JPH05104164A - 半導体装置のリード加工用金型 - Google Patents

半導体装置のリード加工用金型

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Publication number
JPH05104164A
JPH05104164A JP3264657A JP26465791A JPH05104164A JP H05104164 A JPH05104164 A JP H05104164A JP 3264657 A JP3264657 A JP 3264657A JP 26465791 A JP26465791 A JP 26465791A JP H05104164 A JPH05104164 A JP H05104164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
bending
die
semiconductor device
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3264657A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Matsuura
哲也 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3264657A priority Critical patent/JPH05104164A/ja
Publication of JPH05104164A publication Critical patent/JPH05104164A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings

Landscapes

  • Punching Or Piercing (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 リードの横曲りやはんだ付着あるいはこすり
傷を防止し、半導体装置の品質の向上を図る。 【構成】 曲げパンチ1は、曲げダイと共に半導体装置
の外部リードの加工用金型を構成し、外部リードの先端
曲げを行う。そして、曲げパンチ1には、リードに対応
して、リードは幅よりもやや大なる矯正用の溝2が形成
されており、リードはこの溝2により横曲がりが防止さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、曲げパンチと曲げダイ
とからなる半導体装置のリード加工用金型に関する。
【0002】
【従来の技術】図4(a)は、従来の第1先端曲げパン
チ11の斜視図、同図(b)は従来の第2先端曲げパン
チ12の斜視図、図5(a)はJベンド用の曲げダイ1
3の斜視図、同図(b)は同じく側面図である。図6は
半導体装置6の側面図で7は成形加工する前の外部リー
ドである。図7は半導体装置6の外部リード7を前記第
1、第2先端曲げパンチ11、12および曲げダイ13
によって成形加工するリードベンド工程を示す動作図で
ある。同図において、15は第1先端曲げ金型ダイ、1
6は第2先端曲げ金型ダイ、17は70°曲げローラ、
18は90°曲げローラ、19は半導体装置6を押さえ
るためのストリッパである。
【0003】次に、動作を説明する。図7(a)の第1
先端曲げ工程において、半導体装置6を第1先端曲げパ
ンチ11と第1先端曲げ金型ダイ15とで抑え込んで、
外部リード7の先端を折り曲げる。次に、図7(b)の
第2先端曲げ工程において、半導体装置6を第2先端曲
げパンチ12と第2先端曲げ金型ダイ16とで抑え込ん
で、リード7の先端の折り曲げをより深くする。引き続
いて、図7(c)の70°ベンド工程において、70°
曲げローラ17によって、リード7を根元部から70°
に折り曲げる。さらに、図7(d)の90°ベンド工程
において、90°曲げローラ18によって、リード7を
根元部から90°に折り曲げる。最後に、図7(e)の
Jベンド工程において、半導体装置6をJベンド曲げダ
イ13とストリッパ19とで抑え込んで、外部リード7
をJ型に成形する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のリード加工用金型においては、リードフレーム作成
時に外部リード7が、C−C線を中心として対称形とな
らずに作成された場合には、ベンド工程において、この
リード7に対して均等な力が加わらず、このためリード
7が、図9に示すリード22のように横方向に変形し、
隣接するリード間で短絡を起こすといった問題が発生し
ていた。また、Jベンド工程において、90°に曲げら
れたリード7がJベンドダイ3に入るときに、Jベンド
ダイ3の側面と摺接してリード7の表面に電界メッキ法
により密着しているはんだメッキ層8が剥離してはんだ
屑21が発生し、このはんだ屑21がJベンドダイ3に
堆積する。そして、これが次の半導体装置6がJベンド
ダイ3によって成形されるときにリード7の表面に付着
して図9に示すような付着物21となって短絡の原因と
なり、基板に実装することが困難となる不都合が生じて
いた。本発明は、上記した従来の問題点あるいは不都合
に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、リードの横曲りやはんだ付着あるいはこすり傷を防
止し、半導体装置の品質の向上を図ったリード加工用金
型を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係るリード加工用金型は、半導体装置のリ
ードを所定の角度に折り曲げる曲げパンチと曲げダイと
からなる半導体装置のリード加工用金型において、前記
曲げパンチと曲げダイとに前記半導体装置のリードに対
応してリード矯正用の溝を設けたものである。また、本
発明に係るリード加工用金型は、曲げダイのリード矯正
用の溝の入り口部分にこの溝の傾斜を緩やかにした誘い
込み部を設けたものである。
【0006】
【作用】本発明においては、リードフレーム成形時に非
対称形となったリードはリード矯正用の溝で、所定の形
状に矯正される。また、リードは誘い込み部から矯正用
の溝に円滑に案内される。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図に基づいて説明
する。図1は本発明に係るリード加工用金型の曲げパン
チの斜視図、図2(a)は同じく曲げダイの斜視図、同
図(b)は同じく側面図である。これらの図において、
本発明の特徴とするところは、曲げパンチ1および曲げ
ダイ3に数条の矯正用の溝2、4を設けた点にある。こ
れら矯正用の溝2、4は、半導体装置6の外部リード7
と対応した位置に設けられており、それぞれの溝2、4
の幅はリード7よりもやや大に形成され、また溝2、4
の底の傾斜は、それぞれ曲げパンチ1あるいは曲げダイ
3の表面と同一形状に形成されている。また、曲げダイ
3の溝4の上部は、曲げダイ3の表面の傾斜よりも角度
θだけ緩やかに形成されており、リード7を溝4の下方
に誘い込み案内する誘い込み部4aが設けられている。
【0008】次に、動作を説明する。リードフレーム成
形時に外部リード7がC−C線を中心として非対称形に
形成された場合でも、図7(a)、(b)の第1、第2
の先端曲げ工程において、外部リード7は曲げパンチ1
の溝2に入り込み、先端が折り曲げられると同時に、リ
ード7に横方向の力が働いても溝2によって矯正的に抑
え込まれるため外部リード7は所定の形状に加工され
る。続いて、図7(c)、(d)の70°、90°曲げ
工程を経て、図7(e)のJベンド工程において、外部
リード7は曲げダイ3の溝4に入り込み、この工程にお
いても非対称形に起因するリード7に対する横方向の力
は溝4によって矯正的に抑え込まれリード7の横曲がり
が防止される。
【0009】また、本発明においては、曲げダイ3の溝
4の上部に誘い込み部4aを設けているので、図7
(d)の90°曲げ工程の後、半導体装置6のリード7
がJベンド工程で曲げダイ3の溝4に入りこむとき、図
3に示すようにリード7の側面のはんだメッキ8が曲げ
ダイ3の溝4の入り口付近で摺接することなく円滑に溝
4内に入り込み、これによりはんだメッキ8が剥離する
ことがなくしたがってはんだ屑の発生を軽減できて外部
リード7へのはんだ付着を防止することができる。な
お、本実施例ではJ型パッケージに適用した例を示した
が、これに限定されず、ガルウィング型パッケージある
いはDIP型パッケージの曲げパンチに上記同様な溝を
形成することによって、同様な作用効果が得られること
は勿論である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、リ
ード加工用金型の曲げパンチと曲げダイに外部リードが
入り込む矯正用の溝を設けたので、リード加工時にリー
ドの横曲がりを防止することができる。また、曲げダイ
の溝に誘い込み部を設けたので、リード表面のこすり傷
やはんだ付着を防止することができ、これにより半導体
装置の品質が向上する効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るリード加工用金型の曲げパンチの
斜視図である。
【図2】本発明に係るリード加工用金型の曲げダイを示
し、(a)は斜視図、(b)は側面図である。
【図3】本発明に係る曲げダイに半導体装置を挿入する
状態を示す側面図である。
【図4】従来の曲げパンチを示す斜視図である。
【図5】従来の曲げダイを示し、(a)は斜視図、
(b)は側面図である。
【図6】半導体装置の平面図である。
【図7】従来の外部リードの曲げ工程を示す図である。
【図8】従来の曲げダイに半導体装置を挿入する状態を
示す側面図である。
【図9】従来の半導体装置のリードの曲げ加工が終了し
た状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 曲げパンチ 2 矯正用の溝 3 曲げダイ 4 矯正用の溝 4a 誘い込み部 6 半導体装置 7 外部リード

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置のリードを所定の角度に折り
    曲げる曲げパンチと曲げダイとからなる半導体装置のリ
    ード加工用金型において、前記曲げパンチと曲げダイと
    に前記半導体装置のリードに対応してリード矯正用の溝
    を設けたことを特徴とする半導体装置のリード加工用金
    型。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体装置のリード加工
    用金型において、前記曲げダイのリード矯正用の溝の入
    り口部分にこの溝の傾斜を緩やかにした誘い込み部を設
    けたことを特徴とする半導体装置のリード加工用金型。
JP3264657A 1991-10-14 1991-10-14 半導体装置のリード加工用金型 Pending JPH05104164A (ja)

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JP3264657A JPH05104164A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 半導体装置のリード加工用金型

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JP3264657A JPH05104164A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 半導体装置のリード加工用金型

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JP3264657A Pending JPH05104164A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 半導体装置のリード加工用金型

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