JPH06185996A - はんだ付け検査方法 - Google Patents
はんだ付け検査方法Info
- Publication number
- JPH06185996A JPH06185996A JP34032792A JP34032792A JPH06185996A JP H06185996 A JPH06185996 A JP H06185996A JP 34032792 A JP34032792 A JP 34032792A JP 34032792 A JP34032792 A JP 34032792A JP H06185996 A JPH06185996 A JP H06185996A
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- JP
- Japan
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- lead
- soldering
- laser light
- inspecting
- leads
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- Pending
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】極小幅リードおよび／あるいは極小間隔のリー
ドを持つ電子部品についても、常に安全に、安定して高
精度で、はんだ付け状態の検査が行える検査方法を提供
すること。 【構成】回路基板上に付属リードにより配線上にはんだ
付けして実装された電子部品において、リードのはんだ
付け状態を検査するに際し、検査対象のリードに気体を
吹きつけると共にレーザー光を照射し、リードで反射さ
れたレーザー光を光電変換器で受け、電気信号に変換
し、その電気信号を解析することによりはんだ付け状態
を検査することを特徴とするはんだ付け検査方法。
ドを持つ電子部品についても、常に安全に、安定して高
精度で、はんだ付け状態の検査が行える検査方法を提供
すること。 【構成】回路基板上に付属リードにより配線上にはんだ
付けして実装された電子部品において、リードのはんだ
付け状態を検査するに際し、検査対象のリードに気体を
吹きつけると共にレーザー光を照射し、リードで反射さ
れたレーザー光を光電変換器で受け、電気信号に変換
し、その電気信号を解析することによりはんだ付け状態
を検査することを特徴とするはんだ付け検査方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、回路基板上に実装した
電子部品のはんだ付け状態を検査する方法に関する。特
にリード間の間隔やリード自身の幅が狭いガルウィング
型リード電子部品のはんだ付け状態を検査するに適した
検査方法に関するものである。
電子部品のはんだ付け状態を検査する方法に関する。特
にリード間の間隔やリード自身の幅が狭いガルウィング
型リード電子部品のはんだ付け状態を検査するに適した
検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】回路基板上には種々の電子部品が実装さ
れるが、ＳＯＰやＱＦＰのようなフラットパッケージさ
れ付属リードを有する電子部品を、回路基板の配線上に
その付属リードをはんだ付けして実装する場合、電子部
品のはんだ付け状態の検査方法は従来、（１）人間の目
視によりはんだ付け状態を判断する、（２）先端が細い
棒状体でリードに外力を加えた時のリードの動き方で判
断する、あるいは（３）リードと回路基板上の配線との
電気抵抗値を測定することによりはんだ付け状態の検査
を行ってきた。
れるが、ＳＯＰやＱＦＰのようなフラットパッケージさ
れ付属リードを有する電子部品を、回路基板の配線上に
その付属リードをはんだ付けして実装する場合、電子部
品のはんだ付け状態の検査方法は従来、（１）人間の目
視によりはんだ付け状態を判断する、（２）先端が細い
棒状体でリードに外力を加えた時のリードの動き方で判
断する、あるいは（３）リードと回路基板上の配線との
電気抵抗値を測定することによりはんだ付け状態の検査
を行ってきた。
【０００３】しかしながら上記従来の技術では、（１）
人間の目視により判断することは検査者の技量に依存す
る部分が大きいため高い精度を望むことはできない。
人間の目視により判断することは検査者の技量に依存す
る部分が大きいため高い精度を望むことはできない。
【０００４】（２）外力を加えた時のリードの動きや
（３）リードと回路基板上の配線との抵抗値の測定によ
る場合は、両方法共にリードと測定器具とを接触させる
必要があるためリードに損傷を与える危険が大きく、特
にガルウィング型リードを有する電子部品では、リード
間の間隔やリード自身の幅が狭く、測定器具を接触させ
ることに非常にデリケートな操作が要求され、またその
上検査に時間がかかり過ぎる。
（３）リードと回路基板上の配線との抵抗値の測定によ
る場合は、両方法共にリードと測定器具とを接触させる
必要があるためリードに損傷を与える危険が大きく、特
にガルウィング型リードを有する電子部品では、リード
間の間隔やリード自身の幅が狭く、測定器具を接触させ
ることに非常にデリケートな操作が要求され、またその
上検査に時間がかかり過ぎる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
の従来技術の欠点を解消し、極小幅リードおよび／ある
いは極小間隔のリードについても、常に安定して安全に
しかも高精度で、はんだ付け状態の検査が行える検査方
法を提供することにある。
の従来技術の欠点を解消し、極小幅リードおよび／ある
いは極小間隔のリードについても、常に安定して安全に
しかも高精度で、はんだ付け状態の検査が行える検査方
法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題は、本発明のは
んだ付け検査方法によって達成される。
んだ付け検査方法によって達成される。
【０００７】すなわち、 （１）回路基板の配線上に、付属リードをはんだ付けし
て実装する電子部品において、リードのはんだ付け状態
を検査するに際し、検査対象のリードに気体を吹きつけ
ると共にレーザー光を照射し、リードで反射されたレー
ザー光を光電変換器で受け、電気信号に変換し、その電
気信号を解析することによりはんだ付け状態を検査する
ことを特徴とするはんだ付け検査方法。
て実装する電子部品において、リードのはんだ付け状態
を検査するに際し、検査対象のリードに気体を吹きつけ
ると共にレーザー光を照射し、リードで反射されたレー
ザー光を光電変換器で受け、電気信号に変換し、その電
気信号を解析することによりはんだ付け状態を検査する
ことを特徴とするはんだ付け検査方法。
【０００８】（２）回路基板上に実装される電子部品が
ガルウィング型リード電子部品であることを特徴とする
上記（１）に記載のはんだ付け検査方法。
ガルウィング型リード電子部品であることを特徴とする
上記（１）に記載のはんだ付け検査方法。
【０００９】（３）リードのはんだ付け状態を検査する
に際し、レーザー光源から検査対象のリードにレーザー
光を照射し、リードで反射されたレーザー光を光電変換
器に伝搬する媒体に偏波面保存光ファイバを用い、光路
の途中でレーザー光の全部あるいは一部の進路を変更す
るために偏波面保存型の方向性結合器を用いることを特
徴とする上記（１）または（２）に記載のはんだ付け検
査方法。
に際し、レーザー光源から検査対象のリードにレーザー
光を照射し、リードで反射されたレーザー光を光電変換
器に伝搬する媒体に偏波面保存光ファイバを用い、光路
の途中でレーザー光の全部あるいは一部の進路を変更す
るために偏波面保存型の方向性結合器を用いることを特
徴とする上記（１）または（２）に記載のはんだ付け検
査方法。
【００１０】本発明の骨子は、リードに気体、例えば圧
搾空気を吹きつけると、リードのはんだ付けが良好に行
われている場合にはリードは振動を起こさず、はんだ付
けに不良な部品があると、リードが振動を起こすことを
利用し、リードにレーザー光を照射することによりリー
ドが振動しているか否かを検出することにある。
搾空気を吹きつけると、リードのはんだ付けが良好に行
われている場合にはリードは振動を起こさず、はんだ付
けに不良な部品があると、リードが振動を起こすことを
利用し、リードにレーザー光を照射することによりリー
ドが振動しているか否かを検出することにある。
【００１１】より詳しくは、振動している反射体にレー
ザー光を照射すると、反射したレーザー光中に反射体の
振動周波数成分をもったレーザー光が含まれるので、反
射レーザー光中に照射時の搬送周波数以外の周波数が含
まれるかを検波することによって反射体が振動している
かどうかが判別できる。
ザー光を照射すると、反射したレーザー光中に反射体の
振動周波数成分をもったレーザー光が含まれるので、反
射レーザー光中に照射時の搬送周波数以外の周波数が含
まれるかを検波することによって反射体が振動している
かどうかが判別できる。
【００１２】すなわち、本発明の場合には反射レーザー
光中に搬送周波数以外の周波数が含まれておれば、リー
ドが良好にはんだ付けされていないことになる。
光中に搬送周波数以外の周波数が含まれておれば、リー
ドが良好にはんだ付けされていないことになる。
【００１３】（具体的構成）本発明のはんだ付け検査方
法に使用する検査装置の構成のブロック図を図２に示し
た。
法に使用する検査装置の構成のブロック図を図２に示し
た。
【００１４】図２において１はレーザー光源、２はレー
ザー光搬送系、３は光電変換器、４はＦＭ検波回路、５
は回路基板、６は電子部品、７はリード、８は気体放射
管である。
ザー光搬送系、３は光電変換器、４はＦＭ検波回路、５
は回路基板、６は電子部品、７はリード、８は気体放射
管である。
【００１５】本発明のはんだ付け検査方法に使用する検
査装置のより具体的な構成図を図１に示した。
査装置のより具体的な構成図を図１に示した。
【００１６】図１は図２のレーザー光搬送系２を具体的
に示した図である。
に示した図である。
【００１７】すなわち図１のレーザー光搬送系２の経路
を説明すると、レーザー光源１より放射されたレーザー
光Ａはハーフミラー９を透過し、リード７に照射され、
リード７で反射された光はレーザー光Ｂとなりハーフミ
ラー９で反射され光電変換器３に入射する経路として構
成されている。ハーフミラー９で反射され光電変換器３
に入射し、入射したレーザー光は電気信号Ｃに変換され
ＦＭ検波回路（図示していない。）で構成周波数が検波
される。
を説明すると、レーザー光源１より放射されたレーザー
光Ａはハーフミラー９を透過し、リード７に照射され、
リード７で反射された光はレーザー光Ｂとなりハーフミ
ラー９で反射され光電変換器３に入射する経路として構
成されている。ハーフミラー９で反射され光電変換器３
に入射し、入射したレーザー光は電気信号Ｃに変換され
ＦＭ検波回路（図示していない。）で構成周波数が検波
される。
【００１８】なお、図１にはレーザー光搬送系２の関係
位置を明確にするため、レーザー光搬送系２以外に図２
において示した他の構成要素も示してある。
位置を明確にするため、レーザー光搬送系２以外に図２
において示した他の構成要素も示してある。
【００１９】図４に図２のレーザー光搬送系２の別の具
体例を示した。図４では図１のハーフミラー９の代わり
に偏波面保存型の方向性結合器１１ａを使用し、レーザ
ー光源１と方向性結合器１１ａ、方向性結合器１１ａと
リード７および方向性結合器１１ａと光電変換器３の間
にそれぞれ偏波面保存光ファイバ１２ａ、１２ｂおよび
１２ｃを使用してレーザー光を搬送するようにしたレー
ザー光搬送系２の構成である。
体例を示した。図４では図１のハーフミラー９の代わり
に偏波面保存型の方向性結合器１１ａを使用し、レーザ
ー光源１と方向性結合器１１ａ、方向性結合器１１ａと
リード７および方向性結合器１１ａと光電変換器３の間
にそれぞれ偏波面保存光ファイバ１２ａ、１２ｂおよび
１２ｃを使用してレーザー光を搬送するようにしたレー
ザー光搬送系２の構成である。
【００２０】他の構成要素については図１と同様であ
る。
る。
【００２１】図４で示したレーザー光搬送系２の場合に
は、構成要素である各光学系や検査対象間が偏波面保存
光ファイバで結ばれているため、各構成要素間および検
査対象との間隔を大きくとることが可能であり、しかも
レーザー光源が検査対象の鉛直上に位置しなければなら
ないという位置制限を受けないことから、装置構造の融
通性が高くなる。
は、構成要素である各光学系や検査対象間が偏波面保存
光ファイバで結ばれているため、各構成要素間および検
査対象との間隔を大きくとることが可能であり、しかも
レーザー光源が検査対象の鉛直上に位置しなければなら
ないという位置制限を受けないことから、装置構造の融
通性が高くなる。
【００２２】（作用）図１を用いて以下に本発明の作用
について説明する。
について説明する。
【００２３】図１において、レーザー光源１より予め周
波数ｆに変調されたレーザー光Ａが放射され、ハーフミ
ラー９を経てリード７に達する。
波数ｆに変調されたレーザー光Ａが放射され、ハーフミ
ラー９を経てリード７に達する。
【００２４】リード７には気体放射管８からの圧搾空気
が吹きつけられており、リード７が回路基板５の配線上
に良好にはんだ付けされている場合にはリード７は振動
を起こさないが、はんだ付けが不良な場合にはリード７
は例えば周波数ｆａで振動する。
が吹きつけられており、リード７が回路基板５の配線上
に良好にはんだ付けされている場合にはリード７は振動
を起こさないが、はんだ付けが不良な場合にはリード７
は例えば周波数ｆａで振動する。
【００２５】振動していないリード７によって反射され
たレーザー光Ａの周波数は変わらないが、周波数ｆａで
振動しているリード７によってレーザー光Ａが反射され
ると周波数ｆａで位相変調されたレーザー光Ｂとなる。
たレーザー光Ａの周波数は変わらないが、周波数ｆａで
振動しているリード７によってレーザー光Ａが反射され
ると周波数ｆａで位相変調されたレーザー光Ｂとなる。
【００２６】そして、いずれの場合もレーザー光Ｂはハ
ーフミラー９で反射され光電変換器３に入射し、電気信
号Ｃに変換される。
ーフミラー９で反射され光電変換器３に入射し、電気信
号Ｃに変換される。
【００２７】電気信号Ｃは、はんだ付け良好の場合には
搬送周波数ｆのみをもった信号となり、はんだ付け不良
の場合には搬送周波数ｆと変調周波数ｆａを持った信号
となる。従って、変調周波数ｆａの有無を調べることに
よりはんだ付けの状態の検査が可能となる。
搬送周波数ｆのみをもった信号となり、はんだ付け不良
の場合には搬送周波数ｆと変調周波数ｆａを持った信号
となる。従って、変調周波数ｆａの有無を調べることに
よりはんだ付けの状態の検査が可能となる。
【００２８】また、電気信号ＣをＦＭ検波回路４を通し
て復調されて信号を調べてもはんだ付けの状態を検査す
ることができる。
て復調されて信号を調べてもはんだ付けの状態を検査す
ることができる。
【００２９】
【実施例】本発明の他の構成例を実施例として説明す
る。しかし、本発明はこの実施例によって限定されるも
のではない。
る。しかし、本発明はこの実施例によって限定されるも
のではない。
【００３０】（実施例１）図３に、図２のレーザー光搬
送系２の別の具体例を含むはんだ付けの状態の検査法の
実施例を示す。
送系２の別の具体例を含むはんだ付けの状態の検査法の
実施例を示す。
【００３１】図３において、レーザー光Ａ1 はハーフミ
ラー９ａにより透過光Ａ2 と反射光Ａ3 に分けられる。
透過光Ａ2 はハーフミラー９ｂを透過した後リード７で
反射されレーザー光Ｂ1 となる。レーザー光Ｂ1 はハー
フミラー９ｂで反射され、ハーフミラー９ｃを透過す
る。この際全反射ミラー８で全反射された反射光Ａ3 と
干渉しレーザー光Ｂ2 となる。
ラー９ａにより透過光Ａ2 と反射光Ａ3 に分けられる。
透過光Ａ2 はハーフミラー９ｂを透過した後リード７で
反射されレーザー光Ｂ1 となる。レーザー光Ｂ1 はハー
フミラー９ｂで反射され、ハーフミラー９ｃを透過す
る。この際全反射ミラー８で全反射された反射光Ａ3 と
干渉しレーザー光Ｂ2 となる。
【００３２】このレーザー光Ｂ2 を光電変換器３に入射
し変換した電気信号Ｃは、はんだ付け不良の場合はリー
ド７の振動周波数ｆａを示す。
し変換した電気信号Ｃは、はんだ付け不良の場合はリー
ド７の振動周波数ｆａを示す。
【００３３】（実施例２）図５に、図２のレーザー光搬
送系２の別の具体例を含むはんだ付けの状態の検査法の
実施例を示す。
送系２の別の具体例を含むはんだ付けの状態の検査法の
実施例を示す。
【００３４】図５においてレーザー光搬送系内の構成を
図３における構成と対比して説明すると、図５では図３
のハーフミラー９ａと全反射ミラー１０の機能を偏波面
保存型の光分岐器１３で置き換え、ハーフミラー９ｂ、
９ｃの代わりに偏波面保存型の方向性結合器１１ａ、１
１ｂを使用し、レーザー光源１と光分岐器１３、光分岐
器１３と方向性結合器１１ａ、方向性結合器１１ａとリ
ード７、方向性結合器１１ａと方向性結合器１１ｂ、光
分岐器１３と方向性結合器１１ｂおよび方向性結合器１
１ｂと光電変換器３の間にはそれぞれ偏波面保存光ファ
イバ１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅおよび１
２ｆを使用してレーザー光を搬送するようにしたレーザ
ー光搬送系の構成である。
図３における構成と対比して説明すると、図５では図３
のハーフミラー９ａと全反射ミラー１０の機能を偏波面
保存型の光分岐器１３で置き換え、ハーフミラー９ｂ、
９ｃの代わりに偏波面保存型の方向性結合器１１ａ、１
１ｂを使用し、レーザー光源１と光分岐器１３、光分岐
器１３と方向性結合器１１ａ、方向性結合器１１ａとリ
ード７、方向性結合器１１ａと方向性結合器１１ｂ、光
分岐器１３と方向性結合器１１ｂおよび方向性結合器１
１ｂと光電変換器３の間にはそれぞれ偏波面保存光ファ
イバ１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅおよび１
２ｆを使用してレーザー光を搬送するようにしたレーザ
ー光搬送系の構成である。
【００３５】他の構成要素については図３と同様であ
り、図５のはんだ付け検査装置の作用は上記実施例１で
の説明と同様である。また、この検査装置では装置の融
通性が図３の場合より高いのは先に説明した図４と図１
との関係と同じである。
り、図５のはんだ付け検査装置の作用は上記実施例１で
の説明と同様である。また、この検査装置では装置の融
通性が図３の場合より高いのは先に説明した図４と図１
との関係と同じである。
【００３６】
１．レーザー光を使用する検査であるため微細部の検査
が可能である。
が可能である。
【００３７】２．非接触検査であるため検査対象部品に
損傷を与えない。
損傷を与えない。
【００３８】３．検出信号が電気信号であるため検査の
自動化ができる。
自動化ができる。
【図１】本発明のはんだ付け検査方法に使用する検査装
置の一例を示す構成図。
置の一例を示す構成図。
【図２】本発明のはんだ付け検査方法に使用する検査装
置のブロック説明図。
置のブロック説明図。
【図３】本発明のはんだ付け検査装置の他の一例を示す
構成図。
構成図。
【図４】図１のはんだ付け検査装置の変形例を示す構成
図。
図。
【図５】図３のはんだ付け検査装置の変形例を示す構成
図。
図。
１ レーザー光源 ２ レーザー光搬送系 ３ 光電変換器 ４ 検波回路 ５ 回路基板 ６ 電子部品 ７ リード ８ 気体放射管 ９ ハーフミラー ９ａ、９ｂ、９ｃ ハーフミラー １０ 全反射ミラー １１ａ、１１ｂ 方向性結合器 １２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅ、１２ｆ 光
ファイバー １３ 光分岐器 Ａ、Ａ1 、Ａ2 、Ａ3 レーザー光 Ｂ、Ｂ1 、Ｂ2 反射レーザー光 Ｃ 電気信号
ファイバー １３ 光分岐器 Ａ、Ａ1 、Ａ2 、Ａ3 レーザー光 Ｂ、Ｂ1 、Ｂ2 反射レーザー光 Ｃ 電気信号
Claims (2)
- 【請求項１】回路基板の配線上に、付属リードをはんだ
付けして実装する電子部品において、リードのはんだ付
け状態を検査するに際し、検査対象のリードに気体を吹
きつけると共にレーザー光を照射し、リードで反射され
たレーザー光を光電変換器で受け、電気信号に変換し、
その電気信号を解析することによりはんだ付け状態を検
査することを特徴とするはんだ付け検査方法。 - 【請求項２】リードのはんだ付け状態を検査するに際
し、レーザー光源から検査対象のリードにレーザー光を
照射し、リードで反射されたレーザー光を光電変換器に
伝搬する媒体に偏波面保存光ファイバを用い、光路の途
中でレーザー光の全部あるいは一部の進路を変更するた
めに偏波面保存型の方向性結合器を用いることを特徴と
する請求項１に記載のはんだ付け検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34032792A JPH06185996A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | はんだ付け検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34032792A JPH06185996A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | はんだ付け検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06185996A true JPH06185996A (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=18335884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34032792A Pending JPH06185996A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | はんだ付け検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06185996A (ja) |
-
1992
- 1992-12-21 JP JP34032792A patent/JPH06185996A/ja active Pending
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