JPH06259721A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
- Publication number
- JPH06259721A JPH06259721A JP23305393A JP23305393A JPH06259721A JP H06259721 A JPH06259721 A JP H06259721A JP 23305393 A JP23305393 A JP 23305393A JP 23305393 A JP23305393 A JP 23305393A JP H06259721 A JPH06259721 A JP H06259721A
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- film
- magnetic
- glass bonding
- magnetic head
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基板とガラス接合膜、又はガラス接合膜と金
属磁性膜の密着性を改善して、磁気ヘッドの歩留り及び
信頼性の向上を図る。 【構成】 金属磁性膜3を一対の基板1A、1Bにより
膜厚方向で挟み込み、ガラス接合膜7を介して接合一体
化して成る一対の磁気コア半体20A及び20Bを、金
属磁性膜3の端面が対向するように突き合わせてその突
き合わせ面間に磁気ギャップgを構成してなる磁気ヘッ
ドにおいて、基板1Bとガラス接合膜7との間にこのガ
ラス接合膜材料に比し高融点材料より成る界面膜8を設
けて構成する。なお、このとき、上記基板をフェライト
材としても良い。
属磁性膜の密着性を改善して、磁気ヘッドの歩留り及び
信頼性の向上を図る。 【構成】 金属磁性膜3を一対の基板1A、1Bにより
膜厚方向で挟み込み、ガラス接合膜7を介して接合一体
化して成る一対の磁気コア半体20A及び20Bを、金
属磁性膜3の端面が対向するように突き合わせてその突
き合わせ面間に磁気ギャップgを構成してなる磁気ヘッ
ドにおいて、基板1Bとガラス接合膜7との間にこのガ
ラス接合膜材料に比し高融点材料より成る界面膜8を設
けて構成する。なお、このとき、上記基板をフェライト
材としても良い。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高透磁率の金属磁性膜
を磁気コア半体で挟み込み、金属磁性膜の端面が突き合
わせられて磁気ギャップが構成されるいわゆる金属磁性
膜積層型の磁気ヘッドに係わる。
を磁気コア半体で挟み込み、金属磁性膜の端面が突き合
わせられて磁気ギャップが構成されるいわゆる金属磁性
膜積層型の磁気ヘッドに係わる。
【0002】
【従来の技術】近年、VTR(ビデオテープレコーダ
ー)等の磁気記録再生装置において、高画質化等を目的
として情報信号の短波長記録化が進められており、これ
に伴い磁性粉として強磁性金属粉末を用いたいわゆるメ
タルテープや、ベースフィルム上に強磁性金属材料を直
接被着した蒸着テープ等の高保磁力の磁気記録媒体が使
用されつつあり、この高保磁力の磁気記録媒体に用いて
好適な磁気ヘッドとして、磁気コアの磁気ギャップを構
成する部分が金属磁性膜より成る金属磁性膜タイプの磁
気ヘッドが提案されている。
ー)等の磁気記録再生装置において、高画質化等を目的
として情報信号の短波長記録化が進められており、これ
に伴い磁性粉として強磁性金属粉末を用いたいわゆるメ
タルテープや、ベースフィルム上に強磁性金属材料を直
接被着した蒸着テープ等の高保磁力の磁気記録媒体が使
用されつつあり、この高保磁力の磁気記録媒体に用いて
好適な磁気ヘッドとして、磁気コアの磁気ギャップを構
成する部分が金属磁性膜より成る金属磁性膜タイプの磁
気ヘッドが提案されている。
【0003】このような磁気ヘッドにおいては、更に高
出力、高周波数帯域化(短波長化)が要求されているこ
とから、トラック幅相当の厚さの金属磁性膜を用いるに
際して、単に金属磁性膜の膜厚を大とするだけでは渦電
流損が多くなり出力が低下する。
出力、高周波数帯域化(短波長化)が要求されているこ
とから、トラック幅相当の厚さの金属磁性膜を用いるに
際して、単に金属磁性膜の膜厚を大とするだけでは渦電
流損が多くなり出力が低下する。
【0004】そこでこのような渦電流損を防止し、上述
した高出力、高帯域化を可能にする方法として膜厚の薄
い金属磁性膜が絶縁膜を介して複数層積層されて成るい
わゆる金属磁性膜積層型の磁気ヘッドが提案されてお
り、このような構成とすることによって、例えば従来構
成の磁気ヘッドにおいてコア材として用いられているフ
ェライトに比してその透磁率を格段に大とすることがで
きる。
した高出力、高帯域化を可能にする方法として膜厚の薄
い金属磁性膜が絶縁膜を介して複数層積層されて成るい
わゆる金属磁性膜積層型の磁気ヘッドが提案されてお
り、このような構成とすることによって、例えば従来構
成の磁気ヘッドにおいてコア材として用いられているフ
ェライトに比してその透磁率を格段に大とすることがで
きる。
【0005】このような金属磁性膜積層型の磁気ヘッド
を製造するにあたっては、通常基板上に各層を積層した
後、これらを多数枚ガラス融着等により接合して、その
後所定の巻線溝等を研削加工して各ヘッドチップ毎に切
断して形成する方法が採られている。このとき、そのガ
ラス融着の際に設けられるガラス接合膜と、基板または
金属磁性膜との界面の密着性が弱いため、製造工程にお
いて剥がれ等の不具合が発生する場合がある。
を製造するにあたっては、通常基板上に各層を積層した
後、これらを多数枚ガラス融着等により接合して、その
後所定の巻線溝等を研削加工して各ヘッドチップ毎に切
断して形成する方法が採られている。このとき、そのガ
ラス融着の際に設けられるガラス接合膜と、基板または
金属磁性膜との界面の密着性が弱いため、製造工程にお
いて剥がれ等の不具合が発生する場合がある。
【0006】例えば図7に示すように、フェライト材等
より成る基板1A上に下地膜2が被着され、この上に金
属磁性膜31 〜34 が絶縁膜41 〜43 を介して交互に
積層形成され、更にガラス接合のためのガラス・スパッ
タ膜18が形成される場合に、ヘッド製造工程途中の例
えばガラス熱処理過程において、接着強度の低下により
ガラス・スパッタ膜18が剥離してしまう場合がある。
より成る基板1A上に下地膜2が被着され、この上に金
属磁性膜31 〜34 が絶縁膜41 〜43 を介して交互に
積層形成され、更にガラス接合のためのガラス・スパッ
タ膜18が形成される場合に、ヘッド製造工程途中の例
えばガラス熱処理過程において、接着強度の低下により
ガラス・スパッタ膜18が剥離してしまう場合がある。
【0007】また、例えば図8に示すように、基板1A
上にガラス接合膜7を介してフェライト材よりなる基板
1Bを積層した場合には、熱処理時にフェライト材より
なる基板1Bとガラス接合膜7が反応し、ガラス接合膜
7内には気泡15が発生し、実質的な接触面積が減少し
て密着強度が劣化する場合がある。なお、このようにガ
ラス接合膜7内に気泡15が残留すると、この気泡15
内に磁気記録媒体、例えばテープの摩耗粉が堆積してし
まい、ヘッドクロッグの原因となる等の不都合も生じ
る。
上にガラス接合膜7を介してフェライト材よりなる基板
1Bを積層した場合には、熱処理時にフェライト材より
なる基板1Bとガラス接合膜7が反応し、ガラス接合膜
7内には気泡15が発生し、実質的な接触面積が減少し
て密着強度が劣化する場合がある。なお、このようにガ
ラス接合膜7内に気泡15が残留すると、この気泡15
内に磁気記録媒体、例えばテープの摩耗粉が堆積してし
まい、ヘッドクロッグの原因となる等の不都合も生じ
る。
【0008】また、ガラス接合膜内の気泡15は、金属
磁性膜3(34 )とガラス接合膜7との反応によっても
生じ、上記のような不都合が生じる。なお、図8におい
て、図7に対応する部分には同一符号を付して重複説明
を省略する。
磁性膜3(34 )とガラス接合膜7との反応によっても
生じ、上記のような不都合が生じる。なお、図8におい
て、図7に対応する部分には同一符号を付して重複説明
を省略する。
【0009】更に、基板1Bとガラス接合膜7との反応
により、基板1Bの強度が劣化し、基板1B積層後の各
種工程において、図中に示すような基板1B内部での破
断24が発生する。
により、基板1Bの強度が劣化し、基板1B積層後の各
種工程において、図中に示すような基板1B内部での破
断24が発生する。
【0010】更にまた金属磁性膜、ガラス接合膜の変質
や劣化によっても同様に密着強度の低下を招来し、磁気
ヘッドの歩留りの低下及び信頼性の低下を来する恐れが
ある。
や劣化によっても同様に密着強度の低下を招来し、磁気
ヘッドの歩留りの低下及び信頼性の低下を来する恐れが
ある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述したよ
うな基板とガラス接合膜、又は金属磁性膜とガラス接合
膜との密着性を改善し、基板の破断等の発生を防ぎ、金
属磁性膜積層型磁気ヘッドの歩留り及び信頼性の向上を
はかり、またガラス接合膜内の気泡の発生を抑制して、
クロッグの低減化をはかる。
うな基板とガラス接合膜、又は金属磁性膜とガラス接合
膜との密着性を改善し、基板の破断等の発生を防ぎ、金
属磁性膜積層型磁気ヘッドの歩留り及び信頼性の向上を
はかり、またガラス接合膜内の気泡の発生を抑制して、
クロッグの低減化をはかる。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、その一例の略
線的拡大斜視図を図1に示すように、金属磁性膜3(3
1 〜34 )を一対の基板1A及び1Bにより膜厚方向で
挟み込み、ガラス接合膜7を介して接合一体化して成る
一対の磁気コア半体20A及び20Bを、金属磁性膜3
1 〜34 の端面が対向するように突き合わせてその突き
合わせ面間に磁気ギャップgを構成してなる磁気ヘッド
において、基板1Bとガラス接合膜7との間にこのガラ
ス接合膜材料に比し高融点材料より成る第1の界面膜8
を設けて構成する。
線的拡大斜視図を図1に示すように、金属磁性膜3(3
1 〜34 )を一対の基板1A及び1Bにより膜厚方向で
挟み込み、ガラス接合膜7を介して接合一体化して成る
一対の磁気コア半体20A及び20Bを、金属磁性膜3
1 〜34 の端面が対向するように突き合わせてその突き
合わせ面間に磁気ギャップgを構成してなる磁気ヘッド
において、基板1Bとガラス接合膜7との間にこのガラ
ス接合膜材料に比し高融点材料より成る第1の界面膜8
を設けて構成する。
【0013】また、本発明は、上述の構成において、ガ
ラス接合膜7と金属磁性膜3(34)との間にガラス接
合膜材料に比し高融点材料より成る第2の界面膜6を設
けて構成する。
ラス接合膜7と金属磁性膜3(34)との間にガラス接
合膜材料に比し高融点材料より成る第2の界面膜6を設
けて構成する。
【0014】更に本発明は、上述の基板1Bをフェライ
ト材により構成する。
ト材により構成する。
【0015】更にまた本発明は、上述の第1の界面膜8
を高融点非磁性金属により構成する。また本発明は、上
述の第1の界面膜8を酸化物材料により構成する。更に
本発明は、上述の第1の界面膜8を酸化変調膜として構
成する。
を高融点非磁性金属により構成する。また本発明は、上
述の第1の界面膜8を酸化物材料により構成する。更に
本発明は、上述の第1の界面膜8を酸化変調膜として構
成する。
【0016】なお、本発明は、上述の第1の界面膜8及
び/又は第2の界面膜6を高融点非磁性金属或いは酸化
物材料或いは酸化変調膜として構成しても良い。
び/又は第2の界面膜6を高融点非磁性金属或いは酸化
物材料或いは酸化変調膜として構成しても良い。
【0017】また本発明は、ガラス接合膜7と基板1B
との間の第1の界面膜8を、基板1B側において高酸素
濃度として構成する。更にまた本発明は、ガラス接合膜
7と金属磁性膜34 との間の第2の界面膜6を、ガラス
接合膜7側において高酸素濃度として構成する。
との間の第1の界面膜8を、基板1B側において高酸素
濃度として構成する。更にまた本発明は、ガラス接合膜
7と金属磁性膜34 との間の第2の界面膜6を、ガラス
接合膜7側において高酸素濃度として構成する。
【0018】
【作用】上述したように本発明においては、ガラス接合
膜7と基板1Bとの間に第1の界面膜8を設けることか
ら、例えば図2にその一例の要部略線的拡大断面図を示
すように、ガラス接合のための加熱処理工程においてガ
ラス接合膜7の剥離が抑制される。また、特に、基板1
Bとしてフェライト基板を用いる場合には、ガラス接合
膜7内の気泡の発生や基板1Bの強度劣化を抑制するこ
とができた。なお、図2においては金属磁性膜31 〜3
4 をそれそれ絶縁膜41 〜43 を介して順次積層形成し
た場合を示す。
膜7と基板1Bとの間に第1の界面膜8を設けることか
ら、例えば図2にその一例の要部略線的拡大断面図を示
すように、ガラス接合のための加熱処理工程においてガ
ラス接合膜7の剥離が抑制される。また、特に、基板1
Bとしてフェライト基板を用いる場合には、ガラス接合
膜7内の気泡の発生や基板1Bの強度劣化を抑制するこ
とができた。なお、図2においては金属磁性膜31 〜3
4 をそれそれ絶縁膜41 〜43 を介して順次積層形成し
た場合を示す。
【0019】また、同様にガラス接合膜7と金属磁性膜
3(34 )との間に第2の界面膜6を設けることによ
り、ガラス接合膜7の気泡の発生を同様に抑制すること
ができた。
3(34 )との間に第2の界面膜6を設けることによ
り、ガラス接合膜7の気泡の発生を同様に抑制すること
ができた。
【0020】これは、第2の界面膜6や第1の界面膜8
を設けることによって、フェライト材よりなる基板1B
とガラス接合膜7、ガラス接合膜7と金属磁性膜3との
反応を抑制できて、この反応ガスによる気泡の発生や基
板の強度劣化を抑制できたためと思われる。従ってこれ
ら本発明によれば、ガラス接合膜7の実質的な密着性を
改善することができて、基板の破断等の発生を防ぐこと
ができ、磁気ヘッドの歩留り及び信頼性の向上を図るこ
とができる。
を設けることによって、フェライト材よりなる基板1B
とガラス接合膜7、ガラス接合膜7と金属磁性膜3との
反応を抑制できて、この反応ガスによる気泡の発生や基
板の強度劣化を抑制できたためと思われる。従ってこれ
ら本発明によれば、ガラス接合膜7の実質的な密着性を
改善することができて、基板の破断等の発生を防ぐこと
ができ、磁気ヘッドの歩留り及び信頼性の向上を図るこ
とができる。
【0021】また本発明においては、上述の第1の界面
膜8の材料としてガラスに比し高融点の非磁性金属か、
又は酸化物を用いることにより、確実にガラス接合膜7
と基板1Bの反応を抑制することができた。
膜8の材料としてガラスに比し高融点の非磁性金属か、
又は酸化物を用いることにより、確実にガラス接合膜7
と基板1Bの反応を抑制することができた。
【0022】なお、第2の界面膜6も上記材料によって
構成しても良く、更に金属磁性膜3との反応を抑制でき
る。
構成しても良く、更に金属磁性膜3との反応を抑制でき
る。
【0023】更に、第1の界面膜8を酸化変調膜として
構成し、基板11側においてより高酸素濃度として構成
することによって、更に密着性を高めることができ、第
2の界面膜6も酸素変調膜として構成し、ガラス接合膜
7側においてより高酸素濃度として構成することによっ
て、更に密着性を高めることができて、確実にガラス接
合膜7の剥離、気泡の発生を抑制して磁気ヘッドを歩留
り良く得ることができた。
構成し、基板11側においてより高酸素濃度として構成
することによって、更に密着性を高めることができ、第
2の界面膜6も酸素変調膜として構成し、ガラス接合膜
7側においてより高酸素濃度として構成することによっ
て、更に密着性を高めることができて、確実にガラス接
合膜7の剥離、気泡の発生を抑制して磁気ヘッドを歩留
り良く得ることができた。
【0024】
【実施例】以下、本発明を適用した磁気ヘッドの実施例
について図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例
においては、磁気記録の例えばディジタルVTR装置や
ハイビジョン用のディジタルVTR装置においてVTR
の高画質化等を目的として、例えば単位時間内にできる
だけ多くの情報を処理し記録再生するために、情報信号
の帯域を数十MHz〜百MHz程度を越える帯域まで広
域化される場合に適用して好適な磁気ヘッドの例を示
す。
について図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例
においては、磁気記録の例えばディジタルVTR装置や
ハイビジョン用のディジタルVTR装置においてVTR
の高画質化等を目的として、例えば単位時間内にできる
だけ多くの情報を処理し記録再生するために、情報信号
の帯域を数十MHz〜百MHz程度を越える帯域まで広
域化される場合に適用して好適な磁気ヘッドの例を示
す。
【0025】図1に示す例は、基板1A、1Bと金属磁
性膜3(31 〜34 )よりなる一対の磁気コア半体20
A及び20Bが突き合わされて閉磁路を構成して成るい
わゆる金属磁性膜積層型の磁気ヘッドであって、特にそ
の磁気コア半体20A及び20Bは、金属磁性膜3を一
対の基板1A及び1Bにより膜厚方向で挟み込み接合一
体化して成り、この磁気コア半体20A及び20Bを、
金属磁性膜3の端面が対向するように突き合わせてその
突き合わせ面間に磁気ギャップgを構成して成るラミネ
ート型磁気ヘッドの場合を示す。
性膜3(31 〜34 )よりなる一対の磁気コア半体20
A及び20Bが突き合わされて閉磁路を構成して成るい
わゆる金属磁性膜積層型の磁気ヘッドであって、特にそ
の磁気コア半体20A及び20Bは、金属磁性膜3を一
対の基板1A及び1Bにより膜厚方向で挟み込み接合一
体化して成り、この磁気コア半体20A及び20Bを、
金属磁性膜3の端面が対向するように突き合わせてその
突き合わせ面間に磁気ギャップgを構成して成るラミネ
ート型磁気ヘッドの場合を示す。
【0026】そしてこの場合基板1Aと1Bとの間に
は、下地膜2、金属磁性膜31 、絶縁膜41 、金属磁性
膜32 、絶縁膜42 、金属磁性膜33 、絶縁膜43 、金
属磁性膜34 、第2の界面膜6、ガラス接合膜7及び第
1の界面膜8とが設けられて成る。12は磁気テープ等
の磁気記録媒体との対接面、13は巻線溝、14は巻線
を示す。なお、本実施例の磁気ヘッドにおいては、基板
1A、1Bの構成材料として常温において非磁性のZn
フェライト材を用いた。
は、下地膜2、金属磁性膜31 、絶縁膜41 、金属磁性
膜32 、絶縁膜42 、金属磁性膜33 、絶縁膜43 、金
属磁性膜34 、第2の界面膜6、ガラス接合膜7及び第
1の界面膜8とが設けられて成る。12は磁気テープ等
の磁気記録媒体との対接面、13は巻線溝、14は巻線
を示す。なお、本実施例の磁気ヘッドにおいては、基板
1A、1Bの構成材料として常温において非磁性のZn
フェライト材を用いた。
【0027】ところで、通常、上記のようなラミネート
型磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜とガラス接合膜と
の濡れ性が、基板を構成するセラミックス、結晶化ガラ
ス、フェライト等の非磁性材料やフェライト材等の酸化
物磁性材料等との濡れ性に比べて極端に劣ることから、
特開昭61−80511号、特開平4−255902
号、特開平4−324104号の各公報等に示されるよ
うに、金属磁性膜とガラス接合膜の界面にガラス接合膜
との濡れ性が良好な界面膜を設け、これらの密着性を向
上させている。
型磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜とガラス接合膜と
の濡れ性が、基板を構成するセラミックス、結晶化ガラ
ス、フェライト等の非磁性材料やフェライト材等の酸化
物磁性材料等との濡れ性に比べて極端に劣ることから、
特開昭61−80511号、特開平4−255902
号、特開平4−324104号の各公報等に示されるよ
うに、金属磁性膜とガラス接合膜の界面にガラス接合膜
との濡れ性が良好な界面膜を設け、これらの密着性を向
上させている。
【0028】しかしながら、基板としてフェライト材を
用いた場合に、従来のような金属磁性膜とガラス接合膜
との界面にのみ界面膜を設けた構造にすると、フェライ
ト基板を積層する際の加熱処理時にフェライト基板とガ
ラス接合膜の反応によりガラス接合膜内には気泡が発生
する。そして、この気泡内に、磁気記録媒体、例えばテ
ープの摩耗粉等が堆積し易く、ヘッドクロック等の問題
が発生する。更にはフェライト基板とガラス接合膜の反
応により、フェライト基板の強度が劣化し、フェライト
基板積層後の各種加工においてフェライト基板内部から
の破断が発生する。そこで、本実施例においては、金属
磁性膜34 とガラス接合膜7との間に第2の界面膜6を
設けてこれらの密着性を向上させると共に、ガラス接合
膜7と基板1Bとの間にも第1の界面膜8を設けること
により、基板1Bとガラス接合膜7との反応に起因する
問題を防止している。
用いた場合に、従来のような金属磁性膜とガラス接合膜
との界面にのみ界面膜を設けた構造にすると、フェライ
ト基板を積層する際の加熱処理時にフェライト基板とガ
ラス接合膜の反応によりガラス接合膜内には気泡が発生
する。そして、この気泡内に、磁気記録媒体、例えばテ
ープの摩耗粉等が堆積し易く、ヘッドクロック等の問題
が発生する。更にはフェライト基板とガラス接合膜の反
応により、フェライト基板の強度が劣化し、フェライト
基板積層後の各種加工においてフェライト基板内部から
の破断が発生する。そこで、本実施例においては、金属
磁性膜34 とガラス接合膜7との間に第2の界面膜6を
設けてこれらの密着性を向上させると共に、ガラス接合
膜7と基板1Bとの間にも第1の界面膜8を設けること
により、基板1Bとガラス接合膜7との反応に起因する
問題を防止している。
【0029】このようなラミネート型磁気ヘッドの一例
の製造方法を、図3及び図4の工程図を参照して説明す
る。先ず図3Aに示すように、上記のように常温におい
て非磁性のZnフェライト材から成る基板1A上に、S
iO2 、Ta2 O5 、Si、Pt、Cr、Ti、Fe−
Al−O等よりなる付着強度を向上させるための下地膜
2をスパッタリング等により被着する。このとき、下地
膜2は後述する成膜方法によってその酸素濃度が膜厚方
向に変調される構成としてもよい。
の製造方法を、図3及び図4の工程図を参照して説明す
る。先ず図3Aに示すように、上記のように常温におい
て非磁性のZnフェライト材から成る基板1A上に、S
iO2 、Ta2 O5 、Si、Pt、Cr、Ti、Fe−
Al−O等よりなる付着強度を向上させるための下地膜
2をスパッタリング等により被着する。このとき、下地
膜2は後述する成膜方法によってその酸素濃度が膜厚方
向に変調される構成としてもよい。
【0030】そしてこの上に金属磁性膜と高周波磁気特
性を向上させるための絶縁膜とを交互に積層した金属磁
性膜を形成する。この場合、金属磁性膜31 、絶縁膜4
1 、金属磁性膜32 ・・・・を順次スパッタリング等に
より被着形成する。図3及び図4においては簡単化のた
めに金属磁性膜31 及び32 、絶縁膜41 のみを示す。
尚、金属磁性膜は4層構成に限らず、2層以上の積層膜
であれば良い。また、金属磁性膜31 、32 ・・・・の
材料としては、Fe−Ni系合金、Fe−C系合金、F
e−Al−Si系合金、Fe−Ga−Si系合金、Fe
−Al−Ge系合金、Fe−Ga−Ge系合金、Fe−
Si−Ge系合金等、種々の材料の高透磁率金属磁性材
料を用いることができる。また絶縁膜41 ・・・・の材
料としてはSiO2 、Al2 O3 等種々の材料を用いる
ことができる。
性を向上させるための絶縁膜とを交互に積層した金属磁
性膜を形成する。この場合、金属磁性膜31 、絶縁膜4
1 、金属磁性膜32 ・・・・を順次スパッタリング等に
より被着形成する。図3及び図4においては簡単化のた
めに金属磁性膜31 及び32 、絶縁膜41 のみを示す。
尚、金属磁性膜は4層構成に限らず、2層以上の積層膜
であれば良い。また、金属磁性膜31 、32 ・・・・の
材料としては、Fe−Ni系合金、Fe−C系合金、F
e−Al−Si系合金、Fe−Ga−Si系合金、Fe
−Al−Ge系合金、Fe−Ga−Ge系合金、Fe−
Si−Ge系合金等、種々の材料の高透磁率金属磁性材
料を用いることができる。また絶縁膜41 ・・・・の材
料としてはSiO2 、Al2 O3 等種々の材料を用いる
ことができる。
【0031】更にこの上に第2の界面膜6とガラス接合
膜7とを同様にスパッタリング等により被着する。また
更に、基板1Aの裏面側にスパッタリング等により第1
の界面膜8を被着する。第1の界面膜8としては、例え
ばCr、Ti、Zr、Ta、Si、Al、Ni−Cr、
Cr−Ti、Zr−Cr等のガラス接合膜材料に比し高
融点の非磁性合金膜及び合金の膜、又はそれを主成分と
する合金膜を用いることができる。また、SiO2 、A
l2 O3 、ZrO2、 Ta2 O5 、Cr2 O3等のガラ
ス接合膜材料に比し高融点の酸化物膜やSi3 N4 等の
絶縁膜、または高融点金属及び合金の酸化変調膜を用い
ることもできる。なお、第2の界面膜6も上記材料によ
って形成しても良い。そして、第2の界面膜6と第1の
界面膜8は同一材料により構成しても良く、また上述の
材料から個別に選定して構成することもできる。なお、
本実施例においては第2の界面膜6、第1の界面膜8の
構成材料としてCrを用いた。
膜7とを同様にスパッタリング等により被着する。また
更に、基板1Aの裏面側にスパッタリング等により第1
の界面膜8を被着する。第1の界面膜8としては、例え
ばCr、Ti、Zr、Ta、Si、Al、Ni−Cr、
Cr−Ti、Zr−Cr等のガラス接合膜材料に比し高
融点の非磁性合金膜及び合金の膜、又はそれを主成分と
する合金膜を用いることができる。また、SiO2 、A
l2 O3 、ZrO2、 Ta2 O5 、Cr2 O3等のガラ
ス接合膜材料に比し高融点の酸化物膜やSi3 N4 等の
絶縁膜、または高融点金属及び合金の酸化変調膜を用い
ることもできる。なお、第2の界面膜6も上記材料によ
って形成しても良い。そして、第2の界面膜6と第1の
界面膜8は同一材料により構成しても良く、また上述の
材料から個別に選定して構成することもできる。なお、
本実施例においては第2の界面膜6、第1の界面膜8の
構成材料としてCrを用いた。
【0032】酸化膜の変調方法としては、例えば図3B
に示すように、各基板1A〜1Dをそのガラス接合膜7
と基板裏面側に形成した第1の界面膜8とが対向するよ
うに積層した状態で加熱圧着する工程において、例えば
ガラス接合膜7中の酸素を第2の界面膜6、第1の界面
膜8内に混入させることによって酸素濃度を変調すると
か、後の加熱圧着工程において酸素を比較的高濃度に雰
囲気ガス中に混入して、ガラス接合膜7を介して第2の
界面膜6、第1の界面膜8に酸素を導入させ、酸素濃度
を変調することもできる。また更に、その成膜中の酸素
濃度を変化させるとか、或いは酸素濃度が例えば10%
一定とされたArガスを用い、スパッタガス圧を変化さ
せることによって、成膜された界面膜の膜厚方向の酸素
濃度を変調させることもできる。
に示すように、各基板1A〜1Dをそのガラス接合膜7
と基板裏面側に形成した第1の界面膜8とが対向するよ
うに積層した状態で加熱圧着する工程において、例えば
ガラス接合膜7中の酸素を第2の界面膜6、第1の界面
膜8内に混入させることによって酸素濃度を変調すると
か、後の加熱圧着工程において酸素を比較的高濃度に雰
囲気ガス中に混入して、ガラス接合膜7を介して第2の
界面膜6、第1の界面膜8に酸素を導入させ、酸素濃度
を変調することもできる。また更に、その成膜中の酸素
濃度を変化させるとか、或いは酸素濃度が例えば10%
一定とされたArガスを用い、スパッタガス圧を変化さ
せることによって、成膜された界面膜の膜厚方向の酸素
濃度を変調させることもできる。
【0033】そしてこのように各基板1A〜1Dを加熱
圧着により接合して積層ブロック21を形成した後、次
に図4Aに示すように、積層ブロック21の所定位置に
巻線溝13等を入れて加工を施した後、ブロック半体2
2A及び22Bに切断し、これらをギャップ構成材料を
介して接合して、図4Bに示すように磁気ギャップgを
構成する。そして各基板1A〜1Dを例えばその膜厚の
ほぼ中間位置において膜厚方向に切断して、各磁気ヘッ
ドチップ23を形成し、この後図1に示すように磁気記
録媒体との対接面12を機械的研磨等により形成して金
属磁性膜積層型磁気ヘッドを得ることができる。
圧着により接合して積層ブロック21を形成した後、次
に図4Aに示すように、積層ブロック21の所定位置に
巻線溝13等を入れて加工を施した後、ブロック半体2
2A及び22Bに切断し、これらをギャップ構成材料を
介して接合して、図4Bに示すように磁気ギャップgを
構成する。そして各基板1A〜1Dを例えばその膜厚の
ほぼ中間位置において膜厚方向に切断して、各磁気ヘッ
ドチップ23を形成し、この後図1に示すように磁気記
録媒体との対接面12を機械的研磨等により形成して金
属磁性膜積層型磁気ヘッドを得ることができる。
【0034】そこで、本実施例の磁気ヘッドの効果を確
認すべく、以下のような実験を行った。すなわち、先
ず、常温において非磁性のZnフェライト材よりなる基
板上にCr界面膜を介してガラス接合膜を設けた磁気ヘ
ッドと、同様にZnフェライト基板を用い、この上に直
接的にガラス接合膜を形成した磁気ヘッドを作製し、こ
れら磁気ヘッドのガラス接合膜内の気泡の発生の有無、
フェライト基板内の破断を調査した。なお、本実験にお
いては、ガラス接合膜を構成するガラスとして、Tgが
430℃、Tcが480℃であるガラスAと、Tgが4
65℃、Tcが495℃であるガラスBを用意し、Cr
界面膜の厚さは0.1μmとした。そして、基板上に界
面膜を介してガラスAよりなるガラス接合膜を形成した
磁気ヘッドを磁気ヘッドサンプル1、同様にガラスBよ
りなるガラス接合膜を形成した磁気ヘッドを磁気ヘッド
サンプル2、基板上に直接的にガラスAよりなるガラス
接合膜を形成した磁気ヘッドを磁気ヘッドサンプル3、
同様にガラスBよりなるガラス接合膜を形成した磁気ヘ
ッドを磁気ヘッドサンプル4とした。結果を表1に示
す。
認すべく、以下のような実験を行った。すなわち、先
ず、常温において非磁性のZnフェライト材よりなる基
板上にCr界面膜を介してガラス接合膜を設けた磁気ヘ
ッドと、同様にZnフェライト基板を用い、この上に直
接的にガラス接合膜を形成した磁気ヘッドを作製し、こ
れら磁気ヘッドのガラス接合膜内の気泡の発生の有無、
フェライト基板内の破断を調査した。なお、本実験にお
いては、ガラス接合膜を構成するガラスとして、Tgが
430℃、Tcが480℃であるガラスAと、Tgが4
65℃、Tcが495℃であるガラスBを用意し、Cr
界面膜の厚さは0.1μmとした。そして、基板上に界
面膜を介してガラスAよりなるガラス接合膜を形成した
磁気ヘッドを磁気ヘッドサンプル1、同様にガラスBよ
りなるガラス接合膜を形成した磁気ヘッドを磁気ヘッド
サンプル2、基板上に直接的にガラスAよりなるガラス
接合膜を形成した磁気ヘッドを磁気ヘッドサンプル3、
同様にガラスBよりなるガラス接合膜を形成した磁気ヘ
ッドを磁気ヘッドサンプル4とした。結果を表1に示
す。
【0035】
【表1】
【0036】表1の結果を見てわかるように、基板上に
界面膜を設けた磁気ヘッドサンプル1、2においては、
ガラス接合膜内の気泡の発生、フェライト基板内の破断
が見られず、基板上に界面膜を設けなかった磁気ヘッド
サンプル3、4においては、ガラス接合膜内の気泡の発
生、フェライト基板内の破断が見られ、磁気ヘッドサン
プル1及び2においては、フェライト基板とガラス接合
膜間が反応しておらず、磁気ヘッドサンプル3及び4に
おいてはフェライト基板とガラス接合膜が反応している
ことが確認された。
界面膜を設けた磁気ヘッドサンプル1、2においては、
ガラス接合膜内の気泡の発生、フェライト基板内の破断
が見られず、基板上に界面膜を設けなかった磁気ヘッド
サンプル3、4においては、ガラス接合膜内の気泡の発
生、フェライト基板内の破断が見られ、磁気ヘッドサン
プル1及び2においては、フェライト基板とガラス接合
膜間が反応しておらず、磁気ヘッドサンプル3及び4に
おいてはフェライト基板とガラス接合膜が反応している
ことが確認された。
【0037】すなわち、本実施例の磁気ヘッドにおいて
は、フェライト基板上に界面膜を介してガラス接合膜を
形成しているため、フェライト基板とガラス接合膜間の
反応が抑制され、ガラス接合膜内の気泡の発生、フェラ
イト基板内の破断が抑えられることが確認された。な
お、このようにガラス接合膜内の気泡の発生が抑えられ
ると、該気泡内に磁気記録媒体の摩耗粉が堆積すること
もなく、ヘッドクロッグ等も防止される。
は、フェライト基板上に界面膜を介してガラス接合膜を
形成しているため、フェライト基板とガラス接合膜間の
反応が抑制され、ガラス接合膜内の気泡の発生、フェラ
イト基板内の破断が抑えられることが確認された。な
お、このようにガラス接合膜内の気泡の発生が抑えられ
ると、該気泡内に磁気記録媒体の摩耗粉が堆積すること
もなく、ヘッドクロッグ等も防止される。
【0038】次に、非磁性のZnフェライトよりなる基
板上にCr界面膜を介してガラス接合膜を設けたサンプ
ルと基板上に直接的にガラス接合膜を設けたサンプルに
おける付着強度を引張付着強度試験機により夫々測定す
る実験を行った。その結果、Cr界面膜を有するサンプ
ルにおいては749.7kg/cm2 、Cr界面膜を有
しないサンプルにおいては213.5kg/cm2 とい
った結果が得られ、基板上にCr界面膜を介してガラス
接合膜を設けたサンプルの方が付着強度が高かった。
板上にCr界面膜を介してガラス接合膜を設けたサンプ
ルと基板上に直接的にガラス接合膜を設けたサンプルに
おける付着強度を引張付着強度試験機により夫々測定す
る実験を行った。その結果、Cr界面膜を有するサンプ
ルにおいては749.7kg/cm2 、Cr界面膜を有
しないサンプルにおいては213.5kg/cm2 とい
った結果が得られ、基板上にCr界面膜を介してガラス
接合膜を設けたサンプルの方が付着強度が高かった。
【0039】従って、これらの結果から、本実施例の磁
気ヘッドにおいてはフェライト基板上に界面膜を介して
ガラス接合膜を形成しているため、フェライト基板とガ
ラス接合膜間の反応が抑制され、これらの密着性が改善
され、その結果、磁気ヘッドの付着強度が向上すること
が確認された。
気ヘッドにおいてはフェライト基板上に界面膜を介して
ガラス接合膜を形成しているため、フェライト基板とガ
ラス接合膜間の反応が抑制され、これらの密着性が改善
され、その結果、磁気ヘッドの付着強度が向上すること
が確認された。
【0040】そして上述の構成による本実施例の磁気ヘ
ッドは、その不良発生率が従来の約1/6程度に低減化
され、歩留りの向上を図ることができ、また信頼性の向
上を図ることができた。
ッドは、その不良発生率が従来の約1/6程度に低減化
され、歩留りの向上を図ることができ、また信頼性の向
上を図ることができた。
【0041】尚、ガラス接合膜7と基板1Bとの間の第
1の界面膜8を、基板1B側においてより高酸素濃度と
し、ガラス接合膜7と金属磁性膜3との間の第2の界面
膜6をガラス接合膜7側においてより高酸素濃度として
構成することにより、更にガラス接合膜7の密着性を改
善することができ、より歩留り及び信頼性の向上を図る
ことができた。
1の界面膜8を、基板1B側においてより高酸素濃度と
し、ガラス接合膜7と金属磁性膜3との間の第2の界面
膜6をガラス接合膜7側においてより高酸素濃度として
構成することにより、更にガラス接合膜7の密着性を改
善することができ、より歩留り及び信頼性の向上を図る
ことができた。
【0042】また、上述の第2の界面膜6、第1の界面
膜8の厚さとしては、0.05μm以上とすることによ
り充分な効果が得られ、0.2μmを越える場合は界面
膜と基板又は金属磁性膜との応力が生じる恐れがあるた
め、0.05μm以上0.2μm以下程度とすることが
望ましい。更にガラス接合膜7の厚さとしては、0.1
μm以上程度とすることにより充分な付着力が得られ、
また0.5μmを越える場合は、磁気記録媒体との対接
面であるガラス膜面が大となって、このガラスの摩耗粉
の発生量が大となる恐れがあるため、0.1μm以上
0.5μm以下程度とすることが望ましい。
膜8の厚さとしては、0.05μm以上とすることによ
り充分な効果が得られ、0.2μmを越える場合は界面
膜と基板又は金属磁性膜との応力が生じる恐れがあるた
め、0.05μm以上0.2μm以下程度とすることが
望ましい。更にガラス接合膜7の厚さとしては、0.1
μm以上程度とすることにより充分な付着力が得られ、
また0.5μmを越える場合は、磁気記録媒体との対接
面であるガラス膜面が大となって、このガラスの摩耗粉
の発生量が大となる恐れがあるため、0.1μm以上
0.5μm以下程度とすることが望ましい。
【0043】更にまた上述の例においては、基板材料と
してZnフェライト材を用いた場合について述べたが、
その他結晶化ガラス、チタン酸カルシウム、ヘマタイト
等の非磁性セラミックスを基板材料として用いた場合に
おいても、同様に本発明を適用することによってガラス
接合膜の密着性を改善することができた。
してZnフェライト材を用いた場合について述べたが、
その他結晶化ガラス、チタン酸カルシウム、ヘマタイト
等の非磁性セラミックスを基板材料として用いた場合に
おいても、同様に本発明を適用することによってガラス
接合膜の密着性を改善することができた。
【0044】更にまた本発明の磁気ヘッドは上述の構成
に限ることなく、例えば図5Aに示すように、各ブロッ
ク半体22A及び22Bをその積層方向に関して逆向き
に突き合わせて、図5Bに示すように、磁気ギャップg
の両側にトラック幅規制溝16を形成して、各磁気ヘッ
ドチップ23を構成することもできる。図5A及びBに
おいて、図4A及びBに対応する部分には同一符号を付
して重複説明を省略する。
に限ることなく、例えば図5Aに示すように、各ブロッ
ク半体22A及び22Bをその積層方向に関して逆向き
に突き合わせて、図5Bに示すように、磁気ギャップg
の両側にトラック幅規制溝16を形成して、各磁気ヘッ
ドチップ23を構成することもできる。図5A及びBに
おいて、図4A及びBに対応する部分には同一符号を付
して重複説明を省略する。
【0045】図6はこのようにして形成した磁気ヘッド
の磁気ギャップg側から見た要部平面図である。図6に
おいて、図4A及びBに対応する部分には同一符号を付
して重複説明を省略する。17は封着ガラスを示す。こ
のように、トラック幅規制溝16を設けて、封着ガラス
等の非磁性材料によりトラック幅を規制する場合は、基
板材料として磁性材料を用いることができる。この場合
においても本発明を適用することによってガラス接合膜
の密着性を改善することができた。
の磁気ギャップg側から見た要部平面図である。図6に
おいて、図4A及びBに対応する部分には同一符号を付
して重複説明を省略する。17は封着ガラスを示す。こ
のように、トラック幅規制溝16を設けて、封着ガラス
等の非磁性材料によりトラック幅を規制する場合は、基
板材料として磁性材料を用いることができる。この場合
においても本発明を適用することによってガラス接合膜
の密着性を改善することができた。
【0046】また本発明の磁気ヘッドにおいて、下地膜
の酸素濃度及び金属磁性膜間の絶縁膜の酸素濃度を変調
させて、例えば金属磁性膜近傍において酸素濃度を低濃
度とし、絶縁膜の中間部において高濃度とすることによ
って、金属磁性膜と絶縁膜との界面強度を大とし、且つ
各金属磁性膜を電気的に分断して渦電流の発生を低減化
する効果を得ることもできる。
の酸素濃度及び金属磁性膜間の絶縁膜の酸素濃度を変調
させて、例えば金属磁性膜近傍において酸素濃度を低濃
度とし、絶縁膜の中間部において高濃度とすることによ
って、金属磁性膜と絶縁膜との界面強度を大とし、且つ
各金属磁性膜を電気的に分断して渦電流の発生を低減化
する効果を得ることもできる。
【0047】更にまた本発明は上述の構成に限ることな
く、例えば界面膜をガラス接合膜と基板との間にのみ設
ける等、その他種々の変形変更が可能であることはいう
までもない。
く、例えば界面膜をガラス接合膜と基板との間にのみ設
ける等、その他種々の変形変更が可能であることはいう
までもない。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、基板とガラス接合膜、
或いはガラス接合膜と金属磁性膜との各界面において確
実に密着性を向上させて付着強度を大とすることがで
き、製造工程における下地膜等の剥がれを抑制して歩留
りの向上及び信頼性の向上を図ることができる。特に、
基板としてフェライト基板を用いた場合においても、フ
ェライト基板とガラス接合膜間の反応を防止し、ガラス
接合膜内の気泡の発生、フェライト基板の強度の劣化に
よるフェライト基板内部の破断が抑えられる。なお、ガ
ラス接合膜内に気泡が生じないことから、該気泡内に磁
気記録媒体の摩耗粉が堆積することもなく、ヘッドクロ
ッグ等の不具合が生じないため、磁気ヘッドの信頼性を
大幅に向上することが可能となる。
或いはガラス接合膜と金属磁性膜との各界面において確
実に密着性を向上させて付着強度を大とすることがで
き、製造工程における下地膜等の剥がれを抑制して歩留
りの向上及び信頼性の向上を図ることができる。特に、
基板としてフェライト基板を用いた場合においても、フ
ェライト基板とガラス接合膜間の反応を防止し、ガラス
接合膜内の気泡の発生、フェライト基板の強度の劣化に
よるフェライト基板内部の破断が抑えられる。なお、ガ
ラス接合膜内に気泡が生じないことから、該気泡内に磁
気記録媒体の摩耗粉が堆積することもなく、ヘッドクロ
ッグ等の不具合が生じないため、磁気ヘッドの信頼性を
大幅に向上することが可能となる。
【図1】磁気ヘッドの一例の略線的拡大斜視図である。
【図2】磁気ヘッドの一例の要部の略線的拡大断面図で
ある。
ある。
【図3】磁気ヘッドの一例の製造工程図である。
【図4】磁気ヘッドの一例の製造工程図である。
【図5】磁気ヘッドの他の例の製造工程図である。
【図6】磁気ヘッドの一例の要部の略線的拡大平面図で
ある。
ある。
【図7】従来の磁気ヘッドの説明図である。
【図8】従来の磁気ヘッドの要部の略線的拡大断面図で
ある。
ある。
1A、1B・・・基板 2・・・下地膜 3・・・金属磁性膜 4・・・絶縁膜 6・・・第2の界面膜 8・・・第1の界面膜 7・・・ガラス接合膜 20A、20B・・・磁気コア半体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 伸司 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 渡辺 利信 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 小林 富夫 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 佐藤 敬 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (11)
- 【請求項1】 金属磁性膜を一対の基板により膜厚方向
で挟み込み、ガラス接合膜を介して接合一体化して成る
一対の磁気コア半体を、上記金属磁性膜の端面が対向す
るように突き合わせてその突き合わせ面間に磁気ギャッ
プが構成されて成る磁気ヘッドにおいて、 上記基板と上記ガラス接合膜との間に上記ガラス接合膜
材料に比し高融点材料より成る第1の界面膜が設けられ
て成ることを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項2】 上記ガラス接合膜と上記金属磁性膜との
間に上記ガラス接合膜材料に比し高融点材料より成る第
2の界面膜が設けられて成ることを特徴とする上記請求
項1に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 上記基板がフェライト材より成ることを
特徴とする上記請求項1又は2に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項4】 第1の界面膜が高融点非磁性金属より成
ることを特徴とする上記請求項1に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項5】 第1の界面膜が酸化物材料より成ること
を特徴とする上記請求項1に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項6】 第1の界面膜が酸化変調膜とされて成る
ことを特徴とする上記請求項1に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項7】 第1の界面膜が、上記基板側において高
酸素濃度とされて成ることを特徴とする上記請求項1に
記載の磁気ヘッド。 - 【請求項8】 第1及び/又は第2の界面膜が高融点非
磁性金属より成ることを特徴とする上記請求項2に記載
の磁気ヘッド。 - 【請求項9】 第1及び/又は第2の界面膜が酸化物材
料より成ることを特徴とする上記請求項2に記載の磁気
ヘッド。 - 【請求項10】 第1及び/又は第2の界面膜が酸化変
調膜とされて成ることを特徴とする上記請求項2に記載
の磁気ヘッド。 - 【請求項11】 第2の界面膜が、上記ガラス接合膜側
において高酸素濃度とされて成ることを特徴とする上記
請求項2に記載の磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23305393A JPH06259721A (ja) | 1992-10-07 | 1993-09-20 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-1302 | 1992-10-07 | ||
| JP26878192 | 1992-10-07 | ||
| JP4-268781 | 1992-10-07 | ||
| JP130293 | 1993-01-07 | ||
| JP23305393A JPH06259721A (ja) | 1992-10-07 | 1993-09-20 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06259721A true JPH06259721A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=27274865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23305393A Withdrawn JPH06259721A (ja) | 1992-10-07 | 1993-09-20 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06259721A (ja) |
-
1993
- 1993-09-20 JP JP23305393A patent/JPH06259721A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001128 |