JPH0498684A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPH0498684A
JPH0498684A JP2215561A JP21556190A JPH0498684A JP H0498684 A JPH0498684 A JP H0498684A JP 2215561 A JP2215561 A JP 2215561A JP 21556190 A JP21556190 A JP 21556190A JP H0498684 A JPH0498684 A JP H0498684A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
digit
lines
circuit
signal
predetermined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2215561A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3057728B2 (ja
Inventor
Hiroaki Tsutsui
宏彰 筒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2215561A priority Critical patent/JP3057728B2/ja
Publication of JPH0498684A publication Critical patent/JPH0498684A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3057728B2 publication Critical patent/JP3057728B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体記憶装置に関し、特に、アドレス信号に
より、ワード線およびデジット線を選゛択して、所望の
メモリーセルにアクセスする半導体記憶装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体記憶装置は、第3図に示されるように、X
アドレスの入力回路/デコーダ回路1、およびこのデコ
ーダ回路により選択されるワード線W1〜W2.(nは
、正整数)と、Yアドレスの入力回路/′デコーダ回路
2、およびこのデコーダ回路により選択されるデジット
線D4〜D2mと、前記ワード線ならびにデジット線に
対応して配置される4 n 2個のメモリ・セル3と、
これらのメモリ・セル3に保持されているデータ信号を
デジット線を通して検知し、外部に出力する出力回路4
と、外部からの入力データをメモリ・セルに書込む書込
み回路5と、2n個のデジット線選択スイッチ8と、を
備えて構成されている。
第3図において、Xアドレス信号Xl、X2.−・・。
Xfiは、Xアドレス入力回路/デコーダ回路1に入力
されてデコーダ回路においてデコードされ、このデコー
ダ回路による選択作用を介して、20個のワード!IW
1.W2.W3.・−・、W2゜の内の1本が選択され
て活性化される。また、Yアドレス信号Y1.Yl、・
・・、 Yl、も、同様にYアドレス入力回路/デコー
ダ回路2に入力されてデコーダ回路においてデコードさ
れ、このデコーダ回路による選択作用を介して、20個
のデジット線D 1.D 2.・・・D21の内の1本
が選択されて活性化される。
上述のようにして選択されたワード線およびデジット線
の交点に位置するメモリーセルが最終的に選択され、当
該メモリ・セルに保持されているデータ信号は、対応す
るデジット線およびデジット線選択スイッチ8を経由し
て出力回路4に入力され、出力回路4において増幅され
た後、外部に出力される<0>。
また、書込みを行う際には、書込み回路5に入力される
書込み信号(W>により制御されて、前述の読出しの場
合と同様に、XおよびYのアドレス信号により選択され
たメモリーセルに対して、入力データ信号(I)が書込
み回路5を経由して伝達され、当該入力データ信号の書
込みか行われる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体記憶装置においては、希望する成
る特定のメモリ・セルを選択するためには、対応するX
およびYのアドレス信号を外部より与える必要があり、
しかも、これらのアドレス信号が、何段ものデコーダ回
路を経由した上で、始めてワード線およびデジット線の
選択作用が実行される。
従って、上記のデコーダ回路における時間遅れ分含めて
、異なるメモリ・セルを選択する際における、アドレス
信号のスイッチから、出力信号のスイッチに至るまでの
アドレス・アクセス時間が大きいという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体記憶装置は、所定のアドレス信号アクセ
ス・モード時において、外部から人力されるアドレス信
号をデコードして、所定の複数のワード線および複数の
デジット線の内より、前記アドレス信号に対応するワー
ド線およびデジット線をそれぞれ選択する第1の選択1
11w回路と、所定のシリアル・アクセス・モード時に
おいて、所定の複数のワード線および複数のデジット線
の内より、前記アドレス信号に対応して、所定のクロッ
ク信号を介して時間的に順次ワード線およびデジット線
をそれぞれ選択してゆく第2の選択制御回路と、前記ア
ドレス信号アクセス・モードと、前記シリアル・アクセ
ス・モードとを切替えるモード切替回路と、を備えて構
成される。
また、本発明の半導体記憶装置は、所定のシリアル・ア
クセス・モード時において、前記第2の選択制御回路が
、所定の複数のワード線または複数のデジット線の何れ
か一方の複数線の内より、前記アドレス信号に対応して
、所定のクロック信号を介して時間的に順次ワード線ま
たはデジット線の何れか一方を選択してゆくように構成
してもよい。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は、本発明の第1の実施例を示すブロック図である。第
1図に示されるように、本実施例は、Xアドレスの入力
回路/′デコーダ回路1、およびこのデコーダ回路によ
り選択されるワード線W□、W2.W3.・・−1W2
゜と、Yアドレスの入力回路/デコーダ回路2、および
このデコーダ回路により選択されるデジット線り工、D
2.D3.−・・、D2゜と、前記ワード線ならびにデ
ジット線に対応して配置される4a2個のメモリ・セル
3と、これらのメモリ・セル3に保持されているデータ
信号をデジット線を通して検知し、外部に出力する出力
回路4と、外部からの入力データをメモリ・セルに書込
む作用をする書込み回路5と、それぞれワード線W1.
W2.W3.・・・、W2.およびデジ・・lト線D1
゜D2.D3.・・−9D2.に対応するフリップフロ
ップならびにアクセス切替スイッチ7と、デジット線D
l、D2.D3..−.、 D2.に対応する2a個の
デジット線選択スイッチ8と、内部クロック発生回路9
と、Yクロック発生回路10と、を備えて構成される。
第1図において、モード切替信号Sの導入により、アド
レス信号アクセス・モードが設定される場合は、それぞ
れワード線W、、W2.W3.:・・、W2゜およびデ
ジット線D 、、D 2.D 5.・・・、D2.に対
応して設けられているアクセス切替スイッチ7は、それ
ぞれXアドレス入力回路/デコーダ回路1、およびYア
ドレス入力回路/デコーダ回路2からの選択出力が受入
れられる状態に切替えられる。
従って、Xアドレス信号Xl、X2.・−・、X、、は
、Xアドレス入力回路/デコーダ回路1においてデコー
ドされ、デコーダ回路の選択作用を介して、2a個のワ
ード線w1.w2.w3.−.w2.の内の1本が選択
されて活性化される。同様に、Yアドレス信号Y工、¥
2.・−・、Y、は、Yアドレス入力回路/デコーダ回
路2においてデコードされ、デコーダ回路の選択作用を
介して、2a個のデジット線D1.D2.D3.・・・
、D2.の内の1本が選択されて活性化される。即ち、
モード切替信号Sによるアドレス信号アクセス・モード
時においては、前述の従来例の場合と同様に、メモリ・
セル3に対するXアドレス信号およびYアドレス信号の
アクセスが行われる。
次に、モード切替信号Sがシリアル・アクセス−モード
に設定された場合には、アクセス切替スイッチ7は、そ
れぞれ対応するフリップ70ツブ6からの出力信号が、
ワード線Wl、W2.W、、・・・。
W2゜およびデジット線D l、D 2.D 3.”’
 、D 2aに受入れられる状態に切替えられる。この
場合、最初に選択されたワード線をW、とすると、その
次のアドレスに相当するワード線WI+1に対応するフ
リップフロップ6に対してのみ「選択」のデータが取込
まれ、その他のワード線の7リツプ70ツブ6には「非
選択」のデータが取込まれている。
この状態において、内部クロック発生回路9から出力さ
れるクロック信号CXが、各ワード線のそれぞれに対応
するフリップフロップ6に入力されると、これらの各ブ
リップフロップ6からは、対応する各ワード線に対して
データが送出されるが、前記「選択」のデータが取込ま
れたフリップフロップ6に対応するワード線W 1 +
 1のみが選択され、他のワード線W+は全て非選択と
なる。そして、更に、クロック発生回路9から出力され
るクロック信号が各フリップフロップ6に入力される度
に、選択されるワード線は時間的に順次推移してゆく。
かくして、最終のワード線W2fiが選択されている状
態において、次のクロック信号Cxが入力されると、最
初のワード線W1が選択されるとともに、Yクロック発
生回路IOからは、クロック信号Cyが出力されて、そ
れぞれデジット線D 1.D 2゜D3.・・・、D2
.に対応するフリップフロップ6に入力される。このク
ロック信号CYを介して行われるデジット線D 1.D
 2.D 、、・・・、Dハの選択、ならびにデータの
デジット線に対する取込み作用等については、前述のワ
ード@Wl、W2.W、、・・・、W2゜における場合
と同様で、このような選択作用を介して、ワード線なら
びにデジット線の双方に対応するメモリ・セル3が順次
選択されてゆくことになる。
ここで、ワード線或はデジット線が切替えられる時間は
、クロック信号の同期により決定されるが、この切替所
要時間としては、高々フリップフロップ6とアクセス切
替スイッチ7との信号伝播遅延時間よりも大きい値であ
れば十分である。従って、入力回路と何段にも亘るデコ
ーダ回路を経由してアクセスする前述のアドレス信号ア
クセス・モード時の場合に比較して、非常に小さいアク
セス・サイクル時間で済むという効果が得られる。
上述のようにして選択されたワード線およびデジット線
の交点に位置するメモリ・セルが最終的に選択され、当
該メモリ・セルに保持されているデータ信号は、対応す
るデジット線およびデジット線選択スイッチ8を経由し
て出力回路4に入力され、出力回路4において増幅され
た後 外部に出力される(0)。
また、書込みを行う際には、書込み回路5に入力される
書込み信号(W)により制御されて、前述の読出しの場
合と同様に、XおよびYのアドレス信号により選択され
たメモリ・セルに対して、入力データ信号(1)が書込
み回路5を経由して伝達され、当該入力データ信号の書
込みが行われる。
次に、本発明の第2の実施例について説明する。第2図
は、本発明の第2の実施例を示すブロック図である。第
2図に示されるように、本実施例は、Xアドレスの入力
回路/デコーダ回路1、およびこのデコーダ回路により
選択されるワード線W 、、W2.W、、、・・、W2
.と、Yアドレスの入力回路7/デコ一ダ回路2、およ
びこのデコーダ回路により選択されるデジット1iDt
、Dz、D3.・・・、Dz。
と、前記ワード線ならびにデジット線に対応して配置さ
れる4n2個のメモリ・セル3と、これらのメモリ・セ
ル3に保持されているデータ信号をデジット線を通して
検知し、外部に出力する出力回路4と、外部からの入力
データをメモリ・セルに書込む作用を行う書込み回路5
と、それぞれワード線W1.W2.W3.・・・、W2
゜に対応するフリップフロップ6ならびにアクセス切替
スイッチ7と、デジット線DI+D21D3.’−’、
 D2!lに対応する2n個のデジット線選択スイッチ
8と、内部クロック発生回路9と、を備えて構成される
本実施例が、前記第1の実施例と異なる点は、デジット
線り工、D2.D5.・・・、Dz、に対応するフリッ
プフロップ6ならびにアクセス切替スイッチ7が共に設
けられておらず、ワード線W、、W2.W3゜・・−9
W21に対してのみ、対応するフリップフロ・ツブ6な
らびにアクセス切替スイッチ7が設けられており、従っ
て、ワードII W t 、 W 2 、 W s 、
・・・、W2゜に対してのみ、シリアル・アクセス−モ
ードへの切替えが行うことができるように構成されてい
ることである。これは、シリアル−アクセスする情報量
が、ワード線の本数よりも少ない場合における一実施例
であり、このような場合番こは、本実施例の構成にて十
分である。
第2図において、モード切替信号Sの導入により、アド
レス信号アクセス・モードが設定される場合の動作につ
いては、前述の第1の実施例の場合と同様であり、また
、モード切替信号Sを介して、シリアル・アクセス・モ
ードに切替えられた場合の動作については、アクセス切
替スイッチ7およびフリップフロップ6および内部クロ
ック発生回路9から出力されるクロック信号Cx等を介
して行われるワード線W1.W2.W3.・−・、W2
.の選択、ならびにデータのワード線に対する取込み作
用等については、前述の第1の実施例の場合と同様であ
り、また、デジット線選択スイッチ8を介して行われる
デジット線w1.w2.w3....、 w2゜の選択
、ならびに出力回路4おおび入力回路5等の作用につい
ても、第1の実施例および従来例の場合と同様である。
〔発明の効果〕
以上、詳細に説明したように、本発明は、シリアル・ア
クセス・モードに対応して、複数のワード線および複数
のデジット線の双方、または前記複数のワード線および
複数のデジット線の内の一方についての各線の選択をシ
ーケンシャルに順次実行することにより、連続したアド
レスに対するアクセス時間を著しく短縮することができ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、それぞれ本発明の第1および第
2の実施例を示すブロック図、第3図は従来例を示すブ
ロック図である。 図において、■・・・・・・Xアドレス入力回路/デコ
ーダ回路、2・・・−・Yアドレス入力回路/デコーダ
回路、3−・−・・・メモリ・セル、4・・・・・・出
力回路、5・・・・・・書込み回路、6・・・・・・フ
リップフロップ、7・・・・−・アクセス切替スイッチ
、8・・・−・・デジット線選択回路、9・−・・・・
内部クロック発生回路、10−・−・・・Yクロック発
生回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、所定のアドレス信号アクセス・モード時において、
    外部から入力されるアドレス信号をデコードして、所定
    の複数のワード線および複数のデジット線の内より、前
    記アドレス信号に対応するワード線およびデジット線を
    それぞれ選択する第1の選択制御回路と、 所定のシリアル・アクセス・モード時において、所定の
    複数のワード線および複数のデジット線の内より、前記
    アドレス信号に対応して、所定のクロック信号を介して
    時間的に順次ワード線およびデジット線をそれぞれ選択
    してゆく第2の選択制御回路と、前記アドレス信号アク
    セス・モードと、前記シリアル・アクセス・モードとを
    切替えるモード切替回路と、を備えることを特徴とする
    半導体記憶装置。 2、所定のシリアル・アクセス・モード時において、前
    記第2の選択制御回路が、所定の複数のワード線または
    複数のデジット線の何れか一方の複数線の内より、前記
    アドレス信号に対応して、所定のクロック信号を介して
    時間的に順次ワード線またはデジット線の何れか一方を
    選択してゆく特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装
    置。
JP2215561A 1990-08-15 1990-08-15 半導体記憶装置 Expired - Fee Related JP3057728B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2215561A JP3057728B2 (ja) 1990-08-15 1990-08-15 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2215561A JP3057728B2 (ja) 1990-08-15 1990-08-15 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0498684A true JPH0498684A (ja) 1992-03-31
JP3057728B2 JP3057728B2 (ja) 2000-07-04

Family

ID=16674469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2215561A Expired - Fee Related JP3057728B2 (ja) 1990-08-15 1990-08-15 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3057728B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6047113B2 (ja) * 2014-03-25 2016-12-21 大和ハウス工業株式会社 庇取付け構造および方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5641574A (en) * 1979-09-07 1981-04-18 Nec Corp Memory unit
JPS626482A (ja) * 1985-06-29 1987-01-13 Toshiba Corp 半導体記憶装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5641574A (en) * 1979-09-07 1981-04-18 Nec Corp Memory unit
JPS626482A (ja) * 1985-06-29 1987-01-13 Toshiba Corp 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3057728B2 (ja) 2000-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4825411A (en) Dual-port memory with asynchronous control of serial data memory transfer
JPH0472255B2 (ja)
JPH0792242A (ja) 半導体メモリ装置
US4512012A (en) Time-switch circuit
EP0137808A1 (en) A cmos multiport general purpose register
KR100558492B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 테스트 패턴 데이터발생방법
US20050249021A1 (en) Semiconductor memory device having memory architecture supporting hyper-threading operation in host system
KR19990088402A (ko) 반도체메모리장치및번인테스트방법
JPH0498684A (ja) 半導体記憶装置
JPS63108747A (ja) ゲ−トアレイ集積回路
KR100264194B1 (ko) 반도체 메모리 장치
JPH0235700A (ja) メモリ回路
JPH04168699A (ja) 半導体集積回路
JPH02276090A (ja) 半導体メモリ集積回路
JP3281898B2 (ja) メモリ搭載半導体装置及びメモリテスト方法
JPH07312081A (ja) ランダム・アクセス・メモリ回路
JPH01239485A (ja) 大規模集積回路
JPH03263686A (ja) 半導体記憶装置
JPH06295596A (ja) メモリテスト回路装置
JPH05151102A (ja) マイクロコンピユータテスト回路
JPH02162272A (ja) 半導体集積回路装置
JPH04158279A (ja) 半導体論理素子
JPH04241635A (ja) 多重スキャンパス制御方式
JPH07134897A (ja) メモリ回路
JPH0667769A (ja) シングルチップマイクロコンピュータ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees