JPH062946B2 - 炭化珪素薄膜の形成方法 - Google Patents
炭化珪素薄膜の形成方法Info
- Publication number
- JPH062946B2 JPH062946B2 JP59260389A JP26038984A JPH062946B2 JP H062946 B2 JPH062946 B2 JP H062946B2 JP 59260389 A JP59260389 A JP 59260389A JP 26038984 A JP26038984 A JP 26038984A JP H062946 B2 JPH062946 B2 JP H062946B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- silicon carbide
- base material
- carbide thin
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 34
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 24
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 title claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 150000003961 organosilicon compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 18
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 12
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- LIKFHECYJZWXFJ-UHFFFAOYSA-N dimethyldichlorosilane Chemical compound C[Si](C)(Cl)Cl LIKFHECYJZWXFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 3
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 3
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 3
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical group N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N tetramethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)C CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えば高温用治具等に使用される炭化珪素
(SiC)薄膜形成部材をCVD法を用いて炭素あるい
は炭化物基材、またはセラミックスや比較的高耐熱性の
金属、合金材上に形成する方法に関する。
(SiC)薄膜形成部材をCVD法を用いて炭素あるい
は炭化物基材、またはセラミックスや比較的高耐熱性の
金属、合金材上に形成する方法に関する。
(従来の技術) 炭化物の膜形成方法として、気相反応すなわちCVD法
が知られている。CVD法は膜の構成元素を気化しやす
い化合物にし、これをキャリアガスによって反応系に導
入し、導入した原料ガスの化学反応によって生成する固
層を基材上に析出させて膜を形成させる方法である。ま
たこのCVD法により炭化珪素薄膜を炭素(黒鉛)ある
いは炭化物基材等に形成する場合、従来は、反応炉内を
窒素ガスにより置換し、排気した後、棒状黒鉛基材と電
極との間で交流によりグロー放電を行ない、次に基材を
1400℃に通電加熱し、テトラメチルシランのような有機
珪素ガスを一定流量(例えば2.8×10-4モル/分)でグ
ロー放電プラズマ中に供給することにより、炭化珪素薄
膜を形成している。
が知られている。CVD法は膜の構成元素を気化しやす
い化合物にし、これをキャリアガスによって反応系に導
入し、導入した原料ガスの化学反応によって生成する固
層を基材上に析出させて膜を形成させる方法である。ま
たこのCVD法により炭化珪素薄膜を炭素(黒鉛)ある
いは炭化物基材等に形成する場合、従来は、反応炉内を
窒素ガスにより置換し、排気した後、棒状黒鉛基材と電
極との間で交流によりグロー放電を行ない、次に基材を
1400℃に通電加熱し、テトラメチルシランのような有機
珪素ガスを一定流量(例えば2.8×10-4モル/分)でグ
ロー放電プラズマ中に供給することにより、炭化珪素薄
膜を形成している。
この従来方法によると、基材を1400℃程度に加熱しなけ
ればならないので、基材と炭化珪素薄膜との熱膨張の相
違に基づく変形や膜の剥離が生じやすいという問題点が
あった。
ればならないので、基材と炭化珪素薄膜との熱膨張の相
違に基づく変形や膜の剥離が生じやすいという問題点が
あった。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、上記従来技術の欠点に鑑み、基材の加熱温度
を比較的低温に保つことができ、薄膜の変形や基材から
の剥離が生じることがない薄膜の形成方法を提供しよう
とするものである。
を比較的低温に保つことができ、薄膜の変形や基材から
の剥離が生じることがない薄膜の形成方法を提供しよう
とするものである。
(問題点を解決するための手段) この目的を達成するため、本発明の炭化珪素薄膜の形成
方法は、反応炉内に基材を設置し、該基材を局部的に加
熱し、ノズルから該加熱点に向けて化学式Si(C
H3)xClyHz(但し、x+y+z=4、x≠0)の有
機珪素化合物を供給すると共に、前記加熱点を移動させ
て、前記有機珪素化合物の分解、縮合反応によるCVD
法により前記加熱点の移動部位に炭化珪素薄膜を形成す
ることを特徴とする。
方法は、反応炉内に基材を設置し、該基材を局部的に加
熱し、ノズルから該加熱点に向けて化学式Si(C
H3)xClyHz(但し、x+y+z=4、x≠0)の有
機珪素化合物を供給すると共に、前記加熱点を移動させ
て、前記有機珪素化合物の分解、縮合反応によるCVD
法により前記加熱点の移動部位に炭化珪素薄膜を形成す
ることを特徴とする。
(実施例) 以下本発明の一実施例を第1図により説明する。キャリ
アガスであるアルゴンガスにより置換された反応炉1内
に、数値制御装置2によりX,Y方向に位置制御自在に
テーブル3を設置し、該テーブル3上に基材4を置き、
基材4を数値制御装置2により移動させながら、塩化カ
リウム製の窓5からレーザビーム6を基材4に局部的に
照射し、これによってレーザビーム照射点の基材表面部
分の温度が局部的に上昇し、レーザ出力を調整すること
により、その温度が1250〜1350℃、基材4の平均温度や
反応炉1の炉内温度が数百度程度になるようにする。こ
れと同時に、基材4上のレーザビーム6の照射点と同一
点に向けて原料ガスとキャリアガスとの混合ガス15を
反応炉1に取付けたノズル14から噴出させ、局部的に
炭化珪素薄膜を形成させる。
アガスであるアルゴンガスにより置換された反応炉1内
に、数値制御装置2によりX,Y方向に位置制御自在に
テーブル3を設置し、該テーブル3上に基材4を置き、
基材4を数値制御装置2により移動させながら、塩化カ
リウム製の窓5からレーザビーム6を基材4に局部的に
照射し、これによってレーザビーム照射点の基材表面部
分の温度が局部的に上昇し、レーザ出力を調整すること
により、その温度が1250〜1350℃、基材4の平均温度や
反応炉1の炉内温度が数百度程度になるようにする。こ
れと同時に、基材4上のレーザビーム6の照射点と同一
点に向けて原料ガスとキャリアガスとの混合ガス15を
反応炉1に取付けたノズル14から噴出させ、局部的に
炭化珪素薄膜を形成させる。
なお、レーザビーム6を照射する装置は、炭酸ガスレー
ザ7と、その出力側に設けられた99%透過ミラー8と、
該透過ミラー8から一部の反射ビームを検出してレーザ
電源10を制御するレーザ・パワー・メータ9と、レー
ザビームをガイドするZnSeレンズ11および全反射
ミラー12とからなる。13は反応炉1に設けられた内
部確認用窓、42は反応炉1内のガスの出口である。
ザ7と、その出力側に設けられた99%透過ミラー8と、
該透過ミラー8から一部の反射ビームを検出してレーザ
電源10を制御するレーザ・パワー・メータ9と、レー
ザビームをガイドするZnSeレンズ11および全反射
ミラー12とからなる。13は反応炉1に設けられた内
部確認用窓、42は反応炉1内のガスの出口である。
また、前記混合ガス15の供給系統は、次のように構成
されている。16はキャリアガスの圧力容器であり、そ
の供給管路17には、流量調節用の手動弁18,18′
と、コック19〜21と、脱酸素装置22と、脱水分装
置23と、圧力計24〜26と、酸素分析計27と、流
量計28とが設けられ、一方、原料ガスの供給系統は、
有機珪素を収容している原料容器29と、該容器29か
ら断熱容器である気化室30に原料を送給するポンプ3
1と、気化室30からの気化された有機珪素ガスを前記
キャリアガスの供給管路17に合流させる断熱層を有す
る管路32と、原料容器29および気化室30に対して
キャリアガスを充填するバイパス管路33〜35と、こ
れらの管路に設けられた手動弁36、流量計37、コッ
ク38,39、およびトラップ40,41からなる。
されている。16はキャリアガスの圧力容器であり、そ
の供給管路17には、流量調節用の手動弁18,18′
と、コック19〜21と、脱酸素装置22と、脱水分装
置23と、圧力計24〜26と、酸素分析計27と、流
量計28とが設けられ、一方、原料ガスの供給系統は、
有機珪素を収容している原料容器29と、該容器29か
ら断熱容器である気化室30に原料を送給するポンプ3
1と、気化室30からの気化された有機珪素ガスを前記
キャリアガスの供給管路17に合流させる断熱層を有す
る管路32と、原料容器29および気化室30に対して
キャリアガスを充填するバイパス管路33〜35と、こ
れらの管路に設けられた手動弁36、流量計37、コッ
ク38,39、およびトラップ40,41からなる。
炭化珪素薄膜の形成速度は、レーザビーム径、レーザビ
ーム出力、キャリアガス流量、有機珪素ガスの種類、流
量および基材の材質、移動速度によって異なるが、キャ
リアガスをアルゴンガスとしてその流量を0.5/min、
有機珪素をジメチルジクロロシラン((CH3)2SiC
l2)としてその流量を2.8×10-3モル/min、ノズル1
4の内径を0.2mm、レーザビーム6の出力を200W、レー
ザビーム6の直径を0.2mm、基材4として直径50mmの丸
棒状の黒鉛を移動速度1mm/sec、基材のレーザビーム
照射点温度が前記1250〜1350℃、炉内温度が300℃とな
るようにして薄膜形成を行なった場合、0.2mm幅、厚み
0.1μmでビッカース硬度Hv3000の炭化珪素薄膜が形成
された。また、従来の方法によって形成された炭化珪素
の付着強度6kg/mm2に対し10kg/mm2という大きな付
着強度が得られた。
ーム出力、キャリアガス流量、有機珪素ガスの種類、流
量および基材の材質、移動速度によって異なるが、キャ
リアガスをアルゴンガスとしてその流量を0.5/min、
有機珪素をジメチルジクロロシラン((CH3)2SiC
l2)としてその流量を2.8×10-3モル/min、ノズル1
4の内径を0.2mm、レーザビーム6の出力を200W、レー
ザビーム6の直径を0.2mm、基材4として直径50mmの丸
棒状の黒鉛を移動速度1mm/sec、基材のレーザビーム
照射点温度が前記1250〜1350℃、炉内温度が300℃とな
るようにして薄膜形成を行なった場合、0.2mm幅、厚み
0.1μmでビッカース硬度Hv3000の炭化珪素薄膜が形成
された。また、従来の方法によって形成された炭化珪素
の付着強度6kg/mm2に対し10kg/mm2という大きな付
着強度が得られた。
このように高い付着強度が得られる理由は次のように考
えられる。すなわち、従来方法のように基材4の温度を
一律に1400℃にして膜形成を行なう場合には、第2図
(A)に示すように、膨張率の差により、基材4と薄膜
4Aの冷却に伴ない、全体の収縮量の差ΔXが大きくな
るが、局部的に膜形成を行なう場合には、第2図(B)
に示すように、収縮量の差ΔX′が小さく、従って付着
強度が高く、変形、剥離が生じにくくなるものと考えら
れる。なお本発明において、局部的に薄膜を形成すると
いうのは、製品として局部的に薄膜が形成されるという
意味ではなく、形成の段階で過渡的に局部的に薄膜が形
成されるという意味であり、製品としては、全体的に薄
膜が形成される場合もある。
えられる。すなわち、従来方法のように基材4の温度を
一律に1400℃にして膜形成を行なう場合には、第2図
(A)に示すように、膨張率の差により、基材4と薄膜
4Aの冷却に伴ない、全体の収縮量の差ΔXが大きくな
るが、局部的に膜形成を行なう場合には、第2図(B)
に示すように、収縮量の差ΔX′が小さく、従って付着
強度が高く、変形、剥離が生じにくくなるものと考えら
れる。なお本発明において、局部的に薄膜を形成すると
いうのは、製品として局部的に薄膜が形成されるという
意味ではなく、形成の段階で過渡的に局部的に薄膜が形
成されるという意味であり、製品としては、全体的に薄
膜が形成される場合もある。
なお、レーザビーム径、レーザビーム出力、キャリアガ
ス流量、有機珪素ガス流量濃度および基材の移動速度は
薄膜形成上相互に関連のある因子であるが、一般的に好
適な範囲は、炭酸ガスレーザにおいては、レーザビーム
の径0.1〜2mm、レーザビーム出力100〜200Wであり、
またアルゴンガス流量は0.5〜2/min、有機珪素ガス
流量は前記ジメチルジクロロシランの場合は0.001〜0.0
03mol/min、ノズルの内径は0.1〜0.3mmで薄膜形成を行
なう場合は、移動速度1〜10mm/secである。
ス流量、有機珪素ガス流量濃度および基材の移動速度は
薄膜形成上相互に関連のある因子であるが、一般的に好
適な範囲は、炭酸ガスレーザにおいては、レーザビーム
の径0.1〜2mm、レーザビーム出力100〜200Wであり、
またアルゴンガス流量は0.5〜2/min、有機珪素ガス
流量は前記ジメチルジクロロシランの場合は0.001〜0.0
03mol/min、ノズルの内径は0.1〜0.3mmで薄膜形成を行
なう場合は、移動速度1〜10mm/secである。
また、原料ガスとしては、化学式Si(CH3)xCly
Hz(但し、x+y+z=4、x≠0)の有機珪素化合
物が用いられるが、原料ガスの自己分解の際の分解促進
のため、あるいは不純物である珪素、炭素が析出しない
ように、水素、炭化水素(メタン、ベンゼン)等をキャ
リアガスとして混入する。
Hz(但し、x+y+z=4、x≠0)の有機珪素化合
物が用いられるが、原料ガスの自己分解の際の分解促進
のため、あるいは不純物である珪素、炭素が析出しない
ように、水素、炭化水素(メタン、ベンゼン)等をキャ
リアガスとして混入する。
第3図は本発明の他の実施例であり、前記レーザビーム
の代わりに、プラズマトーチ43からプラズマビーム4
4を黒鉛基材4に照射し、その照射点に対し、原料容器
29に収容された原料をポンプ31によりノズル14か
ら液体のままで噴出させるようにしたものであり、反応
炉1内には酸化を防止するためにアルゴンガス等をその
入口45から流入させるようにしたものであり、原料は
基材4上に噴射される瞬間に気化して薄膜形成反応を発
生させる。本実施例においても、基材4の平均温度ない
しは反応炉1内の温度を低く押さえることができる。こ
のプラズマビームを用いる場合、ビームの径10mm、ビー
ム出力2kW、アルゴンガス流量1/min、ジメチル
ジクロロシランの流量1mol/min、基材の移動速度を1
mm/secとして50mmの直径の丸棒を移動させて薄膜形成
を行なった場合は、10mm幅、厚み0.1μmでビッカース
硬度Hv3000、付着強度9kg/mm2の炭化珪素薄膜が形成
された。
の代わりに、プラズマトーチ43からプラズマビーム4
4を黒鉛基材4に照射し、その照射点に対し、原料容器
29に収容された原料をポンプ31によりノズル14か
ら液体のままで噴出させるようにしたものであり、反応
炉1内には酸化を防止するためにアルゴンガス等をその
入口45から流入させるようにしたものであり、原料は
基材4上に噴射される瞬間に気化して薄膜形成反応を発
生させる。本実施例においても、基材4の平均温度ない
しは反応炉1内の温度を低く押さえることができる。こ
のプラズマビームを用いる場合、ビームの径10mm、ビー
ム出力2kW、アルゴンガス流量1/min、ジメチル
ジクロロシランの流量1mol/min、基材の移動速度を1
mm/secとして50mmの直径の丸棒を移動させて薄膜形成
を行なった場合は、10mm幅、厚み0.1μmでビッカース
硬度Hv3000、付着強度9kg/mm2の炭化珪素薄膜が形成
された。
このように原料として液体を利用すれば、原料供給速度
を上げることができるので、単位時間当りの薄膜形成面
積を大きくすることができるという利点があり、この液
体使用は、第1図の実施例においても行なうことができ
る。また、前記プラズマビームやレーザビームの代わり
にマイクロ波を用いることができる。
を上げることができるので、単位時間当りの薄膜形成面
積を大きくすることができるという利点があり、この液
体使用は、第1図の実施例においても行なうことができ
る。また、前記プラズマビームやレーザビームの代わり
にマイクロ波を用いることができる。
第4図は本発明の他の実施例であり、高圧電源装置46
の出力の一方の極をテーブル3を介して、あるいは直接
に基材4に接続し、他方の極を基材4に対向する尖鋭な
電極47に接続し、局部的にアーク放電を発生させて局
部的に薄膜形成を行なうようにしたものである。なお、
この実施例において、アーク放電は、交流、直流のいず
れでも良く、高周波を用いることもできる。
の出力の一方の極をテーブル3を介して、あるいは直接
に基材4に接続し、他方の極を基材4に対向する尖鋭な
電極47に接続し、局部的にアーク放電を発生させて局
部的に薄膜形成を行なうようにしたものである。なお、
この実施例において、アーク放電は、交流、直流のいず
れでも良く、高周波を用いることもできる。
このような放電アークを用いる場合の一例として、基材
4を陰極、電極47を1mmの直径の陽極とする出力電圧
30Vの直流電源装置46を用い、電極47と基材4との
間隔を5mmとし、有機珪素ガス(ジメチルジクロロシラ
ン)の流量を0.001mol/min、基材の移動速度を0.2mm/
secとして50mmの直径の丸棒を移動させて薄膜形成を行
なった場合は、1mm幅、厚み0.1μmでビッカース硬度H
v3000、付着強度9kg/mm2の炭化珪素薄膜が形成され
た。
4を陰極、電極47を1mmの直径の陽極とする出力電圧
30Vの直流電源装置46を用い、電極47と基材4との
間隔を5mmとし、有機珪素ガス(ジメチルジクロロシラ
ン)の流量を0.001mol/min、基材の移動速度を0.2mm/
secとして50mmの直径の丸棒を移動させて薄膜形成を行
なった場合は、1mm幅、厚み0.1μmでビッカース硬度H
v3000、付着強度9kg/mm2の炭化珪素薄膜が形成され
た。
なお本発明を実施する場合レーザビーム、プラズマビー
ム、マイクロ波および放電アークの他に、基材の近傍に
グロー放電を作用させることにより、原料の薄膜化が促
進される。すなわち、有機珪素は、分解、縮合して炭化
珪素薄膜を形成するが、供給量が多くなると分解、縮合
が間に合わなくなり、メチル基を有するものにおいて
は、メチル基の脱離が不完全となる。このために、炭化
珪素粒子間に閉じ込められたメチル基は最終的に遊離炭
素となって炭化珪素粒子間に析出する。この遊離炭素析
出を防止するには、分解、縮合を促進すればよい。グロ
ー放電を作用させれば、有機珪素の分解、縮合反応が促
進され、遊離炭素炭素析出が防止され、硬度の高い薄膜
が形成される。また、本発明により薄膜を形成する材料
の形状としては、丸棒以外に、板状や輪状などの任意の
形状のものが選定できる。
ム、マイクロ波および放電アークの他に、基材の近傍に
グロー放電を作用させることにより、原料の薄膜化が促
進される。すなわち、有機珪素は、分解、縮合して炭化
珪素薄膜を形成するが、供給量が多くなると分解、縮合
が間に合わなくなり、メチル基を有するものにおいて
は、メチル基の脱離が不完全となる。このために、炭化
珪素粒子間に閉じ込められたメチル基は最終的に遊離炭
素となって炭化珪素粒子間に析出する。この遊離炭素析
出を防止するには、分解、縮合を促進すればよい。グロ
ー放電を作用させれば、有機珪素の分解、縮合反応が促
進され、遊離炭素炭素析出が防止され、硬度の高い薄膜
が形成される。また、本発明により薄膜を形成する材料
の形状としては、丸棒以外に、板状や輪状などの任意の
形状のものが選定できる。
(発明の効果) 以上述べたように、本発明によれば、薄膜形成を局部的
に行なうことにより、剥離や変形を生じにくい炭化珪素
薄膜が形成できる。なお本発明は、炭化珪素薄膜の形成
方法と称しているが、例えば黒鉛等の基材と基材とを積
み重さね等接合状態で膜形成を行なうと表面に膜が形成
されるだけでなく、接合隙間に侵入して対向接合面にも
炭化珪素膜が形成され、そしてついには両基材が形成炭
化珪素により強固に結合されるもので、従って本発明は
炭化珪素による接合方法として有用なものである。
に行なうことにより、剥離や変形を生じにくい炭化珪素
薄膜が形成できる。なお本発明は、炭化珪素薄膜の形成
方法と称しているが、例えば黒鉛等の基材と基材とを積
み重さね等接合状態で膜形成を行なうと表面に膜が形成
されるだけでなく、接合隙間に侵入して対向接合面にも
炭化珪素膜が形成され、そしてついには両基材が形成炭
化珪素により強固に結合されるもので、従って本発明は
炭化珪素による接合方法として有用なものである。
第1図は本発明の方法の一実施例を説明する装置構成
図、第2図は本発明の原理説明図、第3図および第4図
はそれぞれ本発明の他の実施例を示す装置構成図であ
る。
図、第2図は本発明の原理説明図、第3図および第4図
はそれぞれ本発明の他の実施例を示す装置構成図であ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】反応炉内に基材を設置し、該基材を局部的
に加熱し、ノズルから該加熱点に向けて化学式Si(C
H3)xClyHz(但し、x+y+z=4、x≠0)の有
機珪素化合物を供給すると共に、前記加熱点を移動させ
て、前記有機珪素化合物の分解、縮合反応によるCVD
法により前記加熱点の移動部位に炭化珪素薄膜を形成す
ることを特徴とする炭化珪素薄膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59260389A JPH062946B2 (ja) | 1984-12-08 | 1984-12-08 | 炭化珪素薄膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59260389A JPH062946B2 (ja) | 1984-12-08 | 1984-12-08 | 炭化珪素薄膜の形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61136680A JPS61136680A (ja) | 1986-06-24 |
| JPH062946B2 true JPH062946B2 (ja) | 1994-01-12 |
Family
ID=17347235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59260389A Expired - Lifetime JPH062946B2 (ja) | 1984-12-08 | 1984-12-08 | 炭化珪素薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH062946B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5266884A (en) * | 1975-12-01 | 1977-06-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Process for forming film on base material |
| JPS606304B2 (ja) * | 1977-11-30 | 1985-02-16 | 東芝セラミツクス株式会社 | 複合炭化珪素体の製造装置 |
| JPS59129774A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-26 | Fuji Xerox Co Ltd | 選択的窒化膜の作製方法 |
-
1984
- 1984-12-08 JP JP59260389A patent/JPH062946B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61136680A (ja) | 1986-06-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4505948A (en) | Method of coating ceramics and quartz crucibles with material electrically transformed into a vapor phase | |
| US4749587A (en) | Process for depositing layers on substrates in a vacuum chamber | |
| JPH1180963A (ja) | アークプラズマ成膜装置用のノズルインジェクター | |
| US20120222617A1 (en) | Plasma system and method of producing a functional coating | |
| US4351855A (en) | Noncrucible method of and apparatus for the vapor deposition of material upon a substrate using voltaic arc in vacuum | |
| US7410669B2 (en) | Process and apparatus for the coating or modification of surfaces | |
| JP7818512B2 (ja) | 2次元の層のためのcvdリアクタの使用 | |
| US4438153A (en) | Method of and apparatus for the vapor deposition of material upon a substrate | |
| JPH062946B2 (ja) | 炭化珪素薄膜の形成方法 | |
| JPH062947B2 (ja) | 炭化珪素薄膜の形成方法 | |
| JPH0521987B2 (ja) | ||
| JPS60106964A (ja) | 超微粒子膜の形成法並に装置 | |
| JP3035337B2 (ja) | プラズマ被膜形成装置 | |
| JPH0547635B2 (ja) | ||
| JP2645867B2 (ja) | ダイヤモンド膜の析出方法 | |
| JP2833848B2 (ja) | 気相法ダイヤモンドの合成法 | |
| JPH0233786B2 (ja) | Kagobutsumakunokeiseihoho | |
| JPH0754151A (ja) | 薄膜の形成方法及びその形成装置 | |
| JP2839612B2 (ja) | 気相法ダイヤモンドの合成法 | |
| JPS62218576A (ja) | プラズマcvd法 | |
| JPH0527707B2 (ja) | ||
| JPH0530906B2 (ja) | ||
| JPS59113173A (ja) | 反応性蒸着装置 | |
| JPS6369973A (ja) | 立方晶系窒化ホウ素膜の製造方法 | |
| JPH06208960A (ja) | シリコン積層体の製造方法 |