de) * | 1987-01-26 | 1995-04-13 | Hitachi Ltd | Anschweissen eines Drahtes. |
| US5031821A (en) * | 1988-08-19 | 1991-07-16 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device, method for producing or assembling same, and producing or assembling apparatus for use in the method |
| JPH0737889A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-02-07 | Nec Corp | 半導体製造装置 |
| JP3455626B2 (ja) * | 1996-03-13 | 2003-10-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法および製造装置 |
| DE19618320A1 (de) * | 1996-04-30 | 1997-11-13 | F&K Delvotec Bondtechnik Gmbh | Vorrichtung zum "Ball"-Bonden |
| JP3407275B2 (ja) | 1998-10-28 | 2003-05-19 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | バンプ及びその形成方法 |
| US6337453B1 (en) * | 1999-06-25 | 2002-01-08 | West Bond, Inc. | Method and apparatus for arc-forming a bonding wire ball with attenuated electro-magnetic interference |
| US6234376B1 (en) * | 1999-07-13 | 2001-05-22 | Kulicke & Soffa Investments, Inc. | Supplying a cover gas for wire ball bonding |
| US6450713B2 (en) * | 1999-09-10 | 2002-09-17 | Hewlett-Packard Company | Print media ejection system |
| TWI222388B (en) * | 2002-07-19 | 2004-10-21 | Esec Trading Sa | Device with an electrode for the formation of a ball at the end of a wire |
| JP4749177B2 (ja) * | 2006-02-15 | 2011-08-17 | パナソニック株式会社 | 接続構造体および接続構造体の製造方法 |
| US7628307B2 (en) * | 2006-10-30 | 2009-12-08 | Asm Technology Singapore Pte Ltd. | Apparatus for delivering shielding gas during wire bonding |
| US8357998B2 (en) * | 2009-02-09 | 2013-01-22 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Wirebonded semiconductor package |
| US8096461B2 (en) * | 2009-09-03 | 2012-01-17 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Wire-bonding machine with cover-gas supply device |
| JP5916814B2 (ja) * | 2014-08-06 | 2016-05-11 | 株式会社カイジョー | ボンディング方法及びボンディング装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL259859A (ja) * | 1960-01-14 | 1900-01-01 | ||
| GB1536872A (en) * | 1975-05-15 | 1978-12-20 | Welding Inst | Electrical inter-connection method and apparatus |
| GB1600021A (en) * | 1977-07-26 | 1981-10-14 | Welding Inst | Electrical inter-connection method and apparatus |
| JPS55123198A (en) * | 1979-03-16 | 1980-09-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of forming ball of aluminum wire end |
| DE2923440A1 (de) * | 1979-06-09 | 1980-12-11 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Verfahren zum befestigen und/oder elektrischen verbinden von halbleiterkoerpern und/oder von deren elektrisch leitenden metallteilen |
| JPS5623750A (en) * | 1979-08-01 | 1981-03-06 | Hitachi Ltd | Ultrasonic wire bonding apparatus |
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-
1983
- 1983-03-17 US US06/476,268 patent/US4564734A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-03-17 KR KR1019830001087A patent/KR920005630B1/ko not_active Expired
- 1983-03-29 GB GB8308622A patent/GB2117299B/en not_active Expired
- 1983-03-30 IT IT2038283A patent/IT1161808B/it active
- 1983-03-30 FR FR8305253A patent/FR2524704B1/fr not_active Expired
-
1984
- 1984-05-10 GB GB08412000A patent/GB2137914A/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2524704B1 (fr) | 1987-03-06 |
| GB2137914A (en) | 1984-10-17 |
| KR920005630B1 (ko) | 1992-07-10 |
| GB8308622D0 (en) | 1983-05-05 |
| JPS58169918A (ja) | 1983-10-06 |
| IT8320382A0 (it) | 1983-03-30 |
| FR2524704A1 (fr) | 1983-10-07 |
| GB2117299A (en) | 1983-10-12 |
| GB2117299B (en) | 1986-05-21 |
| US4564734A (en) | 1986-01-14 |
| IT1161808B (it) | 1987-03-18 |
| KR840004306A (ko) | 1984-10-10 |
| GB8412000D0 (en) | 1984-06-13 |
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